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        P5+共摻雜對Lu2SiO5:Pr3+納米顆粒紫外區(qū)長余輝發(fā)光性能的影響

        2023-10-22 05:11:24范麗艷張洪武
        廈門理工學院學報 2023年3期
        關鍵詞:余輝溶膠能級

        范麗艷,張洪武

        (魯東大學化學與材料科學學院,山東 煙臺 264025)

        紫外長余輝發(fā)光材料由于長時間地發(fā)出紫外光,并且在過程中不需要施加外加光源,在廢水處理[1]、光化學[2]、光敏劑[3]、紫外線通訊技術[4]、殺菌消毒[5-6]等方面有非常廣泛的應用,是目前研究的熱點。在紫外長余輝發(fā)光材料中,由于Pr3+能級結構非常復雜,包括3H4、3H5、3H6、3F2、3F4、3P0、3P1、1S0等13 個能級[7],而且Pr3+能級躍遷豐富,可以從4f2能級躍遷為4f15d1能級[8],故被作為常用的紫外長余輝發(fā)光材料的發(fā)光中心。以Lu2SiO5作為基質(zhì)的紫外發(fā)光材料的研發(fā)近些年取得了一些進展,通過摻雜Pr3+獲得了深紫外區(qū)(UVC)的長余輝發(fā)光,這種材料只需在254 nm的常用汞燈激發(fā)下就可以獲得很好的UVC區(qū)間長余輝發(fā)光,是一種很有前途的紫外長余輝發(fā)光材料[9-10]。但之前有關Lu2SiO5:Pr3+的文獻中均未提及顆粒大小的相關數(shù)據(jù)。通常,顆粒越小,發(fā)光強度越弱,一般在制備紫外長余輝發(fā)光材料器件時,均勻的顆粒更有利于高性能器件的制備,而且細小均勻的顆粒也可以在生物成像方面得到應用。溶膠-凝膠法制備的長余輝顆粒通常有顆粒大小均勻、余輝時間長等優(yōu)點??紤]到P5+和Si4+的晶體結構都是四面體,且鮮有研究嘗試將P5+摻雜到Lu2SiO5:Pr3+中,看其是否會取代部分Si4+的格位,從而提高陷阱濃度,使長余輝性能得到更大程度的改善。故本文采用溶膠-凝膠法合成Lu2SiO5:Pr3+納米紫外長余輝發(fā)光材料,研究P5+共摻雜對材料長余輝發(fā)光性能的影響。

        1 實驗

        1.1 樣品制備

        制備Lu2SiO5:Pr3+采用的是溶膠-凝膠法。取適量硝酸镥、磷酸二氫銨和硝酸鐠分別加入去離子水,在燒杯中溶解后轉移至容量瓶中配置成c=0.25 mol·L-1的溶液。取10 mL 的硝酸镥溶液于圓底燒瓶中,再加入25 μL的硝酸鐠溶液,將兩者攪拌均勻,將2.101 4 g的一水檸檬酸加入裝有40 mL乙醇的燒杯中溶解,然后加入到上述圓底燒瓶中,持續(xù)攪拌;此后,加入279 μL 的正硅酸四乙酯(TEOs),并放在60 ℃下恒溫攪拌3 h,在80 ℃的烘箱中烘干,得到淡綠色的固體。將淡綠色固體放入高溫爐中400 ℃預燒,得到灰色絮狀粉末,再將之放入1 250 ℃高溫爐空氣氛圍中(升溫速率為5 ℃·min-1)燒制4 h,得到白色粉末狀的樣品,研磨20 min后得到所需樣品Lu2SiO5:Pr3+。

