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        某核電站壓力容器O形密封環(huán)泄漏原因分析

        2020-04-23 03:27:46
        理化檢驗(物理分冊) 2020年4期
        關(guān)鍵詞:鍍銀漏點密封環(huán)

        (1. 中國核動力研究設(shè)計院 反應(yīng)堆燃料及材料重點實驗室, 成都 610213;2. 中核核電運(yùn)行管理有限公司, 嘉興 224000)

        反應(yīng)堆壓力容器是裝載堆芯、支撐堆內(nèi)所有構(gòu)件和容納一回路冷卻劑并維持其壓力的反應(yīng)堆本體承壓殼體,并具備密封放射性、阻止裂變產(chǎn)物泄漏的功能[1]。反應(yīng)堆壓力容器由頂蓋和筒體組成,兩者之間采用兩道自緊式鍍銀O形密封環(huán),通過主螺栓的拉伸壓縮密封環(huán)來實現(xiàn)密封,內(nèi)環(huán)起到主密封作用,外環(huán)起到第二道安全屏障的作用。O形密封環(huán)的密封性能直接關(guān)系反應(yīng)堆壓力容器的運(yùn)行,進(jìn)而影響整個核電站的運(yùn)行。因此,核電站壓力容器中O形密封環(huán)屬于關(guān)鍵零件,其制造要求極高,尤其是外表質(zhì)量將直接影響到核電設(shè)備的密封效果及核電站的安全性[2-3]。

        O形密封環(huán)是將截面直徑為φ(12.70~12.83) mm的Inconel 718合金無縫鋼管彎曲,焊接成一個φ3 335.59 mm的圓環(huán),表面電鍍0.15~0.22 mm厚的銀,平面度<2,粗糙度Ra≤0.2 μm。利用螺栓預(yù)緊力使Inconel 718合金管材發(fā)生彈性變形,其反作用力使鍍銀層發(fā)生塑性流動,填補(bǔ)環(huán)管表面微小凹凸不平和增大鍍銀層的致密性,從而實現(xiàn)初始密封。環(huán)管內(nèi)側(cè)開有若干長圓槽,使得環(huán)管內(nèi)部與壓力容器系統(tǒng)壓力空間相通,壓力容器內(nèi)的壓力增加了密封環(huán)與密封面的接觸壓力,從而起到壓力自鎖緊作用,以及補(bǔ)償因溫度和壓力波動而引起管材強(qiáng)度降低和密封應(yīng)力松弛的能力[4]。

        某核電站在大修期間按規(guī)程更換新的O形密封環(huán),在服役半個月后O形密封環(huán)出現(xiàn)泄漏,為找出該壓力容器O形密封環(huán)泄漏的原因,筆者對其進(jìn)行了檢驗和分析,以期此類事故不再發(fā)生。

        1 理化檢驗

        1.1 化學(xué)成分分析

        對O形密封環(huán)進(jìn)行化學(xué)成分分析,結(jié)果見表1,可見該O形密封環(huán)的化學(xué)成分滿足設(shè)計要求。

        1.2 尺寸分析

        取4只O形密封環(huán)進(jìn)行截圓外徑尺寸測量,結(jié)果見表2,其中3號O形密封環(huán)是本次發(fā)生泄露的環(huán),4號O形密封環(huán)是發(fā)生泄漏后用來替換3號的O形密封環(huán),1號和2號O形密封環(huán)是該核電廠大修期間按規(guī)程更換的內(nèi)環(huán),未發(fā)生泄漏。圖1為1~4號O形密封環(huán)鍍銀前后截圓外徑的極差對比圖,可見1號和2號O形密封環(huán)在鍍銀前后截圓外徑極差不變,均為0.01 mm。3號O形密封環(huán)鍍銀前截圓外徑極差為0.03 mm,鍍銀后截圓外徑極差為0.05 mm;1號和2號O形密封環(huán)鍍銀前后截圓外徑極差相差不大。說明1號和2號O形密封環(huán)的Inconel 718合金管及鍍銀層質(zhì)量優(yōu)于3號O形密封環(huán)的。

