李剛卿，周慶祥，張曉丹，曹 峰，彭善柏，蔡桂喜

(1.中車青島四方機(jī)車車輛股份有限公司, 青島 266111；2.中國(guó)科學(xué)院金屬研究所，沈陽 110016；3.上海新陣元電子科技有限公司，上海 200231)

碳纖維增強(qiáng)聚合物基復(fù)合材料(CFRP)以其優(yōu)越的性能受到了廣泛的關(guān)注，主要應(yīng)用于航空航天、醫(yī)療、交通等領(lǐng)域[1]。受制造工藝、成型工藝及加工工藝的影響，復(fù)合材料內(nèi)部易出現(xiàn)分層、空隙、夾雜、脫黏等缺陷，特別是在服役過程中，CFRP的近表層還易出現(xiàn)沖擊損傷。如果不能及時(shí)地檢出這些缺陷并采取補(bǔ)救措施，缺陷將發(fā)生擴(kuò)展，最終導(dǎo)致CFRP制件失效，造成經(jīng)濟(jì)損失甚至人員傷亡。因此，復(fù)合材料的無損檢測(cè)至關(guān)重要。

采用超聲法對(duì)復(fù)合材料結(jié)構(gòu)件進(jìn)行檢測(cè)，是目前工程上應(yīng)用最廣泛的檢測(cè)技術(shù)。SOHN等[2-3]利用Lamb波的特有優(yōu)勢(shì)，對(duì)薄板復(fù)合材料進(jìn)行了結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)。采用Lamb波對(duì)CFRP進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，一般采用一發(fā)一收兩個(gè)探頭，因衰減較大，其激勵(lì)頻率較低，對(duì)小缺陷不敏感，需借助于時(shí)間反轉(zhuǎn)法進(jìn)行信號(hào)增強(qiáng)[4]。另外，纖維增強(qiáng)聚合物基復(fù)合材料的各向異性會(huì)對(duì) Lamb 波損傷定位的精度造成較大的影響，許穎等[5]提出了基于時(shí)間概率密度法的損傷定位方法。張繼敏等[6]使用相控陣超聲檢測(cè)設(shè)備，對(duì)預(yù)埋有不同大小不同深度人工缺陷的22.92 mm厚CFRP層壓板對(duì)比試塊進(jìn)行了檢測(cè)試驗(yàn)，在時(shí)間校正增益(TCG)曲線的輔助下，通過C掃描成像可以有效檢測(cè)出0.382 mm和22.54 mm深處的φ6 mm分層缺陷。為克服界面波對(duì)復(fù)合材料檢測(cè)的不利影響，袁英民等[7]通過理論計(jì)算和試驗(yàn)研究，設(shè)計(jì)出了適用于飛機(jī)夾芯結(jié)構(gòu)復(fù)合材料檢測(cè)用的雙晶探頭，在上層蒙皮厚度為3 mm，泡沫夾芯層厚度為4 mm的夾芯結(jié)構(gòu)試樣中，能有效檢測(cè)出蒙皮下φ8 mm的脫黏缺陷;周克印等[8]采用雙晶探頭對(duì)風(fēng)電葉片前緣膠接結(jié)構(gòu)的脫黏缺陷進(jìn)行了檢測(cè)，能有效識(shí)別出厚度分別為3.2，10，5 mm的3層結(jié)構(gòu)玻璃纖維膠接結(jié)構(gòu)試樣中φ10 mm的脫黏缺陷。雙晶探頭對(duì)復(fù)合材料脫黏缺陷的成功檢測(cè)，說明其檢測(cè)結(jié)果不受界面波和檢測(cè)盲區(qū)的影響，該技術(shù)值得借鑒和發(fā)展。

