夏 旭,周貴斌
(冬瓜山銅礦,安徽 銅陵 244000)
為了更經(jīng)濟更快速地查明該導水構(gòu)造破碎帶的分布,利用地質(zhì)雷達、高密度電法相結(jié)合的方式進一步探明礦區(qū)60 線以北至71 線北西翼斷層、破碎帶、巖溶及地下水的分布特征及規(guī)律,為下一步探冶水工作提供依據(jù)。
1.1.1 -790m 巷道水文與工程地質(zhì)特征
-790m 巷道位于青山背斜軸部,其范圍為60~72 線之間,揭露的地層有棲霞組、黃龍船山組灰?guī)r、大理巖化灰?guī)r和石英閃長巖體??颖诙嗵幱诟稍餇顟B(tài),其中大理巖中潮濕區(qū)主要分布在北西端;巖體中潮濕區(qū)分布于67 線南東端。
1.1.2 -850m 巷道水文與工程地質(zhì)特征
-850m 巷道位于青山背斜軸部,其范圍為60~76 線之間,揭露銅礦體、棲霞組——黃龍船山組灰?guī)r、大理巖化灰?guī)r和石英閃長巖體??颖诙嗵幱诟稍餇顟B(tài),其中大理巖中潮濕區(qū)主要分布在礦體北西端,少量分布在礦體南東端(70 線);礦體中潮濕區(qū)分布于66 線北西端礦體與大理巖接觸帶處。
本次使用的儀器是意大利生產(chǎn)的RIS 型地質(zhì)雷達,針對本次檢測目標的工程特點,采用工作頻率為80MHz 的天線,該儀器的特點是分辨率高,擅長于進行大數(shù)據(jù)量、高密度的連續(xù)探測并實時顯示彩色波形圖,比較適合本工程的檢測需要。
RIS型地質(zhì)雷達,由主機、顯示器、天線(含發(fā)射機及接收機,本次使用80MHz 天線)、電源系統(tǒng)、連接電纜、操作軟件和后處理軟件組成。使用時天線貼在巷道襯砌表面,系統(tǒng)的其余部份均由測量技術員手持或背著。
地質(zhì)雷達法通常是一種利用高頻至特高頻波段(及空氣中電磁波波長10m 波段至分米波段)電磁波的反射法無損探測方法。在系統(tǒng)主機的控制下,發(fā)射機通過天線向巷道襯砌表面定向發(fā)射雷達波。垂直于巷道壁向襯砌及圍巖內(nèi)傳播的電磁波,當遇到有電性差異(介電常數(shù)、電導率、磁導率不同)界面或目標體時即發(fā)生反射,反射波被天線接收進入接收機,并傳到主機,主機對從不同深度返回的各個反射波進行放大、采樣、濾波、數(shù)字迭加等一系列處理,可在顯示器上形成一種類似于地震反射時間剖面的地質(zhì)雷達連續(xù)探測彩色剖面。
(1)技術參數(shù)。本次檢測內(nèi)容主要為巷道含水情況及其他不良地質(zhì)體,采用的參數(shù)滿足檢測要求。
(2)測線布置及施做過程。根據(jù)現(xiàn)場探孔資料,沿巷道走向分別在左拱腰布置縱向測線,但巷道拱頂測試困難,拱腰測線離路面高度約0.5m 高。天線緊貼巷道壁,其他檢測設備由檢測人員手持或背著,對巷道左側(cè)壁測線進行連續(xù)檢測。但是檢測過程中存在下列影響檢測精度的問題。①檢測過程中由于局部里程段,特別是洞口段有障礙物,故有的測線局部段未能檢測到。②巷道沿線較多壁面凹凸不平,雷達天線無法緊貼,故可能影響雷達測試精度。③現(xiàn)場測試環(huán)境比較惡劣,濕度達到90%以上,溫度達到38°,對測試結(jié)果精度有一定的影響。2.5 探測區(qū)不良地質(zhì)的地質(zhì)雷達探測結(jié)果以50m 為一個標記,分別對60~71 線的巷道全部進行地質(zhì)雷達測試,潮濕區(qū)域雷達須好防水措施,以防雷達受潮無法使用。2.6 地質(zhì)雷達探測結(jié)果小結(jié)通過對-790m 水平和-850m 水平的地質(zhì)雷達波圖像的分析,61 線~70 線巷道的不良地質(zhì)探測見表1。
表1 -850m 水平沿線地質(zhì)雷達波形圖分析結(jié)果匯總表
表2 -850m 水平沿線高密度法分析結(jié)果匯總表
通過對-790m水平和-850m水平高密度電法圖分析,61線~70線巷道的不良地質(zhì)探測結(jié)果見表2。
地質(zhì)雷達法和高密度電法的異同:地質(zhì)雷達法和高密度電法均為物探手段,都屬于無損檢測方法。所不同的是,地質(zhì)雷達是基于電磁波理論,發(fā)射的遇到有電性差異(介電常數(shù)、電導率、磁導率不同)界面或目標體時即發(fā)生反射,反射波被天線接收進入接收機,并傳到主機,主機對從不同深度返回的各個反射波進行放大、采樣、濾波、數(shù)字迭加等一系列處理,可在顯示器上形成一種類似于地震反射時間剖面的地質(zhì)雷達連續(xù)探測彩色剖面;而高密度電法以圍巖的電線差異為基礎,通過程控式多路電極轉(zhuǎn)換器選擇不同的電極組合方式和不同的極距間隔,自動改變供電電極與測量電極的距離和位置,并進行疊加觀測,以便測量不同深度的電位差值,并可實現(xiàn)資料處理與解釋的計算機程序化,繪制的斷面圖異常突出,實現(xiàn)多參數(shù)的綜合解釋,可有效分析地質(zhì)情況。
對比分析探測結(jié)果發(fā)現(xiàn),所探測出的富水區(qū)基本一致,具體結(jié)果見結(jié)論。需要指出的是,高密度電法探測出的云圖既可探測富水構(gòu)造,也可以探測弱裂隙水區(qū)域;地質(zhì)雷達也可以探測富水構(gòu)造和弱裂隙水區(qū),但是對多重富水區(qū)的探測存在困難。因此,實際工程可結(jié)合多種手段進行探測。
結(jié)合地質(zhì)雷達和高密度電法兩種物探手段,綜合分析了地質(zhì)雷達波圖像及高密度電法電阻率云圖,巷道的整體不良地質(zhì)和地下水探測總結(jié)如下:
(A)-790m 水平探測結(jié)果.
