楊 鵬,宮殿清,程旭東,徐英杰,王 銳,閔 捷,李克偉,王小波,牛 蕊
(1. 太原理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,山西 太原 030024;2. 武漢理工大學(xué) 材料復(fù)合新技術(shù)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,湖北 武漢 430070;3. 中國(guó)航發(fā)北京航空材料研究院,北京 100095; 4.湖北工業(yè)大學(xué)材料與化工學(xué)院,湖北 武漢 430068;5. 晉中學(xué)院數(shù)學(xué)系,山西 晉中 030619;6. 無(wú)錫深南電路有限公司,江蘇 無(wú)錫 214142)
聚光太陽(yáng)能(CSP)技術(shù)是太陽(yáng)能熱電站中一種常用的光熱轉(zhuǎn)化技術(shù)。而太陽(yáng)能選擇性吸收涂層可以提高CSP技術(shù)的太陽(yáng)能光熱轉(zhuǎn)化效率,這種涂層在太陽(yáng)光譜波長(zhǎng)范圍內(nèi)(0.3~2.5 μm)具有較高的吸收率(>0.80),在中紅外波長(zhǎng)范圍(2.5~25.0 μm)具有較低的熱發(fā)射率(<0.30),使涂層在吸收太陽(yáng)能量的同時(shí)降低涂層對(duì)外部環(huán)境輻射的能量,實(shí)現(xiàn)太陽(yáng)能利用率的提高。如何提高太陽(yáng)能選擇性吸收涂層吸收率,降低發(fā)射率一直是世界各國(guó)研究的課題。過(guò)去幾十年里,人們研究了大量用于太陽(yáng)能選擇性吸收涂層的金屬化合物,如Cr[1-3],Ti[1,4,5],W[6,7],Mo[8]等,它們具有良好的太陽(yáng)能選擇性。Zhang[9]用磁控濺射法制備NiCr - AlN涂層,吸收率達(dá)到0.92。王泉河等[10]用Ag - Al2O3金屬陶瓷作為吸收層,Gong等[11]用多弧離子鍍技術(shù)沉積AlCrNO基太陽(yáng)能選擇性吸收涂層,其吸收率都在0.9以上。
為了提高太陽(yáng)能的利用效率,除了提高涂層吸收率外,降低涂層熱發(fā)射率也同樣重要。為實(shí)現(xiàn)這一目的,研究者在吸收層底部制備高紅外反射層,有效降低了基體受熱后的紅外輻射??勺鳛榧t外反射層的金屬有Au,Ag,Cu,Cr等,Au和Ag屬于貴金屬,其使用會(huì)增加生產(chǎn)成本。Cu和Cr作為紅外反射層更具有推廣潛力。
鑒于AlCrNO基太陽(yáng)能選擇性吸收涂層良好的光學(xué)性能以及金屬Cu和Cr高的紅外反射性,本工作以AlCr,Cu,Cr為靶材,采用多弧離子鍍技術(shù)制備Cu(Cr)紅外反射層和AlCrNO基太陽(yáng)能吸收層,研究不同種類和不同沉積時(shí)間的紅外反射層對(duì)AlCrNO基太陽(yáng)能選擇性吸收涂層光學(xué)性能的影響。
本試驗(yàn)的基底為316L不銹鋼(30 mm×40 mm×1 mm),采用多弧離子鍍技術(shù)在基底上沉積太陽(yáng)能選擇性吸收涂層。沉積前基底分別在丙酮和無(wú)水乙醇中進(jìn)行多次超聲波清洗,去除基底表面的油污和雜質(zhì)。采用多弧離子鍍膜設(shè)備分別在基底表面沉積Cu和Cr紅外反射層。所用的靶材為Cu靶 (99.99%)和Cr靶(99.99%)。前期對(duì)紅外反射層的沉積時(shí)間進(jìn)行了多組測(cè)試分析,顯示沉積時(shí)間應(yīng)大于(不含)1 min,小于(不含)6 min。沉積時(shí)間過(guò)短時(shí)涂層沉積不均勻,性能不穩(wěn)定;沉積時(shí)間過(guò)長(zhǎng)時(shí)涂層的厚度增大,涂層性能惡化。本試驗(yàn)中,沉積時(shí)間選擇2 min和4 min。沉積電流為使沉積穩(wěn)定時(shí)的電流。離子氣體為Ar(99.999%),氣壓為0.5 Pa。具體沉積工藝參數(shù)如表1所示。
表1 紅外反射層沉積參數(shù)
選用沒(méi)有紅外反射層的試樣作為對(duì)照組(第5組)。
用多弧離子鍍膜設(shè)備沉積AlCrN/AlCrNO/AlCrO Hou等[15]也得到相同結(jié)果,不會(huì)因鍍液中增加微粒及表面活性劑濃度而大幅改變鍍層中P含量,顯示鍍液系統(tǒng)較為穩(wěn)定,鍍液中WS2含量2.5 g/L時(shí),鍍層中P含量到達(dá)最高,其值為11.923%,Keong等[16]將此P含量定為中磷含量鍍層。P含量直接影響著Ni3P的析出,對(duì)熱處理后鍍層硬度影響較大。
表2 吸收層沉積參數(shù)
