田迪凱 羅日成 張宇飛 肖宏峰

基于紫外成像檢測技術(shù)的不同檢測距離下光子數(shù)的修正

田迪凱 羅日成 張宇飛 肖宏峰

（長沙理工大學(xué)電氣與信息工程學(xué)院，長沙 410114）

紫外成像檢測技術(shù)作為一種新興的檢測技術(shù)開始逐漸廣泛應(yīng)用于輸變電設(shè)備巡檢中，鑒于光子數(shù)與檢測距離的特性關(guān)系，在不同檢測距離即使對同一電暈放電現(xiàn)象進行檢測，檢測到的光子數(shù)數(shù)值也不同。為研究光子數(shù)與檢測距離的特性關(guān)系，將不同檢測距離下檢測到的光子數(shù)修正到最佳檢測距離下光子數(shù)，以便于量化不同檢測距離下的放電程度。以尖端放電模型為實驗對象模擬輸變電設(shè)備外絕緣放電現(xiàn)象，利用以色列OFIL公司生產(chǎn)的SuperB型紫外成像檢測儀研究不同工頻電壓下，光子數(shù)隨檢測距離的變化特性。實驗結(jié)果表明：隨著檢測距離的增大，光子數(shù)數(shù)值不斷減?。粰z測距離越大，光子數(shù)數(shù)值減小的速度越慢；光子數(shù)隨檢測距離變化的特性曲線大致呈冪函數(shù)趨勢，冪指數(shù)在-1.681與-1.626之間。在此基礎(chǔ)上，根據(jù)實驗數(shù)據(jù)建立合適的冪函數(shù)模型，擬合得到光子數(shù)檢測距離修正公式，并對修正公式進行校驗，校驗結(jié)果表明該修正公式的修正精度較高，能為實際的工程檢測提供重要的參考依據(jù)。

紫外成像；電暈放電；光子數(shù)；檢測距離；工頻電壓；修正公式

0 引言

隨著我國遠距離特高壓輸電線路的投運，長期高場強、高負荷的運行和復(fù)雜惡劣的環(huán)境都會導(dǎo)致輸變電設(shè)備產(chǎn)生電暈放電現(xiàn)象，長期的電暈放電會使輸變電設(shè)備發(fā)生電化學(xué)腐蝕，從而影響電力系統(tǒng)的穩(wěn)定運行[1]。紫外成像檢測作為一種新興的技術(shù)，開始逐漸廣泛運用到高壓電力設(shè)備電暈、電弧的檢測、高壓變電站及輸電線路的維護等電力系統(tǒng)高壓檢測領(lǐng)域中，因為放電過程中伴隨著紫外線（ultraviolet）的輻射。紫外線輻射是所有波長大于10nm小于400nm的輻射，由于臭氧層的吸收作用，接近地球表面的太陽輻射的波長均大于290nm，紫外成像檢測技術(shù)探測240～280nm的波段，因此不受太陽光線的干擾和影響[2]。紫外成像檢測技術(shù)具有抗干擾強、定位精度高、檢測時不影響電力設(shè)備正常運行等優(yōu)點。

紫外成像檢測儀的實際檢測距離都不是固定的數(shù)值，檢測距離對光子數(shù)的測量有著非常明顯的影響（“光子數(shù)”通常作為量化放電程度的重要參數(shù)[3]），即使對同一放電現(xiàn)場進行測量，檢測距離越遠，紫外成像儀測量到的光子數(shù)越小[4-6]。因此，檢測距離無法統(tǒng)一到標準數(shù)值，很難對不同檢測距離下的檢測結(jié)果進行對比，從而無法對不同檢測距離下測得的放電程度進行對比?；谏鲜鰧嶋H存在的問題，將光子數(shù)修正到標準的檢測距離下具有重要的意義[7-10]。

基于上述研究現(xiàn)狀，首先對紫外成像檢測技術(shù)原理和檢測距離對紫外成像檢測的影響進行分析。然后搭建尖端放電模型模擬輸變電設(shè)備外絕緣放電，并采用以色列OFIL公司生產(chǎn)的SuperB型紫外成像檢測儀在不同檢測距離下對尖端放電模型進行測量。最后將測量得到的數(shù)據(jù)進行擬合，得到光子數(shù)檢測距離修正公式，光子數(shù)檢測距離修正公式能為實際的工程檢測提供重要的參考依據(jù)。

