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        彩膜微觀缺陷修補自動化實現(xiàn)和效率提升

        2019-08-27 01:10:10王蘭健何晨彤武占英董宏達李海飛
        液晶與顯示 2019年7期
        關(guān)鍵詞:填色基板研磨

        蔣 遷,王 旭,王蘭健,何晨彤,武占英,董宏達,李海飛

        (北京京東方顯示技術(shù)有限公司,北京 100176)

        1 引 言

        隨著工業(yè)4.0、中國制造2025戰(zhàn)略提出,制造業(yè)正逐步朝著自動化、智能化發(fā)展[1]。TFT-LCD產(chǎn)業(yè)制程本身是高度自動化的[2~6],其人力投入主要分為兩部分:維護設(shè)備正常運轉(zhuǎn)的工程師和對產(chǎn)品品質(zhì)進行檢測、修復(fù)的作業(yè)員,而后者的人數(shù)是前者的數(shù)倍之多。實際上,作業(yè)員進行的檢測、修復(fù)等作業(yè)內(nèi)容相對簡單、單一,如果該部分作業(yè)能實現(xiàn)設(shè)備自動化,能節(jié)省大量的人力成本,提高作業(yè)效率。

        本文對8.5代線彩膜(Color Filter,CF)工廠的微觀缺陷修補工位進行研究,檢討無人化可行性,并研究設(shè)備自動化運營邏輯,最終將自動修補邏輯寫入設(shè)備軟件,實現(xiàn)了修補工序自動化。

        2 CF工藝流程和微觀缺陷修補方式

        2.1 CF工藝流程

        TFT-LCD制程可以分為陣列(Array)、彩膜(CF)、對盒(Cell)、模組(Module)4部分,其中CF段良率最高,一般產(chǎn)品均在99.5%以上。高良率與CF的微觀缺陷修補工藝密不可分[7],如圖1所示,在CF黑矩陣(Black Matrix,BM)、色阻(RGB)、柱狀物(Photo Spacer,PS)工序完成后,均可對相應(yīng)膜層的微觀缺陷進行修補,提升良率。

        圖1 CF工藝流程Fig.1 Process flow of color filter

        2.2 CF微觀缺陷種類和修補方式

        根據(jù)不同的劃分原則,可以對CF微觀缺陷進行多種劃分。從產(chǎn)生工序區(qū)分,可以分為BM缺陷、RGB缺陷、OC缺陷、PS缺陷;從缺陷形態(tài)區(qū)分,可以分為異物類、纖維類、PR殘留類、劃傷類、掉膜類等等;從缺陷檢測原理區(qū)分,可以分為黑缺陷和白缺陷。由于微觀缺陷的修補是基于缺陷的檢出進行的,本文僅以黑缺陷和白缺陷分類對缺陷進行區(qū)分。

        CF采用自動光學(xué)檢測機(Automatic Optical Inspection,AOI)對微觀缺陷進行檢測,當(dāng)AOI自動檢測時,機器通過一排CCD自動掃描基板,采集圖像,經(jīng)過圖像處理,進行單周期Pitch比較,從而檢查出基板上的缺陷。缺陷檢出采用5點比對法,如圖2中5個點,假設(shè)其灰階為A1、A2、A3、A4、A5,其中A2、A3、A4、A5為參考點,A1為比較點。取上述5個點中間值(假設(shè)這5點的灰階大小關(guān)系為A2

        當(dāng) |A1-A5| > 設(shè)定閾值, A1點為缺陷點;

        當(dāng) |A1-A5| < 設(shè)定閾值, A1點為正常點。

        當(dāng)A1>A5時,為黑缺陷;反之為白缺陷。通常黑缺陷為金屬異物、PR殘留、纖維等,白缺陷為膜層缺失。

        圖2 AOI檢測原理Fig.2 Inspect principle of AOI

        CF修補方式有3種:研磨(Tape)、激光(Laser)和填色(Ink)。實際生產(chǎn)中,研磨用于磨掉膜上的黑缺陷,激光用于去除BM膜層PR殘留和RGB白缺陷填色前規(guī)整圖形準備,填色是在激光去除缺陷后,在相應(yīng)位置處填補上RGB色阻,3種修補方式效果如圖3~圖5所示。

