近日，中國科學技術大學的研究團隊在實現(xiàn)兩個半導體量子比特與微波諧振腔強耦合的基礎上，開發(fā)出新型譜學方法并系統(tǒng)表征了兩比特間的耦合強度演化。研究人員制備了千歐姆量級的高阻抗SQUID（超導量子干涉器）陣列諧振腔，大幅提高了半導體量子比特與諧振腔的耦合強度，實現(xiàn)了兩個非近鄰量子比特間的強耦合。

在此基礎上，課題組進一步發(fā)展了新型譜表征方法。與傳統(tǒng)表征方法不同，研究人員通過改變兩個量子比特的工作頻率得到兩比特相關演化譜，發(fā)現(xiàn)這一演化譜隨比特最小工作頻率呈現(xiàn)出截然不同的幾何圖案，并系統(tǒng)分析了圖案隨體系特征參數(shù)的演化規(guī)律。該方法從一個新的角度（參數(shù)空間）對雜化系統(tǒng)進行表征，提供了一種在多比特情況下也適用的新型譜學表征方法，有效地提高了表征多比特雜化系統(tǒng)、調(diào)制比特參數(shù)的效率，為研究以光子為耦合媒介的多比特系統(tǒng)的相互作用提供了新的研究思路。