涂層在經(jīng)歷特定載荷后損傷情況的有效量化,直接關(guān)系到涂層壽命預(yù)測的準(zhǔn)確性,發(fā)展適用于熱障涂層的損傷定量化測試技術(shù)具有重要的學(xué)術(shù)和工程意義。
熱障涂層是一種有效的熱防護(hù)技術(shù),廣泛應(yīng)用于航空發(fā)動(dòng)機(jī)與燃?xì)廨啓C(jī)的熱端部件,使熱端部件的耐溫能力提升約170℃,從而延長部件服役時(shí)間、提高發(fā)動(dòng)機(jī)總體性能和熱效率。按照陶瓷層制備工藝的不同,航空發(fā)動(dòng)機(jī)熱障涂層可分為大氣等離子噴涂(APS)和電子束物理氣相沉積(EB-PVD)兩類,如圖1所示。雖然熱障涂層已經(jīng)在過去的幾十年中得到了應(yīng)用,但在運(yùn)行過程中受到損傷乃至過早剝落失效,仍是困擾學(xué)術(shù)與工程界的首要難題。涂層一旦剝落,會(huì)使基體合金暴露在超過材料設(shè)計(jì)耐溫能力的高溫腐蝕性燃?xì)猸h(huán)境中,極易引起結(jié)構(gòu)的燒蝕、斷裂,嚴(yán)重危害發(fā)動(dòng)機(jī)安全性、可靠性和經(jīng)濟(jì)性,如圖2所示。準(zhǔn)確預(yù)測熱障涂層服役壽命,進(jìn)而降低工程應(yīng)用風(fēng)險(xiǎn)并最大限度地發(fā)揮其性能優(yōu)勢與潛力,已成為涂層選材、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)以及發(fā)動(dòng)機(jī)壽命管理、維修保障的關(guān)鍵技術(shù)之一。目前針對涂層損傷的定量化測試技術(shù)可分為熒光應(yīng)力法、聲發(fā)射法、基于結(jié)合強(qiáng)度劣化的方法等三大類。
圖1 熱障涂層結(jié)構(gòu)及其在熱端部件中的應(yīng)用
對于EB-PVD熱障涂層,損傷主要集中于陶瓷層與金屬黏結(jié)層之間的界面區(qū)域,陶瓷層—熱生長氧化層(TGO)界面、TGO—黏結(jié)層界面以及TGO內(nèi)部的微裂紋生長、合并是涂層損傷累積的具體表現(xiàn)形式。利用無損檢測方法對界面微裂紋進(jìn)行表征成為最直觀的涂層損傷測試手段。由于熱障涂層各層材料熱膨脹系數(shù)的差異,TGO在冷卻過程中承受巨大的平面雙軸壓縮應(yīng)力,常溫下達(dá)到極值(-6 ~-3GPa),而TGO局部斷裂或者陶瓷層—TGO界面、TGO—黏結(jié)層界面分離則會(huì)引起TGO室溫殘余應(yīng)力的松弛。
激發(fā)熒光譜壓頻譜技術(shù)(PLPS)是一種基于R線熒光(TGO中的Cr3+雜質(zhì)受激產(chǎn)生)頻移實(shí)現(xiàn)TGO應(yīng)力測量的無損檢測技術(shù),其基本原理如圖2所示。
基于PLPS,美國加州大學(xué)的尼奇卡(Nychka)等率先提出了一種EB-PVD熱障涂層損傷定量化測試流程,假設(shè)熒光頻移最小峰所對應(yīng)的區(qū)域(即TGO殘余應(yīng)力最小區(qū)域)為已損傷區(qū)(界面出現(xiàn)裂紋),并將涂層損傷程度定義為已損傷的R峰面積與總的R峰面積之比。
此后,塞爾丘克(Selcuk)等基于單個(gè)分析點(diǎn)(尺寸近似20μm)的PLPS熒光光譜信息,將實(shí)測TGO殘余應(yīng)力分解為高應(yīng)力與低應(yīng)力的疊加,認(rèn)為其中的低應(yīng)力貢獻(xiàn)是由局部TGO斷裂或者界面分離引起,由此提出以低應(yīng)力熒光峰的相對面積或者低應(yīng)力貢獻(xiàn)分析點(diǎn)的百分比來量化涂層損傷程度。
