尚恒 李娜

【關(guān)鍵詞】電子元器件;檢測;誤差分析

一、引言

軍用電子元器件作為電子裝備的基礎(chǔ)組成單元，內(nèi)部組成復(fù)雜，精密度高，在電子裝備的功能實(shí)現(xiàn)、性能指標(biāo)提升、裝備可靠性等方面扮演著不可或缺的角色。如此微小的體積，內(nèi)部卻包含著復(fù)雜的P-N節(jié)和連接線，稍有不慎就會造成元器件故障，進(jìn)而影響裝備的可靠性，甚至?xí)l(fā)備戰(zhàn)、作戰(zhàn)事故，不可輕視。本文提出新的電子元器件的檢測研究，為進(jìn)一步提高電子元器件檢測精度，采用誤差分析的方式，分析電子元器件檢測誤差，致力于將電子元器件檢測誤差降至更低水平。

二、電子元器件的檢測方法研究

（一）電子元器件檢測圖像預(yù)處理

在檢測電子元器件時，需要執(zhí)行電子元器件檢測圖像預(yù)處理，本文采用可見光相機(jī)方式采集電子元器件表面圖像。針對圖像中突變的灰度值采用波峰表示，設(shè)電子元器件檢測圖像中像素的灰度值矩陣為P，基于小波變換正弦交換P，得出正弦交換后的像素的灰度值矩陣C，正弦交換過程，通過方程式表示，如公式（1）所示。

式（1）中，Q為原始電子元器件檢測圖像。通過公式（1）正弦交換得到電子元器件檢測圖像像素的灰度值矩陣，將得到的像素灰度值看作為待編碼數(shù)據(jù)。設(shè)讀取字符流中下一個字符為w，更新后綴為S，則電子元器件檢測圖像預(yù)處理的具體流程，如圖1所示。

電子元器件檢測圖像預(yù)處理編碼總是向著增大的方向進(jìn)行，注意電子元器件檢測圖像標(biāo)準(zhǔn)取值范圍，剔除超出或低于范圍內(nèi)的無效數(shù)據(jù)。

（二）電子元器件檢測圖像平滑去噪、增強(qiáng)

電子元器件檢測圖像預(yù)處理后，需要對電子元器件檢測圖像進(jìn)行平滑去噪，進(jìn)而去除圖像中噪聲與背景的干擾，保證電子元器件檢測圖像精度。設(shè)去除圖像中噪聲與背景的表達(dá)式為c，則其公式如下公式（2）所示。

在電子元器件檢測圖像平滑去噪的基礎(chǔ)上，本文采用圖像增強(qiáng)的方式，提高電子元器件檢測視覺效果。設(shè)g（x，y）為經(jīng)過二值化處理后的輸出圖像，f（x，y）為采集到的原始圖像，T為灰度值（取值范圍0-255）。二值化處理的箅法設(shè)定為：

如式（3）所示，考慮到光照不均的情況，本文采用自適應(yīng)閥值的算法增強(qiáng)電子元器件檢測圖像，進(jìn)而滿足電子元器件檢測對于圖像清晰度的要求。

（三）實(shí)現(xiàn)電子元器件的檢測

電子元器件檢測圖像平滑去噪、增強(qiáng)后，通過分析圖像形態(tài)學(xué)，實(shí)現(xiàn)電子元器件檢測。用深度學(xué)習(xí)分類器判斷電子元器件損傷目標(biāo)的屬性，通過深度學(xué)習(xí)的學(xué)習(xí)能力及表達(dá)能力，在眾多檢測數(shù)據(jù)中有效提取出損傷目標(biāo)的特征，以此達(dá)到電子元器件檢測的目的。

三、電子元器件的檢測誤差分析

（一）確定電子元器件檢測誤差邊緣像素點(diǎn)

在電子元器件的檢測誤差分析過程中，必須預(yù)先確定誤差邊緣像素點(diǎn)，展開誤差分析?；谶吘壪袼攸c(diǎn)的離散性特點(diǎn)，相關(guān)系數(shù)閾值法是一種切實(shí)可行的處理算法。首先，提取邊緣像素點(diǎn)，其次擬合邊緣像素點(diǎn)，連接成線，通過擬合誤差邊緣像素點(diǎn)在直線中的位置，考慮到誤差邊緣像素點(diǎn)并不是統(tǒng)一在一條直線中，因此，采用最小二乘法，將偏離點(diǎn)擬合到直線附近。

（二）提取離散型電子元器件檢測誤差信號

確定誤差邊緣像素點(diǎn)的基礎(chǔ)上，基于模糊神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)離散化表達(dá)誤差分析信號，為提取離散型誤差分析信號奠定基礎(chǔ)?？衫媚：窠?jīng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)單獨(dú)選用中間層的傳遞函數(shù)和模糊神經(jīng)元數(shù)目作為模糊神經(jīng)元的控制核心，進(jìn)而提取離散型誤差信號。通過模糊神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中的傳遞函數(shù)訓(xùn)練采集到的誤差信息，提取離散型誤差診斷信號的有效值，進(jìn)而獲得其映射關(guān)系。設(shè)運(yùn)用傳遞函數(shù)提取離散型誤差信號的表達(dá)式為k，則有公式（4）。

式（4）中，x為當(dāng)前取值范圍下誤差信號線路的流經(jīng)狀態(tài);N為電子元器件檢測最大允許誤差。利用上式，獲得其映射關(guān)系，從而提取離散型誤差信號。

（三）分析電子元器件的檢測誤差

針對上述提取的離散型誤差信號，分析處理誤差信息。通過C語言編碼中的deviceld指令減少誤差分析中的冗余值，傳輸實(shí)時動態(tài)誤差數(shù)據(jù)。利用NB-IOT技術(shù)將誤差分析功能連接后臺，顯示誤差信息。通過計算每個數(shù)據(jù)的映射值，以此獲得誤差分析結(jié)果。設(shè)誤差分析結(jié)果的表達(dá)式為Q，則有公式（5）。

式（5）中：E為誤差分析時線路的電流極值;為誤差分析影響因素個數(shù);K為離散型誤差信號的有效值;B為誤差分析時電流的流經(jīng)強(qiáng)度。計算得出的映射值作為誤差分析的關(guān)鍵依據(jù)，結(jié)合誤差分析數(shù)據(jù)的實(shí)時傳遞情況，傳輸終端數(shù)據(jù)，并顯示數(shù)據(jù)信息，完成電子元器件的檢測誤差分析。

四、結(jié)束語

電子元器件檢測具有一定的難度，利用檢測方式盡管能夠提高檢測精度，但仍在會存在檢測誤差。在分析檢測誤差過程中，明確電子元器件檢測誤差產(chǎn)生的相關(guān)影響因素。但本文研究仍在存在不足之處，主要表現(xiàn)為對電子元器件檢測誤差分析方式較為單一，未在其中引入平均誤差，并且未充分考慮到電子元器件生產(chǎn)系統(tǒng)的誤差因素，上述內(nèi)容在未來針對此方面的研究中可以作為補(bǔ)充內(nèi)容加以說明。