張中前,朱 寧
(貴州航天電器股份有限公司,貴州貴陽(yáng),550009)
某空間在軌電磁炮發(fā)射微納衛(wèi)星項(xiàng)目為:將電磁線圈炮平臺(tái)發(fā)射后在軌運(yùn)行;需要時(shí),使用電磁線圈炮對(duì)帶有制導(dǎo)功能的微納衛(wèi)星進(jìn)行發(fā)射,實(shí)現(xiàn)對(duì)來(lái)襲導(dǎo)彈、在軌衛(wèi)星的摧毀。發(fā)射時(shí),處于電磁線圈炮有效載荷中的電子元器件在膛內(nèi)發(fā)射過(guò)程將承受高的加速度,電磁炮內(nèi)的脈沖強(qiáng)磁場(chǎng),出炮口瞬間磁通突變感應(yīng)產(chǎn)生的強(qiáng)電場(chǎng)等。其中,電磁炮特有的脈沖強(qiáng)磁場(chǎng)是電子元器件受到的最主要電磁干擾,脈沖強(qiáng)磁場(chǎng)的高磁通密度對(duì)智能彈藥的磁敏感探測(cè)元件及用于彈道修正控制的電機(jī)等部件具有較大危害,而其在出炮口瞬間感應(yīng)產(chǎn)生的強(qiáng)電場(chǎng)則對(duì)絕大多數(shù)電子元件都可能會(huì)產(chǎn)生致命的破壞。目前,只有美國(guó)進(jìn)行了使用電磁炮發(fā)射制導(dǎo)彈丸的試驗(yàn),國(guó)內(nèi)微納衛(wèi)星采用電磁炮發(fā)射項(xiàng)目為樣機(jī)研制階段,為跟進(jìn)美國(guó)NASA進(jìn)行研究。
電氣控制裝置為供配電產(chǎn)品,通常其所選主要元器件為電磁繼電器、固態(tài)繼電器及DC-DC模塊等,由于是空間在軌運(yùn)行,需要承受耐輻照指標(biāo)及電磁線圈炮的加速度過(guò)載,故選擇器件時(shí),電磁繼電器承受不了線圈炮的加速過(guò)載,光電型的固態(tài)繼電器因空間輻照位移效應(yīng),也避免選擇;故為滿足該環(huán)境要求,選擇使用變壓器耦合的固態(tài)繼電器作為供電控制繼電器,電源變換模塊選用具有抗輻照指標(biāo)的DC-DC模塊進(jìn)行轉(zhuǎn)換;這兩種器件均含有變壓器,對(duì)強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾敏感。
綜上可見,產(chǎn)品最重要設(shè)計(jì)為抗低頻磁場(chǎng)的設(shè)計(jì)。本文主要解決的問(wèn)題為:電氣控制裝置的低頻強(qiáng)磁場(chǎng)的屏蔽。
電磁線圈炮由固定線圈和彈丸線圈組成,是利用兩個(gè)同軸線圈間的互感梯度而引起電磁力的,如圖1所示。
圖1 電磁線圈炮原理圖
線圈相當(dāng)于炮管,通電后會(huì)形成運(yùn)動(dòng)磁場(chǎng),并在彈丸線圈中產(chǎn)生感應(yīng)電流,線圈炮就是利用磁場(chǎng)和感應(yīng)電流相互作用的電磁力加速?gòu)椡杈€圈而使得炮彈高速射出。
某空間電磁線圈炮采用圓柱形彈丸形式進(jìn)行發(fā)射,彈丸前端開口,安裝制導(dǎo)彈丸的光學(xué)探測(cè)器等,如圖2所示。
圖2 彈丸外形三維示意圖
電磁線圈炮線圈等效于螺線管,對(duì)電磁線圈炮炮管等效如圖3所示。
圖3 載流直螺線管等效示意圖