托爾皮戈(Tolpygo)等分別通過切片SEM微結(jié)構(gòu)觀測、形貌分析、PLPS無損檢測等手段,對熱障涂層在不同生命階段的界面分離程度、黏結(jié)層表面皺化引起的TGO形態(tài)變化、熒光頻移情況等進(jìn)行了表征,驗(yàn)證了涂層損傷程度與TGO熒光頻移之間的強(qiáng)關(guān)聯(lián)。英國帝國理工學(xué)院的李(Lee)等采用TGO熒光應(yīng)力法,探討了黏結(jié)層表面處理工藝與陶瓷層厚度等對熱障涂層循環(huán)氧化損傷的影響,結(jié)果表明在多數(shù)情況下TGO平均殘余應(yīng)力隨熱循環(huán)而逐漸下降,與前期發(fā)表的結(jié)果一致。
美國康涅狄格大學(xué)的溫(Wen)等研究了熱障涂層PLPS光譜特征(峰頻移、峰寬度、峰面積比等)隨熱循環(huán)的演化,發(fā)現(xiàn)TGO平均應(yīng)力隨熱循環(huán)初始增加,后續(xù)單調(diào)下降,應(yīng)力的變化率與試樣壽命相關(guān)(斜率越低、壽命越高),峰面積比呈現(xiàn)類似變化趨勢。
布索(Busso)等根據(jù)激光照射后的TGO激發(fā)PLPS光譜特征(損傷引起TGO殘余壓應(yīng)力釋放/松弛)與紅外線照射后陶瓷層表面熱像特征(損傷引起溫度梯度)相結(jié)合的方式識別界面裂紋,將涂層損傷程度定義為已損傷區(qū)域面積的百分比,基于該信息建立了一種新的力學(xué)方法和軟件工具用于預(yù)測涂層壽命。
馬內(nèi)羅(Manero)等發(fā)展了一種高空間分辨率的非原位PLPS測試設(shè)備,研究了承受復(fù)雜熱梯度、長時(shí)老化及機(jī)械載荷作用的帶涂層圓管試樣中TGO殘余應(yīng)力演化,實(shí)現(xiàn)了對TGO層內(nèi)微觀損傷區(qū)域的早期無損探測。
上述研究結(jié)果表明,根據(jù)TGO殘余應(yīng)力松弛可以有效識別涂層中局部損傷區(qū)域,但是由于TGO生長、皺化等影響,此類方法所采用的損傷參量(如TGO平均殘余應(yīng)力、光譜特征等)與所經(jīng)歷的熱循環(huán)數(shù)呈現(xiàn)出復(fù)雜的非單調(diào)變化規(guī)律,這與損傷累積的單調(diào)遞增過程不符,如何準(zhǔn)確定義涂層損傷程度成為目前熒光應(yīng)力法所面臨的主要挑戰(zhàn)。
涂層內(nèi)部的微觀斷裂過程伴隨著彈性應(yīng)力波的釋放,即聲發(fā)射(AE)現(xiàn)象,原理如圖3所示。
圖3 聲發(fā)射法測量涂層損傷原理
德國的雷努什(Renusch)等采用聲發(fā)射法測量了APS熱障涂層在兩種不同熱循環(huán)下的損傷演化過程,以陶瓷層剝落起始時(shí)刻為基準(zhǔn),將涂層損傷程度定義為當(dāng)前時(shí)刻的累積聲發(fā)射能量與陶瓷層剝落起始時(shí)刻對應(yīng)的累積聲發(fā)射能量之比(即陶瓷層剝落起始時(shí)刻損傷為1,制備態(tài)涂層損傷假設(shè)為0)。
