王 榮,龔玉輝,殷學(xué)俊,魏德強(qiáng)
(桂林電子科技大學(xué) 機(jī)電工程學(xué)院,廣西 桂林 541004)
40Cr鋼是我國目前應(yīng)用最廣泛的合金調(diào)質(zhì)鋼,具有良好的淬透性、切削性,廣泛應(yīng)用于齒輪、套筒、軸等尺寸小、力學(xué)性能要求較高的機(jī)械零部件中,工件長期處于惡劣的工作環(huán)境下,大多數(shù)失效形式發(fā)生在材料表面[1-3]。表面改性技術(shù)可以改善零部件表面的力學(xué)性能[4-5]。電子束表面改性技術(shù)由于具有變形小、精度高、無裂紋和易于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化等優(yōu)異特點(diǎn),得到了廣泛應(yīng)用[6-9]。
單道掃描電子束工藝主要用于小面積零件的表面改性,無法解決大面域改性問題。本文通過多道搭接來實(shí)現(xiàn)材料表面大面積改性。國內(nèi)外已有部分學(xué)者對(duì)高能束多道搭接進(jìn)行了研究。張德強(qiáng)等[10]研究激光多層熔覆層間交界處的硬度,發(fā)現(xiàn)層間交界處往上,硬度先降低再增大,層間交界處往下,硬度先增大后減小再增大到最大值。Sundqvist等[11]對(duì)11%Cr鐵素體不銹鋼的多道激光表面硬化的研究中發(fā)現(xiàn)表面硬度是基材的兩倍。Kumar等[12]研究了通過鎢極氬弧焊工藝制備的AISI 4340鋼板的多道次改性表面,其表面硬度從250 HV增加到445 HV,彎曲屈服點(diǎn)和極限強(qiáng)度相比母材顯著提高。Yu等[13]通過對(duì)經(jīng)單道次和多道次掃描電子束處理的40CrMn鋼試樣和原始試樣的對(duì)比,發(fā)現(xiàn)改性后的表面顯微硬度和耐磨性有了明顯提高。本文采用掃描電子束對(duì)40Cr鋼表面進(jìn)行改性處理,研究搭接率對(duì)其表面形貌、顯微組織及力學(xué)性能的影響。
材料選用40Cr鋼,其化學(xué)成分如表1所示。用立式銑床將試塊加工成45 mm×45 mm×45 mm的立方體試塊。預(yù)先熱處理采用調(diào)質(zhì)處理,工藝規(guī)程為加熱到(850±10)℃保溫120 min,油冷,回火加熱到(520±10)℃保溫120 min,出爐油冷至室溫。
表1 40Cr鋼的化學(xué)成分(質(zhì)量分?jǐn)?shù),%)
試驗(yàn)設(shè)備為HDZ-6F型高壓真空數(shù)控電子束焊機(jī)。在電子束掃描過程中,電子槍室真空度保持在 9×10-4Pa,防止試樣表面被氧化,以獲得更佳的表面力學(xué)性能。
電子束多道掃描處理方法如圖1(a)所示。根據(jù)預(yù)試驗(yàn)結(jié)果,選定多道掃描電子束工藝參數(shù)為加速電壓60 kV、束流4 mA、掃描速度240 mm/min、掃描頻率300 Hz、掃描環(huán)外徑φ8 mm。在多道電子束掃描過程中,搭接率與相鄰兩道次的重疊距離有關(guān)。電子束多道掃描重疊示意圖如圖1(b)所示,搭接率λ的計(jì)算公式[14]為:
圖1 電子束多道掃描處理方法(a)及多道掃描搭接率示意圖(b)
(1)
式中:D為掃描環(huán)外徑,mm;d為相鄰兩道掃描環(huán)圓心的距離,mm;W為相鄰兩道掃描環(huán)搭接的寬度,mm。