        為探究最佳P5+摻雜量,制備不同P5+摻雜量的Lu2Si1-xO5:Pr3+,xP5+(式中,x的取值分別為 1%、2%、3%、4%、5%,其以整個化學式的質(zhì)量分數(shù)為1作為基準質(zhì)量分數(shù))。取10 mL 的硝酸镥溶液于圓底燒瓶中,加入25 μL的硝酸鐠溶液和適量磷酸二氫銨溶液,將三者攪拌均勻;同時,將2.101 4 g的一水檸檬酸加入裝有40 mL 乙醇的燒杯中溶解,然后加入上述圓底燒瓶中,持續(xù)攪拌,此后加入279 μL的正硅酸四乙酯(TEOs),并放在60 ℃下恒溫攪拌3 h,在80 ℃的烘箱中烘干,得到淡綠色的固體。將淡綠色固體放入高溫爐中400 ℃預燒,得到灰色絮狀粉末,將之放入1 250 ℃高溫爐空氣氛圍中(升溫速率為5 ℃·min-1)燒制4 h,得到白色粉末狀的樣品,研磨20 min 后得到所需樣品Lu2Si1-xO5:Pr3+,xP5+。

        1.2 樣品表征

        激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、余輝光譜和余輝衰減光譜均采用Hitachi公司的F-7 100熒光分光光度計在室溫下進行的測定,余輝光譜的范圍為200~ 650 nm。XRD 采用的是美國FEI Talos 公司的200S X-射線粉末衍射儀在室溫下拍攝,掃描速度為8°·min-1。TEM 采用的是Talos 公司的F200X G2 透射電子顯微鏡拍攝的圖片。熱釋發(fā)光光譜采用的是Horiba公司的Fluorolog-QM反射式熒光光譜儀,在77 K液氮條件下測試,測量的是從0 ℃到100 ℃的溫度曲線變化,升溫速度為10 ℃·min-1。

        2 實驗結果與討論

        2.1 摻雜P5+對Lu2SiO5:Pr3+結構和形貌的影響

        圖1 為Lu2Si1-xO5:Pr3+,xP5+的XRD 圖。由圖1 所知,所有Lu2Si1-xO5:Pr3+,xP5+樣品的XRD 峰位置相同,在15.1°、23.5°、25.9°、29.9°、30.9°和42.4°處均存在特征峰。盡管P5+的摻雜量增加到5%,但沒有出現(xiàn)其他雜質(zhì)峰,這表明P5+很好地分散在Lu2SiO5的基質(zhì)中以形成固溶體。與標準卡片PDF#41-0 239相比,可以看到所有Lu2Si1-xO5:Pr3+,xP5+樣品的結構屬于單斜Lu2SiO5結構,空間群屬于C2/c,晶胞參數(shù)為a=14.254 ?,b=6.641 ?,c=10.241 ?,β=122.2°[11]。

        圖1 Lu2Si1-xO5:Pr3+,xP5+樣品的XRD譜圖Fig.1 XRD patterns of Lu2Si1-xO5:Pr3+,xP5+samples

        Lu2SiO5晶體結構示意如圖2所示。由圖2可知,晶體中的SiO4四面體和LuO4四面體共邊,并由分離的SiO4四面體連接成鏈。由于P5+的半徑(34 pm)與Si4+的半徑(42 pm)接近,且兩者均為XO4(X=Si、Lu)結構,根據(jù)離子半徑與配位數(shù)的關系,P5+更容易進入到Si4+格位,并由于價態(tài)的不同而產(chǎn)生氧空位,這促進了樣品中陷阱數(shù)目的增加,從而增強了樣品長余輝發(fā)光性能。此外,由于Pr3+的離子半徑(101.3 pm)和價態(tài)與晶體中Lu3+的離子半徑(84.8 pm)和價態(tài)更為接近,因此Pr3+占據(jù)Lu3+的格位。

        圖2 Lu2SiO5的晶體結構示意圖Fig.2 Crystal structure of Lu2SiO5

        圖3展示了Lu2SiO5:Pr3+和Lu2SiO5:Pr3+,P5+長余輝材料的TEM,圖4展示了Lu2SiO5:Pr3+和Lu2SiO5:Pr3+,P5+長余輝材料的顆粒粒徑分布圖。