        表1 O形密封環(huán)的化學(xué)成分(質(zhì)量分?jǐn)?shù))Tab. 1 Chemical compositions of O-ring seal (mass fraction) %

        表2 O形密封環(huán)截圓外徑尺寸測量結(jié)果Tab. 2 Measurement results of cutting circle outside diameter of O-ring seal mm

        圖1 1~4號O形密封環(huán)鍍銀前后截圓外徑極差圖Fig. 1 Range diagram of cutting circle outside diameter of O-ring seal 1-4 before and after silver coating

        1.3 宏觀分析

        為確定O形密封環(huán)的泄漏原因,對3號O形密封環(huán)進(jìn)行破壞性檢驗,沿O形密封環(huán)徑向進(jìn)行切割并編號,試樣取樣位置及編號如圖2所示。1號試樣為O形密封環(huán)泄漏處,其上存在多處泄漏點;2號試樣為1號試樣對邊位置;3~7號試樣為O形密封環(huán)上隨機(jī)切取的5個管段。

        圖2 O形密封環(huán)取樣示意圖Fig.2 Sampling dragram of O-ring seal

        圖3為O形密封環(huán)與頂蓋和筒體接觸示意圖,O形密封環(huán)在外部載荷作用下發(fā)生變形,其頂部和外側(cè)與頂蓋密封槽接觸、底部與筒體接觸后均會留下一道壓痕。1號試樣的頂部、外側(cè)和底部均發(fā)現(xiàn)有漏點,漏點呈放射狀,表面泛白,且不光滑,在壓痕處收攏,如圖4所示,漏點寬度約1 mm。2號試樣上未發(fā)現(xiàn)漏點。將1號試樣和2號試樣的宏觀形貌特征按壓痕形貌和是否泄漏進(jìn)行歸納,結(jié)果見表3。2號試樣外側(cè)壓痕的形貌如圖5所示,壓痕寬度約2.7 mm。由表3可知,1號試樣上沒有外側(cè)壓痕,且出現(xiàn)漏點,說明1號試樣段與頂蓋未形成有效接觸,O環(huán)密封環(huán)與密封槽之間的接觸不夠緊密,會對密封性能產(chǎn)生不利影響。

        圖3 O形密封環(huán)密封過程變形示意圖Fig.3 Deformation diagram of sealing process of O-ring seal

        表3 1號試樣和2號試樣的宏觀形貌對比Tab. 3 Macro morphology comparison between sample 1 and sample 2

        圖4 1號試樣漏點宏觀形貌Fig.4 Macro morphology of leakage point of sample 1

        圖5 2號試樣壓痕宏觀形貌Fig.5 Macro morphology of indentation of sample 2

        1.4 硬度測試

        在2號試樣上測試3個點,硬度分別為427, 417, 404 HV10,平均值為416 HV10。按照GB/T 1172—1999《黑色金屬硬度及強(qiáng)度換算值》進(jìn)行換算,其抗拉強(qiáng)度約為1 335 MPa,滿足設(shè)計要求(≥1 138 MPa)。鍍銀層的硬度測試3個點,硬度分別為66.8, 56.9, 59.1 HV3,可知鍍銀層硬度較低,塑性較好,能有效防止螺栓預(yù)緊過程和服役過程中頂蓋密封槽因徑向錯動對密封面造成的劃傷。

        1.5 鍍銀層質(zhì)量分析

        對3~7號試樣非壓痕處進(jìn)行鍍銀層厚度測量和壓痕處粗糙度測量,結(jié)果如圖6所示。鍍銀層厚度為0.156~0.220 mm,滿足設(shè)計要求,但厚度不均勻。壓痕處鍍層的表面粗糙度為0.325~0.506 μm,不滿足粗糙度Ra≤0.2 μm的設(shè)計要求。