討論搭接率分別為0%、25%、50%、75%時(shí)對(duì)40Cr鋼組織和性能的影響。將電子束掃描處理后的試樣制成金相試樣,用激光顯微鏡和掃描電鏡對(duì)試樣橫截面形貌和顯微組織進(jìn)行分析,用HXD-1000TM顯微硬度計(jì)在200 g載荷砝碼下測(cè)量試樣表面的顯微硬度分布,保荷時(shí)間10 s。用HRS-2M裝置在40 N的工作載荷和4 mm的滑動(dòng)距離下測(cè)量試樣的磨損量。用TR-200型手持式粗糙度儀測(cè)量試樣表面粗糙度,取樣長度L為0.8 mm,評(píng)定長度為3L。
2.1.1 無搭接掃描時(shí)橫截面形貌及顯微組織
當(dāng)搭接率為0%時(shí),無搭接區(qū)域,為電子束單道掃描表面處理,改性層組織只經(jīng)歷了一次快速加熱和冷卻過程。由圖2(a)可見,橫截面形貌由粗晶區(qū)、細(xì)晶區(qū)、熱影響區(qū)及基體組成。改性層顯微組織主要由粗晶馬氏體、細(xì)晶馬氏體和鐵素體組成。這是由于電子束掃描加熱過程中,材料表面溫度快速升至臨界溫度線以上,其組織進(jìn)行了奧氏體化,在基體的快速導(dǎo)熱冷卻過程中,奧氏體降到馬氏體轉(zhuǎn)變溫度Ms時(shí),轉(zhuǎn)變成粗晶馬氏體,如圖2(b)所示。隨著距離表層深度的增加,奧氏體化溫度降低或產(chǎn)生部分奧氏體化,且基體導(dǎo)熱率加大,過冷度增大,馬氏體晶粒細(xì)化,改性層與基體交匯處有未熔鐵素體和碳化物,如圖2(c,d)所示。
2.1.2 多道搭接掃描時(shí)橫截面形貌及顯微組織
隨著搭接率的增大,相鄰兩道出現(xiàn)搭接區(qū)域,以搭接率為25%時(shí)為例,分析多道掃描改性層顯微組織的演變過程。圖3為搭接率為25%時(shí)兩道次掃描的橫截面形貌及顯微組織。由圖3(a)可見,A區(qū)域改性層經(jīng)歷了一次淬火和兩次回火循環(huán),其分析結(jié)果如圖3(b,c)所示。由圖3(b)可見,第一道電子束掃描處理,熔融層最高溫度在Ac3線以上較高溫度區(qū)間,組織全部奧氏體化,過熱度較大,基體快速導(dǎo)熱冷卻后形成較粗大馬氏體,而熱影響區(qū)過熱度低,且冷卻速率大,形成的馬氏體較為細(xì)小。第二道電子束掃描處理時(shí),會(huì)對(duì)A區(qū)域與搭接區(qū)交匯處形成兩次短時(shí)間的回火循環(huán)。第一次回火溫度高于Ms,熔融層發(fā)生重結(jié)晶,粗晶粒消失,鐵素體基體上的細(xì)粒狀滲碳體不斷聚集長大,形成回火屈氏體及回火索氏體。第二次回火循環(huán)溫度降低,馬氏體中的過飽和碳開始逐步以ε-碳化物的形式析出,碳的過飽和程度不斷降低,轉(zhuǎn)變?yōu)榛鼗瘃R氏體;由圖3(c)可見,A區(qū)域存在細(xì)晶加熱區(qū)及熱影響區(qū),細(xì)晶加熱區(qū)奧氏體化溫度為Ac3臨界溫度稍上,奧氏體晶粒細(xì)小,致使冷卻后馬氏體晶粒細(xì)小。隨著冷卻速率降低,峰值溫度降低,熱影響區(qū)形成顆粒狀的碳化物和未熔的鐵素體組織。
圖3 搭接率為25%時(shí)40Cr鋼電子束掃描處理后橫截面形貌及各區(qū)域顯微組織
由圖3(a)可見,B區(qū)域是兩道電子束掃描處理的搭接區(qū)域,經(jīng)歷了兩次淬火和一次回火,此區(qū)域峰值溫度高,改性層呈凹弧形。圖3(d)為B區(qū)域放大圖,重熔層峰值溫度高,組織主要由板條馬氏體構(gòu)成,熱影響區(qū)由于存在回火,顯微組織主要由馬氏體、回火馬氏體和部分鐵素體構(gòu)成。圖3(a)中C區(qū)域經(jīng)歷了一次淬火,然后快速冷卻。圖3(e)為C區(qū)域放大圖,改性層顯微組織主要由馬氏體組成。熔融層奧氏體化溫度高,奧氏體晶粒粗大,馬氏體相變成粗大的板條馬氏體,隨著距離表層深度的增加,基體導(dǎo)熱率增大,奧氏體晶粒細(xì)小,馬氏體晶粒細(xì)化。