(1)富水區(qū):
(Ⅰ)63 線左右15m 范圍內(nèi)(寬30m),離左洞壁深約5m~12m,存在富水區(qū)。
(Ⅱ)64 線前后15m 范圍內(nèi)(寬約30m),離左洞壁深約10m~20m,存在富水區(qū)。
(Ⅲ)65 線往66 線整段范圍內(nèi),離左洞壁深約11.5m,存在富水區(qū)。
(Ⅳ)66 線至67 線整段范圍內(nèi),離左洞壁深約12.5m,存在富水區(qū)。
(Ⅴ)69 線往70 線5m~15m 范圍內(nèi),離左洞壁深約12.5m,存在富水區(qū)。
(2)弱裂隙水區(qū):
(Ⅰ)61 線往62 線方向9m~17m 范圍內(nèi),離左洞壁深10m,存在弱裂隙水區(qū)。
(Ⅱ)70 線往71 線范圍內(nèi)0m~18m,離左洞壁深約12.5m,存在弱裂隙水區(qū)。
(Ⅲ)68 線往69 線9m~22m 范圍內(nèi),離左洞壁深約9m,存在弱裂隙水區(qū)。
(Ⅳ)62 線前后6m 范圍內(nèi)(寬約12m),離左洞壁深約5m~15m,存在弱裂隙水區(qū)。
(Ⅴ)62 線往63 線20m~30m 范圍內(nèi)(寬約10m),離左洞壁深5m,存在弱裂隙水區(qū)。
(B)-850m 水平探測結(jié)果
(1)富水區(qū):
(Ⅰ)61 線往62 線15m~35m 范圍內(nèi)(寬約20m),離左洞壁深約19m,存在富水區(qū),并往礦體內(nèi)部延伸。
(Ⅱ)62 線往63 線12m~24m 范圍內(nèi)(寬12m),離左洞壁深約5m~10m,存在富水區(qū)。
(Ⅲ)63線往64線方向35m~50m范圍內(nèi),離左洞壁深約10 m,存在富水區(qū)。
(Ⅳ)64 線往65 線40m~50m 范圍內(nèi)(寬10m),離左洞壁深約5m~10m,存在富水區(qū)。
(Ⅴ)65 線往66 線方向整段范圍內(nèi),離左洞壁深約11.5m,存在富水區(qū)。
(Ⅵ)66 線往67 線0m~15m 范圍內(nèi)(寬約15m),離左洞壁深約8m,存在富水區(qū)。
(Ⅶ)68 線往69 線方向20m~50m 范圍內(nèi),離左洞壁深約8m,存在富水區(qū)。
(Ⅷ)69 線往70 線方向整段范圍內(nèi),離左洞壁深約6m,存在富水區(qū)。
(2)弱裂隙水區(qū):
(Ⅰ)61 線往62 線方向0m~13.5m 范圍內(nèi),離左洞壁深約12m,存在弱裂隙水區(qū)。
(Ⅱ)62 線往63 線方向4.5m~12m 范圍內(nèi),離左洞壁深約10m,存在弱裂隙水區(qū)。
(Ⅲ)63線往64線方向8m~35m范圍內(nèi),離左洞壁深約10 m,存在弱裂隙水區(qū)。
(Ⅳ)64線往65線方向0m~40m范圍內(nèi),離左洞壁深約11 m,存在弱裂隙水區(qū)。
(Ⅴ)66 線往67 線方向15m~50m 范圍內(nèi),離左洞壁深約13m,存在弱裂隙水區(qū)。
(Ⅵ)67 線往68 線方向21m~50m 范圍內(nèi),離左洞壁深約16m,存在弱裂隙水區(qū)。
此外,66 線往67 線方向13m~19m、30m~39m 圍巖存在不連續(xù)結(jié)構(gòu)面,整體性差;67 線往68 線方向20m~50m 范圍內(nèi)圍巖存在不連續(xù)結(jié)構(gòu)面,整體性差。