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        織物緯斜檢測圖像光照不均勻的校正方法

        2020-06-02 12:46:26劉建寶李平
        關(guān)鍵詞:檢測方法

        劉建寶, 李平

        (華僑大學(xué) 信息科學(xué)與工程學(xué)院, 福建 廈門 361021)

        織物在染色、印花、掛漿及定型等加工過程中不可避免地會(huì)產(chǎn)生緯紗歪斜或者彎曲的情況,這種現(xiàn)象叫做緯斜[1].如果織物緯斜不及時(shí)糾正,將嚴(yán)重影響最終的產(chǎn)品質(zhì)量.緯斜的糾正必須通過整緯器完成,而整緯器動(dòng)作幅度的大小需要根據(jù)緯斜的程度而定.因此,織物緯斜的檢測是保證整緯器整緯動(dòng)作準(zhǔn)確的重要前提.緯斜的檢測方法主要有光電法和圖像法兩種[2].相較于光電法,圖像法具有檢測精度高、可以適應(yīng)厚織物的檢測等優(yōu)勢.

        近年來,國內(nèi)學(xué)者們提出了一些利用圖像法的緯斜檢測方法.吉慶高[3]提出一種基于大津法和像素搜索算法的緯斜檢測方法;金守峰[4]提出一種基于霍夫變換的織物緯斜檢測方法;董燕等[5]提出一種將圖像進(jìn)行傅立葉變換后進(jìn)行投影映射的方法.這些方法都能很好地檢測出光照均勻情況下織物的緯斜,但是當(dāng)光照不均勻時(shí),采用這些方法檢測的誤差較大,甚至無法檢測出緯斜角度.為了降低檢測誤差,必須對(duì)光照不均勻的織物圖像加以處理.處理方法有局部二值化方法和先校正后使用全局二值化的方法.利用這些方法可以得到接近光照均勻的二值化圖像,使用光照均勻情況下的緯斜檢測方法就能檢測出織物的緯斜.

        目前,常見的全局二值化的方法有Otsu法[6]、雙峰法[7]、迭代法[8].這些方法主要用于對(duì)光照均勻的圖像進(jìn)行處理,獲得光照均勻情況下的二值圖像,無法在光照不均勻情況下得到良好的二值化效果.局部二值化的方法包括分塊二值化法和自適應(yīng)二值化法.分塊二值化法[9]主要針對(duì)光照不均勻程度有明顯的分界的圖像,把圖像分為不同光照程度的塊;然后,對(duì)每一塊分別使用全局閾值化的方法進(jìn)行處理,得到二值化圖像.該方法對(duì)光照程度分塊不明顯等復(fù)雜情況的分塊具有較大的難度.常見的自適應(yīng)二值化法有White法[10]、Bernsen法[11]、Niblack法[12]、Sauvola法[13].自適應(yīng)二值化法可以提高光照不均勻圖像的二值化效果,使二值化圖像接近光照均勻的情況,但是該方法對(duì)于每個(gè)像素點(diǎn)的閾值都要進(jìn)行計(jì)算,耗時(shí)較多.常見的校正方法有直方圖均衡化[14-16]、Retimex方法[17-19]等.直方圖均衡化法實(shí)現(xiàn)了圖像的亮度增強(qiáng)和對(duì)比度改善,但是,在有局部陰影等光照強(qiáng)度有明顯變化邊界的情況下,容易丟失圖像細(xì)節(jié),不適用于織物圖像的處理.Retimex方法可以提高圖像的對(duì)比度,突出圖像的細(xì)節(jié),但是,在有局部陰影和光照復(fù)雜情況下,處理效果較差.

        本文提出一種織物緯斜檢測過程中光照不均勻的校正方法.通過處理使同一緯向的像素值恢復(fù)到同一灰度級(jí)別,從而將光照不均勻的圖像校正.將校正過圖像進(jìn)行二值化,首先,與其他二值化方法進(jìn)行對(duì)比;然后,用基于像素搜索的緯斜檢測方法[3]進(jìn)行測試;最后,說明該方法能夠在光照不均勻的情況下降低緯斜檢測誤差.

        1 織物緯斜檢測方法

        由于織物的緯線平行排列,緯線部分凸起受到的光照較強(qiáng),形成較亮的條紋;兩根緯線中間部分凹下受到的光線弱,形成較暗的條紋.利用攝像機(jī)采集到的理想的織物圖像為一條條明暗相間的條紋,如圖1所示.

        圖1 織物圖像 圖2 織物緯斜情況 Fig.1 Fabric image Fig.2 Fabric weft condition

        織物緯斜情況,如圖2所示.假設(shè)AC(AD)為根據(jù)圖像得到的緯線方向,AB為標(biāo)準(zhǔn)緯線方向,BC或BD的距離為d,AB的距離為h,則織物的緯斜率(s)為

        (1)

        此外,緯斜角度(θW)為AC(AD)與AB的夾角.