涂層的物相分析采用Ultima IV型X射線衍射儀(XRD)進(jìn)行,使用Cu的Kα1射線。采用JSM - 7001F場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 (FE - SEM) 及配置的能譜儀(EDS)附件對(duì)樣品的表面形貌和成分進(jìn)行表征。樣品的反射率分兩部分測(cè)試,波長(zhǎng)在0.3~2.5 μm之間的反射率由Shimadzu UV3600紫外/可見(jiàn)/近紅外分光光度計(jì)測(cè)量,波長(zhǎng)在2.5~25.0 μm的反射率由Bruker Tensor 27傅立葉變換紅外光譜儀測(cè)量。涂層的吸收率α和發(fā)射率ε分別由公式(1)和公式(2)[12,13]計(jì)算得出。涂層的表面粗糙度采用RA200型粗糙度儀測(cè)量。
(1)
(2)
圖1為5組涂層的反射率曲線。對(duì)比各組在0.3~2.5 μm波長(zhǎng)范圍內(nèi)的反射率曲線可知,各組反射率曲線相似,但截止波長(zhǎng)有明顯不同。1,2,3,4,5組的截止波長(zhǎng)分別為0.80,0.65,0.73,0.57,0.85 μm。其中對(duì)照組(第5組)的截止波長(zhǎng)最大,表明加入紅外反射層后,涂層的反射率曲線截止波長(zhǎng)發(fā)生藍(lán)移。在相同的工藝參數(shù)下,Cu作為紅外反射層時(shí)的截止波長(zhǎng)藍(lán)移少于Cr作為紅外反射層時(shí),說(shuō)明截止位置對(duì)Cr更敏感。相同紅外反射層,沉積時(shí)間不同,截止位置也不同。隨著紅外反射層的沉積時(shí)間增加,涂層截止位置藍(lán)移加劇??傊?,涂層反射率曲線截止位置與紅外反射層成分和沉積時(shí)間均有關(guān)系。在2.5~25.0 μm范圍內(nèi),有紅外反射層的涂層的反射率均高于對(duì)照組沒(méi)有紅外反射層的涂層,而且以Cu為紅外反射層的涂層的反射率高于以Cr為紅外反射層的涂層,這與Cu具有良好的紅外反射性能有關(guān)。
圖1 5組涂層的反射率曲線Fig. 1 Reflectivity curves of five groups of coatings
利用公式(1)和(2),根據(jù)反射率計(jì)算出涂層的吸收率和發(fā)射率,結(jié)果列于表3中。其中對(duì)照組的吸收率為0.893。Cu作為紅外反射層時(shí)的涂層吸收率分別為0.902和0.909,都大于對(duì)照組,而且沉積時(shí)間越長(zhǎng),吸收率越高。一般而言,反射率曲線截止位置發(fā)生藍(lán)移時(shí),吸收率會(huì)降低。但對(duì)于Cu紅外反射層組,其吸收率反而高于對(duì)照組。這主要由于Cu紅外反射層組在截止位置發(fā)生藍(lán)移的同時(shí),太陽(yáng)光譜波長(zhǎng)范圍內(nèi)反射率也在降低,總體效果使得涂層的吸收率更高。Cr紅外反射層組的吸收率分別為0.898和0.886。沉積時(shí)間越長(zhǎng),吸收率反而降低,最終低于對(duì)照組涂層。這是由于Cr紅外反射層組的截止位置藍(lán)移嚴(yán)重,反射率降低不足以彌補(bǔ)截止位置藍(lán)移產(chǎn)生的影響??傊繉游章矢叩团c反射率和截止位置這2個(gè)因素直接相關(guān),而沉積時(shí)間可以影響這2個(gè)因素。
表3 5組涂層的吸收率和發(fā)射率
對(duì)于發(fā)射率,對(duì)照組為0.276。在吸收層下方沉積紅外反射層后,涂層的發(fā)射率降低;而且不同時(shí)間、不同成分的紅外反射層的涂層發(fā)射率也不同。Cu作為紅外反射層時(shí),涂層的發(fā)射率分別為0.188和0.193,降低了31.9%和30.1%。Cr作為紅外反射層時(shí),涂層的發(fā)射率分別為0.240和0.258,降低了13.0%和6.5%,紅外反射層的沉積時(shí)間越短,發(fā)射率越低,與Cu作為紅外反射層的變化趨勢(shì)一致。Cr作為紅外反射層時(shí)涂層的發(fā)射率比Cu作為紅外反射層高,這是由于Cu和Cr 2種金屬材料的紅外反射性不同,Cu的紅外反射率為0.981,Cr的紅外反射率為0.650,Cu的紅外反射性高于Cr,能夠更好地反射涂層的紅外輻射,導(dǎo)致涂層的發(fā)射率更低。
圖2分別為第1,3,5組樣品的表面形貌。
圖2 涂層的表面形貌Fig. 2 Surface morphology of coating