        圖3 溶膠-凝膠法制備的Lu2SiO5:Pr3+和Lu2SiO5:Pr3+,P5+的TEM圖Fig.3 TEM of Lu2SiO5:Pr3+ and Lu2SiO5:Pr3+,P5+ prepared by sol-gel-method

        圖4 溶膠-凝膠法制備的Lu2SiO5:Pr3+和Lu2SiO5:Pr3+,P5+的顆粒粒徑分布圖Fig.4 Size distribution images of Lu2SiO5:Pr3+ and Lu2SiO5:Pr3+,P5+ prepared by sol-gel-method

        從圖3 可以看出,采用溶膠-凝膠法制備的樣品粒度分布較為均勻,顆粒呈塊石狀,但形狀不是很規(guī)則,從圖4 的顆粒粒徑分布圖可以看出粒徑在100 nm 左右,同時,可以發(fā)現(xiàn)摻雜P5+后對樣品的形貌和粒徑幾乎沒有影響。

        2.2 摻雜P5+對Lu2SiO5:Pr3+光致發(fā)光的影響

        圖5 為Lu2Si1-xO5:Pr3+,xP5+的激發(fā)光譜和發(fā)射光譜(λex為激發(fā)波長,λem為發(fā)射波長)。從圖中可以看出,所有樣品的光譜峰的位置均沒有發(fā)生變化,其激發(fā)光譜位置在248 nm處有寬峰,歸屬于Pr3+離子4f2-4f5d的躍遷。當用248 nm的紫外光激發(fā)時,所有樣品發(fā)射光譜均在275~ 350 nm的紫外有兩個較寬的發(fā)射峰,其中較高的一個峰位于270 nm的位置上,屬于UVC區(qū),這可以有效殺死病毒和細菌;另一個高峰位于320 nm 處,屬于UVB 發(fā)光,這兩個峰分別歸屬于Pr3+離子5d1-3H4和5d1-3H5的躍遷。同時,從圖5中可以發(fā)現(xiàn),加入磷酸根離子不僅對樣品發(fā)光峰位置沒有影響,并且對其發(fā)光強度的變化也很小,這說明磷酸根的加入并沒有破壞樣品的結晶性,因而對樣品的光致發(fā)光幾乎沒有影響。

        圖5 Lu2Si1-xO5:Pr3+,xP5+樣品的激發(fā)和發(fā)射光譜Fig.5 Excitation and emission spectra of Lu2Si1-xO5:Pr3+,xP5+

        2.3 P5+摻雜對Lu2SiO5:Pr3+長余輝發(fā)光性質(zhì)的影響

        先確定了Lu2Si1-xO5:xPr3+長余輝發(fā)光材料中x的最佳值(x為質(zhì)量分數(shù)),制備了當x=0.5%和x=1.0%摻雜濃度的Lu2Si1-xO5:xPr3+,測試了該兩種樣品的余輝光譜,具體如圖6 所示。從圖6 可看出,Lu2SiO5:Pr3+的余輝峰有兩個寬峰,分別位于270 nm 和320 nm 處,歸屬于Pr3+的5d1-3H4躍遷和5d1-3H5躍遷[11]。而當x=0.5%時,Lu2SiO5:Pr3+的長余輝性能更好一些,故采用了Lu2SiO5:0.5%Pr3+作為后續(xù)實驗研究的基本長余輝材料。

        圖6 不同Lu2SiO5:xPr3+ 樣品的余輝光譜(x =0.5%,1.0%)Fig.6 Afterglow emission spectrum of Lu2SiO5:xPr3+(x =0.5%,1.0%)