        2 光照不均勻織物圖像的校正

        2.1 光照不均勻圖像校正原理

        對(duì)于光照均勻的織物圖像,提取圖像垂直于標(biāo)準(zhǔn)緯線方向的一列,隨著行號(hào)的增加,該列像素的灰度值將周期性地出現(xiàn)波峰和波谷.光照均勻時(shí)織物圖像的灰度變化,如圖3所示.圖3中:N為行號(hào).

        圖3 光照均勻時(shí)織物圖像的灰度值變化 圖4 光照不均勻時(shí)的織物圖像 Fig.3 Gray value change of fabric image Fig.4 Fabric image under under uniform illumination uneven illumination

        光照不均勻時(shí)的織物圖像,如圖4所示.將圖4中光照不均勻的織物圖像提取1列,隨著行號(hào)的增大,該列像素的灰度值變化,如圖5所示.

        由圖3可知:當(dāng)光照均勻時(shí),灰度值周期性地出現(xiàn)波峰和波谷,波峰和波谷附近分別代表明條紋像素點(diǎn)和暗條紋像素點(diǎn),每兩個(gè)相鄰的波峰和波谷中心基本處于同一灰度水平,所以,可以找到一個(gè)閾值,分割出明條紋像素和暗條紋像素.由圖5可知:在光照不均勻的情況下,灰度值仍周期性地出現(xiàn)波峰和波谷,但是相鄰兩個(gè)波峰和波谷的中心不處于同一灰度水平,所以,無法使用同一個(gè)閾值分割,需要在每個(gè)波峰和波谷之間尋找一個(gè)閾值才能二值化.

        在光照不均勻的情況下,每一列的灰度值仍然不斷由小變大,再由大變小,且每次變化周期基本不變.對(duì)于每個(gè)像素點(diǎn),統(tǒng)計(jì)1個(gè)變化周期內(nèi),灰度值小于等于該像素點(diǎn)灰度值的像素個(gè)數(shù),把統(tǒng)計(jì)結(jié)果作為該像素點(diǎn)的值,就可以把每條緯線同一位置點(diǎn)的像素值統(tǒng)一到同一個(gè)灰度水平,只考慮織物灰度的變化情況,濾除光照對(duì)灰度的影響.根據(jù)這個(gè)變化情況,按比例對(duì)織物圖像進(jìn)行校正,每個(gè)變化周期的閾值就能恢復(fù)到同一灰度水平,得到灰度校正圖像.校正后的灰度值變化曲線,如圖6所示.

        圖5 光照不均勻情況下灰度值變化曲線 圖6 校正后的灰度值變化曲線 Fig.5 Gray value curve under uneven illumination Fig.6 Corrected gray value change curve

        2.2 織物緯斜圖像光照不均勻校正步驟

        步驟1計(jì)算織物圖像能容納的不重疊的窗口數(shù)m為

        m=[c/w].

        (2)

        式(2)中:c為圖像縱向長度;w為窗口的寬度;[]表示取整.

        步驟2計(jì)算每個(gè)窗口的縱坐標(biāo)范圍,第k個(gè)窗口的縱坐標(biāo)的最大值和最小值分別為

        (3)

        步驟3對(duì)每一個(gè)窗口,計(jì)算縱向每一個(gè)點(diǎn)的灰度值,即

        (4)

        步驟4根據(jù)比例對(duì)原圖進(jìn)行還原,將正常光照下圖像灰度最小值轉(zhuǎn)換為0,即

        f2(x,y)=f(x,y)-fmin.

        計(jì)算該圖像灰度平均值和經(jīng)過處理后的圖像灰度平均值的比例(b)為

        b=avg(f2)/avg(f1).

        將圖像轉(zhuǎn)換到對(duì)應(yīng)的灰度范圍,得到校正后的圖像,即f′=f1b+fmin.

        3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析

        將幾個(gè)織物銷售商提供的實(shí)際織物照片進(jìn)行篩選后,從中挑選200張作為實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù).對(duì)采集的一張光照均勻的樣本圖像進(jìn)行處理,得到4種光照不均勻的織物圖像,如圖7所示.

        (a) 有陰影 (b) 縱向光照不均勻 (c) 橫向光照不均勻 (d) 前3種情況的復(fù)合圖7 4種光照不均勻的織物圖像Fig.7 Four kinds of fabric images with uneven illumination

        由于光照均勻的織物圖像經(jīng)過二值化處理后仍可保留緯斜信息,為了能更直觀地比較不同方法對(duì)光照不均勻織物圖像的處理效果,文中實(shí)驗(yàn)對(duì)3種方法的處理結(jié)果都經(jīng)過二值化后,再進(jìn)行比較.

        根據(jù)文獻(xiàn)[3]的分析可知,對(duì)于織物緯斜的檢測,使用Otsu法進(jìn)行全局二值化的效果較好.對(duì)于圖7中光照不均勻的情況,使用Retimex法校正后,再經(jīng)過Otsu法的二值化效果圖,如圖8所示.當(dāng)鄰域大小與織物寬度相同,且修正參數(shù)為1時(shí),使用Sauvola法的二值化效果圖,如圖9所示.使用文中方法校正后,再經(jīng)過Otsu法得到的二值化效果圖,如圖10所示.