為進(jìn)一步研究雙晶探頭對(duì)復(fù)合材料中分層缺陷(不僅僅是復(fù)合材料層板或蒙皮下的脫黏缺陷)的檢測(cè)能力，研究了復(fù)合材料常用的直探頭、延遲塊探頭和水浸聚焦探頭3種檢測(cè)技術(shù)的檢測(cè)原理和聲場(chǎng)特性，結(jié)合CFRP的聲學(xué)特性，選用合適的參數(shù)，對(duì)層壓結(jié)構(gòu)件內(nèi)部的分層缺陷進(jìn)行檢測(cè)，并與雙晶探頭檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比，分析了雙晶探頭檢測(cè)層壓結(jié)構(gòu)復(fù)合材料結(jié)構(gòu)件中分層缺陷的可行性與優(yōu)缺點(diǎn)。

未經(jīng)許可創(chuàng)作的演繹作品著作權(quán)保護(hù)探析.........................................................................杜牧真 李仁玉 12.68

1 復(fù)合材料常用超聲檢測(cè)技術(shù)

超聲波在介質(zhì)中沿直線傳播，當(dāng)介質(zhì)中存在缺陷或異常時(shí)，聲阻抗就會(huì)發(fā)生變化，超聲波在聲阻抗不連續(xù)處就會(huì)發(fā)生反射和透射，能量也隨之變化，根據(jù)接收到超聲信號(hào)的特點(diǎn)，可以對(duì)被檢工件進(jìn)行質(zhì)量評(píng)定。CFRP等復(fù)合材料的常用超聲檢測(cè)技術(shù)有：① 采用直探頭或延遲塊探頭進(jìn)行手工檢測(cè)，具有靈活性高，可達(dá)性強(qiáng)等優(yōu)勢(shì)；② 采用延遲塊探頭或水浸聚焦探頭進(jìn)行成像檢測(cè)[9]，具有檢測(cè)結(jié)果直觀性好等優(yōu)勢(shì)。目前，相控陣超聲技術(shù)也正在復(fù)合材料檢測(cè)領(lǐng)域得到了推廣應(yīng)用。各種檢測(cè)技術(shù)的基礎(chǔ)是要能得到優(yōu)越的A掃描信號(hào)，從而得到準(zhǔn)確可靠的檢測(cè)結(jié)果，因此，有必要對(duì)各種超聲檢測(cè)技術(shù)的A掃描信號(hào)的特征進(jìn)行分析。

1.1 直探頭檢測(cè)技術(shù)

超聲直探頭常匹配脈沖反射法對(duì)被檢工件進(jìn)行檢測(cè)。其檢測(cè)原理是在被檢工件的一側(cè)放置一個(gè)直探頭，既作為發(fā)射探頭，又作為接收探頭。當(dāng)被檢工件中有缺陷時(shí)，超聲波傳播至缺陷處會(huì)發(fā)生反射和透射，反射的超聲波被探頭接收，形成缺陷回波。

1.2 延遲塊探頭檢測(cè)技術(shù)

2.3.1 試驗(yàn)裝置

2.3.2 試驗(yàn)結(jié)果

1.3 水浸聚焦檢測(cè)技術(shù)

在直探頭基礎(chǔ)上加裝聲透鏡，在水介質(zhì)中對(duì)直探頭聲束進(jìn)行聚焦，使聲能焦點(diǎn)位于工件表面或其內(nèi)部，可獲得更好的缺陷分辨力。

圖11中，P0為入射波，P1為反射波，與經(jīng)近表面缺陷反射形成的系列反射波Pd1、Pd2等都會(huì)被接收到。對(duì)于雙晶探頭，該反射波P1被隔聲層阻擋，不會(huì)被接收到。設(shè)入射波P0=Aexp(jωt)；上界面反射與透射系數(shù)分別為γ與β，聲束經(jīng)歷近表面缺陷的反射及上表面透射的歷程后的總衰減為α；則