        摻雜P5+后,對Lu2Si1-xO5:0.5%Pr3+,xP5+的余輝進行測試,用254 nm 的汞燈照射樣品5 min后,得到的余輝光譜和余輝強度曲線如圖7 所示。從圖7(a)可以看出,余輝光譜與光致發(fā)光光譜(圖5)有很大的不同,首先余輝光譜中位于270 nm 的5d1-3H4的UVC 發(fā)光峰有了明顯的增強,遠高于位于320 nm 的5d1-3H5的UVB 發(fā)光峰,二者的余輝發(fā)光強度比達到2.5,而在光致發(fā)光光譜中二者的比例只有1.02,這說明余輝發(fā)光中UVC 的發(fā)光占據(jù)更大的優(yōu)勢,這有利于Lu2SiO5:Pr3+作為新型消殺劑應用于生活中病毒和細菌的去除。同時,從余輝光譜還可以看到位于380、420、490 和550 nm 弱發(fā)光峰,這是典型的Pr3+離子的f -f躍遷,分別對應于1S0-1D2、1S0-1I6、3P0-3H4和3P0-3H5躍遷,這與文獻[12]的報道相一致。此外,隨著P5+濃度的增加,樣品的余輝強度也隨之增加(見圖7(b)),當P5+濃度增加到4%時,其余輝強度最大,是Lu2SiO5:Pr3+余輝強度的1倍多;繼續(xù)增加P5+濃度其余輝強度呈下降趨勢,這主要是由于樣品中氧空位濃度增加導致無輻射躍遷增加,進而降低了樣品的余輝發(fā)光強度。以上結果表明摻雜P5+摻雜對Lu2SiO5:Pr3+有很好的增強作用,4%摻雜是最佳的摻雜濃度,并且樣品的余輝發(fā)光主要位于UVC區(qū),這表明所制備的樣品具有很好的殺死細菌和病毒的功能。

        圖7 Lu2Si1-xO5:0.5%Pr3+,xP5+的余輝光譜和余輝強度曲線Fig.7 Afterglow emission spectrum of Lu2Si1-xO5:0.5%Pr3+,xP5+ and intensities of Lu2SiO5:0.5%Pr3+,xP5+

        為了進一步研究樣品在UVC 區(qū)的長余輝發(fā)光性質(zhì),對樣品在UVC 區(qū)的發(fā)光衰減曲線進行測試,結果如圖8 所示。用254 nm 的汞燈照射樣品5 min 后,在室溫下監(jiān)測270 nm 處UVC 的發(fā)光進行余輝衰減測試持續(xù)記錄了30 min。從圖中可以看到Lu2SiO5:0.5%Pr3+,4%P5+的余輝強度最強,而且余輝衰減也比其他濃度慢,這都表明了摻雜P5+濃度為4%時為最好的濃度。

        圖8 Lu2Si1-xO5:0.5%Pr3+,xP5+余輝衰減光譜Fig.8 Persistence decay spectra of Lu2Si1-xO5:0.5%Pr3+,xP5+

        2.4 不同樣品的熱釋發(fā)光光譜分析

        從樣品的余輝結果來看,P5+的加入可以很好增強樣品的長余輝發(fā)光性能。眾所周知,陷阱的深度和濃度對材料的長余輝發(fā)光性能有著決定性的影響,因此采用熱釋發(fā)光的方法來研究P5+的加入對樣品陷阱情況的影響,結果如圖9 所示。從圖9 可以看出,加入P5+并沒有改變熱釋發(fā)光峰的位置,這說明加入磷酸根離子沒有改變樣品中陷阱的深度。根據(jù)Randall方法[13]粗略估計了陷阱的深度。材料中陷阱深度計算式為:

        圖9 Lu2SiO5:0.5%Pr3+和Lu2SiO5:0.5%Pr3+,4%P5+的熱釋發(fā)光譜圖Fig.9 Thermoluminescence curves of Lu2SiO5:0.5%Pr3+ and Lu2SiO5:0.5%Pr3+,4%P5+