        圖6 O形密封環(huán)鍍銀層厚度及粗糙度Fig.6 Silver coating thickness and roughness of O-ring seal

        1.6 微觀分析

        圖7為漏點的微觀形貌,可見漏點寬約0.5 mm,壓痕寬約1.2 mm,漏點全部位于鍍銀層內(nèi),管材基體上沒有裂紋,也沒有腐蝕痕跡,鍍銀層上有水流過的浸蝕痕跡。觀察漏點附近的鍍銀層,如圖8所示,可見鍍銀層表面呈多孔蜂窩狀。

        圖7 漏點微觀形貌Fig.7 Micro morphology of leakage point

        圖8 漏點附近鍍銀層微觀形貌Fig.8 Micro morphology of silver coating near leakage point

        離漏點遠(yuǎn)近不同,鍍銀層的表面形貌也不相同。圖9是離漏點約1 mm和10 mm處的鍍銀層形貌。因為鍍銀層出廠前經(jīng)過了拋光處理,其形貌應(yīng)為平直的拋光痕跡。而離漏點1 mm處的鍍銀層,表面大部分拋光痕跡已經(jīng)被浸蝕;離漏點10 mm處的鍍銀層則觀察到了密集的周向拋光痕,其形貌與漏點處的多孔形貌不同,但鍍銀層致密度稍差,表面存在少量孔隙和交叉紋路及徑向紋路的拋光痕。

        圖9 離漏點不同距離的鍍銀層微觀形貌Fig.9 Micro morphology of silver coating with different distance away from leakage point:a) 1 mm away from leakage point; b) 10 mm away from leakage point

        2 分析與討論

        2.1 壓縮比

        反應(yīng)堆壓力容器的密封效果取決于O形密封環(huán)的回彈能力?;貜椖芰θQ于壓縮率的大小,兩者成正比,合理的壓縮率由頂蓋密封槽的結(jié)構(gòu)尺寸和O形密封環(huán)截面外徑所決定,如下式

        (1)

        式中:γ為O形密封環(huán)壓縮率,%;d為O形密封環(huán)原始截圓外徑;Δh為某次壓縮量。

        如果壓縮率過大,會引起O形密封環(huán)的塌陷從而降低密封性能;如果壓縮率過小,可能會導(dǎo)致密封面失效從而發(fā)生泄漏。現(xiàn)場測量壓力容器上頂蓋內(nèi)環(huán)密封槽深度為12.065~12.089 mm,而3號O形密封環(huán)鍍銀后外徑最小和最大值分別為13.13,13.18 mm,由此得出最大壓縮率為7.9%~8.5%。

        國內(nèi)一些學(xué)者對反應(yīng)堆用金屬密封環(huán)進(jìn)行了大量研究,勵行根等[4]采用壓縮-回彈試驗結(jié)合有限元法分析發(fā)現(xiàn),O形密封環(huán)壓縮率為8.8%時回彈量大于0.33 mm,壓縮率為16%時回彈量大于0.38 mm;沈明學(xué)等[5]對Inconel 718合金O形密封環(huán)進(jìn)行了有限元分析,結(jié)果表明O形密封環(huán)壓縮率控制在12%~16%可以達(dá)到較好的密封性能。

        綜上分析,雖然O形密封環(huán)和頂蓋內(nèi)環(huán)密封槽的尺寸均滿足設(shè)計要求,但兩者的上下偏差導(dǎo)致壓縮量偏低,低于該核電站《時效管子的壓縮試驗》初始壓縮量8%的試驗要求,從而達(dá)不到回彈量應(yīng)大于等于0.33 mm的要求,密封性能可能偏低。

        2.2 壓扁量

        定義壓扁量η為加載載荷前O形密封環(huán)的截面外徑與壓扁并釋放載荷后O形密封環(huán)的截面短軸外徑之差,如下式

        η=d-di

        (2)

