陳鈞,劉國(guó)榮,曾博,張浩明,熊德貴,鐘惠霞(威凱檢測(cè)技術(shù)有限公司,廣州 510663)
在ISO/IEC 17025:2017 以及CNAS-CL01-2018[1,2]中條款7.7 要求確保測(cè)量結(jié)果有效性。在CNAS GL052:2022《電磁兼容檢測(cè)領(lǐng)域設(shè)備期間核查指南》[3]第5 部分“EMC 系統(tǒng)級(jí)設(shè)備及測(cè)試儀器的核查要求”中寫(xiě)到:“電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)中普遍存在檢測(cè)結(jié)果的一致性問(wèn)題,同一測(cè)試系統(tǒng)的重復(fù)性和不同測(cè)試系統(tǒng)之間的復(fù)現(xiàn)性效果均存在一定的差異,需要用適當(dāng)?shù)姆椒▽?duì)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行期間核查,使檢測(cè)結(jié)果的測(cè)量準(zhǔn)確度在可控范圍之內(nèi)。”
該條款要求對(duì)EMC 同一測(cè)試系統(tǒng)的重復(fù)性和不同測(cè)試系統(tǒng)之間的復(fù)現(xiàn)性的一致性進(jìn)行考核。對(duì)于同一EMC測(cè)試系統(tǒng)的重復(fù)性(或穩(wěn)定性)考核,作者已在參考文獻(xiàn)[4]中進(jìn)行了詳細(xì)論述。
本文主要對(duì)不同EMC 測(cè)試系統(tǒng)之間的一致性的考核方法進(jìn)行探討,目前國(guó)內(nèi)行業(yè)中普遍給出±3 dB 都是可接受的,但是當(dāng)我們對(duì)測(cè)量系統(tǒng)有更高要求的一致性要求時(shí),如何考核呢?是人為主觀地選擇±2 dB,還是±1.5 dB,還是其它?依據(jù)又是什么?鑒于以上問(wèn)題,本文提出了應(yīng)用t 檢驗(yàn)法[5]和單因子方差分析法[6]兩種數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法,更客觀、更科學(xué)識(shí)別同一測(cè)試參數(shù)(如傳導(dǎo)騷擾測(cè)試)的不同EMC 測(cè)試系統(tǒng)的性能偏離。
先來(lái)看t 檢驗(yàn)法的統(tǒng)計(jì)原理:為了更方便的說(shuō)明,我們以傳導(dǎo)騷擾(以下簡(jiǎn)稱CE,詳見(jiàn)參考文獻(xiàn)[7]、[8])測(cè)量系統(tǒng)為例說(shuō)明,用一個(gè)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品或滿足穩(wěn)定性要求的質(zhì)控樣品(選用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品或質(zhì)控樣品,主要是它們具有穩(wěn)定性這一特性,排除了因樣品差異導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不一致的情形)分別對(duì)兩套傳導(dǎo)騷擾測(cè)量系統(tǒng)的選定頻點(diǎn)測(cè)試n1和n2次,考核兩套傳導(dǎo)騷擾測(cè)量系統(tǒng)出具測(cè)試結(jié)果之間是否存在顯著差異。
式中:
x1—對(duì)第一套傳導(dǎo)騷擾測(cè)量系統(tǒng)多次測(cè)試結(jié)果的平均值;
x2—對(duì)第二套傳導(dǎo)騷擾測(cè)量系統(tǒng)多次測(cè)試結(jié)果的平均值;
s1—對(duì)第一套傳導(dǎo)騷擾測(cè)量系統(tǒng)多次測(cè)試結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)偏差;
s2—對(duì)第二套傳導(dǎo)騷擾測(cè)量系統(tǒng)多次測(cè)試結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)偏差;
n1—對(duì)第一套傳導(dǎo)騷擾測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量次數(shù),n1≥6;
n2—對(duì)第二套傳導(dǎo)騷擾測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量次數(shù),n2≥6。
若t <顯著性水平α(通常 α=0.05)自由度為n1+n2-2 的臨界值tα(n1+n2-2),則兩套傳導(dǎo)騷擾測(cè)量系統(tǒng)之間的測(cè)試結(jié)果無(wú)顯著性差異,表明這兩套CE 測(cè)試系統(tǒng)在選定頻點(diǎn)的測(cè)試結(jié)果是一致的。
