豆振軍
(溫州大學(xué)化學(xué)與材料工程學(xué)院碳材料技術(shù)研究重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,浙江 溫州 325027 )
近年來,帶隙可調(diào)的過渡金屬硫族化合物引起了人們的極大興趣。過渡金屬雙硫族(TMDC)薄膜作為熱電材料,具有高遷移率(即使在原子薄的情況下)、高塞貝克系數(shù)(S)和相對低導(dǎo)熱系數(shù)的FET通道,被研究者所關(guān)注。有報(bào)道稱,單層二硫化鎢膜具有高遷移率,提高了具有高導(dǎo)電性的熱電材料的功率因數(shù)。學(xué)者們研究了化學(xué)氣相沉積等方法,嘗試將二硫化鎢等TMDs薄膜應(yīng)用于熱電和電子器件。單分子層二硫化鎢(WS2)的直接禁帶寬度約為2.0eV,在發(fā)光二極管、光電探測器、傳感器、催化劑等領(lǐng)域具有潛在的應(yīng)用前景[1-2]。因此,研究者在單層WS2氣相可控制備的研究上花了很多功夫。已報(bào)道的制備方法有物理和化學(xué)剝離、化學(xué)合成、原子層沉積、激光退火、物理氣相沉積和化學(xué)氣相沉積等[3]。機(jī)械剝離是一種低成本、可擴(kuò)展生產(chǎn)單層2D材料的通用方法[4],用該方法制備的單層WS2的晶體質(zhì)量高,有利于WS2的基本性質(zhì)研究,缺點(diǎn)是體積小,厚度不均勻,溶液中有團(tuán)聚現(xiàn)象[5]?;瘜W(xué)合成方法包括H3PW12O40與H2S的反應(yīng)、(NH4)WS4的熱分解、有機(jī)金屬前驅(qū)體的熱分解等[6],雖然生長的WS2晶體質(zhì)量較高,但此法生長的WS2的尺寸不大?;瘜W(xué)氣相沉積(CVD)是一種高效、可擴(kuò)展的方法,可用來生長大規(guī)模的單層WS2納米片[7],以用于制造集成器件。最常用的CVD法,是在硫蒸氣中對WO3粉體進(jìn)行硫化[8]。金屬催化劑、壓力、襯底、前驅(qū)體引入時間、前驅(qū)體和襯底的溫度和位置、載氣流量、前驅(qū)體預(yù)處理與否、生長溫度等實(shí)驗(yàn)參數(shù),對晶體質(zhì)量均有影響[9-10]。因此,WS2單層的生長復(fù)雜,機(jī)制尚不清楚,CVD方法還有待進(jìn)一步研究[11]。基于以上研究成果,本文在硅片(表面覆蓋1層SiO2)上先蒸鍍了10nm WO3作為前驅(qū)體,然后在相對高溫(1000℃)下,通入硫化氫(H2S)氣體作為硫源,反應(yīng)2min得到單層二硫化鎢晶體。相比控制硫粉和三氧化鎢粉末制備的WS2,采用此方法生長的WS2,晶體的質(zhì)量高,尺寸較大。
石墨烯具有原子尺度的厚度,并表現(xiàn)出優(yōu)異的力學(xué)和電學(xué)性能,但天然石墨烯具有零帶隙結(jié)構(gòu),限制了其在半導(dǎo)體中的應(yīng)用[12]。作為二維材料家族的一員,過渡金屬硫族化合物(TMDs)因其天然的帶隙以及優(yōu)良的電學(xué)和光電子性能,受到人們的廣泛關(guān)注。它們具有類石墨烯層狀結(jié)構(gòu),X-M-X(M為過渡金屬元素,Mo、W等;X為 S族元素,S、Se等)夾層結(jié)構(gòu)形成單層,這些單層由弱范德華力耦合。二維的二硫化鎢(WS2)是一種典型的TMD材料,其單層結(jié)構(gòu)是1個W原子與周圍6個S原子形成共價(jià)鍵,1個S原子與3個W原子結(jié)合,形成S-W-S夾層結(jié)構(gòu);層間具有較弱的范德華力耦合,單層厚度約為0.7 nm。WS2是一種由多層間接隙結(jié)構(gòu)過渡到單層直接隙結(jié)構(gòu)的二維材料,帶隙范圍為1.3~2.05eV[13]。由于WS2的有效質(zhì)量較低,預(yù)計(jì)其在室溫下的電子遷移率在1000 cm2·V-1·s-1以上。由于存在相當(dāng)大的帶隙,WS2在半導(dǎo)體電學(xué)和光電子學(xué)中具有廣闊的應(yīng)用前景,如太陽能電池材料、晶體管通道材料和光探測器[14]等。然而,可控制備高質(zhì)量的WS2二維薄膜,仍然是一個挑戰(zhàn)。為了獲得大面積、高結(jié)晶度、不同層的WS2薄膜,研究者們采用了各種方法,包括機(jī)械剝離、金屬有機(jī)化學(xué)氣相沉積(MOCVD)、原子層沉積(ALD)和化學(xué)氣相沉積(CVD)等。其中,CVD是可控合成大面積、高結(jié)晶度二維材料最有前途的方法[15]。
