辛佳興,陳金忠,李守寶,馬義來,朱宏武,李曉龍
(1.中國石油大學(xué)(北京)機械與儲運工程學(xué)院,北京 102249; 2.中國特種設(shè)備檢測研究院壓力管道事業(yè)部,北京 100029)
電子設(shè)備被用于民用、軍事等各領(lǐng)域,隨著技術(shù)的發(fā)展,電子設(shè)備朝著功能集成化、小型化方向發(fā)展,但同時對設(shè)備的可靠性和惡劣環(huán)境下的適應(yīng)性要求不斷提高[1]。功能的不斷增大導(dǎo)致設(shè)備單位體積產(chǎn)熱量越來越高[2]。相關(guān)研究表明,電子設(shè)備失效原因中,有近60%是由于高溫導(dǎo)致電路連接界面損傷造成導(dǎo)體阻值上升,形成應(yīng)力損傷造成[3]。因此,大功率和高集成度條件下,如何將電子元器件短時間形成的大量熱量得到疏散,保證元器件運行環(huán)境在一個相對穩(wěn)定溫度場下成為保證各類機械電子設(shè)備可靠運行的一個主要研究方向[4-6]。本文以某一通信機械電子設(shè)備為對象,通過熱仿真軟件Flotherm軟件分析了設(shè)備在運行環(huán)境下空氣溫度場,為機箱電路板器件進一步優(yōu)化提供理論基礎(chǔ)。
本文針對國內(nèi)某一機械通信設(shè)備為對象,機箱采用2U系統(tǒng),設(shè)備結(jié)構(gòu)形式如圖1所示。采用直通風(fēng)設(shè)計,進出口采用60%開孔率大孔板,風(fēng)扇盤采用60 mm×60 mm×25.4 mm的三風(fēng)扇周六風(fēng)機,風(fēng)扇入口安裝濾網(wǎng)防塵。整個機箱包括兩塊125 mm×220 mm×2 mm的NT板、四塊260 mm×220 mm×2 mm的LT板和一個125 mm×220 mm×2 mm的AC電源。
圖1 機箱模型結(jié)構(gòu)
在Flotherm中建立圖1所示機箱模型后,設(shè)置模型的初始條件。其中機箱框架材料為純鐵,內(nèi)部金屬面板為鋁制材質(zhì),芯片散熱器采用鋁合金材質(zhì)。機箱中各電子元件能耗見表1所示。整個機箱總發(fā)熱量為183.7 W。當(dāng)極限外部溫度達(dá)到55 ℃時,此時機箱風(fēng)扇全部運轉(zhuǎn),最大風(fēng)壓0.23inH2O,最大風(fēng)量25CFM,由于此時機箱內(nèi)物體邊界溫度差異較小,因此,各元件傳熱以熱傳遞為主,忽略熱輻射的作用。
表1 機箱電子元器件功耗 W
考慮機箱內(nèi)各元件幾何尺寸偏差較大,采用“none”來執(zhí)行網(wǎng)格劃分,根據(jù)物體幾何邊界進行區(qū)分,采用正交技術(shù),并嵌入Cut cell網(wǎng)格切割技術(shù)來進行網(wǎng)格的進一步細(xì)化,減少求解時間。將這個模型劃分為34 355個網(wǎng)格,484 367個節(jié)點,最大長寬比為16.25。如圖2所示為機箱網(wǎng)格細(xì)化。
圖2 不同板塊網(wǎng)格劃分
根據(jù)建立好的網(wǎng)格劃分模型,確定模型的邊界條件:①環(huán)境溫度55 ℃,標(biāo)準(zhǔn)大氣壓;②鋁合金導(dǎo)熱系數(shù)202 W/m·K,鋁質(zhì)材料導(dǎo)熱系數(shù)237 W/m·K,塑料封裝芯片導(dǎo)熱系數(shù)6.5,導(dǎo)熱墊片熱阻2 W/m·K,空氣隙導(dǎo)熱系數(shù)0.026 7 W/m·K;③空氣密度1.2 kg/m3,比熱1 007 J/kg·℃。
圖3為機箱內(nèi)主要板卡的溫度分布場??梢园l(fā)現(xiàn),NT板上的Chip1點溫度最高,而LT板的Chip2、Chip3和Chip44次之。盡管Chip1位于風(fēng)扇出風(fēng)口,周邊溫度相對較低,但由于LT板上分布的芯片較多,各芯片的功耗達(dá)6W,因此可能造成較高的溫度。而Chip2、Chip3和Chip4形成較高的溫度是由于LT板各類元氣騎處于流場下游出風(fēng)口,環(huán)境溫度較高,使得器件導(dǎo)熱效果下降,散熱環(huán)境惡化,且該位置的發(fā)熱元件較為集中,相互影響。
圖3 機箱面板表面溫度場
