彭 爽,陳朝軼,王仕愈,白 楊,李天培,顧 煒
(1.貴州大學(xué)材料與冶金學(xué)院,貴州貴陽 550025;2.貴州省冶金工程與過程節(jié)能重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,貴州貴陽 550025)
碳化物衍生碳(Carbide-derived Carbon,CDC)[1-2]是一種以碳化物為前驅(qū)體,通過特定方法去除晶格中的非碳原子,剩下骨架碳結(jié)構(gòu),從而得到的一種多孔碳材料。碳化物衍生碳具有比表面積高、孔徑分布窄、孔徑可調(diào)的特點(diǎn)[3-4],可應(yīng)用于儲(chǔ)氣[5-6]、催化劑載體[7]、雙電層電容器[8-9]等方面。目前,生產(chǎn)碳化物衍生碳的方法有碳化鈣反應(yīng)法[10]、高溫?zé)峤夥ǎ?1]、鹵素刻蝕法[12]以及高溫熔鹽電化學(xué)刻蝕法[13]等。碳化鈣反應(yīng)法和高溫?zé)峤夥?,由于產(chǎn)率較低、對(duì)合成條件要求比較苛刻,因而經(jīng)濟(jì)性較低,如今對(duì)它們的研究已不常見。鹵素刻蝕法是目前實(shí)驗(yàn)室最常用的制備方法,刻蝕速率較快,然而制備過程中使用的鹵素氣體有害,而且得到的產(chǎn)物還需要進(jìn)一步凈化處理。相比鹵素刻蝕法,熔鹽電化學(xué)刻蝕法是近十年新興的制備碳化物衍生碳的方法,具有綠色無毒、能耗較低和反應(yīng)介質(zhì)可持續(xù)利用等優(yōu)點(diǎn),目前通過該方法制備碳化物和碳化物衍生碳已有不少報(bào)道[14-19]。郎曉川等[20]通過熔鹽電解法制得了TiC粉末,以燒結(jié)溫度為1 300 ℃、燒結(jié)時(shí)間為2 h條件下得到的CaTiO3-C復(fù)合物做陰極,經(jīng)熔鹽電解即可得到粒度均勻且呈不規(guī)則球狀分布的TiC粉末。WAN[21]在NaCl-KCl熔鹽中直接對(duì)分析純TiC進(jìn)行電化學(xué)刻蝕,得到的TiC-CDC比表面積為904 m2/g,孔結(jié)構(gòu)主要為微孔,介孔和大孔相對(duì)較少,孔徑分布需要進(jìn)一步調(diào)控。
影響碳化物衍生碳孔結(jié)構(gòu)的因素有很多,如前驅(qū)體類型、反應(yīng)溫度、反應(yīng)氣氛、反應(yīng)時(shí)間、刻蝕方式以及活化方式等。XU等[22]通過研究不同碳化物前驅(qū)體的刻蝕機(jī)制,發(fā)現(xiàn)碳化物衍生碳的微結(jié)構(gòu)取決于碳化物前驅(qū)體中碳原子的體積濃度,當(dāng)碳化物前驅(qū)體的結(jié)構(gòu)相同時(shí),較低的碳原子體積濃度更有利于形成石墨烯結(jié)構(gòu)的碳化物衍生碳材料,獲得理想的孔隙和比表面積?;谀壳爸袊佋鼉?chǔ)量日趨增多,但是鈦渣中鈦、釩等有價(jià)金屬得不到有效利用導(dǎo)致寶貴鈦資源浪費(fèi)的現(xiàn)狀,蓋家萱等[23]、WANG等[24]前期已經(jīng)利用鈦渣制備出鈦、鈦鐵合金等。為了進(jìn)一步拓展鈦渣的利用途徑,筆者首先采用電還原高鈦渣/碳制備TiC前驅(qū)體,研究熔鹽溫度對(duì)TiC前驅(qū)體形貌和結(jié)構(gòu)的影響,再以TiC前驅(qū)體為陽極、碳棒為陰極,在CaCl2熔鹽中對(duì)TiC前驅(qū)體進(jìn)行電化學(xué)刻蝕,制備多孔的TiC-CDC材料。
實(shí)驗(yàn)用高鈦渣的元素含量和物相組成見表1和圖1。將研磨好的高鈦渣與碳粉按比例混合,隨后加入10%(質(zhì)量分?jǐn)?shù))的聚乙醇縮丁醛(PVB)作為黏合劑,充分研磨之后在4 MPa壓力下壓制成圓柱狀(d=15 mm,m=1.5 g),自然干燥后將其放入電阻爐中,在氬氣氣氛中于1 000 ℃燒結(jié)2 h。將上述制備好的具有一定強(qiáng)度的陰極片用泡沫鎳包裹,此處泡沫鎳起增加接觸面積和導(dǎo)電的作用。利用細(xì)鐵鉻鋁絲(0.1 mm)將泡沫鎳包裹的陰極片固定在粗鐵鉻鋁絲(2 mm)上,作為電還原制備碳化鈦的陰極。