線圈長(zhǎng)度為L(zhǎng),半徑為R,單位長(zhǎng)度上線圈匝數(shù)為n,通過(guò)的電流為I,則線圈炮內(nèi)軸線上任意一點(diǎn)P的磁感應(yīng)強(qiáng)度為:
(1)
式中,R為圓形線圈半徑, 為真空磁導(dǎo)率,x為軸線上中心點(diǎn)到P點(diǎn)的距離。
螺線管線圈在密繞時(shí),每匝線圈相當(dāng)于一個(gè)圓形電源,假設(shè)單位長(zhǎng)度上有n匝線圈,在螺線管上任意取長(zhǎng)度dl,則這段有線圈ndl匝,其電流強(qiáng)度為dI=nIdl,根據(jù)上式(1),P點(diǎn)磁感應(yīng)強(qiáng)度為:
(2)
式中,l為P點(diǎn)距離dl處的距離。故P點(diǎn)的磁場(chǎng)強(qiáng)度為對(duì)公式(2)的積分。根據(jù)圖3,對(duì)長(zhǎng)度為L(zhǎng)的螺線管,可知:R=rsinβ,l=rctgβ,從而有:
dl=IRcsc2βdβ
R2+I2=R2csc2β
故
(3)
即:
(4)
當(dāng)L遠(yuǎn)大于R時(shí),cosβ2→1,cosβ1→0,此時(shí)有:
B≈μ0nI
(5)
根據(jù)參考文獻(xiàn)[6],當(dāng)線圈長(zhǎng)度L遠(yuǎn)大于其半徑R時(shí),可認(rèn)為線圈內(nèi)部電場(chǎng)在dl長(zhǎng)度內(nèi)為均勻磁場(chǎng)。彈丸直徑較線圈直徑小,因此可通過(guò)使用線圈內(nèi)中線的磁場(chǎng)近似產(chǎn)品內(nèi)部磁場(chǎng)。根據(jù)電氣控制裝置研制任務(wù)書輸入,電磁線圈炮膛內(nèi)磁場(chǎng)高達(dá)41T,經(jīng)過(guò)炮彈外層桶形屏蔽層后,如圖4所示,電氣控制裝置所承受磁場(chǎng)為200Gs,如圖5所示。該磁場(chǎng)足以使電磁繼電器失效,DC-DC模塊的變壓器性能降低甚至失效。故此,在對(duì)電氣控制裝置設(shè)計(jì)時(shí),需對(duì)其進(jìn)行屏蔽設(shè)計(jì)。
圖4 電氣控制裝置安裝示意
圖5 彈丸所在磁場(chǎng)環(huán)境分析
恒定磁場(chǎng)屏蔽是利用高導(dǎo)磁材料(如鐵、硅鋼片、坡莫合金等)構(gòu)成低磁阻通路,即屏蔽外殼與空氣介質(zhì)組成并聯(lián)磁路,從而減少屏蔽體內(nèi)部磁場(chǎng)強(qiáng)度,達(dá)到屏蔽的目的。如圖6所示。由于空氣或真空環(huán)境相對(duì)磁導(dǎo)率接近1,二屏蔽外殼相對(duì)磁導(dǎo)率大,故空氣或真空介質(zhì)的磁阻R0比屏蔽外殼磁阻Rm大,干擾磁場(chǎng)的磁通密度線大部分沿屏蔽殼體通過(guò),屏蔽體外部磁通量少,達(dá)到屏蔽恒定磁場(chǎng)的目的。
圖6 靜磁屏蔽原理示意圖
交變磁場(chǎng)屏蔽采用低電阻率導(dǎo)體,根據(jù)楞次定律,利用電磁感應(yīng)現(xiàn)象在屏蔽體表面產(chǎn)生的渦流的反向磁場(chǎng)來(lái)達(dá)到屏蔽的目的,即利用了渦流反向磁場(chǎng)對(duì)原騷擾磁場(chǎng)的排斥作用,抑制或抵消屏蔽體外的磁場(chǎng)。渦流電流的大小直接影響屏蔽的效果。同時(shí),對(duì)交變磁場(chǎng),電磁波在進(jìn)入屏蔽體材料界面處發(fā)生發(fā)射,減少進(jìn)入產(chǎn)品內(nèi)部電磁波,達(dá)到屏蔽目的。
