湘潭大學(xué) 廖少華 黃嵩人

本文提出了一種基于IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)的JTAG控制器模塊的驗(yàn)證平臺(tái)，該平臺(tái)使用UVM（Universal Verification Methodology）驗(yàn)證方法學(xué)。設(shè)計(jì)了受約束的隨機(jī)激勵(lì)和定向激勵(lì)使得驗(yàn)證更加完備。驗(yàn)證結(jié)果表明，已覆蓋所有測(cè)試點(diǎn)，達(dá)到驗(yàn)證目的。

隨著技術(shù)的發(fā)展，小小的芯片容納了大量的門電路，同時(shí)驗(yàn)證的要求也越來越高，UVM驗(yàn)證方法學(xué)便是在這樣的背景下，成為了現(xiàn)今主流的驗(yàn)證方法學(xué)。為了提高內(nèi)部電路測(cè)試的效率，1990年電氣和電子工程師協(xié)會(huì)(Institute of Electrical and Electronics Engineers，IEEE)制定了IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)，得到了廣泛的應(yīng)用。本文將采用UVM驗(yàn)證方法學(xué)對(duì)JTAG控制器模塊進(jìn)行完備的驗(yàn)證。

1 UVM驗(yàn)證平臺(tái)介紹

UVM即通用驗(yàn)證方法學(xué)。它包含了隨機(jī)測(cè)試激勵(lì)的生成、受約束的隨機(jī)測(cè)試的構(gòu)建、擁有面向?qū)ο蟮恼Z言特性、提供了與其他語言編寫程序的接口。驗(yàn)證工程師可以靈活地利用它提供的各種機(jī)制，來提高自己驗(yàn)證工作的效率。

典型的UVM驗(yàn)證平臺(tái)框架圖如圖1所示。

圖1 典型的UVM驗(yàn)證平臺(tái)框架圖

驗(yàn)證平臺(tái)的組件介紹如下：

driver：driver作為一個(gè)驅(qū)動(dòng)器，用于從sequencer中獲取transaction，進(jìn)而通過接口將transaction轉(zhuǎn)化為對(duì)DUT的時(shí)序激勵(lì)。

monitor：monitor作為一個(gè)收集器，與driver的作用相反，通過接口將DUT的響應(yīng)收集起來，送給下一模塊，完成數(shù)據(jù)的采集。

sequencer：sequencer與sequence協(xié)同工作，sequence需要掛載在sequencer上才能正常工作。sequencer產(chǎn)生transaction，而driver從sequence中獲取產(chǎn)生的transaction。

agent：將driver、monitor、sequencer打包，作為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)證環(huán)境單位。每一個(gè)agent代表的都是一種數(shù)據(jù)協(xié)議，包含了時(shí)序關(guān)系。

reference model：reference model用于完成與DUT一樣的功能，是待測(cè)設(shè)計(jì)的理想化輸出，它將接受與DUT一樣的激勵(lì)，其結(jié)果將被傳輸?shù)絪coreboard進(jìn)行比較。

scoreboard：scoreboard是驗(yàn)證平臺(tái)的記分板，其中進(jìn)行待測(cè)設(shè)計(jì)的響應(yīng)與reference model響應(yīng)的比較，目的是為了對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)輸出與實(shí)際輸出是否一致。

env：env是一個(gè)結(jié)構(gòu)化的模塊，為了考慮環(huán)境復(fù)用而存在的。其中可能包含多個(gè)agent與component，可以被更高層的env所容納，是結(jié)構(gòu)化與可復(fù)用性的一大體現(xiàn)。

test：test是驗(yàn)證環(huán)境建立的唯一入口，通過他可以運(yùn)行UVM的phase機(jī)制，除此之外，uvm_report的參數(shù)設(shè)置也在此模塊內(nèi)。

2 JTAG控制器模塊介紹

JTAG控制器可以分為三個(gè)部分，分別是：測(cè)試存取通道TAP（test access port）、TAP控制器、一組邊界掃描寄存器、指令寄存器和數(shù)據(jù)寄存器。如圖2所示。

圖2 JTAG控制器結(jié)構(gòu)框圖

測(cè)試存取通道TAP是由4個(gè)或5個(gè)（1個(gè)可選的復(fù)位信號(hào)）端口來進(jìn)行信號(hào)的輸入輸出。他們分別為：TCLK、TMS、TDI、TDO、TRST。其中TRST（測(cè)試復(fù)位）是一個(gè)可選引腳，使用他的話可以將測(cè)試硬件復(fù)位至非侵入模式。

