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        晶界工程處理對(duì)Hastelloy N合金時(shí)效后耐晶間腐蝕性能的影響

        2020-01-17 01:28:46劉冰玉周邦新
        上海金屬 2020年1期
        關(guān)鍵詞:界面

        白 琴 劉冰玉 夏 爽 曹 偉 周邦新

        (上海大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,上海 200444)

        鎳基合金、奧氏體不銹鋼在450~950℃時(shí)效后,晶界(grain boundary,GB)上會(huì)析出二次碳化物[1]。二次碳化物的析出會(huì)引起晶界附近的元素貧化,導(dǎo)致晶間腐蝕(intergranular corrosion,IGC)和晶間應(yīng)力腐蝕開裂(intergranular stress corrosion crack,IGSCC)[2-3]。Hastelloy N合金作為熔鹽堆(molten salt reactor,MSR)的主要結(jié)構(gòu)材料,在600~800℃溫度下長(zhǎng)期使用[4],晶界上會(huì)析出大量二次碳化物,從而降低合金的耐腐蝕性能[5]。此外,堆內(nèi)存在熔融的氟化鹽和裂變?cè)仨?,?duì)合金有極強(qiáng)的腐蝕性,會(huì)縮短合金的服役壽命[6]。晶界工程(grain boundary engineering,GBE)是一項(xiàng)能通過(guò)提高中低層錯(cuò)能材料的低 ΣCSL(coincidence site lattice,CSL)(Σ≤29)[7]晶界比例來(lái)提高材料與晶界相關(guān)性能的工藝。本文研究了晶界工程處理工藝對(duì)Hastelloy N合金時(shí)效后耐晶間腐蝕性能的影響。

        1 試驗(yàn)材料與方法

        試驗(yàn)所用Hastelloy N合金的化學(xué)成分(質(zhì)量分?jǐn)?shù),%)為:Mo 16.7,Cr 7.4,F(xiàn)e 4.2,Si 0.5,Mn 0.4,C 0.04,Ni余量。Hastelloy N合金試樣經(jīng)50%變形量冷軋形變后,進(jìn)行1 177℃×40 min退火處理,隨后經(jīng)50%冷軋后進(jìn)行1 177℃×10 min退火處理,獲得固溶態(tài) NonGBE試樣;將NonGBE試樣進(jìn)行5%的室溫拉伸形變,再進(jìn)行1 177℃×10 min的退火完成晶界工程處理,獲得GBE試樣。最后,將NonGBE和GBE試樣真空密封在石英管(真空度為5×10-3Pa)中,并置于700℃井式爐中時(shí)效100 h,空冷。將經(jīng)時(shí)效處理的NonGBE和GBE試樣分別命名為NonGBEA和GBEA(A表示時(shí)效)。

        試樣經(jīng)金相砂紙逐級(jí)打磨后,再進(jìn)行電解拋光和蝕刻。電解拋光液為20% HClO4+80%CH3COOH(體積分?jǐn)?shù)),將試樣在30 V電壓、0℃下拋光120 s。蝕刻液為3g CuSO4+10 ml H2SO4+40ml HCl+50ml H2O混合溶液,蝕刻時(shí)間為10 s。

        利用配備電子背散射衍射(electron backscatter diffraction,EBSD)附件的 CamScan Apollo 300熱場(chǎng)場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(scanning electronmicroscopy,SEM)對(duì)試樣的晶體取向及顯微組織進(jìn)行原位觀察。EBSD測(cè)試參數(shù)設(shè)置為:20 kV加速電壓,30 mm工作距離,70°傾斜角,步長(zhǎng)為4μm,測(cè)量區(qū)域?yàn)? 200μm×800μm。本文將2°作為晶界的判定界限。通過(guò)HKL Channel 5軟件重構(gòu)得到取向成像顯微(orientation image microscopy,OIM)圖。OIM圖可以表征晶界類型,自動(dòng)給出各種類型晶界的長(zhǎng)度比例。判定晶界類型時(shí)采用Palumbo-Aust標(biāo)準(zhǔn)[8],即晶界兩側(cè)晶粒的取向差相對(duì)于CSL模型允許的最大偏差角為Δθmax=15°Σ-5/6。晶界類型確定后,利用 JSM-7500F冷場(chǎng)場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡對(duì)試樣中不同類型晶界處析出的二次碳化物進(jìn)行觀察,并對(duì)其成分進(jìn)行EDS(energy dispersive spectrum)能譜分析。