由圖2可以看出,涂層有許多大顆粒的熔滴。這是由于多弧離子鍍的能量大,靶材表面部分金屬形成液滴,飛濺到基底表面形成大顆粒。經(jīng)測(cè)量,最大的顆粒直徑約為2 μm。對(duì)涂層的大顆粒進(jìn)行EDS分析可知,大顆粒處的主要元素及含量(原子分?jǐn)?shù))為:O (54.4%),Cr(26.4%),Al(19.2%)。O元素含量較高,而且還具有一定含量的金屬Al和Cr。
圖3為涂層表面熔滴的形成過(guò)程,熔滴在靶材表面形成,在向基底移動(dòng)的過(guò)程中與氧氣反應(yīng),故O元素含量較高。
圖3 涂層表面熔滴形成過(guò)程Fig. 3 Droplet formation process on coating surface
對(duì)5組涂層分別進(jìn)行粗糙度測(cè)試,結(jié)果如表4所示。由粗糙度數(shù)據(jù)可知,各組的表面粗糙度變化較大,沉積時(shí)間相同的涂層表面粗糙度值差距不大,但是總沉積時(shí)間越長(zhǎng)的涂層,表面粗糙度越大。
表4 各組涂層粗糙度值
由圖2還可以看出,涂層表面的孔隙也較多,大一些的在0.5 μm左右。對(duì)孔隙處進(jìn)行EDS分析可知,孔隙處的主要元素及含量(原子分?jǐn)?shù))為:Cr(46.3%)、Al(39.3%)、O(8.4%),O元素含量較少。形成孔洞的原因則主要是由于在制備涂層過(guò)程中,飛濺的熔滴較大,從而打在涂層表面形成金屬顆粒,當(dāng)涂層冷卻時(shí),由于金屬粒子與具有陶瓷性質(zhì)的周圍涂層線膨脹系數(shù)不同,導(dǎo)致這2種相的界面處產(chǎn)生裂紋,金屬顆粒脫落,形成孔隙。冷卻時(shí),由于在出爐前驟冷,涂層收縮不同步,使得涂層殘余應(yīng)力加大,導(dǎo)致涂層剝落。
無(wú)論熔滴顆粒還是孔隙都會(huì)增大涂層的粗糙度,并且會(huì)構(gòu)成“光學(xué)陷阱”,使照射光線多次反射,達(dá)到多次吸收的目的。公式(3)為涂層的吸收率與反射率和反射次數(shù)的關(guān)系,R為涂層表面的反射率,n為反射次數(shù)。這些光線能量都被涂層所吸收,被量化為涂層的吸收率,從而使涂層的吸收率上升。
α=1-Rn
(3)
圖4為涂層表面光學(xué)陷阱多次反射光線原理圖。有的孔隙由于孔徑比較小,平均在0.1 μm左右,從而降低了涂層對(duì)紫外 - 可見(jiàn)光的反射,提高了對(duì)光的吸收率。
圖4 涂層表面光學(xué)陷阱反射圖Fig. 4 Reflection diagram of optical trap on coating surface
圖5為第1組和第3組樣品涂層的XRD譜。2組涂層在2θ=43.405°和2θ=74.385° 位置出現(xiàn)的衍射峰分別與Cr相的(111)面和(220)面對(duì)應(yīng);涂層在2θ=31.137°,2θ=32.655°和2θ=50.373° 位置出現(xiàn)的衍射峰分別與Al2O3相的(104)面、(200)面和(015)面對(duì)應(yīng);涂層在2θ=28.493° 位置出現(xiàn)的衍射峰與CrO2相的(110)面對(duì)應(yīng);涂層在2θ=33.152° 和36.040° 位置出現(xiàn)的衍射峰分別與AlN相的(100)面和(002)面對(duì)應(yīng)。經(jīng)過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)圖譜進(jìn)行對(duì)比并分析后,得出涂層表面主要有4種相存在:Cr,Al2O3,CrO2,AlN。Al2O3和AlN[14]相對(duì)于可見(jiàn)光和紅外光范圍具有高透過(guò)率,可以增強(qiáng)太陽(yáng)能的吸收。
圖5 第1組和第3組涂層的XRD譜Fig. 5 XRD diffraction patterns of Group 1 and Group 3 coatings
(1)通過(guò)在AlCrNO基太陽(yáng)能選擇性吸收涂層中加入紅外反射層可以改變涂層的光學(xué)性能。加入Cu紅外反射層的涂層性能最好,吸收率提高了1.7%,發(fā)射率降低了31.9%。Cr作為紅外反射層的涂層吸收率提高了0.6%,發(fā)射率降低了13.0%。Cu作為紅外反射層的性能優(yōu)于Cr。
(2)涂層的沉積時(shí)間越短,涂層的表面粗糙度越低,減少了涂層對(duì)紅外輻射的多次反射,使涂層吸收紅外輻射的能力降低,發(fā)射率也降低。涂層表面的孔隙增加了涂層對(duì)光的多次反射,提高吸收率。
(3)涂層表面主要有4種相存在:Cr,Al2O3,CrO2,AlN。Al2O3和AlN相對(duì)于可見(jiàn)光和紅外光范圍具有高透過(guò)率,可以增強(qiáng)太陽(yáng)能的吸收。