根據(jù)上述對(duì)屏蔽原理的分析,電氣控制裝置的屏蔽機(jī)理主要為:
a)磁路原理屏蔽;
b)吸收損耗
c)反射損耗;
磁路原理與低頻電路中電阻并聯(lián)分析相似,不再進(jìn)行分析。下面分別從吸收損耗、反射損耗兩個(gè)個(gè)方面分析電氣控制裝置的屏蔽原理。
3.3.1吸收損耗分析
a)低頻吸收損耗分析
參照參考文獻(xiàn)[7],當(dāng)磁場(chǎng)變化頻率較低,其頻率不足以導(dǎo)致趨膚效應(yīng),此時(shí),渦流在金屬屏蔽薄殼上產(chǎn)生的單位質(zhì)量功耗為:
(6)
式中:
k為常數(shù),對(duì)金屬板等于1,對(duì)電線等于2;P為單位質(zhì)量的功耗(W/kg);Bp為磁場(chǎng)峰值(T);d為金屬薄板的厚度或電線的直徑(m);f為磁場(chǎng)改變的頻率;ρ為電阻率(Ωm);D為材料密度(kg/m3)。
由式(7)可見,在外界磁場(chǎng)一定時(shí),選用高磁導(dǎo)率的材料提高材料的磁通峰值Bp,增加屏蔽體金屬薄板厚度,可有效提高產(chǎn)品的低頻吸收損耗。
b)高頻吸收損耗分析
當(dāng)磁場(chǎng)變化頻率較高時(shí),透射入金屬屏蔽材料內(nèi)的電磁波在屏蔽材料內(nèi)繼續(xù)傳播,電磁波在金屬屏蔽層上產(chǎn)生渦流,其場(chǎng)量振幅按指數(shù)規(guī)律損耗,即通常所說(shuō)趨膚效應(yīng)(具體參見參考文獻(xiàn)8)。其衰減規(guī)律如下:
E=E0e-αxe-jβx
(7)
該損耗反映了屏蔽材料對(duì)透射如的電磁能量的吸收,其吸收損耗為:
(8)
從以上式(7)及式(9)可見,為得到較好的屏蔽效果,對(duì)低頻電磁波的屏蔽,主要考慮選用高磁導(dǎo)率的材料進(jìn)行屏蔽;對(duì)高頻電磁波,由于磁導(dǎo)率 隨頻率增加而減少,可見選用相對(duì)電導(dǎo)率 大的金屬材料進(jìn)行高頻磁場(chǎng)的屏蔽。
3.3.2反射損耗分析
根據(jù)電磁波理論,當(dāng)電磁波從空氣或真空到屏蔽材料上時(shí),阻抗發(fā)生變化從而產(chǎn)生反射,此時(shí)反射系數(shù)為:
(9)
根據(jù)反射系數(shù),由此可推導(dǎo)電磁波的反射損耗R為:
(10)
上述式中,Zw為入射電磁波阻抗,Zs為屏蔽材料界面阻抗。
對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)電磁波,|Zw|=120π≈377Ω,故對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)波經(jīng)良導(dǎo)體的反射衰減為:
(11)
對(duì)近場(chǎng)電場(chǎng)波阻抗,|Zw|=1/2πfε0r,故對(duì)近場(chǎng)電場(chǎng)波經(jīng)良導(dǎo)體的發(fā)射衰減為:
(12)
對(duì)近場(chǎng)磁場(chǎng)波阻抗,|Zw|=2πfμ0r,故對(duì)近場(chǎng)電場(chǎng)波經(jīng)良導(dǎo)體的發(fā)射衰減為:
(13)