        圖3 研磨修補Fig.3 Tape repair

        圖4 激光修補Fig.4 Laser repair

        圖5 激光和填色修補Fig.5 Laser and ink repair

        3 CF微觀缺陷修補自動化實現(xiàn)

        CF微觀缺陷人工修補流程如圖6所示,基板經(jīng)過AOI檢測后,AOI將所檢測的缺陷信息,包括:(1)不良面積;(2)不良坐標(X、Y);(3)不良種類(黑缺Reflect Black,RB;白缺Transmit White,TW);(4)不良數(shù)量;(5)不良尺寸(ΔX、ΔY、最大長度);(6)灰階差值(Bright2)等6部分上傳到服務(wù)器上。當(dāng)基板流經(jīng)修補設(shè)備時,修補設(shè)備從服務(wù)器提取缺陷信息并逐一提示作業(yè)員,作業(yè)員根據(jù)提示,逐一手動操作鏡頭移動至缺陷點坐標處,肉眼確認是否存在真缺陷以及真缺陷類型,并手動點擊缺陷中心位置,讓修補設(shè)備移動至該位置,針對不同類型的缺陷進行相應(yīng)的研磨、激光或填色作業(yè),值得一提的是,填色作業(yè)也是需要人眼識別顏色后選擇紅、綠、藍或者黑色墨盒進行填色。

        圖6 微觀缺陷人工修補流程Fig.6 Process flow of micro-defect repair by human

        要想實現(xiàn)自動化修補,即用設(shè)備替代人工進行缺陷類型判定、缺陷精確位置查找、修補方式選擇等工作。AOI只提供了缺陷類型、面積、尺寸和坐標,還有極低的誤檢性(把假缺陷檢測成真缺陷),如何讓修補設(shè)備像人眼一樣“認出”缺陷并選擇正確的方式進行作業(yè)呢?尤其填色作業(yè)的時候,設(shè)備如何像人眼一樣“認出”顏色呢?

        本文中提出最小循環(huán)標準圖像比對法解決這一問題。CF圖形是循環(huán)重復(fù)排列的,選擇最小不重復(fù)的一組正常區(qū)域作為標準圖像,將被檢測區(qū)域同樣劃分為N個小區(qū)域,逐一與標準圖像進行比對,則可以發(fā)現(xiàn)缺陷并確認缺陷類型,最后選擇修補作業(yè)。以下結(jié)合各具體修補工序進行闡述。

        3.1 BM后微觀缺陷自動修補實現(xiàn)

        BM工藝之后,僅對黑缺陷進行自動激光修補,基板進入修補設(shè)備后,修補鏡頭和修補單元可根據(jù)AOI提供的坐標移動至缺陷點附近,接下來是如何識別缺陷的準確位置和使用激光作業(yè)。

        將像素的最小子循環(huán)圖像設(shè)置成標準圖像,并在框內(nèi)設(shè)置幾個激光區(qū)域。鏡頭移動至缺陷點坐標后,使用2倍鏡頭自動對焦,然后逐一區(qū)域進行與最小循環(huán)單元比對,比對結(jié)果一致默認為無缺陷,進行下一區(qū)域比對,當(dāng)比對結(jié)果不一致時,則找到了缺陷。當(dāng)視野內(nèi)未找到缺陷時,設(shè)備會報警,提示人員進行確認,是否為AOI誤檢。找到缺陷后,設(shè)備切換20倍鏡頭再次對焦和比對,確認缺陷的精確位置,然后執(zhí)行激光動作。

