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        基于卷積自編碼網(wǎng)絡(luò)的瓷磚表面缺陷檢測(cè)

        2021-10-18 08:14:50李澤輝陳新度練洋奇
        現(xiàn)代計(jì)算機(jī) 2021年24期
        關(guān)鍵詞:檢測(cè)模型

        李澤輝,陳新度,練洋奇

        (1.廣東工業(yè)大學(xué),廣東省計(jì)算機(jī)集成制造重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,廣州510006;2.廣東工業(yè)大學(xué),省部共建精密電子制造技術(shù)與裝備國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,廣州510006)

        0 引言

        我國(guó)是瓷磚生產(chǎn)大國(guó),國(guó)內(nèi)的墻地磚生產(chǎn)企業(yè)在原料加工方面已實(shí)現(xiàn)了機(jī)械化和自動(dòng)化,但在分色分級(jí)方面仍停留在人工檢測(cè)的水平,在瓷磚的生產(chǎn)流程中,從原料、配方、球磨、制粉、成形、燒制到磨邊倒角等,各個(gè)環(huán)節(jié)均會(huì)產(chǎn)生不同的缺陷,其中主要包括孔洞、劃痕、雜斑等類(lèi)型表面缺陷。近年來(lái)許多學(xué)者提出了基于傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)的瓷磚表面缺陷檢測(cè)方法,其中Sameer Ahamad等[1]對(duì)瓷磚進(jìn)行亮度增強(qiáng)和中值濾波的預(yù)處理后,分割瓷磚圖像并進(jìn)行特征提取,然后利用圖像直方圖測(cè)量瓷磚缺陷,實(shí)現(xiàn)了對(duì)陶瓷缺陷分級(jí)。S.H.Hanzaei等[2]提出用旋轉(zhuǎn)不變測(cè)量局部方差算子特征提取缺陷特征,經(jīng)過(guò)形態(tài)學(xué)增強(qiáng)后利用支持向量機(jī)進(jìn)行缺陷分類(lèi),取得了較好的效果。但這類(lèi)方法往往采用常規(guī)圖像處理算法或人工設(shè)計(jì)特征加分類(lèi)器方式,在實(shí)際應(yīng)用中存在算法參數(shù)調(diào)試?yán)щy,魯棒性不強(qiáng),容易被復(fù)雜工業(yè)環(huán)境影響等缺點(diǎn)。近年來(lái),開(kāi)始有學(xué)者將卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)用于工業(yè)缺陷檢測(cè),許志鵬等[3]提出了基于輕量YOLOv3的拉鏈缺陷檢測(cè)系統(tǒng),模型達(dá)到80%的mAP。一些研究者利用分割網(wǎng)絡(luò)如FCN、U-Net進(jìn)行缺陷檢測(cè),可以獲得缺陷的準(zhǔn)確位置及類(lèi)型。但這類(lèi)網(wǎng)絡(luò)都需要一定數(shù)量的標(biāo)注樣本進(jìn)行訓(xùn)練,而人工標(biāo)注樣本非常耗時(shí)。針對(duì)這一問(wèn)題,有學(xué)者提出無(wú)監(jiān)督學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò),其中Goodfel?low提出的生成式對(duì)抗網(wǎng)絡(luò)(generative adversarial net?works,GAN)被廣泛運(yùn)用于數(shù)據(jù)生成、圖像恢復(fù)等領(lǐng)域,Zhao等[4]提出一種基于GAN的織物表面缺陷檢測(cè)方法,該法通過(guò)修復(fù)缺陷區(qū)域后和原圖對(duì)比來(lái)檢測(cè)缺陷,但只適用于均勻紋理的表面。Masci[5]提出另一種無(wú)監(jiān)督學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)卷積自編碼器(convolutional auto?encoder,CAE),Ke提出一種基于CAE的異常值檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)來(lái)檢測(cè)缺陷區(qū)域,還有許多基于CAE的表面缺陷檢測(cè)研究,但多是針對(duì)規(guī)則紋理樣本[6]。