由上式(11)、式(12)及式(13)可見,為提高產(chǎn)品的反射損耗,對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)電磁波及近場(chǎng)電場(chǎng)波,選用相對(duì)電導(dǎo)率大、相對(duì)磁導(dǎo)率小的金屬材料進(jìn)行屏蔽,如銀、銅等;對(duì)近場(chǎng)磁場(chǎng),使用相對(duì)電導(dǎo)率大,相對(duì)磁導(dǎo)率大的材料進(jìn)行屏蔽,可提高其損耗系數(shù)??梢姷皖l磁場(chǎng)的屏蔽與靜磁場(chǎng)屏蔽方式相同。
為了驗(yàn)證電氣控制裝置的屏蔽效果,對(duì)電氣控制裝置的磁場(chǎng)屏蔽定義為:在無(wú)屏蔽與存在屏蔽情況下,給定位置處的磁通密度絕對(duì)值之比,由分貝(dB)表示。因此定義屏蔽后考察點(diǎn)的磁場(chǎng)屏蔽效能SE定義為:
其中,BW0與BW分別為屏蔽前后考察點(diǎn)的磁通密度峰值。
根據(jù)產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)形式,對(duì)產(chǎn)品的仿真結(jié)構(gòu)件進(jìn)行了簡(jiǎn)化,即將產(chǎn)品的厚度設(shè)計(jì)為1mm,采用鋁合金2A12-T4進(jìn)行加工制造,產(chǎn)品結(jié)構(gòu)外形如圖7所示。
圖7 電氣控制裝置三維示意圖
圖中,開口處為連接器安裝孔。根據(jù)電氣控制裝置所處環(huán)境為低頻強(qiáng)磁場(chǎng),其內(nèi)部元器件主要對(duì)磁場(chǎng)敏感,故在對(duì)電氣控制裝置屏蔽處理時(shí),主要考慮對(duì)低頻磁場(chǎng)的屏蔽。根據(jù)上一節(jié)對(duì)低頻磁場(chǎng)的屏蔽機(jī)理分析可見,對(duì)低頻磁場(chǎng)進(jìn)行屏蔽,需要選擇導(dǎo)磁率高的材料作為屏蔽材料,導(dǎo)磁率較高材料比如鎳、鐵氧體、低碳鋼、硅鋼等,這些材料密度大,為此,結(jié)合產(chǎn)品的常用工藝及裝配方便,采用鍍鎳及其使用高磁導(dǎo)率的合金材料兩種方案對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行設(shè)計(jì):
a)鍍鎳
由于鎳為磁的良導(dǎo)體,通過(guò)對(duì)產(chǎn)品鋁合金外殼進(jìn)行鍍鎳,鎳層厚度20μm,考擦鍍鎳后產(chǎn)品的磁屏蔽效果。
b)使用高導(dǎo)磁率的合金箔材進(jìn)行屏蔽
選擇CO-Netic AA型導(dǎo)磁箔片作為屏蔽材料,該箔片磁導(dǎo)率大,磁飽和能力達(dá)8000高斯,具有良好的導(dǎo)磁能力。且制成0.1mm的箔片后,易于彎折成形,且通過(guò)熱處理,無(wú)需進(jìn)行二次熱處理,簡(jiǎn)便易用。產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù)如表1所示。
表1 CO-Netic AA材料參數(shù)表