產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新是一項(xiàng)復(fù)雜的系統(tǒng)工程，更需要產(chǎn)學(xué)研之間建立長(zhǎng)期、持續(xù)和穩(wěn)定的合作關(guān)系?！爱a(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟”是產(chǎn)學(xué)研結(jié)合模式的創(chuàng)新，推動(dòng)產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟構(gòu)建和發(fā)展對(duì)建設(shè)創(chuàng)新型國(guó)家有著十分重要的意義。我國(guó)建筑信息模型BIM產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟是推動(dòng)我國(guó)傳統(tǒng)建筑行業(yè)轉(zhuǎn)型升級(jí)的重要途徑和主要抓手，總結(jié)各聯(lián)盟運(yùn)行中的突出特點(diǎn)，按照產(chǎn)業(yè)發(fā)展需求和市場(chǎng)經(jīng)濟(jì)規(guī)律，不斷強(qiáng)化聯(lián)盟在技術(shù)、標(biāo)準(zhǔn)、培訓(xùn)、交流等方面的各種能力，在理念、體制、機(jī)制、方法、手段等多方面開展創(chuàng)新工作，不斷引導(dǎo)產(chǎn)業(yè)健康發(fā)展，以實(shí)現(xiàn)行業(yè)乃至國(guó)家核心競(jìng)爭(zhēng)力的提升。

1.4 雙晶探頭檢測(cè)技術(shù)

雙晶探頭檢測(cè)原理如圖1所示，采用收發(fā)分離的方式，在探頭內(nèi)部并排放置兩個(gè)壓電晶片，并用隔聲層將其分隔開。發(fā)射晶片可選用發(fā)射靈敏度較高的壓電材料制作，接收晶片選用接收靈敏度較高的材料制作，以使得探頭的靈敏度更高，避免了采用單晶探頭進(jìn)行自發(fā)自收檢測(cè)時(shí)受探頭性能影響出現(xiàn)導(dǎo)致的靈敏度較低的問題。

圖1 雙晶探頭檢測(cè)技術(shù)原理示意

機(jī)械振動(dòng)鉆進(jìn)。在地質(zhì)探測(cè)中，遇到砂土或粘性土層時(shí)一般選用振動(dòng)鉆進(jìn)，但遇到孔深或巖石比較硬的情況時(shí)振動(dòng)鉆進(jìn)的工作效率就相對(duì)比較低。機(jī)械振動(dòng)鉆進(jìn)的工作原理是鉆探中安裝振動(dòng)器，在震動(dòng)器的帶動(dòng)下鉆桿和鉆頭也隨之產(chǎn)生振動(dòng)，因?yàn)檎饎?dòng)器振動(dòng)速度比較快會(huì)使得土層和巖層疏松，從而有效削減了巖層和土層的硬度，然后在鉆具和震動(dòng)器的雙重作用下，使鉆頭進(jìn)入到巖土層，完成鉆進(jìn)任務(wù)。

收發(fā)分離的方式也使得探頭的接收信號(hào)獨(dú)立于發(fā)射信號(hào)，近表面缺陷的回波信號(hào)不會(huì)與激勵(lì)信號(hào)混疊而造成漏檢，減小了探頭盲區(qū)，提升了近表面缺陷的分辨能力。

采用雙晶探頭檢測(cè)復(fù)合材料層壓結(jié)構(gòu)件時(shí)，應(yīng)使待檢區(qū)域盡可能地位于雙晶探頭的菱形區(qū)域內(nèi)，以提高缺陷的檢出率和檢測(cè)靈敏度，確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。

2 幾種檢測(cè)技術(shù)的對(duì)比試驗(yàn)

2.1 被檢工件與檢測(cè)探頭參數(shù)選擇

被檢工件為2.5 mm厚的CFRP層壓板，共12個(gè)鋪層，在鋪層之間預(yù)埋了聚四氟乙烯模擬分層缺陷。缺陷直徑為8.4 mm，分別位于上表面23鋪層之間、中間層和下表面23鋪層之間，被檢工件結(jié)構(gòu)如圖2所示。