        電化學(xué)測(cè)試試樣鑲嵌并固化后,先在金相砂紙上打磨平整,然后用金剛石研磨膏進(jìn)行機(jī)械拋光,最后依次用丙酮和去離子水超聲清洗試樣,去除表面油污。

        采用雙環(huán)電化學(xué)動(dòng)電位再活化法(electrochemical polarization reactivation,EPR)測(cè)試合金的晶間腐蝕敏感性。測(cè)試時(shí)參照ASTM G108,使用德國(guó)Zahner公司的Zannium電化學(xué)工作站。試驗(yàn)采用標(biāo)準(zhǔn)三電極工作體系,鉑電極作為輔助電極,飽和甘汞電極作為參比電極,試驗(yàn)介質(zhì)是 0.5 mol/L H2SO4+0.01 mol/L KSCN溶液,溫度為40℃。EPR測(cè)試時(shí),首先將飽和甘汞電極通過(guò)鹽橋放入電解池,鉑電極開路,在溶液中穩(wěn)定10 min后獲得開路電位EOCP。開路電位EOCP測(cè)量結(jié)束后,將試樣在-0.07 V恒定電位下保持600 s進(jìn)行預(yù)極化處理,然后開始EPR試驗(yàn)。EPR掃描范圍為:EOCP先升至+0.4 V,再回掃至EOCP,掃描速率為1.67 mV/s。

        2 結(jié)果和討論

        圖1是固溶態(tài)NonGBE和GBE試樣、時(shí)效態(tài)NonGBEA和GBEA試樣的OIM圖。OIM圖中紅色為Σ3晶界,藍(lán)色為Σ9晶界,綠色為Σ27晶界,黃色為其他類型的低ΣCSL晶界,黑色為隨機(jī)晶界(random boundary,R),灰色表示小角度晶界。其中Σ3晶界根據(jù)晶界面所處晶體學(xué)取向的不同又可分為共格Σ3晶界(Σ3c晶界,其形態(tài)為平直狀)和非共格Σ3晶界(Σ3i晶界,其形態(tài)為彎曲狀)。

        通過(guò)HKL Channel 5軟件分析得出,固溶態(tài)NonGBE和GBE試樣的低ΣCSL晶界比例分別為53.6%和80.1%;時(shí)效態(tài)NonGBEA和GBEA試樣的低ΣCSL晶界比例分別為52.9%和74.8%。表1是固溶態(tài) NonGBE和 GBE試樣、時(shí)效態(tài)NonGBEA和GBEA試樣中Σ3、Σ9和Σ27這3種特殊晶界的比例。由表1可知,固溶態(tài)試樣經(jīng)過(guò)晶界工程處理后,低ΣCSL晶界比例大幅度提高,其中Σ3晶界占低ΣCSL晶界比例達(dá)85%以上,因此本文探討晶界工程處理后Σ3晶界對(duì)Hastelloy N合金時(shí)效后晶間腐蝕敏感性的影響。與固溶態(tài)NonGBE試樣相比,固溶態(tài)GBE試樣在再結(jié)晶時(shí)形核密度低,多重孿晶過(guò)程得到充分發(fā)展;試樣中存在大量 Σ3-Σ3-Σ9、Σ3-Σ9-Σ27、Σ3-Σ27-R等三叉晶界角,形成了大尺寸的“互有Σ3n(n=1,2,3,…)取向關(guān)系晶粒的團(tuán)簇”顯微組織[5],團(tuán)簇外圍被連通的隨機(jī)晶界網(wǎng)絡(luò)包圍。700℃時(shí)效100 h后,試樣的晶界網(wǎng)絡(luò)分布與固溶態(tài)試樣無(wú)明顯差別,說(shuō)明時(shí)效處理不會(huì)改變Hastelloy N合金的晶界網(wǎng)絡(luò)分布,這與690合金、Inconel 600合金的研究結(jié)果相似[1,9]。