搭接率對(duì)40Cr鋼搭接區(qū)重熔層顯微組織的影響如圖4所示。隨著搭接率的增大,重熔層中板條馬氏體的晶粒尺寸增加。搭接率為25%時(shí),重熔層馬氏體晶粒最為細(xì)小。這是由于第一道電子束掃描結(jié)束時(shí),試樣不足以冷卻到室溫,第二道電子束就開始掃描,隨著搭接率的增加,試樣表面能量密度增大。當(dāng)電子槍移動(dòng)速度不變時(shí),試樣冷卻速度隨輸入熱量的增加而減小,此時(shí)奧氏體化溫度高,保溫時(shí)間長,奧氏體組織粗大,發(fā)生馬氏體轉(zhuǎn)變時(shí),馬氏體組織粗大,且隨著溫度的上升,重熔層再結(jié)晶溫度升高,再結(jié)晶晶粒長大。
圖4 不同搭接率下40Cr鋼電子束掃描處理后重熔層的顯微組織
搭接率對(duì)40Cr鋼表面顯微硬度的影響如圖5所示。40Cr鋼調(diào)質(zhì)處理后的顯微硬度為280~310 HV0.2,不同搭接率下,多道次掃描區(qū)域的表面顯微硬度不同。由圖5可見,搭接率為0%時(shí),無搭接區(qū),處理區(qū)域硬度分布呈“一”型,平均顯微硬度為627.4 HV0.2。搭接率分別為25%、50%和75%時(shí),出現(xiàn)搭接區(qū)域,顯微硬度在431~658 HV0.2范圍內(nèi)變化,A、C淬火區(qū)域的顯微硬度高于搭接區(qū)B和交匯區(qū)的顯微硬度,硬度分布呈“V”型。對(duì)比4種搭接率下掃描區(qū)域硬度分布,發(fā)現(xiàn)多道搭接會(huì)出現(xiàn)二次加熱回火軟化。這是由于搭接率為0%時(shí),試樣表面以極快的速度熔化和凝固,表面改性層發(fā)生晶粒細(xì)化和馬氏體相變,表面顯微硬度增加。隨著搭接率的增大,搭接區(qū)域B在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)過多次淬火及回火,形成回火軟化區(qū),顯微硬度明顯降低,且搭接率增大,搭接區(qū)的能量密度增大,改性層奧氏體化溫度高,奧氏體晶粒粗大,馬氏體相變形成粗大的馬氏體,顯微硬度降低。未搭接區(qū)域A和C只經(jīng)歷了一次快速的熔凝過程,發(fā)生馬氏體相變,顯微硬度高于搭接區(qū)域。
圖5 不同搭接率下40Cr鋼電子束掃描處理后的表面顯微硬度
圖6為搭接率對(duì)40Cr鋼表面形貌的影響規(guī)律。搭接率為0%時(shí),無搭接區(qū)域,第一道與第二道掃描交匯處存在凹凸不平現(xiàn)象,這是由于掃描電子束的重熔區(qū)邊界處快束凝固過程中產(chǎn)生熔凝收縮,致使交匯處形成上述現(xiàn)象。搭接率為25%時(shí),熔融的金屬從頂部流向谷底,熔融機(jī)制有效地降低了波峰與波谷的高度差,搭接區(qū)域平整。當(dāng)搭接率增大到50%、75%時(shí),兩道電子束掃描搭接區(qū)又出現(xiàn)新的凹凸不平現(xiàn)象。這是因?yàn)閽呙桦娮邮目偰芰坎蛔?,而掃描的總面積減小,產(chǎn)生能量聚集現(xiàn)象,導(dǎo)致試樣溫度梯度減小,熔融的金屬表面張力降低,不利于液態(tài)金屬的流動(dòng),形成凹凸不平的表面[15-16]。其他研究學(xué)者也發(fā)現(xiàn)了此類試驗(yàn)現(xiàn)象,即電子束能量密度過高或過低都不利于試樣表面粗糙度的降低[17]。
圖6 不同搭接率下40Cr鋼電子束掃描處理后的表面形貌