圖2 被檢工件結(jié)構(gòu)示意

根據(jù)被檢件厚度以及檢測(cè)縱向分辨力和橫向分辨力需求，選擇Olympus V201型可更換延遲塊探頭作為直探頭與延遲塊探頭檢測(cè)試驗(yàn)用探頭；選擇Olympus V310型探頭作為水浸聚焦檢測(cè)試驗(yàn)用探頭；特別設(shè)計(jì)制作了不同頻率和焦距的2個(gè)雙晶探頭，其型號(hào)分別為5 MHz 4×8 F3和7 MHz 2×6 F2，其頻率分別為5 MHz和7 MHz，晶片尺寸分別為4 mm×8 mm和2 mm×6 mm(長(zhǎng)×寬)，在鋼中焦距分別為3 mm和2 mm。

2.2 近表面分層缺陷檢測(cè)A掃描信號(hào)對(duì)比

采用Olympus 5077型超聲激勵(lì)接收器連接探頭進(jìn)行手工檢測(cè)試驗(yàn)，采用DPO 3052型泰克數(shù)字示波器采集超聲信號(hào)。4種檢測(cè)技術(shù)原理示意及其對(duì)CFRP層壓板近表面分層缺陷檢測(cè)的A掃描信號(hào)如圖36所示。除圖3的A掃信號(hào)中直探頭始波即為上界面波外，其他各探頭的始波已移出顯示范圍。將各個(gè)A掃信號(hào)中底波對(duì)齊并都調(diào)至約80%滿屏高度以便進(jìn)行對(duì)比。圖36中虛線與實(shí)線信號(hào)波形分別為CFRP板有與無缺陷處的A掃描信號(hào)。

圖3 直探頭A掃描結(jié)果

圖4 延遲塊探頭A掃描結(jié)果

圖5 水浸點(diǎn)聚焦探頭檢測(cè)原理及A掃描結(jié)果

圖6 雙晶探頭A掃描結(jié)果

由圖36可以看出：①φ8.4 mm預(yù)置人工缺陷均完全阻擋了聲束使底波消失；② 從有無缺陷A掃信號(hào)的對(duì)比來看，4種方法均可識(shí)別出因缺陷引起的信號(hào)異常，因此均可檢出近表面缺陷；③ 圖3～5中近表面缺陷信號(hào)緊靠在固有的界面波或始波后邊；④ 延遲塊探頭因延遲塊與被檢工件的聲阻抗匹配性更好，其上界面波的持續(xù)時(shí)間短，因此近表面缺陷檢測(cè)效果更好；⑤ 各個(gè)探頭的上下兩個(gè)界面信號(hào)之間時(shí)間差為1.7 μs，因此CFRP板中聲速約為3 000 m·s-1； ⑥ 由于板厚為2.5 mm，而缺陷距上表面約0.4 mm，所以缺陷波應(yīng)出現(xiàn)在上界面波后的1/6處，但從圖3～5的A掃信號(hào)圖上看，該處位于界面波或始波信號(hào)中。

2.3 成像檢測(cè)試驗(yàn)

在直探頭與工件之間，插入與復(fù)合材料聲阻抗基本相匹配的延遲塊(例如有機(jī)玻璃)，可以在一定程度上抑制上表面界面波，減小檢測(cè)盲區(qū)，更好地發(fā)揮直探頭檢測(cè)技術(shù)的優(yōu)勢(shì)。

成像檢測(cè)試驗(yàn)裝置框圖如圖7所示，采用步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)的機(jī)械裝置帶動(dòng)上述探頭對(duì)CFRP層壓板進(jìn)行x-y方向掃查。掃查區(qū)域?yàn)?10 mm×40 mm(長(zhǎng)×寬)，掃查步距為0.5 mm。