1 紫外成像檢測技術(shù)原理

輸變電設(shè)備的正常工作是電力系統(tǒng)安全可靠運行的重要保障，輸變電設(shè)備在不同的大氣環(huán)境下工作，隨著長期運行、外力破壞及自然災(zāi)害等原因，會出現(xiàn)絕緣性能降低、設(shè)備結(jié)構(gòu)損壞和表面污穢等問題。紫外成像檢測技術(shù)能快速地對輸變電設(shè)備進行巡檢并找出故障點，以便于進行維修。紫外成像作為新興的檢測技術(shù)主要應(yīng)用在絕緣子放電故障檢測、架空導(dǎo)線放電故障檢測和均壓環(huán)放電故障檢 測中。

紫外成像檢測技術(shù)的原理圖如圖1所示，它主要由接收光學(xué)系統(tǒng)、紫外成像模塊、可見光攝像模塊、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和圖像融合等模塊組成[11-13]。入射光進入接收光學(xué)系統(tǒng)后分成兩束，一束可見光進入可見成像通道，另一束紫外光進入紫外成像通道，可見光通道用于接收可見光信號，即拍攝環(huán)境物體圖片，可見光經(jīng)電荷耦合器件（charge coupled device, CCD）探測器后進入數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)；紫外成像通道用于接收放電過程中發(fā)射的紫外線輻射，紫外光經(jīng)紫外日盲濾波鏡進行濾波，濾過波長240nm至280nm以外的紫外光，再通過光電陰極、增益放大通道將紫外光信號轉(zhuǎn)換為可見光信號，后經(jīng)CCD探測器進入數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。兩路光信號最后經(jīng)過圖像融合模塊進行融合處理，從而將紫外成像通道的圖像疊加到可見光通道的圖像上。

圖1 紫外成像檢測技術(shù)原理圖

2 檢測距離對紫外成像檢測的影響

紫外成像檢測到的光子數(shù)數(shù)值主要受儀器本身與外界環(huán)境兩大因素的影響。影響光子數(shù)測量的外界環(huán)境因素主要有儀器增益、檢測距離、環(huán)境濕度、環(huán)境溫度和風(fēng)速等。文獻[14]中的研究結(jié)果表明光子數(shù)與檢測距離之間大致呈冪函數(shù)關(guān)系。

紫外成像檢測儀在對輸變電設(shè)備外絕緣進行放電檢測時，考慮到設(shè)備的放電區(qū)域與檢測距離相比非常小，所以將被檢測設(shè)備放電源視為點光源[14]。點光源在空氣介質(zhì)中傳播時，能量沿傳播路徑不斷損耗，通過的路徑越長，損耗的能量越大，如式（1）所示。

dr()=-r()(,)d（1）

式中：d為微分距離；r()為到達d所在平面處的通量密度，是關(guān)于頻率的函數(shù)；(,)為衰減系數(shù)，是關(guān)于距離和光頻率之間的函數(shù)。假設(shè)空氣介質(zhì)是均勻的，則有

r()=r0()e-g(v,r)L（2）

透射比系數(shù)通常用于工程中對光信號衰減的度量，表示透過介質(zhì)的光通量與入射通量之比，由式（2）有

通常情況下，大氣紫外透射比在0.1～0.3之間，由式（3）可計算出衰減系數(shù)(,)在1.2～2.3之間。因此，在對輸變電設(shè)備外絕緣進行放電檢測時，為了提高檢測結(jié)果的準確性，在實際的工程檢測中紫外成像檢測儀應(yīng)盡可能靠近被測設(shè)備的放電點，一般情況下檢測距離不大于50m，在這個檢測距離下，紫外成像檢測儀接收到的紫外光信號的透射比在0.89～0.94之間[15]。本文認為10m為最佳檢測距離。

設(shè)為點光源，是輻射的光強度，是紫外成像儀到點光源的最短光學(xué)距離（即檢測距離），是紫外成像儀鏡頭的球面區(qū)域，如圖2所示。

圖2 點光源傳播路徑圖

再設(shè)通過球面的光通量密度為，通過球面的光強度為，由圖2有

由式（5）可知，紫外成像儀檢測到的光信號與檢測距離的平方成反比。查閱相關(guān)文獻數(shù)據(jù)，冪指數(shù)在1.222～1.840之間[16-17]，主要原因是電暈放電光源的發(fā)生具有一定的分散性，即使保持檢測距離不變，不同時間檢測到的光子數(shù)也具有一定分散性[18]。