由圖7可見,表面粗糙度隨著搭接率的增大,先減小后增大。搭接率為25%時(shí),表面粗糙度最低為1.083 μm。對(duì)比圖6和圖7可知,表面粗糙度與電子束掃描處理的表面宏觀形貌變化規(guī)律相互關(guān)聯(lián),當(dāng)表面形貌凹凸不平時(shí),表面粗糙度增大,表面形貌相對(duì)平整時(shí),表面粗糙度降低。
圖7 不同搭接率下40Cr鋼電子束掃描處理后的表面粗糙度
圖8為搭接率對(duì)40Cr鋼摩擦因數(shù)的影響規(guī)律。摩擦因數(shù)隨著搭接率的增大,先減小后增大,搭接率為25%時(shí)摩擦因數(shù)最低。摩擦因數(shù)曲線在初始階段急劇上升,最后分別穩(wěn)定在0.90、0.70、0.77、1.00左右。這是由于摩擦磨損試驗(yàn)初始階段,磨損機(jī)理為磨粒磨損,圓柱銷首先與改性層上表面熔凝的表面相接觸,實(shí)際接觸面積小,從而導(dǎo)致接觸壓力遠(yuǎn)大于40Cr鋼的屈服極限,摩擦因數(shù)曲線急劇上升。隨著摩擦試驗(yàn)的進(jìn)行,接觸應(yīng)力小于材料的壓縮屈服極限時(shí),摩擦副間的實(shí)際接觸面積達(dá)到穩(wěn)定,磨損機(jī)理變?yōu)轲ぶp,摩擦因數(shù)曲線開始上下波動(dòng)趨于穩(wěn)定。搭接率為25%時(shí),由圖6可知,試樣表面光滑平整,相較于0%、50%和75%的搭接率,接觸表面溝壑效應(yīng)明顯降低,摩擦接觸面剪切力減小,摩擦力減小,摩擦因數(shù)減小。
圖8 搭接率對(duì)電子束掃描處理40Cr鋼摩擦因數(shù)的影響
圖9為搭接率對(duì)40Cr鋼表面磨損量的影響規(guī)律。40Cr鋼的磨損量隨著搭接率的增加呈先減小后增大的趨勢(shì)。未經(jīng)掃描電子束處理的試樣磨損量高達(dá)1.8 mg,搭接率為25%時(shí)試樣的磨損量僅為0.3 mg,此時(shí)耐磨性好。
圖9 搭接率對(duì)電子束掃描處理40Cr鋼磨損量的影響
圖10為不同搭接率下40Cr鋼電子束掃描處理后的表面XRD圖譜。由圖10不同搭接率電子束掃描處理40Cr鋼表面XRD圖譜可見,搭接率為25%時(shí),馬氏體峰值強(qiáng)度最高,相對(duì)于搭接率為0%、50%、75%的衍射峰寬化且偏移。這說明試樣表層晶粒相對(duì)較細(xì),馬氏體含量較高,硬度得到較大提高,且由圖8可知,搭接率在25%時(shí)摩擦因數(shù)最小,此時(shí)耐磨性得到較大提升。搭接率增大,磨損量相對(duì)增加,耐磨性有所下降。
1)多道與單道電子束掃描表面處理時(shí),試樣表面改性層經(jīng)歷了不同的熱循環(huán)過程。電子束多道掃描處理,會(huì)出現(xiàn)重復(fù)加熱的搭接區(qū)域,且第二道掃描加熱會(huì)對(duì)第一道的部分區(qū)域組織產(chǎn)生回火作用,組織演變復(fù)雜,會(huì)產(chǎn)生回火馬氏體、回火索氏體及回火屈氏體等多種組織。重熔層中馬氏體晶粒尺寸隨著搭接率的增大而增大。
2)在不同的搭接率條件下,經(jīng)電子束多道掃描處理,掃描區(qū)域的顯微硬度有所不同,搭接率為25%、50%、75%時(shí),顯微硬度在431~658 HV0.2范圍內(nèi)變化,淬火區(qū)域的顯微硬度高于搭接區(qū)和交匯區(qū)的顯微硬度。
3)試樣表面粗糙度隨著搭接率的增大,先減小后增大。搭接率為25%時(shí),表面形貌光滑平整,粗糙度最低,摩擦因數(shù)低。搭接率過大,搭接處變得凹凸不平,表面粗糙度增大,試樣摩擦因數(shù)也增大。
4)電子束多道掃描處理試樣的耐磨性較原始試樣更好,隨著搭接率的增大,磨損量先減小后增大。搭接率為25%時(shí),耐磨性最好。