唐 皓,周 洪
(湖南省湘南地質(zhì)勘察院實驗測試分院,湖南 郴州 423000)
在傳統(tǒng)的地質(zhì)礦物中的金屬元素測定工作中,首先需要到野外進行地質(zhì)勘查,再將在野外所采集的地質(zhì)礦物樣品帶回到實驗室進行金屬元素測定。由于地質(zhì)礦物經(jīng)常會被浮土覆蓋,僅通過人眼很難觀測,很容易出現(xiàn)漏礦現(xiàn)象,波長色散型的X射線熒光光譜儀作為一種熱門的測量儀器[1],配通用數(shù)據(jù)處理軟件包時可進行多點標樣線性回歸;熒光值超寬動態(tài)范圍,準確地測定樣品的微小變化??紤]到傳統(tǒng)測定地質(zhì)礦物中的金屬元素時,需要花費很長一段時間進行前處理制得樣品溶液,而X射線熒光光譜儀采用固體樣品進樣,并可以在短時間幾分鐘到半小時內(nèi)得到較為精準的測定結(jié)果,縮短了分析周期提高了分析效率,為野外找礦工作提供了一種反饋效率更高的測試手段[2-4]。因此,本文進行波長色散型X射線熒光光譜儀測定地質(zhì)礦物中銅鉛鋅錫鎢5種金屬元素的研究,致力于縮短地質(zhì)礦物勘測過程中對某些礦物元素的分析周期,促進我國工業(yè)產(chǎn)業(yè)的進一步發(fā)展。
本文以波長色散型的X射線熒光光譜儀為核心設(shè)備的前提條件,對地質(zhì)礦物中的金屬元素進行精準測定。通過該儀器測定地質(zhì)礦物樣本中的金屬含量,確定地質(zhì)礦物中的異常下限,快速圈定異常,完成地質(zhì)礦物中的金屬元素測定。
確定地質(zhì)礦物中的背景值與異常下限。
在基于波長色散型的X射線熒光光譜儀的地質(zhì)礦物中金屬元素測試中,利用波長色散型的X射線熒光光譜儀功能模塊對地質(zhì)礦物中金屬元素進行預(yù)處理,再通過設(shè)計數(shù)據(jù)庫,實現(xiàn)對地質(zhì)礦物中金屬元素的精準測定。波長色散型的X射線熒光光譜儀功能模塊具體模式圖,如圖1所示:
圖1 波長色散型的X射線熒光光譜儀功能模塊模式圖
根據(jù)圖1所示:波長色散型的X射線熒光光譜儀功能模塊包括接口管理、金屬元素測試腳本管理、金屬元素測試狀況監(jiān)控、結(jié)果分析生成報告及主機接口。通過金屬元素含量計算公式,確定地質(zhì)礦物中的背景值與異常下限。設(shè)金屬元素的異常下限為X,則地質(zhì)礦物中金屬元素的異常下限計算公式,如公式(1)所示。
ZHY-401B壓樣機(北京眾和科技有限公司),配有硼酸和塑料環(huán)壓片模具;帕納科Axios-mAX型波長色散型的X射線熒光光譜儀(荷蘭帕納科公司制造,Rh靶—X射線管激發(fā)源,配有SuperQ Manager專業(yè)軟件);具體到測定本文中5項金屬元素的主要儀器參數(shù)如表1所示。
表1 波長色散型X射線熒光光譜儀測量條件
圖2 地質(zhì)礦物樣品金屬元素的測定工作曲線
表2 兩種儀器方法測定結(jié)果對比(mg/kg)
2.2.1 樣品制備
將直徑3.0cm的塑料環(huán)置于手柄模具中央,取4.0g粉末樣品均勻鋪墊在塑料環(huán)中,再將連帶樣品的手柄模具轉(zhuǎn)移至壓片機樣品平臺上,在30噸壓力下壓制成型,保持30s,退模后取下樣品,以與模具光潔面的接觸面為待測面。
2.2.2 標準樣品制備
選擇水系沉積物GSD2a-GSD23、土壤GSS5-GSS28、巖石GSR1-GSR14,以及礦石GBW07162、GBW07241、GBW07284等一系列國家一級標準物質(zhì),按照上述相同方法制備標準樣品,根據(jù)標樣的推薦值,儀器測定后軟件自動繪制工作曲線,截屏如圖2所示。
選擇具有一定代表性的5種類型礦物樣品,其中銅鉛鋅錫鎢5個金屬元素含量檢測由兩名不同技術(shù)人員分別使用帕納科波長色散型的X射線熒光光譜儀與ICP等離子體光譜儀測量,所測得結(jié)果對比情況如表2所示。
通過表2的數(shù)據(jù)可以看出,采用帕納科波長色散型的X射線熒光光譜儀測定與ICP發(fā)射光譜法結(jié)果相比,誤差較小,在可接受范圍內(nèi);考慮到ICP發(fā)射光譜法測定鎢錫還需要另外進行過氧化鈉堿熔處理,本實驗方法在測定少量樣品時具有鮮明優(yōu)勢。
通過波長色散型的X射線熒光光譜儀測定地質(zhì)礦物中的金屬元素研究表明,利用此測量儀器能夠?qū)崿F(xiàn)對地質(zhì)礦物中的金屬元素的快速定量,取得精準、高效的測定結(jié)果。今后我們可以加大波長色散型的X射線熒光光譜儀在礦產(chǎn)資源評價、地質(zhì)學(xué)研究、礦山開采以及礦產(chǎn)選冶過程中的應(yīng)用力度。