國內(nèi)外大部分學(xué)者針對光子數(shù)與檢測距離之間關(guān)系的研究較多，但將不同檢測距離下的光子數(shù)統(tǒng)一修正到最佳檢測距離的研究較少。因此，本文利用實驗對不同檢測距離下光子數(shù)的修正進行研究。

3 實驗方案及實驗數(shù)據(jù)分析

為研究光子數(shù)與檢測距離之間的關(guān)系特性，將一段長度約為10cm、直徑約為3mm的鐵絲纏繞在套管頂端作為尖端放電模型，用于模擬輸變電設(shè)備外絕緣發(fā)生放電現(xiàn)象。以尖端放電模型為實驗對象，使用紫外成像檢測儀對尖端放電模型進行檢測，記錄不同檢測距離下實驗數(shù)據(jù)。實驗平臺原理圖如圖3所示。實驗接線如圖4所示。

圖3 實驗平臺原理圖

圖4 實驗接線圖

3.1 實驗方案

將實驗中的檢測距離點分別設(shè)定為4m、8m、10m、12m、14m、16m、18m和20m，在每個檢測距離下對尖端放電模型分別施加40kV、50kV、60kV、70kV和80kV的工頻電壓。將紫外成像檢測儀的增益設(shè)置為160，儀器的其他參數(shù)為默認值，最后調(diào)整紫外成像檢測儀將其鏡頭對準尖端放電模型的尖端部位進行測量，實驗場景如圖5所示。圖6（a）和圖6（b）分別為檢測距離為10m和20m時紫外成像檢測儀現(xiàn)場拍攝到的紫外圖像，圖6（a）中光子數(shù)計數(shù)率顯示為1 350；圖6（b）中光子數(shù)計數(shù)率顯示為440。由上述兩幅紫外圖像的光子數(shù)計數(shù)率可知：在同一工頻電壓下，隨著檢測距離的增加，可以清晰地看出檢測到的光子數(shù)數(shù)值呈減小的趨勢。將多次測量得到的數(shù)據(jù)取平均值填入表1中，并將數(shù)據(jù)繪制成曲線圖，如圖7所示，橫坐標為檢測距離，縱坐標為光子數(shù)。

圖5 實驗場景圖

圖6 不同檢測距離下的紫外圖像

表1 不同檢測距離、不同工頻電壓下光子數(shù)數(shù)值表

圖7 光子數(shù)隨檢測距離變化曲線圖

3.2 實驗數(shù)據(jù)分析

由第3.1節(jié)中圖表和結(jié)論可知，隨著檢測距離的增大，光子數(shù)數(shù)值不斷減??；檢測距離越大，光子數(shù)數(shù)值減小的速度越慢；光子數(shù)隨檢測距離變化特性曲線大致呈冪函數(shù)趨勢。理論上在電暈放電量相同的情況下，如式（5）所示，紫外成像儀檢測到的光信號應(yīng)與檢測距離的平方即2成反比，但由于電暈放電光源的發(fā)生具有一定的分散性，所以實際的檢測數(shù)據(jù)并不符合這一規(guī)律。為進一步研究光子數(shù)與檢測距離的特性關(guān)系式，設(shè)光子數(shù)隨檢測距離變化特性冪函數(shù)模型如下

=-（6）

式中：為光子數(shù)數(shù)值；為檢測距離；和均為參數(shù)。

對式（6）進行擬合得到各工頻電壓下光子數(shù)隨檢測距離的變化曲線關(guān)系式。

當工頻電壓為40kV時：

=27189-1.660（2=0.9989） （7）

當工頻電壓為50kV時：

=59036-1.685（2=0.9980） （8）

當工頻電壓為60kV時：

=98515-1.681（2=0.9996） （9）

當工頻電壓為70kV時：

=141353-1.626（2=0.9998） （10）

當工頻電壓為80kV時：

=182783-1.638（2=0.9998） （11）

式中，2為可決系數(shù)，2越接近于1，則表示擬合程度越好。在式（7）—式（11）中，2均大于0.99，因此，上述式子的擬合程度都較好。

4 光子數(shù)檢測距離修正公式及修正效果檢驗

4.1 光子數(shù)檢測距離修正公式

本文將10m定義為實際工程檢測的最佳檢測距離，故將不同檢測距離下檢測得到的光子數(shù)修正到最佳檢測距離下檢測到的光子數(shù)，從而使各個檢測距離檢測到的光子數(shù)具有可對比性。

