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        TEOS/OTMS超疏水涂層的制備及形成機制

        2022-12-07 09:15:54李文洋尹曉彤張鵬宇和法起馮立明
        材料保護 2022年10期

        李文洋,尹曉彤,張鵬宇,和法起,馮立明

        (1.山東建筑大學材料科學與工程學院,山東 濟南 250101;2.泰安樂邦環(huán)??萍加邢薰荆綎| 泰安 271208)

        0 前 言

        疏水材料可應用于防冰覆、防腐、防污、工業(yè)裝置和建筑物的自清潔、生物醫(yī)學與仿生材料應用等諸多領域[1,2]。根據(jù)疏水理論模型,材料表面必須同時具有低表面能物質和微觀納米粗糙結構。目前,材料表面低表面能物質主要有烷烴類化合物[3]、有機硅聚合物[4]、氟化合物[5,6]等,從文獻報道看,更多的是使用結構中含有氟原子的單體或全氟高聚物,一者價格很高,難以大面積推廣使用,二者氟碳化合物的使用對土壤、大氣、水等存在污染的風險,對裝備可能造成腐蝕,因此研究環(huán)境友好、低成本的材料制備超疏水表面已成為大家關注的重要領域,其中有機硅材料是研究熱點之一。國內外學者采用不同結構的有機硅烷作為單體,通過原位生成、添加第二相等方法,制備了性能優(yōu)異的超疏水涂層[7-10],如馬林娟等[11]采用乙烯基三乙氧基硅烷改性粒徑不同的SiO2,將疏水基團成功接枝到 SiO2表面,制備出了超疏水材料,改性后的 SiO2疏水性增強,制得的涂層水接觸角為(158.0±5.4)°,滾動角約為 2°。構造微觀納米結構是形成超疏水涂層的關鍵因素[12,13],目前報道的制備方法包括相分離法[14,15]、層層自組裝[16]、刻蝕法[17,18]、模板法[19,20]、靜電紡絲法[21]以及溶膠凝膠法[22]等,每一種方法各有利弊,溶膠凝膠法具有制備條件溫和、設備簡單等優(yōu)勢,是國內外廣泛采用的制備方法。針對不同的基體材料與刻蝕介質,刻蝕法有獨特的效果,與溶膠凝膠法配合使用,對構造微觀粗糙結構可以起到協(xié)同增強作用。

        本工作研究了正辛基三甲氧基硅烷(OTMS)與正硅酸乙酯(TEOS)溶膠制備、形成機制與涂層性能,填補了TEOS-OTMS溶膠制備及涂層性能的空白,同時探討了玻璃基體微觀刻蝕對涂層疏水性能的影響,使涂層達到超疏水;采用環(huán)保型、低成本物質在玻璃基體表面制備了超疏水、高硬度涂層。

        1 試 驗

        1.1 TEOS - OTMS溶膠及涂層制備

        按照摩爾比TEOS∶ETOH∶H2O=1.00∶22.09∶6.25制備了TEOS-OTMS溶膠及涂層。取48.85 g無水乙醇與5.40 g去離子水組成混合溶液,將10.00 g TEOS在攪拌下加入,攪拌30 min后加入1 mL濃氨水,繼續(xù)攪拌30 min,靜置,總水解時間控制在0.5~5.0 h。加入4.84 g OTMS共水解聚合0~60 min。單一OTMS溶膠及涂層制備除了沒有TEOS外,其它組成與條件相同。使用浸漬-提拉法分別在玻璃基體表面制備TEOS-OTMS及單一OTMS涂層,室溫下固化24.0 h,確保完全固化后放入干燥器中備用。

        1.2 玻璃基體處理

        光滑玻璃基體清洗:使用去離子水超聲清洗玻璃片15 min,再用無水乙醇超聲清洗15 min,清洗干凈后,在80 ℃下烘干、備用。

        玻璃基體刻蝕:將清洗干凈的玻璃基體置于10% NaOH與1% HF混合介質中,在80 ℃下刻蝕不同時間,取出清洗備用。

        1.3 測試與表征

        1.3.1 水接觸角(WCA)測試

        水接觸角WCA采用型號為SL1000的接觸角測量儀進行測量:將2 μL水滴緩慢滴到樣品表面,設置基線并測得水接觸角。每個樣品測試3個位置并取平均值。

        1.3.2 涂層硬度測試

        按照GB/T 6739-2006,利用鉛筆硬度測試法對涂層進行硬度測試。將附有涂層的玻片固定,保持鉛筆45°,分別使用2 H、3 H、4 H、5 H、6 H的中華牌繪圖鉛筆,在玻片表面用力滑動。當鉛筆劃過后,涂層不再破皮時的鉛筆硬度即為涂層的硬度。