        其中:Et為陷阱深度;Tm為熱釋峰峰值。計算出未摻雜P5+時,陷阱的深度為0.60 eV,摻雜P5+后,陷阱深度為0.58 eV,陷阱深度變淺,使得長余輝的性能得到改善。同時,可以看到P5+的加入顯著增加了熱釋發(fā)光峰的強度。加入4%P5+后,樣品的熱釋光強度是未摻雜樣品的1 倍以上。由于熱釋光峰的強度代表了樣品中陷阱的濃度,這些結果表明,在添加P5+代替Si4+之后,由于不等價取代,大大增加了樣品中的陷阱濃度,導致更強的長余輝發(fā)光。

        2.5 Lu2SiO5:Pr3+紫外長余輝發(fā)光機制

        根據(jù)已經(jīng)取得的研究結果,對摻雜P5+的Lu2SiO5:Pr3+紫外長余輝發(fā)光機制進行推導,結果如圖10 所示。P5+代替Si4+進入到硅氧四面體中,會引起電荷不平衡,進而會產(chǎn)生氧空位,而這些氧空位可以作為陷阱來捕獲電子,存儲能量;在254 nm 紫外光的激發(fā)下,電子從Pr3+離子基態(tài)(3H4)躍遷到5d 能級,由于Pr3+離子的5d 能級部分與Lu2SiO5基質(zhì)的導帶重疊,因而激發(fā)的電子可以通過導帶作為媒介傳輸?shù)较葳宥东@,隨著陷阱濃度的增加,被捕獲的電子濃度也相應增加;隨后在基質(zhì)晶格振動所產(chǎn)生的熱量假發(fā),被捕獲的電子可以重新進入基質(zhì)導帶,傳輸?shù)絇r3+的5d能級,進而躍遷到3H5,形成UVB 長余輝發(fā)光;躍遷到基態(tài)(3H4)發(fā)出UVC長余輝發(fā)光。

        圖10 Lu2SiO5:Pr3+,P5+紫外區(qū)長余輝發(fā)光機制Fig.10 Lu2SiO5:Pr3+,P5+ ultraviolet long afterglow mechanism

        3 結論

        本研究采用溶膠-凝膠法合成納米級P5+、Pr3+共摻雜Lu2SiO5紫外長余輝發(fā)光材料。研究結果表明,所制備的樣品結構均屬于單斜相Lu2SiO5結構,空間群屬于C2/c。XRD 譜圖證明,P5+與Pr3+的加入沒有產(chǎn)生其他雜質(zhì)峰。光致發(fā)光結果表明,樣品激發(fā)光譜為248 nm處的寬峰,歸屬于Pr3+的4f2-4f5d躍遷;當用248 nm 的紫外光激發(fā)時,樣品的發(fā)光主要由270 nm 處的UVC 發(fā)光和320 nm 處的UVB 發(fā)光組成,這兩個峰分別歸屬于Pr3+的5d1-3H4和5d1-3H5躍遷。P5+的加入可以明顯提高樣品的紫外長余輝發(fā)光強度,并且270 nm 的5d1-3H4UVC 余輝發(fā)光峰遠高于位于320 nm 的5d1-3H5的UVB 發(fā)光峰,余輝發(fā)光峰中UVC 的發(fā)光占據(jù)更大的優(yōu)勢。熱釋發(fā)光結果表明,加入P5+代替Si4+后,由于電荷不平衡而產(chǎn)生大量氧空位,陷阱深度變淺,進而極大增加了樣品中陷阱濃度,從而引起更強的長余輝發(fā)光。雖然,P5+最初的摻雜量是根據(jù)比例摻入的,但是否全部都取代了Si4+,是本文需要繼續(xù)探究的。該材料長時間的紫外余輝可以廣泛應用于殺菌消毒方面,但要在生物成像等方面進一步應用,還需進行顆粒的篩選,以獲得顆粒更小的Lu2SiO5紫外長余輝發(fā)光材料,并將之與紅外相結合,達到及時發(fā)現(xiàn)體內(nèi)炎癥、及時治療的效果,這也是今后繼續(xù)研究的方向。

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