設(shè)0為修正到最佳檢測距離下的光子數(shù)，為實際檢測距離下檢測到的光子數(shù)，0為最佳檢測距離，為實際檢測距離。因為式（7）—式（11）中的參數(shù)都非常接近，所以式中參數(shù)取上述各式冪指數(shù)的平均值1.658。

光子數(shù)與檢測距離之間的擬合函數(shù)為

=-1.658（12）

光子數(shù)與最佳檢測距離0之間的擬合函數(shù)為

0=0-1.658（13）

由式（12）與式（13）有不同檢測距離下的光子數(shù)修正到最佳檢測距離下的公式為

4.2 修正效果檢驗

為了檢驗光子數(shù)檢測距離修正式（14）的修正效果，將表1中的數(shù)據(jù)分別代入式（14）中，得到各個檢測距離下修正到檢測距離為10m處的光子數(shù)數(shù)值見表2。

表2 修正到10m處的光子數(shù)數(shù)值表

由表2中數(shù)據(jù)可以看出，各個工頻電壓和檢測距離下修正到10m處的光子數(shù)數(shù)值與10m處實測到的光子數(shù)數(shù)值十分接近，40kV工頻電壓下，各檢測距離修正值的最大相對誤差為-5.33%；50kV工頻電壓下，各檢測距離修正值的最大相對誤差為-8.68%；60kV工頻電壓下，各檢測距離修正值的最大相對誤差為+5.81%；70kV工頻電壓下，各檢測距離修正值的最大相對誤差為-4.50%；80kV工頻電壓下，各檢測距離修正值的最大相對誤差為+2.85%。上述數(shù)據(jù)表明，光子數(shù)檢測距離修正式（14）的修正效果很好，各個工頻電壓和檢測距離下的最大相對誤差為-8.68%，進一步驗證了光子數(shù)檢測距離修正公式的有效性。

5 結(jié)論

通過實驗可知，在同一工頻電壓下，隨著檢測距離的增大，紫外成像檢測儀檢測到的光子數(shù)不斷減小。將實驗數(shù)據(jù)進行擬合，分別得到不同工頻電壓下光子數(shù)隨檢測距離的擬合公式，結(jié)果表明光子數(shù)與檢測距離近似呈冪函數(shù)關(guān)系。對光子數(shù)隨檢測距離的擬合公式進行推導(dǎo)得到光子數(shù)檢測距離修正公式，并對其驗證，結(jié)果表明修正精度高，最大相對誤差約為-8.68%，因此本修正公式能將不同檢測距離下輸變電設(shè)備外絕緣放電程度進行精準地對比。

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Correction of photon number at different detection distances based on ultraviolet imaging detection technology

TIANDikai LUORicheng ZHANGYufei XIAOHongfeng

（School of Electrical and Information Engineering, Changsha University of Science &Technology, Changsha 410114）

As an emerging detection technology, ultraviolet imaging detection technology has gradually been widely used in the inspection of transmission and transformation equipment. In view of the characteristic relationship between the number of photons and the detection distance, even the same corona discharge phenomenon is detected at different detection distances and detected the number of photons is also different. To study the characteristic relationship between the number of photons and the detection distance and correct the number of photons detected at different detection distances to the number of photons at the optimal detection distance, in order to quantify the degree of discharge at different detection distances. Using the advanced discharge model as the experimental object to simulate the external insulation discharge phenomenon of power transmission and transformation equipment, the Super B type ultraviolet imaging detector produced by the Israeli OFIL company was used to study the change characteristics of the photon number with the detection distance under different power frequency voltages. The experimental results show that: as the detection distance increases, the number of photons continues to decrease; the larger the detection distance, the slower the rate of decrease in the number of photons; the characteristic curve of the photon number changing with the detection distance generally shows a power function trend, power exponent between-1.681 and-1.626. On this basis, an appropriate power function model is established according to the experimental data, the correction formula for the photon number detection distance is fitted, and the correction formula is verified. The verification result shows that the correction precision of the correction formula is high and can be practical engineering inspection provides an important reference basis.

ultraviolet imaging; corona discharge; photon number; detection distance; power frequency voltage; correction formula

湖南省教育廳科學(xué)研究項目（15C0031）

2020-07-20

2020-08-05

田迪凱（1997—），男，碩士研究生，主要研究方向為電力設(shè)備絕緣在線監(jiān)測。