傳統(tǒng)的CVD制備WS2薄膜以單氣流量為主,側(cè)重于溫度調(diào)節(jié)和襯底改性,無法實(shí)現(xiàn)可控合成。本文采用氣相沉積(CVD),對氣流進(jìn)行微調(diào),獲得了大面積、高結(jié)晶度的WS2不同層的薄膜。成長過程分為2個階段,因此,在不同階段,采用不同的氣體流量進(jìn)行調(diào)節(jié),對實(shí)現(xiàn)薄膜的可控合成具有重要意義。
稱取150mg的WO3粉末,利用電子束蒸發(fā)鍍膜機(jī),將三氧化鎢蒸鍍在硅片上,然后將此硅片放入單溫區(qū)管式爐中。反應(yīng)開始前,先向管中通入Ar以排除管中的空氣(10min,300mL·min-1),打開管式爐,設(shè)置管式爐的升溫程序,并在一定時間內(nèi)將管式爐的溫度升至1000℃。通入H2S氣體2min,等反應(yīng)結(jié)束,迅速關(guān)閉管式爐程序并打開管式爐(降溫不及時會影響反應(yīng))。100min后管式爐的溫度會降至室溫,其生長過程如圖1所示。
圖1 CVD生長WS2的示意圖
取出管式爐中的硅片,判定硅片上是否生長出了WS2晶體。在光學(xué)顯微鏡下可觀察到形狀規(guī)則的三角片,對這些三角片進(jìn)行拉曼光譜測試,結(jié)果見圖2。測試結(jié)果與之前報(bào)道的結(jié)果一致。
圖2 初步確定WS2的拉曼光譜
在過去的10年中,層狀二維(2D)材料因其迷人而優(yōu)異的物理性能,在基礎(chǔ)科學(xué)研究和實(shí)際應(yīng)用方面都受到了極大的關(guān)注。特別是帶激子的半導(dǎo)體2D材料,被認(rèn)為是研究新型光材料相互作用的平臺,并為未來的光電和光子應(yīng)用提供了很有前途的組件。在一般的體系中,電子和空穴很容易離解,在室溫下通常很難產(chǎn)生所期望的強(qiáng)烈的激子效應(yīng)。而在二維材料中,庫侖屏蔽效應(yīng)減弱,低維空間強(qiáng)烈限制了電子和空穴,導(dǎo)致了在室溫下二維半導(dǎo)體中穩(wěn)定的激子和激子復(fù)合物,由激子主導(dǎo)了基本光學(xué)性質(zhì),如光吸收、發(fā)射以及與其他準(zhǔn)粒子態(tài)的相互作用等。此外,激子與二維材料獨(dú)特的性質(zhì)有關(guān),如厚度依賴性的帶隙性質(zhì)變化和偏振選擇性光學(xué)選擇規(guī)則,從而引發(fā)有趣的光物理現(xiàn)象。直接隙/間接帶隙性質(zhì)是電子結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵因素之一,因?yàn)樗苯雨P(guān)系到激子的行為如壽命。在WS2中,許多實(shí)驗(yàn)和理論研究一致證明,雖然帶隙在體系中是間接的,但隨著厚度減小到單層極限,它會轉(zhuǎn)變?yōu)橹苯訋?。對硅片上生長的二硫化鎢三角片進(jìn)行光學(xué)顯微鏡測試(OM),然后將532nm的激光打在其中1片WS2納米片上,再將結(jié)果導(dǎo)出,根據(jù)結(jié)果繪制圖譜(圖3)。仔細(xì)分析拉曼光譜,可以清楚地看到,WS2有2個經(jīng)典的特征峰,其中E12g峰位于351cm-1處,A1g峰位于408cm-1處,這些結(jié)果和之前的報(bào)道相符。
WS2作為TMD中的一個重要成員,其性質(zhì)和層數(shù)密切相關(guān)。因此,對WS2層數(shù)的測試顯得十分重要。如圖4所示,對所得到的WS2進(jìn)行原子力顯微鏡(AFM)測試,測試結(jié)果顯示,二硫化鎢的高度約為0.8 nm,說明本文所制備的二硫化鎢為單層納米片。
圖4 WS2的AFM表征
對得到的二硫化鎢先進(jìn)行光學(xué)顯微鏡測試,得到的結(jié)果如圖5(a)所示,再將硅片放入SEM中,選擇合適的倍率,對WS2進(jìn)行拍照,得到的結(jié)果如圖5(b)所示。結(jié)果證明,生長出來的二硫化鎢的表面均勻且無缺陷,晶體質(zhì)量高。
圖5 WS2 的SEM表征
對化學(xué)氣相沉積法生長的二硫化鎢進(jìn)行EDS[圖6(a)]和XRD[圖6(b)]表征。EDS測試結(jié)果說明,二硫化鎢三角片的晶體質(zhì)量較好,表面無缺陷。XRD測試結(jié)果說明,生長出來的晶體的特征與二硫化鎢較吻合。
圖6 WS2納米片的EDS
本文通過控制WO3前驅(qū)體的量,使用H2S氣體控制S 源的量,采用CVD法生長出了WS2。光學(xué)顯微鏡(OM)和掃描電子顯微鏡(SEM)測試結(jié)果表明,所制備的WS2的表面均勻,晶體質(zhì)量較高;拉曼光譜測試結(jié)果和原子力顯微鏡(AFFM)測試結(jié)果表明,本文所生長的WS2為單層。綜上所述,本文利用CVD法生長單層WS2,為氣相生長WS2提供了一種新的思路。