圖7 成像檢測(cè)試驗(yàn)裝置框圖

念蓉發(fā)誓她并不想追查這件事情。并非她不在意，而是她認(rèn)為，有時(shí)候，在某些事情上追查到底，不僅是自討沒趣、自討苦吃，甚至是自我虐待。

由于近表面缺陷與上表面間距d<波長(zhǎng)λ，則界面反射波P1與Pd1、Pd2等缺陷反射波會(huì)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，接收到的回波可表示為

圖8 延遲塊探頭檢測(cè)結(jié)果

圖9 水浸點(diǎn)聚焦探頭檢測(cè)結(jié)果

圖10 雙晶探頭檢測(cè)結(jié)果

由圖810可知，3種檢測(cè)技術(shù)均能有效檢測(cè)出復(fù)合材料層壓結(jié)構(gòu)中的分層缺陷，且B掃描，C掃描成像效果良好。

大多數(shù)小型農(nóng)田水利工程基本都是20世紀(jì)六七十年代建成的，受當(dāng)時(shí)經(jīng)濟(jì)條件以及技術(shù)水平的限制，這些水利工程的抗災(zāi)能力、耐用性都較低，同時(shí)缺乏必要的維修養(yǎng)護(hù)資金，致使水利工程設(shè)施老化失修，水資源浪費(fèi)現(xiàn)象嚴(yán)重。灌溉時(shí)大水漫灌，“跑、冒、滴、漏”現(xiàn)象常見，對(duì)灌區(qū)的灌溉效率與經(jīng)濟(jì)效益產(chǎn)生較大影響。少數(shù)農(nóng)戶隨意耕種溝渠，毀堤取土，造成中小溝渠堵塞，水流不暢；對(duì)井灌設(shè)施保護(hù)不力，老機(jī)井損壞嚴(yán)重，部分已經(jīng)不能使用；小型電灌站的溝渠配套、農(nóng)田整治等工作跟不上，設(shè)備銹蝕，部件被盜，很多已不能正常使用。

3 試驗(yàn)結(jié)果分析

3.1 近表面缺陷信號(hào)位置分析

對(duì)于直探頭來說，一方面由于缺陷位于探頭的近場(chǎng)，另一方面由于始波的電信號(hào)阻塞效應(yīng)嚴(yán)重，所以直探頭不利于檢測(cè)近表面缺陷。

從圖36可以看出，上表面的界面波一般會(huì)持續(xù)2個(gè)周期，5 MHz探頭在CFRP板中縱波聲速約3 000 m·s-1，其波長(zhǎng)約為0.6 mm，因此上界面電信號(hào)阻塞效應(yīng)導(dǎo)致的檢測(cè)盲區(qū)深度理論上約為1.2 mm。理論上上表面下0.4 mm的分層缺陷在盲區(qū)中應(yīng)難以發(fā)現(xiàn)，但由于入射聲束在上表面與近表面缺陷之間存在多次反射象(見圖11)，其實(shí)際上是可以被識(shí)別的。

圖11 上表面與近表面缺陷之間多次反射示意

不倫不類的學(xué)位證書壓在臺(tái)桌上，我每天待在書房里不肯出來，堂妹也待在家里，時(shí)常忙碌自己的事。偶爾碰上宴席多聊上幾句，我們之間的聯(lián)系還是很少。自從搬到新居后，更是少有機(jī)會(huì)碰面。除夕前，父親告訴我：“堂妹在家總提起你，今天是她的生日，你們趁機(jī)會(huì)見見面?！蹦菚r(shí)，我已經(jīng)出版了第一個(gè)作品，心情自然舒朗得多，怕見了面不知道聊些什么，又想買點(diǎn)什么給她，父親搖了搖頭，“不用買什么了，這點(diǎn)錢算是給她的賀禮?！蔽也桓姨岢霎愖h，順著父親的意愿來到酒店。