表1 高鈦渣元素含量Table 1 Element contents of high titanium slag
圖1 高鈦渣XRD譜圖Fig.1 XRD pattern of high titanium slag
在制備碳化鈦衍生碳的研究中,將獲得的TiC與適量黏結(jié)劑混合,在4 MPa壓力下壓成片作為陽極片,供后續(xù)電化學(xué)刻蝕使用,此處陽極片制備過程與上述陰極片制備流程相同。不同的是TiC圓片是固定在開縫(縫的寬度與圓片厚度相當(dāng))的碳棒(直徑10 mm)上,作為電化學(xué)刻蝕制備碳化鈦衍生碳的陽極。
將準(zhǔn)備好的電極和石墨電極置于剛玉坩堝中,將預(yù)處理的CaCl2熔鹽倒入其中構(gòu)成電解體系,將剛玉坩堝放入井式電解爐中,密封電解爐以保持氣密性,將電解爐溫度升高到預(yù)定溫度,并持續(xù)通入高純氬氣作為保護(hù)氣體直至實(shí)驗(yàn)結(jié)束。電解池示意圖見圖2。在系統(tǒng)溫度達(dá)到目標(biāo)溫度后,在2.0 V條件下首先預(yù)電解2~3 h以除去殘留在熔鹽中的水分及其他雜質(zhì)。預(yù)電解結(jié)束后,在目標(biāo)電極和石墨電極之間施加3.0 V的電壓,進(jìn)行電還原/電化學(xué)刻蝕實(shí)驗(yàn)。利用穩(wěn)壓電源提供電壓,并使用配套軟件記錄相應(yīng)的時(shí)間-電流曲線。實(shí)驗(yàn)結(jié)束后,持續(xù)通入氬氣并待電解槽冷卻至室溫后將陰極片取出,經(jīng)酸洗和水洗去除產(chǎn)物中殘留的熔鹽和雜質(zhì),干燥,留待分析。采用D8 Advance型X射線衍射儀(XRD)分析產(chǎn)物的物相組成;采用ZEISS Sigma 300型掃描電子顯微鏡(SEM)觀察陰極片的微觀形貌;采用in Via型顯微激光拉曼光譜儀分析衍生碳材料的分子結(jié)構(gòu);采用ASAP2460型吸附儀分析材料的孔結(jié)構(gòu)。
圖2 電解池示意圖Fig.2 Schematic diagram of electrolytic cell
圖3為高鈦渣/碳前驅(qū)體在3.0 V、不同溫度的CaCl2熔鹽中電還原6 h收集所得產(chǎn)物的XRD譜圖。由圖3可知,850 ℃還原產(chǎn)物的物相較復(fù)雜,高鈦渣的電還原反應(yīng)不完全,出現(xiàn)CaTiO3和TiO等中間產(chǎn)物的衍射峰。這是因?yàn)?,CaCl2熔點(diǎn)為784 ℃,在850 ℃時(shí)熔鹽流動(dòng)性較差、黏度較大,不利于反應(yīng)的傳質(zhì)過程,導(dǎo)致高鈦渣/碳的電還原反應(yīng)速率較低,因此出現(xiàn)電還原不完全的現(xiàn)象,CaTiO3和TiO的生成可用式(1)~(3)表示。反應(yīng)溫度為900 ℃以上時(shí),還原產(chǎn)物皆為TiC,未檢測(cè)到其他雜質(zhì)物相。TiC的生成反應(yīng)可能為反應(yīng)(4)~(6)。圖4為高鈦渣/碳前驅(qū)體在不同溫度下還原所得產(chǎn)物的微觀形貌。圖4a中立方體狀的大顆粒即為中間產(chǎn)物CaTiO3;其余溫度下獲得的產(chǎn)物為海綿狀顆粒,顆粒分布均勻,具有一定的孔結(jié)構(gòu),結(jié)合圖1可知這些海綿狀的顆粒即為TiC。對(duì)比圖4b、c、d還可以發(fā)現(xiàn),950 ℃下得到的產(chǎn)物顆粒比900 ℃下得到的顆粒更均勻,而1 000 ℃下得到的產(chǎn)物出現(xiàn)局部燒蝕現(xiàn)象,并且溫度越高能耗越大,因此認(rèn)為在950 ℃的CaCl2熔鹽中電還原高鈦渣/碳更有利于得到顆粒分布均勻、具有一定孔隙的TiC產(chǎn)物。
圖3 高鈦渣/碳在不同溫度下電還原所得產(chǎn)物的XRD譜圖Fig.3 XRD patterns of electroreduction products of high titanium slag/C at different temperatures