        (a) 有陰影 (b) 縱向光照不均勻 (c) 橫向光照不均勻 (d) 前3種情況的復(fù)合 圖8 使用Retimex法+Otsu法的二值化效果圖Fig.8 Rendering of binarization by Retimex method + Otsu method

        (a) 有陰影 (b) 縱向光照不均勻 (c) 橫向光照不均勻 (d) 前3種情況的復(fù)合 圖9 使用Sauvola法的二值化效果圖Fig.9 Effect pictures of binary processing with Sauvola method

        (a) 有陰影 (b) 縱向光照不均勻 (c) 橫向光照不均勻 (d) 前3種情況的復(fù)合 圖10 使用文中方法+Otsu法的二值化效果圖Fig.10 Effect pictures of binarization by using the method in the paper + Otsu method

        由圖8~10可知:使用Retimex法+Otsu法對(duì)不含局部陰影圖像的二值化效果較好,對(duì)光照過亮或者過暗部分的二值化效果較差;使用Sauvola法可以較好地分出前景和背景,但是暗條紋部分出現(xiàn)較多的斷裂,且對(duì)有局部陰影、光照復(fù)雜的圖像,其二值化效果較差;文中方法+Otsu法可以使織物圖像在4種光照不均勻的情況下都保持良好的二值化效果.

        誤分類誤差指數(shù)(Me)[20]反映了錯(cuò)誤地將背景像素分配給前景的百分比和錯(cuò)誤地將前景像素分配給背景的百分比.采用誤分類誤差指數(shù),比較光照不均勻情況下,Retimex法+Otsu法、Sauvola法、文中方法+Otsu法的二值化效果.對(duì)于二值化問題,Me可以簡單表示為

        (5)

        式(5)中:Bo和Fo表示原始圖像用Otsu法二值化得到的背景和前景;BT和FT表示光照不均勻圖像使用二值化方法得到的背景和前景區(qū)域像素.對(duì)于完全沒有錯(cuò)誤的二值化圖像,Me值為0;對(duì)于完全分類

        表1 3種方法的誤分類誤差指數(shù)對(duì)比Tab.1 Misclassification error index comparison of three methods

        錯(cuò)誤的圖像,Me值為1.

        對(duì)4種光照不均勻的情況進(jìn)行編號(hào):“1”為有陰影;“2”為縱向光照不均勻;“3”為橫向光照不均勻;“4”為前3種情況的復(fù)合.3種方法的誤分類誤差指數(shù)對(duì)比,如表1所示.由表1可知:Retimex法+Otsu法對(duì)只有局部陰影的情況處理效果最好;Sauvola法對(duì)沒有陰影的情況處理效果最好;文中方法+Otsu法在4種情況下的Me值均最小,說明文中方法處理的結(jié)果最接近光照均勻情況下的二值化效果,與觀察結(jié)果一致.

        對(duì)上述4種情況首先直接使用文獻(xiàn)[3]的方法進(jìn)行緯斜角度的測量;然后,使用文中方法代替文獻(xiàn)[3]中的二值化方法再次進(jìn)行測量.使用文中方法前、后的檢測結(jié)果對(duì)比,如表2所示.表2中:θW為緯斜角度;θ1為僅使用文獻(xiàn)[3]方法二值化后的緯斜角度;θ2為先采用文中方法進(jìn)行校正,再使用文獻(xiàn)[3]方法二值化后的緯斜角度.

        表2 使用文中方法前、后的檢測結(jié)果對(duì)比Tab.2 Comparison of test results before and after using the proposed method

        由表2可知:對(duì)于4幅角度一致但是光照不均勻類型不同的圖片,未使用文中方法時(shí),測得的平均誤差較大,方差較大;使用文中方法后,測得的平均誤差較小,方差較小.說明未使用文中方法時(shí),在光照不均勻的情況下,無法保證檢測結(jié)果的精度,且對(duì)于不同光照條件,檢測結(jié)果波動(dòng)較大;而文中方法能夠降低光照不均勻條件下的檢測誤差,且對(duì)于不同的光照不均勻類型也有很好的適應(yīng)能力.

        將200張圖像進(jìn)行處理后,得到800張光照不均勻的樣本圖像,首先,使用像素搜索的方法進(jìn)行緯斜角度檢測;然后,使用文中方法代替文獻(xiàn)[3]中的二值化方法再次進(jìn)行檢測,觀察使用文中方法前、后檢測誤差的變化情況.結(jié)果表明:樣本數(shù)為800,誤差提高和誤差不變的數(shù)目為0,誤差降低的數(shù)目為800.由此可知,文中方法能夠降低不同光照不均勻織物的檢測誤差.

        4 結(jié)束語

        通過分析光照不均勻情況下的織物在垂直于標(biāo)準(zhǔn)緯線方向上的變化規(guī)律,提出一種光照不均勻校正方法.對(duì)4種常見的光照不均勻類型進(jìn)行分析,通過實(shí)驗(yàn)證明文中方法能夠減小光照不均勻帶來的影響,降低光照不均勻情況下的檢測誤差,并且對(duì)這些光照不均勻類型有很好的適應(yīng)能力.

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