式中：A為幅值;j為虛數(shù);ω為角頻率;t為時(shí)間;d為缺陷深度。

使用除直探頭外的3種探頭對(duì)工件進(jìn)行B掃描和C掃描檢測(cè)試驗(yàn)，延遲塊探頭的檢測(cè)結(jié)果如圖8所示，水浸點(diǎn)聚焦探頭的檢測(cè)結(jié)果如圖9所示，5 MHz F3型雙晶探頭的檢測(cè)結(jié)果如圖10所示。

S=P1+Pd1+Pd2+…=

由圖1可見，收發(fā)壓電晶片與水平面之間存在一定的夾角，從而使得雙晶探頭在被檢工件中形成一個(gè)菱形聲場(chǎng)區(qū)，該區(qū)的中心點(diǎn)F為聲場(chǎng)的焦點(diǎn)，因此，雙晶探頭也具有聚焦特性。當(dāng)壓電晶片與水平面之間的夾角發(fā)生變化時(shí)，菱形聲場(chǎng)區(qū)的形狀也會(huì)隨之發(fā)生變化，于是可通過調(diào)節(jié)晶片角度來改變菱形區(qū)域的大小和缺陷回波信號(hào)的靈敏度。通過調(diào)節(jié)延遲塊的高度，可改變工件中的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度和菱形區(qū)域在被檢工件中的相對(duì)位置，達(dá)到減小盲區(qū)，提高近表面分辨率的目的。

會(huì)上，中國(guó)農(nóng)業(yè)大學(xué)教授、資源與環(huán)境學(xué)院副院長(zhǎng)江榮風(fēng)，安徽農(nóng)業(yè)大學(xué)黨委常委、副校長(zhǎng)姚佐文，安徽六國(guó)化工副總經(jīng)理、總工程師沈浩，代表三方簽署戰(zhàn)略合作協(xié)議。

(3)

式(3)中指數(shù)項(xiàng)的虛數(shù)決定了缺陷回波的相位延遲，即缺陷信號(hào)最大值位置與其缺陷實(shí)際位置d相比，對(duì)應(yīng)的時(shí)間會(huì)產(chǎn)生延遲。因此，近表面缺陷信號(hào)的峰值位置并不對(duì)應(yīng)實(shí)際缺陷的實(shí)際位置。

本研究隨機(jī)抽取2015年1月—2018年9月期間我院進(jìn)行過64排CT冠狀動(dòng)脈造影檢查的臨床確診為冠心病患者95名，經(jīng)檢查，所有被選取研究對(duì)象心電圖均顯示竇性心律，研究對(duì)象基本資料如表1所示。

3.2 缺陷定量準(zhǔn)確性分析

根據(jù)圖810的檢測(cè)結(jié)果，將φ8.4 mm預(yù)置人工缺陷的實(shí)際檢出尺寸列于表1中。

表1 實(shí)際檢測(cè)得到的缺陷大小 mm

由表1中數(shù)據(jù)可知，雙晶探頭對(duì)復(fù)合材料層壓結(jié)構(gòu)件中分層缺陷的定量準(zhǔn)確度最高，水浸點(diǎn)聚焦探頭次之，延遲塊探頭定量誤差最大。雙晶探頭對(duì)于中下層缺陷的定量結(jié)果較為準(zhǔn)確，上層缺陷定量結(jié)果偏小；水浸點(diǎn)聚焦探頭對(duì)中層缺陷定量較為準(zhǔn)確，上層缺陷定量結(jié)果偏大，下層缺陷定量結(jié)果偏??；延遲塊探頭定量結(jié)果均偏大，且隨著缺陷深度的增加，定量結(jié)果趨于準(zhǔn)確。