圖4 高鈦渣/碳在不同溫度電解6 h所得產(chǎn)物的SEM照片F(xiàn)ig.4 SEM images of products of high titanium slag/C after 6 h electrolysis at different temperatures
圖5為電還原過程的典型電流-時(shí)間變化曲線。由圖5可以看到,電還原的初始電流最大,反應(yīng)開始的0.5 h電流急劇下降,中期(0.5~2.0 h)緩慢下降,后期下降到0.4 A左右并穩(wěn)定在該水平(即背景電流)。初始電流最大的原因是,電還原反應(yīng)從陰極片表面開始,根據(jù)三相界面反應(yīng)機(jī)制[25-26],此時(shí)反應(yīng)接觸面積最大,反應(yīng)源的數(shù)量最多,電化學(xué)反應(yīng)產(chǎn)生的電流最大;隨著反應(yīng)向陰極內(nèi)部(次外層)擴(kuò)散,反應(yīng)面積減小,反應(yīng)源的數(shù)量隨之減少,因而電流逐漸減小。反應(yīng)后期電流基本不變的原因是,隨著三相反應(yīng)界面向陰極中心推進(jìn),氧離子傳輸阻力逐漸增加,傳輸距離也逐漸增加,外層形成的產(chǎn)物層對(duì)氧離子遷移的阻礙增大,降低了反應(yīng)速率,此時(shí)電還原應(yīng)維持動(dòng)態(tài)平衡,電流無明顯變化。
圖5 高鈦渣/碳恒壓電解的時(shí)間-電流曲線Fig.5 Plot of time?current of high titanium slag/C by electrolysis with constant pressure
將950 ℃下得到的TiC產(chǎn)物作為陽極,在與電還原相同的電解條件下電化學(xué)刻蝕18 h,得到的產(chǎn)物物相見圖6。從圖6看出,電化學(xué)刻蝕得到的產(chǎn)物中已經(jīng)沒有TiC衍射峰,只存在一個(gè)(002)的碳衍射峰,表明在此條件下TiC前驅(qū)體被完全刻蝕,TiC中的Ti原子通過電化學(xué)刻蝕從晶格中被刻蝕去除,留下的碳骨架材料即為TiC-CDC。相比于X射線衍射檢測(cè),拉曼光譜是碳材料領(lǐng)域表征中更為常用的方法。通過碳材料特有的拉曼特征峰出峰位置可以判斷是否有碳材料存在,通過峰強(qiáng)的比值大?。↖D/IG)還可以判斷材料的缺陷程度。通過這些特征可以對(duì)碳材料的結(jié)構(gòu)進(jìn)行分辨。拉曼光譜在波數(shù)為1 000~1 800 cm-1處顯示碳的兩個(gè)特征峰:在1 342~1 353 cm-1處的D峰代表晶粒尺寸微小的無定型碳;在1 590~1 601 cm-1處的G峰代表石墨[27-28]。圖7為電化學(xué)刻蝕TiC產(chǎn)物拉曼光譜圖。從圖7看出,刻蝕產(chǎn)物拉曼光譜圖中存在代表無定型碳的D峰和代表石墨的G峰,D峰和G峰的拉曼位移分別為1 350 cm-1和1 578 cm-1。
圖6 電化學(xué)刻蝕TiC產(chǎn)物XRD譜圖Fig.6 XRD pattern of products from electrochemical etching of TiC
圖7 電化學(xué)刻蝕TiC產(chǎn)物拉曼光譜圖Fig.7 Raman spectrum of products from electrochemical etching of TiC
電化學(xué)刻蝕TiC得到的產(chǎn)物形貌見圖8。由圖8可知,刻蝕產(chǎn)物TiC-CDC基本保持TiC前驅(qū)體的海綿狀結(jié)構(gòu),這與碳化物衍生碳的特性相一致,說明利用高溫熔鹽電化學(xué)刻蝕法得到的碳化物衍生碳與氯化法得到的產(chǎn)物在其結(jié)構(gòu)保持性上是一致的。從圖8b的局部放大照片可以看到,TiC前驅(qū)體的海綿狀結(jié)構(gòu)有破壞的跡象,出現(xiàn)了明顯的刻蝕痕跡。圖9為刻蝕產(chǎn)物的TEM照片。圖9a的檢測(cè)結(jié)果與圖8a相一致,利用高溫熔鹽電化學(xué)刻蝕得到的碳化鈦衍生碳仍然保持前驅(qū)體的海綿狀結(jié)構(gòu)。圖9b為刻蝕產(chǎn)物的高分辨TEM照片。從圖9b看出,刻蝕產(chǎn)物主要由無定形碳和有序的石墨帶結(jié)構(gòu)組成,進(jìn)一步說明通過熔鹽電化學(xué)刻蝕法能夠制備出不同結(jié)構(gòu)的碳化物衍生碳。