湘潭大學(xué)的楊麗等采用聲發(fā)射方法監(jiān)測熱障涂層在循環(huán)加熱與冷卻時(shí)的斷裂過程,基于AE信號的小波分析,識別了涂層的兩種不同損傷模式(加熱期間產(chǎn)生表面裂紋、冷卻期間產(chǎn)生界面裂紋),計(jì)算了涂層表面裂紋密度與界面裂紋長度,獲取了涂層損傷演化與聲發(fā)射參數(shù)的量化關(guān)聯(lián),最終根據(jù)聲發(fā)射信號的統(tǒng)計(jì)分析,預(yù)測了涂層的斷裂時(shí)間。此后,將聲發(fā)射法與數(shù)字圖像相關(guān)方法相結(jié)合用于熱障涂層斷裂韌性測試,結(jié)果表明在涂層失效能量釋放與AE信號間存在線性關(guān)系,其斜率取決于涂層斷裂模式與性能。
目前的聲發(fā)射法均采用累積AE信號能量、事件數(shù)或幅值等參數(shù)評價(jià)涂層所產(chǎn)生的損傷,由于累積AE信號的遞增特性,該方法可以較好的描述涂層損傷隨熱、力載荷的增長過程,克服前述熒光應(yīng)力法的不足。然而,AE信號易受到陶瓷層內(nèi)相鄰柱狀晶的張開、閉合以及基體、黏結(jié)層塑性變形等諸多不確定性因素的干擾,目前對于界面裂紋模式的識別以及界面損傷與AE信號參數(shù)量化關(guān)系的確定,仍缺乏嚴(yán)格的理論依據(jù),其對不同涂層系統(tǒng)、載荷條件的有效性尚需進(jìn)一步驗(yàn)證。此外,AE信號反映的是瞬態(tài)損傷增量,為了實(shí)現(xiàn)損傷量化,需要將AE信號參數(shù)對時(shí)間進(jìn)行積分,即要求在整個(gè)壽命期內(nèi)實(shí)時(shí)原位監(jiān)測涂層的AE信號歷程,這在一定程度上也限制了AE技術(shù)在復(fù)雜試驗(yàn)條件或長壽命試驗(yàn)等場景下的應(yīng)用。
從純力學(xué)的角度分析,熱障涂層界面損傷實(shí)際上造成了陶瓷層與金屬黏結(jié)層之間結(jié)合強(qiáng)度(也稱界面韌性、黏附力、剝落抗力等)的下降,這為涂層界面損傷試驗(yàn)測試提供了新的研究思路。
韓國的金(Kim)、宋(Song)等采用拉拔法(如圖4所示)測試涂層在經(jīng)歷不同熱循環(huán)載荷后的界面結(jié)合強(qiáng)度演化規(guī)律,初步證實(shí)了以結(jié)合強(qiáng)度下降量化損傷的可行性。但是,上述試驗(yàn)采用在陶瓷層表面施加外力的方式促使涂層剝落,與涂層在實(shí)際服役過程中的受力狀態(tài)存在一定差異,可能會(huì)改變其失效機(jī)理。并且從試驗(yàn)結(jié)果看,拉拔法引起了陶瓷層本身的斷裂,所得到的結(jié)合強(qiáng)度實(shí)際上并不能準(zhǔn)確表征陶瓷層與黏結(jié)層“界面”處的力學(xué)性能,這給界面損傷評價(jià)帶來了額外誤差。
圖4 基于拉拔法的涂層界面結(jié)合強(qiáng)度測試
熱障涂層的宏觀剝落主要發(fā)生在冷卻過程中,本質(zhì)上是陶瓷層承受面內(nèi)壓應(yīng)力所產(chǎn)生的屈曲失穩(wěn)現(xiàn)象。根據(jù)涂層的薄膜受載特征,法國的庫爾西耶(Courcier)等將涂層剝落簡化為平面薄板的彈性屈曲問題,采用涂層在室溫條件下的軸向壓縮剝落臨界應(yīng)變表征界面結(jié)合強(qiáng)度,并通過理論推導(dǎo)與試驗(yàn)測試,建立了界面損傷與臨界壓應(yīng)變等參數(shù)間的函數(shù)關(guān)系。與傳統(tǒng)拉拔法相比,這種壓縮屈曲法實(shí)現(xiàn)了涂層宏觀剝落與界面微觀損傷的跨尺度關(guān)聯(lián),更加貼近涂層失效的力學(xué)機(jī)制,已成為目前最有前景的涂層界面損傷試驗(yàn)測試技術(shù)。但該方法仍存在一系列問題尚未得到有效解決,例如,涂層單軸壓縮試驗(yàn)并不滿足軸對稱球泡型屈曲假設(shè),屈曲計(jì)算過程未考慮陶瓷層初始?xì)堄鄳?yīng)力的影響,采用目視判定涂層壓縮剝落臨界應(yīng)變隨機(jī)性過大等。