將箔材按照殼體形狀成形后,使用環(huán)氧膠等固定到產(chǎn)品殼體上,對(duì)接縫處有一定的間隙,可采用低碳鋼片壓制后通過(guò)螺釘固定到殼體上;為了避免單層屏蔽帶來(lái)泄露較大問(wèn)題,可采用雙層屏蔽的方式進(jìn)行磁場(chǎng)屏蔽。這種屏蔽方式易于安裝,且在產(chǎn)品總裝時(shí),通過(guò)使用磁屏蔽箔材CO-neticAA對(duì)電連接器出口處進(jìn)行屏蔽處理,可進(jìn)一步減小連接器出口處磁場(chǎng)進(jìn)入產(chǎn)品殼體內(nèi)部的可能。
產(chǎn)品使用CO-Netic AA材料屏蔽后,簡(jiǎn)化結(jié)構(gòu)如圖8所示。
圖8 將導(dǎo)磁材料與產(chǎn)品殼體粘接后三維示意
根據(jù)以上的設(shè)計(jì),對(duì)產(chǎn)品的磁屏蔽使用MAXWELL軟件進(jìn)行了仿真,仿真時(shí)主要對(duì)低頻(小于10kHZ)磁場(chǎng)的屏蔽進(jìn)行分析,具體情況如下。
仿真時(shí),為模擬電磁線圈中經(jīng)過(guò)外殼屏蔽后的200高斯的磁場(chǎng)強(qiáng)度,采用在直流線圈中通過(guò)電流的形式,模擬電氣控制裝置外部磁場(chǎng)。邊界條件設(shè)定如圖9,外框?yàn)檎麄€(gè)分析域。根據(jù)Co-Netic材料的特性,其磁飽和強(qiáng)度8000高斯,經(jīng)過(guò)曲線擬合后,Co-Netic材料BH曲線如圖10所示。
圖9 邊界條件設(shè)定
圖10 磁屏蔽材料BH曲線
采用截面的方式查看產(chǎn)品內(nèi)部的場(chǎng)強(qiáng)情況,截面選取如圖9,選擇產(chǎn)品中間垂直截面。
圖11 截面選擇
a)鍍鎳產(chǎn)品仿真分析
圖12 鍍鎳產(chǎn)品磁場(chǎng)分布圖
經(jīng)過(guò)仿真,鍍鎳產(chǎn)品截面場(chǎng)強(qiáng)分布如圖12,鎳相對(duì)磁導(dǎo)率600,中間方框?yàn)楫a(chǎn)品內(nèi)部,從開口處往內(nèi)部依次取3個(gè)點(diǎn)A、B、C,可以得出這三個(gè)點(diǎn)的磁場(chǎng)強(qiáng)度經(jīng)屏蔽后分別為0.013T,0.011T,0.01T,由此可見,經(jīng)鍍鎳屏蔽后,產(chǎn)品磁場(chǎng)強(qiáng)度有所降低,其屏蔽效能最大約為6dB,可見,鍍鎳屏蔽由于鎳的相對(duì)導(dǎo)磁率較低,且鍍鎳層厚度較薄,導(dǎo)致屏蔽效果不佳。
b)采用磁屏蔽材仿真分析(出口處不屏蔽)
采用磁屏蔽材料Co-Netic AA材料屏蔽后,產(chǎn)品連接器安裝開口處的磁場(chǎng)分布如圖13、圖14所示,從連接器開口處往電氣控制裝置殼體內(nèi)部依次取3各點(diǎn)A、B、C,可以得出這三個(gè)點(diǎn)屏蔽后的磁場(chǎng)強(qiáng)度分別為0.001T,0.0004T,0.0002T,可見產(chǎn)品磁場(chǎng)強(qiáng)度最少降低20倍以上,最大達(dá)到100倍。即A點(diǎn)的磁場(chǎng)屏蔽效能為26dB,B點(diǎn)處磁場(chǎng)屏蔽效能達(dá)34dB,C點(diǎn)處磁場(chǎng)強(qiáng)度屏蔽達(dá)40dB??梢?,開口處磁場(chǎng)泄露較大,屏蔽效果略差。
c)電氣控制裝置連接器出口屏蔽后仿真分析
