著錄項

申請?zhí)枺篊N201110456148.2

申請日：20111230

公開號：CN102565658A

公開日：20120711

申請（專利權(quán)）人：上海晶澳太陽能科技有限公司 合肥晶澳太陽能科技有限公司

發(fā)明人：柳國偉 徐德生 張寶華

主分類號：G01R31/26

分類號：G01R31/26

權(quán)利要求

1.一種太陽能電池組件PID 的測試方法，其特征在于包括以下步驟：

（1）測試并記錄被測太陽能電池組件的初始數(shù)據(jù)；

（2）將被測太陽能電池組件安裝在高低溫實驗環(huán)境箱內(nèi)且二者之間做絕緣處理；

（3）將被測太陽能電池組件正負極短接后與高壓加載設備的負極連接，太陽能電池組件的邊框與高壓加載設備的正極連接；

（4）啟動高低溫實驗環(huán)境箱，開啟高壓加載設備并調(diào)試其輸出電壓值為600～1000 V，同時開啟電流監(jiān)控儀進行漏電監(jiān)控；

（5）持續(xù)設定時間，關(guān)閉高壓加載設備及高低溫實驗環(huán)境箱，待被測太陽能電池組件的溫度下降至室溫后將其取出；

（6）測試并記錄被測太陽能電池組件的最終數(shù)據(jù)；

（7）對比被測太陽能電池組件的初始數(shù)據(jù)與最終數(shù)據(jù)，評價功率衰減；

（8）測試完畢。

2.根據(jù)權(quán)利要求1 所述的太陽能電池組件PID 的測試方法，其特征在于：所述初始數(shù)據(jù)包括電性能參數(shù)、EL 缺陷參數(shù)及濕漏電參數(shù)，所述參數(shù)分別由電性能測試儀、EL 缺陷測試儀及濕漏電測試儀測試得到。

3.根據(jù)權(quán)利要求2 所述的太陽能電池組件PID 的測試方法，其特征在于：所述電性能測試儀具有3A 級燈光源，所述EL 缺陷測試儀具有1200 萬像素的照相裝置。

4.根據(jù)權(quán)利要求3 所述的太陽能電池組件PID 的測試方法，其特征在于：在所述步驟（2）中，絕緣處理是將被測太陽能電池組件安裝在測試架中之前，在被測太陽能電池組件的邊框上加裝絕緣護套。

5.根據(jù)權(quán)利要求4 所述的太陽能電池組件PID 的測試方法，其特征在于：在進行所述步驟（2）之前，采用導電材料包覆在太陽能電池組件的邊框上。

6.根據(jù)權(quán)利要求5 所述的太陽能電池組件PID 的測試方法，其特征在于：所述導電材料的電阻值小于1 歐姆。

7.根據(jù)權(quán)利要求6 所述的太陽能電池組件PID 的測試方法，其特征在于：所述導電材料采用銅箔或者鋁箔。

8.根據(jù)權(quán)利要求7 所述的太陽能電池組件PID 的測試方法，其特征在于：在所述步驟（5）中，設定時間為20 小時，完成步驟（6）后，重復步驟（5）（6）直至設定時間總和為100 小時。