喻春,王成宇,胡波
(重慶信息通信研究院,重慶,401336)
對(duì)5G 基站天線而言,天線與RRU 集成在一起,一方面電磁耦合、有源駐波等干擾因素不能完全消除;另一方面,有源天線的校準(zhǔn)及幅相加權(quán)是通過各個(gè)射頻通道上的一系列有源器件配合完成的,與無源天線陣列通過無源的功分網(wǎng)絡(luò)來進(jìn)行幅相加權(quán)的方式差別很大。所以對(duì)于采用了大規(guī)模MIMO 有源天線技術(shù)的5G 基站而言,一體化OTA 測(cè)試方式才能有效反映其性能指標(biāo)。尤其到了毫米波頻段,頻段更高,設(shè)備尺寸更小,電磁干擾問題更加突出,拆分測(cè)試已不具實(shí)用意義,只能采用一體化OTA 測(cè)試方案。
(1)測(cè)試需求
對(duì)于5G 頻段,目前我國僅對(duì)FR1 中的頻段進(jìn)行了分配,其中中國移動(dòng)使用2515MHz-2675MHz(頻段號(hào)為n41)和4800MHz-4900MHz(頻段號(hào)為n79);中國電信使用3400MHz-3500MHz(頻段號(hào)為n78);中國聯(lián)通使用3500MHz-3600MHz(頻段號(hào)為n78);廣電網(wǎng)絡(luò)使用700MHz 頻段。
從頻譜劃分來看,n41 頻段使用到100MHz 的帶寬,n78 是全球主要頻段,目前很多國家的5G 試點(diǎn)均采用n78的3.5GHz 頻段,電信和聯(lián)通采用共建站的方式實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)部署,則單個(gè)基站帶寬達(dá)到200MHz,因此測(cè)試來看需要場(chǎng)地和儀表滿足大帶寬的測(cè)試需求。
(2)測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)
目前關(guān)于5G 基站天線的國際標(biāo)準(zhǔn)有:3GPP TS 38.141-1《NR Base Station (BS) conformance testing Part 1:Conducted conformance testing》,NR基站傳導(dǎo)性能測(cè)試;3GPP TS 38.141-2《NR Base Station (BS)conformance testing Part 2:Radiated conformance testing》,NR 基站輻射性能測(cè)試;以及等同的ETSI TS 138.141-1/138.141-2。
作為5G 網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)、協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)的制定者,3GPP 標(biāo)準(zhǔn)化組織規(guī)定了type 1-C/1-H/1-O/2-O 四種從物理結(jié)構(gòu)和頻率劃分上的基站類型。FR1 sub6G 頻段內(nèi)的1-C 類型單通道基站到天線的連接,1-H 為基站通過功分網(wǎng)絡(luò)多通道連接至天線陣列,1-O 類型為天線、功分網(wǎng)絡(luò)與射頻單元完全一體化的結(jié)構(gòu),F(xiàn)R2 毫米波頻段內(nèi)為2-O 類型一體化的基站。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了基站整機(jī)傳導(dǎo)和空口的測(cè)試方法以及技術(shù)指標(biāo)要求,也明確規(guī)定了不同基站類型所需測(cè)試的指標(biāo)參數(shù)。