為了減小連接器開口磁泄露對(duì)產(chǎn)品內(nèi)部元器件的影響,在產(chǎn)品設(shè)計(jì)裝配時(shí),使用CO-Netic AA磁屏蔽材料將電纜及連接器開口處進(jìn)行屏蔽處理,在仿真時(shí),將連屏蔽箔材將開口處屏蔽后進(jìn)行仿真,仿真后產(chǎn)品磁場(chǎng)分布如圖15、圖16所示。從連接器開口處往電氣控制裝置殼體內(nèi)部依次取3各點(diǎn)A、B、C,可以得出這三個(gè)點(diǎn)屏蔽后的磁場(chǎng)強(qiáng)度分別為0.00008T,0.00001T,0.00001T,可見產(chǎn)品磁場(chǎng)強(qiáng)度最少降低兩個(gè)數(shù)量級(jí)以上。即A點(diǎn)的磁場(chǎng)屏蔽效能為48dB,B點(diǎn)及C點(diǎn)處磁場(chǎng)屏蔽效能達(dá)46dB??梢?,開口處磁場(chǎng)屏蔽后,產(chǎn)品內(nèi)部磁場(chǎng)大大減小。
圖13 采用磁屏蔽材料屏蔽后仿真分析
圖14 磁屏蔽開口內(nèi)部場(chǎng)強(qiáng)分布(外部場(chǎng)強(qiáng)設(shè)定為0.02T)
圖15 磁屏蔽封口磁場(chǎng)分布圖
圖16 磁屏蔽封口內(nèi)部場(chǎng)強(qiáng)分布
經(jīng)過(guò)仿真,產(chǎn)品經(jīng)鍍鎳、采用CO-Netic AA材料屏蔽后仿真結(jié)果如表2所示。
表2 產(chǎn)品仿真屏蔽結(jié)果
從上表可見,電氣控制裝置周圍磁場(chǎng)為0.02T,通過(guò)鍍鎳屏蔽方式,磁場(chǎng)降低至0.013T~0.01T,磁場(chǎng)屏蔽后稍有降低;通過(guò)使用CO-Netic AA材料屏蔽后,連接器出口不進(jìn)行屏蔽,磁場(chǎng)降低至0.001T~0.0002T;使用CO-Netic材料屏蔽連接器出口后,磁場(chǎng)降低至0.00008T~0.00001T;可見,使用CO-Netic材料屏蔽具有良好的效果。
電磁線圈炮發(fā)射制導(dǎo)彈丸是當(dāng)前國(guó)內(nèi)研究的電磁炮熱點(diǎn)之一。針對(duì)制導(dǎo)組件中電氣控制裝置中元器件不能承受過(guò)強(qiáng)磁場(chǎng)的問(wèn)題,采用MAXWELL軟件對(duì)鍍鎳及CO-Netic材料屏蔽后的屏蔽效果進(jìn)行了仿真分析,結(jié)果表明:
鍍鎳層對(duì)產(chǎn)品磁場(chǎng)的降低效果不大,采用CO-Netic材料屏蔽能夠有效降低產(chǎn)品內(nèi)部的磁場(chǎng)強(qiáng)度,通過(guò)對(duì)連接器出口進(jìn)行加強(qiáng)屏蔽后,產(chǎn)品內(nèi)部連接器出口處磁場(chǎng)降低至800μT左右,該磁場(chǎng)強(qiáng)度與日常電磁環(huán)境相差不大;連接器開孔處屏蔽效果達(dá)48dB,內(nèi)部屏蔽效果達(dá)68dB。實(shí)際生產(chǎn)時(shí),將磁敏感元器件遠(yuǎn)離連接器安裝孔,通過(guò)對(duì)電氣控制裝置進(jìn)行雙層屏蔽的方式,達(dá)到進(jìn)一步降低電氣控制裝置內(nèi)部磁場(chǎng)的目的。滿足產(chǎn)品工作需要。同時(shí),該研究對(duì)其他電磁炮發(fā)射制導(dǎo)彈丸的制導(dǎo)組件具有參考意義。