        圖1 4種試樣的OIM圖Fig.1 OIM maps of the four kinds of specimens

        表1 4種試樣的不同類型晶界比例Table 1 Proportions of different types of grain boundary in the four kinds of specimens %

        試樣在時(shí)效過(guò)程中,晶界上原子排列松散,自由能較高,雜質(zhì)原子和溶質(zhì)原子會(huì)從基體中向晶界擴(kuò)散,二次碳化物主要在晶界析出[1]。從表1可見(jiàn),時(shí)效態(tài)GBEA試樣的低ΣCSL晶界比例較高,本文主要研究了該試樣中不同類型晶界上析出的二次碳化物的分布。GBEA試樣的SEM和原位OIM如圖2所示??梢?jiàn),Hastelloy N合金經(jīng)GBE處理后再在700℃時(shí)效100 h,隨機(jī)晶界(圖2(a))上析出了較連續(xù)的條狀二次碳化物,尺寸較大;Σ27晶界(圖2(b))、Σ9晶界(圖 2(c))和Σ3i晶界(圖2(d))上均析出了較分散的顆粒狀二次碳化物,且隨著Σ值的減小,3種低ΣCSL晶界上析出的二次碳化物尺寸減小;Σ3c晶界(圖2(e))上未觀察到二次碳化物的析出。

        在幾種類型的晶界中,隨機(jī)晶界的界面能最高,為1 000 mJ/m2;3種低ΣCSL晶界的界面能隨Σ值的減小而降低,即Σ27、Σ9和Σ3晶界的界面能依次降低。在Σ3晶界中,Σ3i晶界界面能約為240 mJ/m2,而 Σ3c晶界界面能僅為 16 mJ/m2,約為 Σ3i的 1/15[10]。不同類型晶界上二次碳化物的析出量取決于晶界界面能的高低。界面能越高的晶界越易析出二次碳化物。隨機(jī)晶界上碳化物形成元素的偏聚量高,在時(shí)效初期,隨機(jī)晶界上就有足夠多的碳化物形成元素促進(jìn)二次碳化物的形核和長(zhǎng)大,并呈長(zhǎng)條狀分布。而 Σ27、Σ9和 Σ3i晶界上較難有碳化物形成元素的偏聚,二次碳化物生長(zhǎng)為顆粒狀,長(zhǎng)大速度較慢;且隨著Σ值的減小晶界界面能遞減,碳化物形成元素在晶界上的偏聚難度增大,二次碳化物尺寸遞減。Σ3c晶界的界面能最低,二次碳化物最不易在Σ3c晶界析出。

        圖3是GBEA試樣中二次碳化物的SEM和EDS譜圖。可見(jiàn),Hastelloy N合金時(shí)效后晶界上析出了富Mo的M6C型二次碳化物,這與Jiang等[11]的研究結(jié)果一致。

        開路電位EOCP反映材料的耐腐蝕性能,通常EOCP值越小,材料的耐腐蝕性能越差。試驗(yàn)測(cè)得時(shí)效態(tài)NonGBEA和GBEA試樣的EOCP值分別為-0.055和-0.039 V,表明晶界工程處理能改善Hastelloy N合金時(shí)效后的耐腐蝕性能。

        圖2 GBEA試樣不同類型晶界上二次碳化物的SEM和原位OIM圖Fig.2 SEM images and in-situ OIM maps of the secondary carbides on different grain boundaries of the GBEA specimen