5G 基站標(biāo)準(zhǔn)中定義的1-C、1-H、1-O、2-O 共4 種類型的基站,其中1-H、1-O、2-O 需采用空口OTA(over the air)的方式進(jìn)行測(cè)試。特別是FR1 頻段的1-O 類型和FR2 頻段的2-O 類型基站全部指標(biāo)需采用OTA 測(cè)試。采用OTA 測(cè)試方式,自然需要電波暗室,常見的測(cè)試場(chǎng)有室內(nèi)遠(yuǎn)場(chǎng)、緊縮場(chǎng)、近場(chǎng)、電波混響室這幾類。前三種均在全電波暗室環(huán)境下進(jìn)行,而電波混響室則是一個(gè)電大尺寸且具有高導(dǎo)電反射墻面構(gòu)成的屏蔽腔室。幾類電波暗室對(duì)于5G 基站天線的測(cè)試各有優(yōu)缺點(diǎn),不同的電波暗室適用于不同的性能指標(biāo)測(cè)試。
(1)室內(nèi)遠(yuǎn)場(chǎng)
圖1 室內(nèi)遠(yuǎn)場(chǎng)
室內(nèi)遠(yuǎn)場(chǎng)以在一個(gè)全電波暗室的空間內(nèi),點(diǎn)對(duì)點(diǎn)收發(fā)的直接測(cè)試方式,收發(fā)距離需至少滿足遠(yuǎn)場(chǎng)距離d=2D2/λ,其中d 為發(fā)射天線到接收天線的距離,D 為被測(cè)天線的口徑,λ 為被測(cè)天線發(fā)射電磁波的波長。以3.5GHz 的天線,尺寸口徑為0.8 米為例,遠(yuǎn)場(chǎng)距離則大約需要15 米,暗室尺寸長寬高預(yù)計(jì)約為20×10×10 米。如果頻率低一些,天線尺寸會(huì)更大,則暗室尺寸則需要更大才能滿足測(cè)試條件。因此室內(nèi)遠(yuǎn)場(chǎng)需要滿足不同天線的測(cè)試需求,則需要做得足夠大,建設(shè)成本較高。
(2)近場(chǎng)
被測(cè)天線與參考天線間的距離d ≤2D2/λ 或10λ,此類場(chǎng)地的優(yōu)點(diǎn)是占用空間小、建設(shè)成本相對(duì)較低。具有代表性的近場(chǎng)是MVG 公司的球面近場(chǎng)多探頭測(cè)試系統(tǒng),該測(cè)試系統(tǒng)通過多探頭的快速切換和測(cè)試天線繞方位軸步進(jìn)旋轉(zhuǎn),能夠快速測(cè)試被測(cè)天線的球面近場(chǎng)幅度和相位數(shù)據(jù)。球面近場(chǎng)測(cè)試方式目前僅可用CW(連續(xù)波)模式下的方向圖測(cè)試,調(diào)制信號(hào)的測(cè)試暫未驗(yàn)證其可行性。
圖2 球面近場(chǎng)
(3)緊縮場(chǎng)
緊縮場(chǎng)屬于遠(yuǎn)場(chǎng)的測(cè)試方式,它利用反射鏡或透鏡把位于焦點(diǎn)處的饋源發(fā)出的球面波轉(zhuǎn)換為平面波,從而實(shí)現(xiàn)有限物理空間內(nèi)的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試。參考天線與被測(cè)天線的距離較直接遠(yuǎn)場(chǎng)可以縮短,但測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍比直接遠(yuǎn)場(chǎng)小。緊縮場(chǎng)的靜區(qū)大小受反射面大小影響,因此要獲得足夠大的靜區(qū),其反射面成本較高,所以整體建設(shè)成本和維護(hù)成本也較高。
(4)電波混響室
電波混響室是一個(gè)電大尺寸且具有高導(dǎo)電反射墻面構(gòu)成的屏蔽腔室,腔室中通常安裝一個(gè)或幾個(gè)機(jī)械式攪拌器或調(diào)諧器,通過攪拌器的轉(zhuǎn)動(dòng)改變腔室的邊界條件,進(jìn)而在腔室內(nèi)形成統(tǒng)計(jì)均勻、各向同性和隨機(jī)極化的電磁環(huán)境。所以混響室可用于多種涉及輻射場(chǎng)的測(cè)試,其中就包括天線效率、輻射功率等。相較于傳統(tǒng)電波暗室,其對(duì)于5G 基站天線輻射功率的測(cè)試高效且成本較低,比較適合用于各類輻射功率指標(biāo)的測(cè)試。