針對上述問題,中國航發(fā)研究院與清華大學(xué)聯(lián)合團(tuán)隊(duì)以國產(chǎn)EBPVD熱障涂層為對象,從涂層剝落的物理機(jī)制出發(fā),發(fā)展了一種新的基于剝落抗力退化的熱障涂層損傷定量化測試方法。通過對渦輪葉片用熱障涂層剝落失效現(xiàn)象的深入分析,澄清了涂層剝落抗力本質(zhì)上是陶瓷層受壓屈曲臨界應(yīng)力/應(yīng)變,建立了適用于不同受載模式的涂層剝落抗力模型,如圖5(a)所示。在此基礎(chǔ)上,根據(jù)剝落抗力退化與涂層內(nèi)部微裂紋-層離區(qū)特征尺寸增長的內(nèi)在關(guān)聯(lián),提出了一種更為嚴(yán)格的熱障涂層損傷定義,綜合考慮了殘余應(yīng)變、外部載荷以及屈曲模式、材料工藝等因素的影響,建立了涂層損傷量化表征方程,成為熱障涂層界面損傷定量化測試技術(shù)的理論基礎(chǔ),如圖5(b)所示。針對涂層損傷測試需求,基于三維數(shù)字圖像相關(guān)方法,實(shí)現(xiàn)了對熱障涂層受壓屈曲剝落過程的非接觸式全場動(dòng)態(tài)力學(xué)測試,并提出了一種新的涂層剝落起始判據(jù),解決了傳統(tǒng)應(yīng)變片等接觸式測試方式所存在的隨機(jī)誤差過大、影響涂層剝落等難點(diǎn)問題,實(shí)現(xiàn)了對涂層剝落抗力的準(zhǔn)確提取,如圖5(c)所示。上述方法已通過高壓渦輪葉片熱障涂層模擬件在高溫長時(shí)氧化、熱疲勞等多種載荷環(huán)境下的試驗(yàn)驗(yàn)證,獲取了熱障涂層界面損傷的演化規(guī)律及其與熱載荷歷程間的映射關(guān)系,如圖5(d)所示,實(shí)現(xiàn)了涂層損傷分析從“經(jīng)驗(yàn)”到“物理”、從“定性”到“定量”的跨越。
圖5 基于剝落抗力退化的熱障涂層損傷定量化測試方法
對熱障涂層的損傷情況進(jìn)行定量化測試一直以來都是學(xué)術(shù)界和工程界所追求的目標(biāo)。熒光應(yīng)力法可有效識別涂層中局部損傷區(qū)域,但是由于TGO生長、皺化等影響,所采用的損傷參量與所經(jīng)歷的熱循環(huán)數(shù)呈現(xiàn)出復(fù)雜的非單調(diào)變化規(guī)律,與損傷累積的單調(diào)遞增過程不符。聲發(fā)射法可以較好地描述涂層損傷隨熱、力載荷的增長過程,只是在實(shí)際使用時(shí)易受到陶瓷層內(nèi)相鄰柱狀晶的張開、閉合以及基體、黏結(jié)層塑性變形等諸多不確定性因素的干擾,并且需要在全生命周期內(nèi)實(shí)時(shí)原位監(jiān)測涂層的AE信號歷程?;诮Y(jié)合強(qiáng)度劣化的方法可進(jìn)一步分為拉拔法和壓縮屈曲法兩種,與傳統(tǒng)拉拔法相比,壓縮屈曲法實(shí)現(xiàn)了涂層宏觀剝落與界面微觀損傷的跨尺度關(guān)聯(lián),更加貼近涂層失效的力學(xué)機(jī)制,已成為目前最有前景的涂層界面損傷試驗(yàn)測試技術(shù)。