        基于以上研究,本文提出一種基于輕量卷積自編碼網(wǎng)絡(luò)的瓷磚表面缺陷檢測(cè)方法LR-CAE,該法通過(guò)對(duì)無(wú)標(biāo)注的正常瓷磚樣本進(jìn)行弱缺陷圖像重構(gòu)訓(xùn)練,使網(wǎng)絡(luò)獲得對(duì)正常紋理而非缺陷特征的重構(gòu)能力。當(dāng)缺陷樣本輸入時(shí),網(wǎng)絡(luò)會(huì)因?yàn)閷?duì)缺陷區(qū)域不敏感而導(dǎo)致重構(gòu)圖像的原缺陷區(qū)域相對(duì)原圖表現(xiàn)出差異,最后通過(guò)殘差處理加閾值化操作就可以獲得潛在的缺陷區(qū)域。

        1 數(shù)據(jù)集制作

        瓷磚幅面為600 mm×600 mm,采集得到共80張完整瓷磚圖像。采集得到的圖像受到成像系統(tǒng)等環(huán)境因素影響,經(jīng)過(guò)分析存在較多噪點(diǎn),故利用中值濾波先進(jìn)行一次濾波操作。本文的目的是通過(guò)易于獲得的無(wú)標(biāo)注正常樣本來(lái)訓(xùn)練網(wǎng)絡(luò),首先利用仿射變換校正瓷磚位姿以方便后續(xù)的區(qū)域劃分操作。然后提取僅包含瓷磚的區(qū)域圖像,為了適應(yīng)較大圖像輸入,將原圖劃分若干小區(qū)域,再經(jīng)過(guò)旋轉(zhuǎn)、添加隨機(jī)高斯噪聲共得到2328張無(wú)缺陷瓷磚圖像,60張缺陷圖像。

        圖1瓷磚分塊圖像

        2 基于卷積自編碼的表面缺陷檢測(cè)方法

        2.1 卷積自編碼器

        2.1.1 卷積自編碼器原理

        自編碼器最初由Rumelhart等提出,并將其應(yīng)用于復(fù)雜高維數(shù)據(jù)處理。自編碼器結(jié)構(gòu)如圖2所示,但自編碼器只采取了全連接網(wǎng)絡(luò),原理是依靠sigmod、tanh和relu函數(shù)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行非線(xiàn)性映射來(lái)獲取特征編碼[7],但這種結(jié)構(gòu)忽略了圖像的局部空間結(jié)構(gòu)信息,同時(shí)全連接層的使用使得模型整體參數(shù)量過(guò)大難以?xún)?yōu)化。

        圖2自編碼器結(jié)構(gòu)

        卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(Convolutional Neural Networks,CNN)的提出使得特征提取變得更加合理并且大大減少了參數(shù)量,得益于CNN的思想,CAE在特征編碼前加入了卷積層進(jìn)行特征提取,并在特征解碼加入反卷積層進(jìn)行重構(gòu)操作。

        CAE的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)如圖3所示,相比傳統(tǒng)的AE,CAE的優(yōu)點(diǎn)是利用了卷積操作來(lái)進(jìn)行特征提取以及特征降維,同時(shí)網(wǎng)絡(luò)的權(quán)值由所有神經(jīng)元共享,這使得網(wǎng)絡(luò)能夠?qū)W習(xí)到數(shù)據(jù)的空間表示,保持了圖像空間的局部性,并且使得模型易于訓(xùn)練,重構(gòu)效果更好。

        圖3卷積自編碼器結(jié)構(gòu)

        CAE的編碼過(guò)程如下,對(duì)于輸入的原圖Isrc的每個(gè)通道圖X,利用k個(gè)權(quán)值為Wi,偏置為bi,i=1,…,k的卷積核對(duì)通道圖做卷積,則可以得到k個(gè)特征編碼圖,編碼原理如式(1)所示。

        圖像重構(gòu)也就是解碼的過(guò)程,則是由反卷積操作完成,通過(guò)反卷積操作可以實(shí)現(xiàn)從編碼特征到重構(gòu)圖像的轉(zhuǎn)換。解碼原理如式(2)所示,其中H表示上一層操作后得到的特征映射圖,W?i是反卷積操作時(shí)卷積核的權(quán)值,c為偏置,Y是解碼后得到的對(duì)應(yīng)通道圖。