圖3 緊縮場(chǎng)
圖4 電波混響室
由于5G 基站天線相較于傳統(tǒng)2/3/4G 的天線,將RRU與天線“合二為一”,集成度更高,性能指標(biāo)的測(cè)試也更加復(fù)雜。因此對(duì)于其性能測(cè)試需要將整體進(jìn)行“一分為二”,一體化天線方向圖和OTA 性能兩部分。其中天線方向圖相較于傳統(tǒng)板狀無源天線,測(cè)試原理類似,測(cè)試儀表由網(wǎng)絡(luò)分析儀變?yōu)轭l譜分析儀,本文不再進(jìn)行技術(shù)分析,可參考傳統(tǒng)無源天線的測(cè)試方法測(cè)試方向圖。
5G 基站天線OTA 性能分發(fā)射指標(biāo)、接收指標(biāo)兩部分,相較于傳統(tǒng)基站指標(biāo)而言,衡量其指標(biāo)的方式由傳導(dǎo)的方式變?yōu)榱丝湛冢∣TA)的方式。業(yè)內(nèi)一般稱為輻射發(fā)射指標(biāo)、輻射接收指標(biāo)。
輻射發(fā)射指標(biāo)有EIRP(等效全向輻射功率)、TRP(總輻射功率)、EVM(矢量幅度誤差)、ACLR(臨道功率抑制比)、發(fā)射機(jī)雜散、發(fā)射機(jī)互調(diào)等;輻射接收指標(biāo)有EIS(等效全向靈敏度)、ACS(臨道選擇性)、ICS(帶內(nèi)選擇性)阻塞、接收機(jī)雜散、接收機(jī)互調(diào)等;各類OTA 性能指標(biāo)的測(cè)試因?yàn)镺TA 的方式相較于傳統(tǒng)的傳導(dǎo)方式測(cè)試有所不同。
5G 基站輻射發(fā)射性能,對(duì)于發(fā)射機(jī)主要為下行指標(biāo),下行指標(biāo)的測(cè)試內(nèi)容主要為功率、頻率誤差、幅度誤差、占用帶寬等,其測(cè)試方式采用特定的波束方向測(cè)試、球面網(wǎng)格點(diǎn)兩種不同測(cè)試范圍。如表1 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)列出了各指標(biāo)評(píng)價(jià)方式和測(cè)試范圍,TRP(總輻射功率)的測(cè)試按照3GPP TS 38.141-2 中規(guī)定的網(wǎng)格點(diǎn)的所有EIRP,然后按公式1 進(jìn)行計(jì)算:
表1 發(fā)射指標(biāo)評(píng)價(jià)方式
其中N 和M 為球坐標(biāo)系上θ 和φ 角度上測(cè)試點(diǎn)個(gè)數(shù),EIRP(θn,φm)為每個(gè)單獨(dú)的測(cè)試點(diǎn),采樣角度間隔根據(jù)天線大小和頻率確定。
對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)中發(fā)射指標(biāo),EIRP、EVM 等指標(biāo)OTA 測(cè)試時(shí)需要在電波暗室環(huán)境條件下測(cè)試特定波束方向上的射頻指標(biāo)即可,測(cè)試方法和傳導(dǎo)射頻測(cè)試方式類似。然而TRP 測(cè)試則需要測(cè)試以5G 基站天線為球心的三維球面上各個(gè)采樣點(diǎn)的EIRP,最后通過公式(1)進(jìn)行計(jì)算得出TRP。對(duì)于此種TRP 測(cè)試方式,則是需要在室內(nèi)遠(yuǎn)場(chǎng)、緊縮場(chǎng)等較大暗室空間中進(jìn)行,測(cè)試精確度高,對(duì)整個(gè)測(cè)試項(xiàng)目周期耗時(shí)較長。因此在保證測(cè)試精度的情況下,為了縮短測(cè)試項(xiàng)目周期,TRP 的測(cè)試可以選擇測(cè)試效率更高的電波混響室作為1GHz以上的頻率范圍的測(cè)試場(chǎng)地。