為了更觀的闡述方法,我們以CE 測(cè)量系統(tǒng)為例說(shuō)明,用一個(gè)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品或滿足穩(wěn)定性要求的質(zhì)控樣品分別對(duì)兩套CE 測(cè)試系統(tǒng)的選定頻點(diǎn)(本文以(1±0.05)MHz 頻點(diǎn)為例)進(jìn)行準(zhǔn)峰值(以下簡(jiǎn)稱QP 值)測(cè)試,各測(cè)試6 次,考測(cè)試數(shù)據(jù)如表1。
表1 CE 測(cè)量系統(tǒng)在(1±0.05)MHz 的QP 值測(cè)試數(shù)據(jù)匯總表(dB(μV))
應(yīng)用t 檢驗(yàn)方法,結(jié)果分析如表2。
表2 兩套CE 測(cè)量系統(tǒng)在(1±0.05)MHz 的QP 值測(cè)試數(shù)據(jù)t 檢驗(yàn)結(jié)果分析表(dB(μV))
從表2 易知,兩套CE 測(cè)量系統(tǒng)在(1±0.05)MHz的QP 值測(cè)試數(shù)據(jù)的t 檢驗(yàn)結(jié)果:計(jì)算的t 統(tǒng)計(jì)量小于tα(10)臨界值,表明在顯著性水平α=0.05 時(shí),這兩套CE測(cè)量系統(tǒng)在(1±0.05)MHz 的QP 值是一致的,即這兩套CE 測(cè)量系統(tǒng)在(1±0.05)MHz 的測(cè)試結(jié)果具有一致性。
先來(lái)看單因子方差分析法的統(tǒng)計(jì)原理:為了更方便的說(shuō)明,我們?nèi)砸訡E 測(cè)量系統(tǒng)(CE 測(cè)量方法,詳見(jiàn)參考文獻(xiàn)[9]、文獻(xiàn)[10])為例說(shuō)明,用一個(gè)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品/質(zhì)控樣品分別對(duì)m 套(m ≥3)CE 測(cè)量系統(tǒng)為例,對(duì)選定頻點(diǎn),在重復(fù)條件下測(cè)試j 次(j=1、2、……n),j ≥2。
每套CE 測(cè)量系統(tǒng)選定頻點(diǎn)的測(cè)試結(jié)果平均值:
所有CE 測(cè)量系統(tǒng)選定頻點(diǎn)測(cè)試結(jié)果的總平均值:
測(cè)試總次數(shù):
m 套CE 測(cè)量系統(tǒng)間差異平方和:
組間差異均方:
每套CE 測(cè)量系統(tǒng)內(nèi)差異平方和:
組內(nèi)差異均方:
若F <自由度為(f1,f2)及給定顯著性水平α(通常α=0.05)的臨界值Fα(f1,f2),則表明m 套CE 測(cè)量系統(tǒng)間測(cè)試結(jié)果不存在顯著性差異,該m 套CE 測(cè)量系統(tǒng)在選定頻點(diǎn)的測(cè)量結(jié)果是一致的。
為了更直觀的闡述方法,我們?nèi)砸訡E 測(cè)量系統(tǒng)為例(CE 測(cè)量方法,詳見(jiàn)參考文獻(xiàn)[9]、文獻(xiàn)[10])說(shuō)明,用一個(gè)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品或滿足穩(wěn)定性要求的質(zhì)控樣品分別對(duì)三套CE 測(cè)試系統(tǒng)的選定頻點(diǎn)(本例仍以(1±0.05)MHz 頻點(diǎn)為例)進(jìn)行準(zhǔn)峰值(以下簡(jiǎn)稱QP 值)測(cè)試,各測(cè)試6 次,考測(cè)試數(shù)據(jù)如表3。
表3 CE 測(cè)量系統(tǒng)在(1±0.05)MHz 的QP 值測(cè)試數(shù)據(jù)匯總表(dB(μV))
應(yīng)用單因子方差分析法,結(jié)果分析如表4。
表4 CE 測(cè)量系統(tǒng)在(1±0.05)MHz 的QP 值測(cè)試數(shù)據(jù)單因子方差分析法結(jié)果分析表(dB(μV))
從表4 知,F(xiàn) >F0.05(2,15),這三套CE 測(cè)量系統(tǒng)在(1±0.05)MHz 的QP 值測(cè)量結(jié)果不具有一致性。
綜上所述,利用t 檢驗(yàn)法和單因子方差分析法能更高質(zhì)量地識(shí)別不同EMC 測(cè)量系統(tǒng)對(duì)同一測(cè)試參數(shù)進(jìn)行測(cè)試時(shí)測(cè)試結(jié)果的差異性,識(shí)別不同EMC 測(cè)量系統(tǒng)的性能偏離。
本文僅討論了如何應(yīng)用t 檢驗(yàn)法和單因子方差分析法識(shí)別不同EMC 測(cè)量系統(tǒng)對(duì)同一測(cè)試參數(shù)進(jìn)行測(cè)量時(shí)的性能偏離,并未涉及在發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)間存在差異時(shí)如何進(jìn)行原因查找和整改。在實(shí)際質(zhì)量控制活動(dòng)中,發(fā)現(xiàn)問(wèn)題是第一步,原因分析和整改措施更為關(guān)鍵,而且難度更大,這一部分留待未來(lái)進(jìn)一步的討論。