        圖3 GBEA試樣的SEM和EDS譜圖Fig.3 SEM image and EDS pattern of the GBEA specimen

        合金時(shí)效后晶界上析出了大量Mo的二次碳化物,晶界附近會(huì)產(chǎn)生貧Mo區(qū)。EPR測(cè)試過(guò)程中,在陽(yáng)極正向掃描時(shí),試樣表面發(fā)生鈍化,而時(shí)效后的試樣由于晶界附近貧Mo,貧Mo區(qū)形成的鈍化膜不完整,且不能再鈍化。反向掃描時(shí),在再活化過(guò)程和去極化劑KSCN的共同作用下,貧Mo區(qū)鈍化膜受到破壞而溶解,在極化曲線上出現(xiàn)了一個(gè)較大的再活化峰Ir。時(shí)效態(tài)NonGBEA和GBEA試樣的EPR曲線如圖4所示。雙環(huán)EPR法通過(guò)測(cè)定活化電流Ia和再活化電流Ir,將再活化電流Ir與活化電流Ia的比值,即再活化率Ra作為晶間腐蝕敏感性的判據(jù)。再活化率Ra的數(shù)值越大,晶間腐蝕敏感性越大。其中:Ia為正向掃描時(shí)的最大陽(yáng)極電流;Ir為反向掃描時(shí)的最大陽(yáng)極電流。經(jīng)計(jì)算,NonGBEA和GBEA試樣的再活化率Ra分別為67.9%和56.5%,表明晶界工程處理降低了Hastelloy N合金時(shí)效后的再活化率和晶間腐蝕敏感性,進(jìn)一步證明高比例的低ΣCSL晶界有助于提高Hastelloy N合金時(shí)效后的耐晶間腐蝕性能。

        圖5為時(shí)效態(tài)NonGBEA和GBEA試樣ERP測(cè)試后的SEM圖。可以看出,相比GBEA試樣,NonGBEA試樣表面的腐蝕程度更為嚴(yán)重,溝槽更深。本文主要考慮Σ3晶界對(duì)合金時(shí)效后晶間腐蝕敏感性的影響。如圖5(b)所示,與其他類型晶界相比,Σ3晶界上的腐蝕溝槽較淺,部分Σ3晶界幾乎沒(méi)有遭受腐蝕,具有較好的耐晶間腐蝕性能。因此,通過(guò)晶界工程處理可以大幅度提高材料的Σ3晶界比例,顯著減小Hastelloy N合金時(shí)效后的晶間腐蝕敏感性。

        圖4 NonGBEA和GBEA試樣的EPR曲線Fig.4 EPR graphs of the NonGBEA and GBEA specimens

        圖5 NonGBEA和GBEA試樣EPR測(cè)試后的SEM圖Fig.5 SEM images of the NonGBEA and GBEA specimens after EPR test

        Hastelloy N合金時(shí)效后不同類型晶界上二次碳化物的析出量、形貌和尺寸均不同。Σ3晶界上二次碳化物的析出量最少,表現(xiàn)出最好的耐晶間腐蝕性能。Σ3晶界的比例越高,越有利于提高材料的耐晶間腐蝕性能。因此,通過(guò)晶界工程處理調(diào)整晶界網(wǎng)絡(luò)分布,可以提高Hastelloy N合金在高溫環(huán)境中的耐晶間腐蝕性能。

        3 結(jié)論

        (1)經(jīng)晶界工程處理后,固溶態(tài)Hastelloy N合金的低ΣCSL晶界比例可達(dá)到80.1%,組織中形成了大尺寸“互有Σ3n取向關(guān)系晶粒的團(tuán)簇”。經(jīng)700℃時(shí)效100 h后,GBEA試樣的低ΣCSL晶界比例為74.8%。時(shí)效處理不會(huì)改變Hastelloy N合金的晶界網(wǎng)絡(luò)分布。

        (2)Hastelloy N合金時(shí)效后不同類型晶界上二次碳化物的析出量、形貌和尺寸均不同。試樣在700℃時(shí)效100 h后,隨機(jī)晶界上的二次碳化物呈連續(xù)長(zhǎng)條狀,尺寸較大;Σ27晶界、Σ9晶界和Σ3i晶界上的二次碳化物呈分散的顆粒狀,且隨著Σ值的降低,二次碳化物的尺寸遞減。Σ3c晶界上未觀察到二次碳化物的析出。

        (3)與其他類型晶界相比,Σ3晶界表現(xiàn)出更好的耐晶間腐蝕性能。晶界工程處理能大幅度提高Hastelloy N合金中Σ3晶界的比例,從而提高其耐晶間腐蝕性能。

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