電波混響室可以較大縮短測(cè)試周期,但僅限于在高頻部分且只針對(duì)5G 基站天線本身發(fā)出的輻射功率進(jìn)行測(cè)試。共址雜散以及極限溫度條件下的輻射功率測(cè)試,均需要有足夠大的靜區(qū)安裝共址天線和溫度罩進(jìn)行測(cè)試,另外互調(diào)測(cè)試同樣需要共址天線饋入互調(diào)信號(hào)。因此對(duì)于這幾個(gè)測(cè)試指標(biāo)仍需選擇室內(nèi)遠(yuǎn)場(chǎng)、緊縮場(chǎng)等擁有較大靜區(qū)的電波暗室作為測(cè)試環(huán)境。
接收指標(biāo)也叫做上行指標(biāo),是衡量5G 基站接收用戶終端信號(hào)的能力,主要從兩個(gè)方面驗(yàn)證。一是在基站接收信號(hào)吞吐量不低于95%的信號(hào)電平要足夠低,二是在受到主頻周圍大干擾信號(hào)時(shí),吞吐量需保持不低于95%的水平。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,接收指標(biāo)除接收機(jī)雜散外,其余指標(biāo)只需在特定波束方向上測(cè)試即可,見表2。
表2 接收指標(biāo)評(píng)價(jià)方式
EIS 測(cè)試時(shí),作為發(fā)射端,發(fā)送信號(hào)大小均比較低,各類場(chǎng)地的測(cè)試環(huán)境均可滿足要求。對(duì)于臨道選擇性、阻塞等類型的指標(biāo)測(cè)試,則需要保證足夠的鏈路增益,以確保干擾信號(hào)達(dá)到作為接收端的5G 基站天線口面時(shí),功率滿足標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的大小,因此可以考慮單探頭近場(chǎng)(鏈路損耗最?。?、室內(nèi)遠(yuǎn)場(chǎng)、緊縮場(chǎng)這幾種測(cè)試方式。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求,阻塞和臨道選擇的干擾信號(hào)功率大小在-50~-60dBm 范圍左右,室內(nèi)遠(yuǎn)場(chǎng)根據(jù)15 米的距離,則可以計(jì)算出損耗在67dB 左右,緊縮場(chǎng)則因?yàn)槁窂骄嚯x更近,損耗預(yù)計(jì)為60dB 左右。從干擾信號(hào)功率大小和測(cè)試場(chǎng)地路徑損耗分析,室內(nèi)遠(yuǎn)場(chǎng)和緊縮場(chǎng)則需要加功放才能滿足要求,而單探頭近場(chǎng)則可以縮短收發(fā)距離,不需要再額外增加路徑中的放大器。其中共址阻塞和帶外阻塞,需要安裝共址天線和頻帶外的發(fā)射天線,因此考慮單探頭近場(chǎng)和室內(nèi)遠(yuǎn)場(chǎng)的方式作為可選的測(cè)量方式。
本文從5G 基站天線性能空口一體化測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)條款中,逐個(gè)測(cè)試項(xiàng)目分析不同測(cè)試場(chǎng)地的適用性,得出表3 中的不同指標(biāo)參數(shù)參考的測(cè)試場(chǎng)地。可以看出5G 基站天線性能測(cè)試由于采用OTA 空口測(cè)試,導(dǎo)致了測(cè)試相較于2/3/4G基站天線更加復(fù)雜和繁瑣,單個(gè)類型的場(chǎng)地已不能完全滿足5G 基站天線的性能測(cè)試,需綜合各類型場(chǎng)地的優(yōu)勢(shì)滿足不同的性能指標(biāo)的高精度、高效率測(cè)試。本文分析得出了不同性能指標(biāo)測(cè)試的場(chǎng)地優(yōu)勢(shì),為5G 基站天線一體化空口性能的高效測(cè)試提供參考。