        圖7 BM工藝后自動修補設(shè)置Fig.7 Setting of auto repair after BM process

        如圖7所示,對于該產(chǎn)品,設(shè)置2個子像素為最小循環(huán)單元,并在最小循環(huán)單元內(nèi)設(shè)置2個激光框。圖7中的圓形黑缺陷,設(shè)備經(jīng)過2倍鏡圖像比對后找到缺陷,切換20倍鏡頭再次比對,識別缺陷準確位置在最小循環(huán)單元的左側(cè),并位于激光框1中,接下來執(zhí)行預(yù)設(shè)好的Laser1框的激光動作(包括使用的激光能量和激光框面積)。執(zhí)行完1次之后再次進行圖像比對,比對結(jié)果一致認為修補完成,切換2倍鏡移動至下一缺陷點,如果比對結(jié)果不一致,認為激光修復(fù)一次不能將缺陷完全去除,再次進行激光動作,兩次之后仍然有缺陷,認為出現(xiàn)異常,設(shè)備報警提示人員確認(一般情況下,兩次激光能完成修補)。

        BM工藝后自動修補流程如圖8所示。

        圖8 BM自動修補流程圖Fig.8 Auto repair process flow of BM repair

        3.2 RGB后微觀缺陷自動修補實現(xiàn)

        RGB工藝之后,需要修補的缺陷分為黑缺陷(RB)和白缺陷(TW)兩種,修補設(shè)備根據(jù)從AOI提取的缺陷信息RB或TW,選擇不同的作業(yè)。

        同BM工藝后的修補一樣,RGB工藝后的修補也需要設(shè)置最小循環(huán)單元,以便設(shè)備進行缺陷比對查找。此外,RGB像素的填色作業(yè)涉及不同顏色的墨盒選擇,也是通過圖像比對實現(xiàn)的。

        圖9 RGB工藝后自動修補設(shè)置Fig.9 Setting of auto repair after RGB process

        如圖9所示,對于該產(chǎn)品,設(shè)置2組RGB像素為最小循環(huán)單元,并在最小循環(huán)單元內(nèi)設(shè)置6個激光框。在一個最小循環(huán)內(nèi),設(shè)置R、G、B像素開口區(qū)填色作業(yè)時選擇對應(yīng)的紅、綠、藍色的墨盒,其余區(qū)域選擇黑色墨盒。圖9中位于R像素內(nèi)部的黑缺陷,設(shè)備經(jīng)過2倍鏡圖像比對后找到缺陷,首先進行測高,如果高度在規(guī)格內(nèi)(各產(chǎn)品規(guī)格不同),判定OK,進行下一個缺陷點修補;如果高度超出規(guī)格,則進行研磨作業(yè),研磨后再次測高,如果一次研磨后高度在規(guī)格內(nèi),判定OK,進行下一個缺陷點修補;如果一次研磨后高度超出規(guī)格,則再次進行研磨作業(yè),研磨后再次測高,如果二次研磨后高度在規(guī)格內(nèi),判定OK,進行下一個缺陷點修補;如果二次研磨后高度仍然超出規(guī)格,則切換20倍鏡進行激光+填色作業(yè)。切換20倍鏡頭后通過比對識別缺陷準確位置在激光框2中,應(yīng)該填充紅色墨盒。接下來執(zhí)行預(yù)設(shè)好的激光和填色動作。切換2倍鏡再次比對,比對結(jié)果一致,認為修補完成,移動至下一缺陷點,否則設(shè)備報警,提示人員確認。RGB工藝后自動修補流程如圖10所示。

        圖10 RGB自動修補流程圖Fig.10 Auto repair process flow of RGB repair

        3.3 PS后微觀缺陷自動修補實現(xiàn)

        BM工藝和RGB工藝產(chǎn)生的微觀缺陷已經(jīng)在前工藝完成了修補,至PS工藝后,可進行修補的缺陷為OC膜上的黑缺陷,其修補邏輯和方法與RGB工藝產(chǎn)生的黑缺陷類此,在此不再贅述。