缺陷定量準(zhǔn)確性受探頭的聲場(chǎng)尺寸和焦點(diǎn)位置等聲場(chǎng)特性影響。由于5 MHz F3雙晶探頭在鋼中的焦點(diǎn)位置為表面下3 mm，其在CFRP中的位置則更深(約為8 mm)，因此該雙晶探頭對(duì)近表面缺陷的回波信號(hào)強(qiáng)度不高，檢測(cè)靈敏度不高，造成定量不準(zhǔn)。同樣，對(duì)于水浸點(diǎn)聚焦探頭，當(dāng)缺陷位于焦點(diǎn)位置處時(shí)，其定量準(zhǔn)確性較高，而延遲塊探頭由于聲場(chǎng)較大，定量準(zhǔn)確性低。

3.3 檢測(cè)結(jié)果對(duì)比

各技術(shù)的C掃圖像都可有效識(shí)別出缺陷，且缺陷輪廓清晰，可進(jìn)行缺陷測(cè)量。從圖8和圖9可以看出，水浸聚焦探頭和雙晶探頭具有一定的聚焦功能，能顯示出CFRP的纖維分布形貌。但水浸聚焦探頭部分界面波進(jìn)入到成像閘門范圍內(nèi)，致使成像質(zhì)量變差，對(duì)檢測(cè)結(jié)果的判定造成了一定的干擾。

由B掃圖像可清晰分辨出位于不同埋深處的分層缺陷，但水浸點(diǎn)聚焦探頭和延遲塊探頭的近表面缺陷回波信號(hào)緊鄰界面波。若C掃成像閘門選取不當(dāng)，或探頭脈寬較大，則可能導(dǎo)致近表面缺陷回波信號(hào)消失或混疊在界面波中無法有效識(shí)別，致使在C掃圖中觀察不到近表面缺陷，造成漏檢。雙晶探頭的檢測(cè)結(jié)果無界面波干擾，通過合理選擇延遲塊高度、晶片頻率和夾角，可使缺陷位于菱形區(qū)域內(nèi)，減小探頭的盲區(qū)，提高近表面分辨率和檢測(cè)靈敏度，確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。在定量方面，雙晶探頭的檢測(cè)結(jié)果更為準(zhǔn)確，且不會(huì)造成缺陷的漏檢和誤判。

4 結(jié)語

(1) 采用延遲塊探頭、水浸點(diǎn)聚焦探頭和雙晶探頭均能檢測(cè)出復(fù)合材料層壓板結(jié)構(gòu)件中的分層缺陷。相對(duì)于鋼而言，CFRP等復(fù)合材料的近表面缺陷更易于檢測(cè)，可檢測(cè)近表面0.4 mm深的分層缺陷。

(2) 采用直探頭和水浸點(diǎn)聚焦探頭檢測(cè)復(fù)合材料層壓結(jié)構(gòu)件時(shí)，界面波的存在對(duì)近表面缺陷成像造成干擾，且定量誤差大。由于近表面缺陷與上表面之間的缺陷波會(huì)發(fā)生反射和干涉，會(huì)造成缺陷反射回波的峰值位置延遲，進(jìn)而造成近表面缺陷深度位置測(cè)量不準(zhǔn)確。

在高速動(dòng)車組運(yùn)行過程中，由于潮流分布和系統(tǒng)元件參數(shù)變化，牽引供電系統(tǒng)會(huì)產(chǎn)生過電壓。過電壓通常會(huì)引起供電系統(tǒng)絕緣閃絡(luò)，造成斷路器跳閘，影響供電系統(tǒng)安全運(yùn)行；同時(shí)，過電壓還可能會(huì)造成高壓電氣設(shè)備被擊穿，從而釀成事故，以致供電中斷。因此，有效安全地獲取過電壓的數(shù)據(jù)，掌握其分布規(guī)律，并實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)其變化就顯得尤為重要。

(3)采用雙晶探頭檢測(cè)復(fù)合材料層壓結(jié)構(gòu)件時(shí)，定量較為準(zhǔn)確，近表面缺陷識(shí)別效果好，避免了界面波的干擾，提高了檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。