JTAG控制器模塊中，TAP控制器實(shí)現(xiàn)了不同狀態(tài)的控制與數(shù)據(jù)、指令的讀取輸出。TAP控制器是一個(gè)具有16個(gè)狀態(tài)的同步狀態(tài)機(jī)，使用TCLK為時(shí)鐘輸入，TMS為控制輸入，通過發(fā)出控制信號(hào)來操作指令寄存器和各種數(shù)據(jù)寄存器。

在IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)中，指令可以分為公共指令與專用指令兩種。其中包含了5個(gè)強(qiáng)制指令與2個(gè)可選指令。它們分別是旁路指令、采樣指令、預(yù)加載指令、外測(cè)試指令、內(nèi)測(cè)試指令、高阻指令、器件標(biāo)識(shí)指令。

以旁路指令為例，為了實(shí)現(xiàn)旁路功能，首先tap控制器在TMS的控制下進(jìn)入CAPTURE_IR狀態(tài)，將旁路指令裝載，然后進(jìn)入SHIFT_DR狀態(tài)，此時(shí)旁路指令代碼通過TDI端口依次進(jìn)入并被移位更新在指令寄存器中。隨著狀態(tài)機(jī)進(jìn)入SHIFT_DR環(huán)節(jié)，在此狀態(tài)下，TDO的輸出與TDI的輸入一致，內(nèi)核邏輯被旁路。

3 搭建基于UVM的JTAG控制器模塊驗(yàn)證平臺(tái)

設(shè)計(jì)包含top層、base_test層與agent層三大層次。

Top是整個(gè)驗(yàn)證平臺(tái)的頂層，其中例化了DUT、interface與base_test，并且將DUT通過端口與interface進(jìn)行連接。在top層中通過config_db語句來在不同組件之間傳遞參數(shù)。

Base_test內(nèi)包含了sequence_lib與env，其中，sequence_lib中例化了不同的測(cè)試用例，各測(cè)試用例是基于base_test進(jìn)行擴(kuò)展，從而實(shí)現(xiàn)不同功能點(diǎn)的覆蓋。而env中則包含了覆蓋率收集模塊coverage group、參考模型reference model、對(duì)比模塊scoreboard以及輸入agent、輸出agent。

Agent模塊中，一般封裝了sequencer、driver和monitor。但輸出agent中不需要driver與sequencer，僅僅例化了一個(gè)monitor用于監(jiān)控輸出。

運(yùn)行流程：

進(jìn)行仿真時(shí)，sequencer將sequence產(chǎn)生的transaction級(jí)數(shù)據(jù)包發(fā)送給driver，driver則根據(jù)時(shí)序的控制，將數(shù)據(jù)包通過interface傳輸給dut，同時(shí)monitor會(huì)將激勵(lì)數(shù)據(jù)復(fù)制一份傳輸給reference model，out_agent的minitor則會(huì)監(jiān)控dut的響應(yīng)，將響應(yīng)結(jié)果傳輸給scoreboard，scoreboard內(nèi)會(huì)將reference model的輸出與minitor監(jiān)測(cè)到的響應(yīng)進(jìn)行比較，最后通過UVM_INFO機(jī)制打印出對(duì)比信息，得出仿真結(jié)果。同時(shí)coverage group模塊會(huì)對(duì)覆蓋率進(jìn)行收集，得出覆蓋率報(bào)告。以上就是整個(gè)UVM驗(yàn)證中的數(shù)據(jù)流動(dòng)過程。

4 驗(yàn)證結(jié)果分析

本次測(cè)試使用Mentor的questasim軟件進(jìn)行仿真驗(yàn)證。通過受約束的隨機(jī)激勵(lì)，結(jié)合時(shí)序波形信息可以看出，TAP控制器遍歷了所有的狀態(tài)，并且TDO的輸出也與相應(yīng)指令對(duì)應(yīng)，輸出結(jié)果符合預(yù)期。時(shí)序仿真波形圖如圖3所示。

圖3 時(shí)序仿真波形圖

UVM作為時(shí)下最流行的驗(yàn)證方法學(xué)，雖然前期時(shí)間搭建平臺(tái)，但是能為后期的驗(yàn)證提高極大的效率，縮短了驗(yàn)證時(shí)間。本文利用了UVM驗(yàn)證方法學(xué)，對(duì)JTAG控制器模塊進(jìn)行了充分的驗(yàn)證，為項(xiàng)目研發(fā)進(jìn)度節(jié)約了大量的時(shí)間，并且該驗(yàn)證平臺(tái)架構(gòu)還可以移植到其他項(xiàng)目之中，在實(shí)際項(xiàng)目開發(fā)中具有很高的應(yīng)用價(jià)值。