圖8 電化學(xué)刻蝕TiC產(chǎn)物SEM照片F(xiàn)ig.8 SEM images of products from electrochemical etching of TiC
圖9 TiC刻蝕產(chǎn)物的TEM照片及HR-TEM照片F(xiàn)ig.9 TEM image and corresponding HRTEM image of products from etching of TiC
圖10為電化學(xué)刻蝕TiC前驅(qū)體的典型時(shí)間-電流曲線。從圖10看出,與高鈦渣/碳的電還原反應(yīng)一樣,電化學(xué)刻蝕反應(yīng)也遵循著三相反應(yīng)界線模型,在電化學(xué)刻蝕初期電流隨著反應(yīng)時(shí)間的延長(zhǎng)呈現(xiàn)下降趨勢(shì),當(dāng)TiC前驅(qū)體表面刻蝕反應(yīng)結(jié)束后,電化學(xué)刻蝕反應(yīng)向前驅(qū)體內(nèi)部推進(jìn),此時(shí)延長(zhǎng)反應(yīng)時(shí)間電流依然會(huì)減小,但是由于鈦離子在刻蝕產(chǎn)物層擴(kuò)散速率緩慢的影響,導(dǎo)致這一過程的電流下降極為緩慢,最終趨于穩(wěn)定,表明此時(shí)的刻蝕反應(yīng)基本結(jié)束。
圖10 碳化鈦電化學(xué)刻蝕時(shí)間-電流曲線Fig.10 Plot of time-current of electrochemical etching of TiC
采用N2吸-脫附測(cè)試對(duì)制備的TiC-CDC進(jìn)行孔結(jié)構(gòu)分析,測(cè)試得到的N2吸-脫附曲線見圖11a。從圖11a看出,根據(jù)IUPAC提出的吸附等溫線分類[29],該曲線為典型的Ⅳ型物理吸-脫附曲線。在低相對(duì)壓力區(qū)域,氣體的吸附量有一個(gè)快速增長(zhǎng),這可歸因于微孔(<2 nm)的填充。吸附曲線和脫附曲線之間形成了一個(gè)H3型滯后環(huán),主要是由介孔(2~5 nm)引起的。這說明所制備的衍生碳共存有微孔、介孔結(jié)構(gòu)。根據(jù)N2吸-脫附曲線計(jì)算出產(chǎn)物的比表面積為327.88 m2/g。孔結(jié)構(gòu)分布見圖11b。從圖11b可以發(fā)現(xiàn),衍生碳的孔徑主要分布在0.7~1.2 nm,再次說明制備的碳化鈦衍生碳中存在大量的微孔。
圖11 合成的TiC-CDC的N2吸-脫附等溫線(a)和孔徑分布曲線(b)Fig.11 N2 adsorption?desorption isotherms(a),and pore size distribution curves of synthesized TiC-CDC(b)
1)碳化物的形貌結(jié)構(gòu)對(duì)碳化物衍生碳的結(jié)構(gòu)具有重大的影響。研究熔鹽溫度對(duì)碳化鈦結(jié)構(gòu)的影響,發(fā)現(xiàn)在3.1 V和950 ℃時(shí),在CaCl2熔鹽中電還原高鈦渣和碳的混合物6 h后,可以得到海綿狀結(jié)構(gòu)、分布均勻的TiC產(chǎn)物。2)相比氯化法制備碳化物衍生碳,高溫熔鹽電化學(xué)刻蝕法得到的碳化物衍生碳也能保持其結(jié)構(gòu)一致性,刻蝕產(chǎn)物為無定形碳和有序石墨帶結(jié)構(gòu)并存的碳結(jié)構(gòu),孔結(jié)構(gòu)主要為微孔,比表面積為327.88 m2/g,且熔鹽電化學(xué)刻蝕法無需有害氣體,唯一不足的是刻蝕時(shí)間較長(zhǎng),如何提高刻蝕效率有待進(jìn)一步研究。