        為了提高模型提取特征的能力,Vicent等[8]提出了CDAE(卷積去噪自編碼器),該網(wǎng)絡(luò)通過(guò)在訓(xùn)練時(shí)人為添加隨機(jī)噪聲來(lái)提高模型對(duì)特征的提取能力。Mei等提出了多尺度重構(gòu)網(wǎng)絡(luò)MS-CADE[9],通過(guò)融合多尺度特征來(lái)獲得質(zhì)量更好的重構(gòu)圖像。

        2.1.2損失函數(shù)

        在卷積自編碼網(wǎng)絡(luò)中,多采用均方誤差(Mean-Square Error,MSE)作為損失函數(shù)。MSE也稱(chēng)為L(zhǎng)2 loss,一般用來(lái)評(píng)估兩幅圖像之間的像素級(jí)差異,在圖像重構(gòu)網(wǎng)絡(luò)中被用作衡量重構(gòu)圖像與輸入圖像之間的像素級(jí)差異程度。該函數(shù)側(cè)重于圖像的全局差異,定義如下:

        由解碼后得到的各通道圖Y合并得到,ω表示重構(gòu)網(wǎng)絡(luò)中的權(quán)重矩陣集,γ表示正則化項(xiàng)的懲罰因子,0<γ<1。從公式可以看出,該損失函數(shù)沒(méi)有考慮局部紋理特征,故以MSE為損失函數(shù)的修復(fù)模型在規(guī)則紋理樣本如紡織品等上表現(xiàn)較好,而在樣本為不規(guī)則紋理的情況下會(huì)導(dǎo)致模型難以訓(xùn)練[10]。

        2.2 重構(gòu)網(wǎng)絡(luò)框架搭建

        2.2.1 基本框架選擇與改進(jìn)

        基于缺陷樣本較少,正樣本較多的情況,采取僅需要正樣本進(jìn)行訓(xùn)練的卷積自編碼網(wǎng)絡(luò)作為基本架構(gòu),在保持網(wǎng)絡(luò)形狀的前提下針對(duì)檢測(cè)對(duì)象對(duì)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行了修改。本文的網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)如圖4所示,網(wǎng)絡(luò)呈現(xiàn)對(duì)稱(chēng)結(jié)構(gòu),左側(cè)是由卷積與池化層組成的特征提取網(wǎng)絡(luò)模塊,中間由全連接編碼層組成,右側(cè)由上采樣與卷積層組成的反卷積重構(gòu)模塊,結(jié)構(gòu)上與特征提取模塊基本對(duì)稱(chēng)。

        圖4 設(shè)計(jì)的自編碼網(wǎng)絡(luò)模型

        經(jīng)過(guò)實(shí)驗(yàn)嘗試,發(fā)現(xiàn)直接從特征編碼層經(jīng)過(guò)反卷積操作難以恢復(fù)高分辨率圖像信息,故參考了U-Net[11]的結(jié)構(gòu),將對(duì)應(yīng)的卷積層特征圖與反卷積層特征圖融合,通過(guò)將高層的語(yǔ)義信息與底層的紋理信息進(jìn)行融合,提高了傳統(tǒng)CAE結(jié)構(gòu)對(duì)高分辨率內(nèi)容的重構(gòu)能力。每個(gè)網(wǎng)絡(luò)層均采用ReLU激活函數(shù),并且采用了BN(Batch Normalization)與Dropout加快模型收斂以及防止過(guò)擬合。