        1.3.3 涂層厚度測定

        涂層厚度采用金相顯微鏡進行測量。將處理好的樣品通過金相顯微鏡拍得斷面圖片,設置標尺得到涂層厚度。

        1.3.4 微觀結構測試

        涂層及玻璃基體表面微觀形貌通過場發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)表征。玻璃基體、復合膜表面通過噴金處理提高樣品的導電性,采用HITACHI regulus 8100 型場發(fā)射掃描電子顯微鏡觀察涂層表面微觀形貌,操作電壓5 kV。

        2 結果與討論

        2.1 TEOS - OTMS水解聚合時間對涂層疏水性能的影響

        圖1為TEOS預水解-聚合不同時間后加入OTMS,共水解時間對涂層疏水角的影響曲線。

        由圖1可知,將TEOS預水解-聚合時間適當延長,涂層疏水角增大,當預水解-聚合4 h時涂層疏水角達到最大值;OTMS加入后的前10 min,疏水角迅速增大加當共水解聚合20 min時涂層疏水角最大,隨著時間的延長,涂層疏水角呈略微下降的趨勢。當TEOS預水解聚合4 h、OTMS與TEOS共水解聚合20 min時,TEOS-OTMS涂層水接觸角達到(124.01±2.00)°。

        涂層疏水角呈現(xiàn)上述變化規(guī)律,是由TEOS-OTMS水解-聚合形成溶膠的機制決定的。TEOS的預水解-聚合是溶膠形核的過程,主要發(fā)生圖2a所示的反應,加入OTMS后自身水解-聚合過程如圖2b所示,TEOS-OTMS溶膠是OTMS自身水解-聚合后與TEOS形成膠束的接枝共聚,如圖2c所示。

        如圖2所示,在醇水混合介質中加入TEOS后,TEOS水解,由Si-OCH2CH3向Si-OH轉變,同時伴隨著Si-OH縮水聚合生成Si-O-Si,隨著時間的延長,聚合SiO2膠體顆粒不斷增大,同時表面保留了較多的Si-OH。當OTMS加入后,在堿性環(huán)境下,OTMS中的Si-OCH3水解為Si-OH,同時,與聚合SiO2顆粒上的Si-OH縮水交聯(lián),膠體顆粒表面接入較多的非極性辛基鏈,形成經(jīng)辛基鏈修飾的溶膠膠團(見圖3)。以提拉法在玻璃基體形成涂層時,Si-O極性鍵與玻璃基體形成化學鍵,形成結合牢固的涂層,具有低表面能的辛基基團向涂層表面遷移,形成低表面修飾層(如圖3)。

        TEOS預水解-聚合時間過短時,形成的SiO2膠粒小,表面-OH過多,極性大,當預水解-聚合時間過長時,由于Si-OH之間的不斷聚合,聚合SiO2顆粒增大,表面積減小,表面Si-OH的數(shù)量減少,OTMS接枝量減小。因此,TEOS預水解-聚合時間是影響涂層疏水性能的重要因素,從根本上講,TEOS預聚時間影響了聚合SiO2膠粒的大小與表面反應活性,從而影響了OTMS在膠粒表面上的包覆、修飾程度。