圖4給出了機箱沿X軸向0.399 m和Y軸向0.081 m向的溫度場分布情況。其中紅色框為Chip1和Chip44位置,從圖4中可以看出,Chip1溫度已經(jīng)達(dá)到了100 ℃,且截面右上方空氣場溫度也相對較高,盡管該區(qū)域存在大量發(fā)熱元件,但發(fā)熱量不大,可能是由于該區(qū)域上游氣流受到阻礙,導(dǎo)致冷卻環(huán)境惡化,使得周圍空氣溫度不斷上升造成[7]。比較兩個位置溫度場可以發(fā)現(xiàn),順著流線方向,芯片Chip44溫度逐漸上升,一方面可能是由于空氣溫度加熱,另外方面也可能是相鄰發(fā)熱芯片相互影響作用引起,因此,在空間容許條件下,可通過叉拍來消除芯片間的不利影響。
圖4 切線溫度分布云圖
圖5為機箱出口截面空氣溫度分布場,可以看出,空氣出口溫度場范圍保持在59.5~86.5 ℃,溫度波動范圍相對較大,最高溫度易引起機箱出口位置元件的散熱不均。同時,截面平均溫度為75.6 ℃,相對來講散熱難度還是相對較大。
圖5 機箱出口空氣溫度場分布
通過熱仿真分析機箱類主要元器件的實際溫度和最高溫度如表2所示??梢钥闯?,最高溫度出現(xiàn)在NT2的Chip1位置,最高溫度為106.42 ℃,LT4板的Chip44表面溫度場次之,最高溫度為101.32 ℃。其余各元件表面溫度均在100 ℃以下。考慮到不同芯片的功效和機箱的整體溫度場分布,建議溫度場控制在120 ℃以下為宜,若同時考慮設(shè)計余量溫度,設(shè)計芯片最高溫度值為110 ℃,因此,當(dāng)所有元器件溫度在110 ℃以內(nèi)時,則能夠保證機箱的熱設(shè)計能夠滿足基本使用要求。從當(dāng)前的測試結(jié)果可以看出,盡管發(fā)熱元器件最高溫度均在110 ℃以下,但機箱內(nèi)的溫度場分布存在較大的不均勻性,且對冷卻介質(zhì)的利用率較大,導(dǎo)致Chip1和Chip44位置的芯片溫度過高,且不同元器件間形成了較大的溫度差,因此,需要對機箱熱設(shè)計部分進行優(yōu)化。
表2 機箱各主要元器件最高溫度
考慮到機箱內(nèi)流場分布不均導(dǎo)致的局部熱負(fù)荷偏差較大問題,對機箱版面元件進行布局優(yōu)化來解決Chip1存在的高溫問題,圖6為機箱NT板上的新布局方案,其中虛線方框部分為發(fā)熱元件Chiip1,將該元件上移至NT板風(fēng)速較大區(qū)域,利用風(fēng)扇冷風(fēng)來降低芯片熱量,在提高空氣利用率同時提高Chip1散熱效率。
通過模擬計算箱體總流量20.636 72CFM,與初始設(shè)計方案總流量偏差較小。計算得到機箱沿Y軸向0.081 m處的空氣速度方向,如圖7所示,可見Chip1周邊空氣速度由最初的0.2 m/s提升到1.6 m/s,元件周邊空氣速度增幅明顯,空氣擾動性增強,元器件與周邊環(huán)境換熱效率增加,從而降低了Chip1元器件溫度。
圖6 優(yōu)化機箱面板布局圖
圖7 Y軸向切面速度云圖
表3為通過Table獲得的機箱各主要元器件溫度場。經(jīng)過方案優(yōu)化的Chip1溫度大幅下降,尤其是位于NT2面板上的Chip1溫度相對初始設(shè)計方案的最高溫度,下降了21.5 ℃,最高溫度僅為85.21 ℃,可見優(yōu)化方案滿足了預(yù)期要求。同時其他各類元器件溫度場變化幅度保持在1 ℃范圍,溫度變化不大,可基本忽略。通過方案優(yōu)化后,將Chip1溫度成功降低到100 ℃以下,此時Chip44元器件溫度最高,最高溫為101.51 ℃,解決了局部溫度不均的問題。
表3 機箱各主要元器件最高溫度
(1)利用Flotherm軟件對機械通信機械溫度場進行分析,機箱NT2板上的Chip1點溫度最高,最高溫度為106.31 ℃,LT4板的Chip44表面溫度場位置溫度次之,溫度為101.32 ℃。機箱各發(fā)熱元器件滿足使用要去,但溫度場分布存在不均勻性,且對冷卻介質(zhì)的利用率較大,導(dǎo)致Chip1和Chip44位置的芯片溫度過高。
(2)對原有設(shè)計方案進行優(yōu)化,將Chiip1發(fā)熱元件上移至NT板風(fēng)速較大區(qū)域,利用風(fēng)扇冷風(fēng)來降低芯片熱量,在提高空氣利用率同時提高Chip1散熱效率。仿真結(jié)果表明,NT2面板上的Chip1最高溫度僅為85.21 ℃,優(yōu)化方案滿足了預(yù)期要求。同時其他各類元器件溫度場變化幅度保持在1 ℃范圍,各元器件溫差范圍縮小,有效解決了局部溫度不均問題。