        2.2.2 訓(xùn)練策略與損失函數(shù)選擇

        目前卷積自編碼網(wǎng)絡(luò)中較多使用MS E損失進(jìn)行訓(xùn)練,根據(jù)式(3)MSE損失的定義,其不足以表達(dá)人眼對(duì)圖像的直觀感受,人眼衡量?jī)煞鶊D像的距離時(shí),更偏重于考慮兩圖的結(jié)構(gòu)相似性而不是逐像素計(jì)算兩圖差異。對(duì)于不規(guī)則紋理樣本,采取MSE損失會(huì)出現(xiàn)模型訓(xùn)練開(kāi)始階段難以收斂的問(wèn)題。針對(duì)這一問(wèn)題,參考Wang[12]提出的圖像結(jié)構(gòu)相似性準(zhǔn)則(struc?tural-similarity-based image quality,SSIM),SSIM綜合考慮了圖像在亮度、對(duì)比度,以及結(jié)構(gòu)3個(gè)方面的相似性,定義如下:

        其中l(wèi)、c、s分別衡量?jī)煞鶊D像x、y在亮度、對(duì)比度及結(jié)構(gòu)上的相似程度,μ、σ分別表示圖像均值和標(biāo)準(zhǔn)差。SSIM則由式(7)給出,其中α>0,β>0,γ>0,C1,C2,C3是非零常數(shù),通常取α=β=γ=1,C3=C2/2。根據(jù)SSIM定義,SSIM損失可以定義為:

        本文提出先使用SSIM損失來(lái)進(jìn)行初始訓(xùn)練,后使用MSE損失訓(xùn)練網(wǎng)絡(luò)的訓(xùn)練方法。前期使用SSIM損失進(jìn)行訓(xùn)練可以讓網(wǎng)絡(luò)獲得重建底層的紋理結(jié)構(gòu)的能力,然后采取MSE損失函數(shù)進(jìn)行進(jìn)一步訓(xùn)練以獲得更豐富的圖像信息重構(gòu)能力,為了避免模型過(guò)擬合出缺陷區(qū)域,在后面的訓(xùn)練中以SSIM作為迭代終止條件,但不參與反向傳播,目的是防止模型過(guò)擬合獲得重建缺陷區(qū)域的能力。

        2.3 缺陷定位

        對(duì)于訓(xùn)練好的網(wǎng)絡(luò),輸入待檢測(cè)的缺陷圖像可以得到一副缺陷弱化的重構(gòu)圖像,兩幅圖像作殘差處理可以得到潛在缺陷位置的缺陷圖。殘差圖存在一定的隨機(jī)噪點(diǎn),采取3×3的中值濾波作去噪處理,最后通過(guò)自適應(yīng)閾值方法即可得到缺陷的二值圖像。從5圖中可以看出,網(wǎng)絡(luò)重建時(shí)只能夠重構(gòu)出非缺陷區(qū)域,而缺陷區(qū)域由于缺乏重構(gòu)信息而呈現(xiàn)出信息丟失的情況,原圖與重構(gòu)圖作殘差處理后即可得到缺陷圖像。

        圖5實(shí)驗(yàn)結(jié)果

        3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析

        本次實(shí)驗(yàn)配置環(huán)境為64位Windows 10系統(tǒng),16G內(nèi)存,采用NVIDIA GTX 1060 GPU進(jìn)行訓(xùn)練,采用的深度學(xué)習(xí)框架為PyTorch。訓(xùn)練的無(wú)缺陷瓷磚數(shù)據(jù)集600張,驗(yàn)證集60張,包含孔洞、溶洞、劃痕等缺陷。采取上文所提出的訓(xùn)練策略,經(jīng)過(guò)實(shí)驗(yàn)嘗試,在SSIM loss達(dá)到0.85時(shí)終止迭代,繼續(xù)訓(xùn)練會(huì)導(dǎo)致模型最后的驗(yàn)證精度下降。

        3.1 方法評(píng)價(jià)指標(biāo)

        實(shí)驗(yàn)的評(píng)價(jià)指標(biāo)為最后能否檢出正確缺陷區(qū)域,采用精確率(Precision)與召回率(Recall)來(lái)衡量。兩者定義如下:

        其中TP表示正確被檢出缺陷且區(qū)域正確的缺陷樣本,F(xiàn) N表示沒(méi)被檢出缺陷的缺陷樣本,F(xiàn)P表示被錯(cuò)誤檢出缺陷的無(wú)缺陷樣本。F1-Measure是同時(shí)考慮了精確度與召回率的綜合評(píng)估指標(biāo)[13]。