        2.2 TEOS - OTMS水解聚合時間對涂層硬度的影響

        表1為不同水解聚合時間TEOS-OTMS涂層的鉛筆硬度值。由表1可以看出,TEOS-OTMS共水解時間相同時,隨TEOS預水解-聚合時間的延長,TEOS-OTMS涂層硬度略有提高;當TEOS預水解-聚合時間一定時,隨TEOS-OTMS共水解時間的延長,涂層硬度略有下降。涂層硬度出現(xiàn)這種細微變化,可以從圖2的溶膠反應形成過程與圖3所示的TEOS-OTMS膠束及涂膜形成過程加以分析。TEOS水解時間適當延長,SiO2膠體顆粒聚合度提高,表面形成的Si-OH基團增加,提拉后通過Si-O-Si形成涂層的聚合度提高,使涂層的硬度有所提高。在TEOS預水解-聚合時間相同時,適當延長TEOS-OTMS共水解時間,SiO2膠體顆粒表面接枝共聚的OTMS增多,即柔性長鏈烷基增多,降低了TEOS-OTMS共聚涂層的交聯(lián)密度,使得涂層硬度有所下降。圖4為3種條件下得到的涂層的厚度,圖4a為TEOS預水解1 h、共水解0 min的涂層,厚度為2.09 μm,圖4b為TEOS水解5 h、共水解0 min的涂層,厚度為2.68 μm,圖4c為TEOS水解5 h、共水解60 min的涂層,厚度為2.75 μm。從涂層厚度的變化值也可以看出,隨TEOS預水解-聚合時間延長,涂膜厚度增加較為明顯,當TEOS預水解-聚合時間相同時,適當延長共水解聚合的時間,涂膜厚度略有增加,進一步證明上述TEOS-OTMS膠束及涂層形成機制的分析,也表明涂層硬度主要由TEOS-OTMS涂膜結構決定,涂膜厚度影響較小。由于OTMS自身結構的疏水性,單一的OTMS溶膠難以在玻璃表面形成均勻致密的涂層,且涂層硬度約為2 H,疏水角約為(76±2)°,結合TEOS-OTMS的制備過程,進一步表明OTMS在溶膠及涂層中主要起修飾作用,形成圖3所示的結構模型,既保證了涂層與玻璃基體的結合力,又提高了涂層的疏水性。

        表1 疏水涂層的硬度Table 1 Hardness of hydrophobic coating

        2.3 玻璃基體刻蝕對TEOS - OTMS涂層疏水性能的影響

        涂層的疏水性取決于低表面能物質和表面微觀粗糙結構,TEOS-OTMS涂層在光滑玻璃基體上達不到超疏水性能,為此探討了玻璃基體刻蝕時間對涂層疏水性能的影響。圖5為刻蝕時間對玻璃基體刻蝕、經(jīng)TEOS-OTMS修飾成膜后的水接觸角的變化。在化學蝕刻后,涂層的水接觸角隨著蝕刻時間的延長,由(124.01±2.00)°增加至(160.08±2.00)°,獲得了超疏水涂層,刻蝕形成的微納米結構的數(shù)量和形貌是水接觸角變化的主要因素。

        圖6為玻璃基體刻蝕不同時間的微觀形貌。圖6a為未進行刻蝕的玻璃基體,SEM顯示為均勻的納米結構,凹槽結構不明顯,比較光滑。從圖6b~6d隨著刻蝕時間的延長,刻蝕形成一定的刻蝕深度,5 h刻蝕后,被刻蝕的地方形成縫隙,因為縫隙的產(chǎn)生使未刻蝕的區(qū)域高度上升,形成突起結構。隨著刻蝕時間的延長,玻璃表面的縫隙越來越明顯,當刻蝕14 h時玻璃表面形成了間距約6.36 nm、平均大小為16.75 nm的微觀凸起。

        圖7a~7d分別為玻璃基體刻蝕0,5,9,14 h下,浸漬一層TEOS-OTMS膜后的SEM形貌。當基體未進行刻蝕時,TEOS-OTMS聚合物在玻璃表面上形成分布不均勻的微觀突起;當刻蝕5 h時,溶膠在基體上以41.20 nm小顆粒狀均勻分散,顆粒間的縫隙減??;當刻蝕時間為14 h時,聚合物不斷地層層累加導致涂層厚度增加,由于刻蝕基體上的微小突起,使TEOS與OTMS的纏結、聚集增強,形成150~200 nm的孔隙。正是這種“微觀粗糙”極大地提高了涂層的疏水性,形成了超疏水涂層。

        3 結 論

        (1)TEOS-OTMS原位水解-聚合可以制備以SiO2顆粒為膠核,辛基硅烷包覆的膠體粒子,在玻璃基體形成辛基鏈修飾的低表面疏水膜層。TEOS預水解時間、TEOS-OTMS共水解時間是影響涂層性能的重要條件,當TEOS預水解聚合4 h,共水解聚合20 min時,涂層疏水角達到(124.01±2.00) °,鉛筆硬度達到6 H。

        (2)玻璃基體刻蝕形成的間距為6.36 nm、平均大小為16.75 nm的微觀凸起,使TEOS與OTMS的纏結、聚集增強,涂層形成了150~200 nm的孔隙,這種“微觀粗糙”是形成超疏水涂層的關鍵,TEOS-OTMS涂層疏水角達到(160.08±2.00)°。

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