張博研

摘要：采用同位素測井技術(shù)來對吸水剖面情況進行解釋，會受到多種因素的影響，無法準確地反應(yīng)出注水層真實情況。本文對同位素污染對測井曲線產(chǎn)生的影響因素進行分析，并提出了同位素污染控制措施。

關(guān)鍵詞：同位素;剖面測井;吸水

利用同位素組合技術(shù)進行測井作業(yè)，可以一次性獲取磁定位、流量、壓力、伽馬和溫度參數(shù)。在對測井資料進行分析和解釋過程中，需要首先應(yīng)用流量相關(guān)測井資料來對不同配主地層位置達到的流量進行分析，再利用同位素來對吸水剖面對每個地質(zhì)小層相對吸水量進行解釋。再結(jié)合水井內(nèi)的溫度情況來識別每個吸水層或吸水界面。應(yīng)用磁定位和壓力相關(guān)數(shù)據(jù)資料，來對井內(nèi)的壓力變化和地下儲層吸水量對應(yīng)關(guān)系進行檢測和確定，從而來對測井儀器下放深度進行控制，還可以得到井下管柱的狀態(tài)。在進行測試作業(yè)時，同位素會形成某種程度的污染，再由于注水井情況復雜會使測井曲線變得異常。

1同位素污染對測井曲線產(chǎn)生的影響

1.1同位素污染產(chǎn)生的影響

利用同位素進行測井作業(yè)，主要受到同位素注入量、地下儲層、井下管柱等方面的影響，還會受到固井質(zhì)量、地層酸化和壓裂等外在因素產(chǎn)生的影響。

1.2同位素污染類型

1.2.1沉淀造成的污染

微球顆粒具備的直徑和沉降速度一種正比例關(guān)系，但與注水攜帶能力為正比例關(guān)系，這就使得微球顆粒和注入到地下儲層的水相互間不能產(chǎn)生同步。受到微球顆粒密度因素的影響，如果顆粒密度和注入地下儲層水間的密度不會產(chǎn)生數(shù)據(jù)差，可以使微球顆粒和注入水保持同步。而如果微球顆粒密度和注入地層水體產(chǎn)生差值，會導致兩者無法同步的問題，會使得進入到地下儲層中的同位素分布不均勻的問題，會對地層造成污染。

1.2.2吸附污染

因為注水井套管和油管壁會存在油污，這是由于對管壁沒有進行完全地清洗處理，或者由于地下儲層壓力差，把水井關(guān)閉進行測溫時，井口部位密封情況較差，會使地層產(chǎn)生吐水問題，這就會使管壁形成油污，并把投入到水井中的同位素吸附住。除此之外，油管和套管接箍部位的臺階等都會使同位素產(chǎn)生吸附性污染。

1.3同位素用量產(chǎn)生的影響

投入到水井中的同位素數(shù)量，也會對吸水層的識別產(chǎn)生影響。如果使用數(shù)量較大，會導致不吸水會形成同位素異常，對同位素材料造成浪費，會產(chǎn)生一定程度的污染。如果采用的同位素數(shù)量不夠，通過測井儀器獲取到的吸水層幅度會變小，會影響對吸水層的識別。因此，為了防止對同位素材料的浪費，還可以更為準確地識別出吸水層，需要結(jié)合測井區(qū)段內(nèi)的射孔層厚度、每天的注水量、同位素出廠強度等情況，來對所需同位素數(shù)量進行計算。

2同位素污染控制措施

2.1微球粒徑尺寸的控制

選用的同位素微球顆粒直徑需要超過待注入地層孔道尺寸，還應(yīng)該和注水層區(qū)段具備的滲透性、吸水層有效厚度值相匹配，針對地質(zhì)情況較為疏構(gòu)，存在出砂問題的水井附近形成的沖刷帶，或注水壓力不高，地層吸水指數(shù)較大，存在著較為嚴重的單層突出，需要應(yīng)用大顆粒直徑的同位素示蹤劑。存在偏心配水管柱的水井，需要保證同位素顆粒尺寸相對于出水口小2-3倍，可以防止微球顆粒尺寸過大，而導致的水嘴部位堵住問題，井下作業(yè)工具也不會受到污染。

2.2同位素微球顆粒密度控制

我國油田所在地理位置的差異性，多采用污水、鹽水和淡水來回注到地層中。大慶油田主要采用淡水，水質(zhì)密度有著較大的不同，需要采用與密度相符的同位素微球密度，如果具備的密度超過注入水密度，同位素則會不斷下沉而導致井底產(chǎn)生堆積，同樣吸水強度的水層底部會呈現(xiàn)出同位素異?，F(xiàn)象，而較淺部位的同位素不會呈現(xiàn)出更大的差異性，或者完全沒有異?，F(xiàn)象。如果同位素密度不高于注入水密度，會使同素微球顆粒處理懸浮狀態(tài)。所以，對吸水剖面進行測井作業(yè)時，可能會導致相同吸水強度地層呈現(xiàn)出吸水不均衡現(xiàn)象。

3注水井況對同位素曲線異常的影響分析

3.1伽馬曲線異常

在對地下儲層進行注水作業(yè)時，一些具有放射性元素的水分也會被注入地層，會使得地層產(chǎn)生放射性污染，在對伽馬測井數(shù)據(jù)進行解釋時，會使得伽馬曲線產(chǎn)生異常，在對同位素進行解釋以后，會整個測井區(qū)段地層形成較為嚴得的污染，會對吸水層效果產(chǎn)生不良影響，測井曲線存在著失真問題。

3.2管柱腐蝕和井況變差

由于注入到地下儲層的水分中存在著較多的礦物質(zhì)，較長時間的注水作業(yè)，會使得管柱不斷被腐蝕，會對測井儀器產(chǎn)生較大的影響，使測井儀器穩(wěn)定性變差，會使測井曲線出現(xiàn)失真問題。

3.3封隔器密封性變差

如果封隔器密封性能達不到要求，會使得不需要進行注水的地層進入水分，需要注水地層達不到注入注量，地層含水率會不斷上升，從獲取到的同位素曲線中，可以導致不吸水地層區(qū)段產(chǎn)生異常吸水問題。

3.4大孔道現(xiàn)象

由于存在著多年注水開發(fā)問題，地下儲層的矛盾比較顯著，某些地層會存在著大孔道問題，會使注水效率低下，保持著無效循環(huán)狀態(tài)，影響著油層的吸水出油，導致同位素曲線幅度異常。

3.5固井竄槽

如果固井施工質(zhì)量達不到設(shè)計要求，或者長時期注水導致水泥環(huán)受到損壞。會使得產(chǎn)生竄槽現(xiàn)象，對吸水層造成不利影響。在注入同位素之后，部分同位素會存遺留在竄槽位置，進入注水層后也無法出來，沒進入注水層的同位素會存在于套管和水泥膠結(jié)部位，會使測井幅度變高。

3結(jié)束語

進行同位素測井作業(yè)時，需要結(jié)合注水井實際情況，選用顆粒直徑跨度較大的同位素，并合理匹配載體，確定好測井時機，對同位素進地有效的跟蹤監(jiān)測，從而獲取到準確地測井數(shù)據(jù)資料。

參考文獻：

[1]武江鴻.同位素測井資料異常吸水原因的簡要分析[J].當代化工研究，2018（01）：71-72.

[2]路繁榮，曹禺，張超，高揚.同位素吸水剖面測井方法在石油地質(zhì)中的應(yīng)用[J].石油化工應(yīng)用，2017，36（05）：106-109+121.

[3]高健.同位素測井工藝技術(shù)措施[J].石化技術(shù)，2017，24（09）：197.