        3.2 對(duì)比分析

        通過(guò)實(shí)驗(yàn),對(duì)比了近來(lái)較為優(yōu)秀的重構(gòu)網(wǎng)絡(luò)CA?DE,結(jié)果表明網(wǎng)絡(luò)過(guò)深以及單獨(dú)使用MSE損失訓(xùn)練會(huì)讓網(wǎng)絡(luò)重建包括缺陷在內(nèi)的原圖區(qū)域,此時(shí)經(jīng)過(guò)殘差處理的圖像無(wú)法凸顯缺陷區(qū)域,也無(wú)法通過(guò)直接閾值來(lái)獲得缺陷位置。圖6顯示了本文網(wǎng)絡(luò)與CADE網(wǎng)絡(luò)的殘差圖結(jié)果對(duì)比。

        圖6殘差結(jié)果對(duì)比

        3.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果

        為了驗(yàn)證本文提出方法的有效性,從瓷磚的切片圖像中選取60張帶有缺陷的圖像,其中缺陷包含深劃痕、淺劃痕,以及孔洞類(lèi)型。待測(cè)圖輸入到訓(xùn)練好的LR-CAE網(wǎng)絡(luò)得到弱缺陷重構(gòu)圖,殘差操作后結(jié)合中值濾波[14]與自適應(yīng)閾值方法[15]得到最后檢測(cè)結(jié)果。表1展示了實(shí)驗(yàn)最終結(jié)果。

        表1實(shí)驗(yàn)結(jié)果

        從表1中可以看到,雖然兩個(gè)模型的檢測(cè)精確度都在90%以上,但CADE模型的召回率相對(duì)較低,這是因?yàn)镃ADE模型雖然具有較好復(fù)現(xiàn)特征能力,但也同時(shí)提高了對(duì)缺陷區(qū)域的復(fù)現(xiàn)能力,導(dǎo)致最后重構(gòu)出來(lái)的圖像缺陷區(qū)域弱化不明顯,殘差操作無(wú)法獲得明顯的缺陷圖像,例如針孔這類(lèi)本身尺寸就比較小的缺陷就容易出現(xiàn)漏檢。從表1中也能看出,本文的方法則對(duì)兩種類(lèi)型的缺陷都具有較好的檢測(cè)效果,兩類(lèi)缺陷的F1-Measure評(píng)價(jià)指標(biāo)分別達(dá)到94.8%和87.6%,相比CADE有較大提升。

        4 結(jié)語(yǔ)

        本文針對(duì)部分類(lèi)型瓷磚的紋理不規(guī)則性、背景紋理的干擾性,提出一種基于輕量卷積自編碼的瓷磚表面缺陷檢測(cè)方法,在訓(xùn)練模型時(shí)僅需要輸入無(wú)標(biāo)注的正常樣本,避免了對(duì)人工標(biāo)注樣本的依賴(lài)。并且輕量化的結(jié)構(gòu)使得網(wǎng)絡(luò)參數(shù)較少,易于訓(xùn)練,檢測(cè)階段通過(guò)將待測(cè)圖輸入該網(wǎng)絡(luò)可得到弱缺陷重構(gòu)圖,再通過(guò)殘差和自適應(yīng)閾值處理即可實(shí)現(xiàn)缺陷定位。此外采取了先用SSIM損失訓(xùn)練得到一個(gè)較優(yōu)的網(wǎng)絡(luò)初始權(quán)重后再使用MSE損失訓(xùn)練的策略,解決了單獨(dú)采用MSE損失函數(shù)在樣本紋理不規(guī)則情況下網(wǎng)絡(luò)無(wú)法收斂的問(wèn)題。最后實(shí)驗(yàn)表明,本文提出的方法在瓷磚孔洞和劃痕的檢測(cè)上取得91.2%的平均F1-Measure,具有較強(qiáng)的魯棒性,同時(shí)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練時(shí)不需要缺陷數(shù)據(jù)樣本,對(duì)其他類(lèi)型的瓷磚或者工業(yè)產(chǎn)品的表面缺陷檢測(cè)具有參考價(jià)值。

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