        式中:η為壓扁量;di為壓扁并釋放載荷后O形密封環(huán)的截面短軸外徑;d為O形密封環(huán)原始截圓外徑。

        對1號試樣和2號試樣進(jìn)行O形密封環(huán)截面短軸外徑尺寸測量,結(jié)果見表4,結(jié)合3號O形密封環(huán)的d值為13.13~13.18 mm,計算出1號試樣和2號試樣的壓扁量,如圖10所示。可見O形密封環(huán)1號試樣壓扁量為(0.475±0.025)~(0.685±0.025) mm,其極差為0.21 mm,表明鍍銀層塑性變形極不均勻;2號試樣壓扁量為(0.625±0.025)~(0.695±0.025) mm,其極差為0.07 mm,表明鍍銀層塑性變形均勻。2號試樣的鍍銀層塑性變形優(yōu)于1號試樣的,表明O形密封環(huán)泄漏段與頂蓋密封槽的接觸不均勻。

        表4 O形密封環(huán)截面短軸外徑尺寸Tab. 4 Outside diameter of section stub shaft of O-ring seal mm

        圖10 1號試樣與2號試樣壓扁量Fig.10 Flattening degree of sample 1 and sample 2

        2.3 綜合分析

        由表3可知,1號試樣上沒有外側(cè)壓痕,且出現(xiàn)漏點,說明1號試樣段與頂蓋未形成有效接觸,O環(huán)密封環(huán)與密封槽之間的接觸不夠緊密,會對密封性能產(chǎn)生不利影響。

        3~7號試樣的鍍銀層厚度滿足設(shè)計要求,但厚度不均勻。鍍銀層厚度均勻度越低,鍍銀層的塑性變形程度越不均勻,密封性能越差。壓痕處鍍層的表面粗糙度為0.325~0.506 μm,不滿足粗糙度Ra≤0.2 μm的設(shè)計要求。O形密封環(huán)壓痕處粗糙度越高,其與頂蓋密封槽接觸表面存在的微小空隙越大,冷卻介質(zhì)越容易發(fā)生泄漏。

        在O形密封環(huán)中,鍍銀層直接與壓力容器頂蓋和筒體相接觸。其作用是彌補(bǔ)密封面表面的不平或微缺陷,提高密封性能。反應(yīng)堆冷卻介質(zhì)易在O形密封環(huán)與頂蓋密封槽的接觸表面間的微小空隙中流動從而導(dǎo)致泄漏,鍍銀層質(zhì)量的好壞直接影響O形密封環(huán)的密封性能。而離漏點1 mm處的鍍銀層,表面大部分拋光痕已經(jīng)被浸蝕,離漏點10 mm處的鍍銀層則觀察到了密集的周向拋光痕,其形貌與漏點處的多孔形貌不同,但鍍銀層致密度稍差,表面存在少量孔隙和交叉紋路及徑向紋路的拋光痕。表明O形密封環(huán)漏點處呈現(xiàn)的多孔特征是由水流不斷浸蝕鍍銀層而形成的,而不是生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的。如果密封面存在大量交叉紋路或徑向紋路,很難通過O形密封環(huán)的塑性變形來阻斷泄漏通道[12]。

        3 結(jié)論及建議

        O形密封環(huán)與頂蓋密封槽接觸程度偏低,鍍銀層表面質(zhì)量較差,降低了密封可靠性,水流浸蝕鍍銀層導(dǎo)致O形密封環(huán)的泄漏。

        建議結(jié)合該核電站的O形密封環(huán)的實際溝槽尺寸情況,對設(shè)計中要求的O形密封環(huán)截圓直徑的范圍重新進(jìn)行校核計算;同時加強(qiáng)鍍銀過程的質(zhì)量控制,嚴(yán)格把控鍍銀層質(zhì)量。

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