        將上述修補邏輯分別寫入修補設(shè)備軟件,可實現(xiàn)各工序的自動修補。以PS 修補良率進行統(tǒng)計,自動化修補成功率為99.8%,與人工修補成功率99.9%相當(dāng),滿足生產(chǎn)需求(>99.5%)。8.5代線CF工廠修補設(shè)備共10組,自動修補導(dǎo)入前后機組和人員配置如表1所示,自動導(dǎo)入完成后,修補人員從20人降低為7人,主要進行設(shè)備報警處理和異常情況對應(yīng),節(jié)省人力13人。

        表1 修補機組和人員配置Tab.1 Arrangement of repair equipment and personnel

        4 CF微觀缺陷自動化修補效率的提升

        圖11 各工序修補時間/卡夾Fig.11 Repair time per cassette of each repair process

        雖然所有的基板都存在大小不一的缺陷,但并不是所有的缺陷都需要修補。圖11統(tǒng)計了隨機10個卡夾(一個卡夾40 sh基板)自動修補所需要的時間,BM、RGB、PS 平均修補一個卡夾需要時間分別為29,42,53 min,其中存在著部分時間浪費。例如有些缺陷由于其面積非常小,經(jīng)過實際驗證不會對顯示造成任何影響,是可以不修補的,也就是所謂的缺陷容忍度。而還有一些缺陷則是過大,無法進行修補,可以直接進行NG(Not Good)判定,也是無須進行修補的。這些無須經(jīng)過修補的基板也進入修補設(shè)備勢必造成產(chǎn)能浪費,通過給AOI設(shè)備添加基板判定功能,可以解決這個問題。

        AOI每檢測完一張基板后,得到基板所有的缺陷信息。對這些信息進行篩選判定,沒有任何一個缺陷達到修補基準的,AOI給該基板判定Code“Good”;缺陷過多過大無法修補的,AOI給該基板判定Code“Rework”;而需要進行修補的給予其他Code,并對不同Code的基板單獨收集,進入到不同的下游,具體運營如圖12~14所示。

        圖12 BM 修補自動分片示意圖Fig.12 Auto sorting of BM repair

        圖12為BM 修補自動分片流程圖,BM 修補只進行激光修補,基板經(jīng)過AOI后,AOI給基板G(無須修補)、R(無法修補)、Q(進行Laser修補)3種判級,進入修補設(shè)備前,無缺陷基板收集在一起進行下一工藝,R基板收集在一起進行返工作業(yè),Q基板進入設(shè)備進行激光修補。

        圖13為RGB 修補自動分片流程圖,RGB 修補進行研磨和填色修補,基板經(jīng)過AOI后,AOI給基板G(無須修補)、R(無法修補)、Q(進行研磨修補)和C(進行填色修補)4種判級。

        圖14為PS 修補自動分片流程圖,同BM類似,分為G、R、Q 3種,Q進行研磨作業(yè)。

        圖14 PS 修補自動分片示意圖Fig.14 Auto sorting of RGB repair

        圖15 優(yōu)化前后各工序修補時間/卡夾Fig.15 Repair time per cassette of each repair process before and after optimization

        經(jīng)過AOI自動判級后,BM 修補、RGB 修補和PS 修補分別有70%、35%和14%的玻璃直通,這部分玻璃不經(jīng)過修補設(shè)備,節(jié)省了修補時間,圖15為優(yōu)化前后各工序修補時間,優(yōu)化后BM、RGB、PS 平均修補一個卡夾需要時間分別為22,37,50 min,分別減少了7,5,3 min,減少量分別為24%、12%和6%。

        5 結(jié) 論

        本文根據(jù)制造業(yè)智能化、自動化的發(fā)展趨勢,提出了CF修補工序自動化,介紹了微觀修補方式,檢討了自動修補邏輯和可行性,并在8.5代線CF工廠中實現(xiàn)了設(shè)備自動修補,將修補工序作業(yè)員由20人降低為7人,節(jié)省人力13人,節(jié)省量65%。此外,通過賦予檢測設(shè)備給基板判級功能,使不需要修補的基板不進入修補設(shè)備,進一步優(yōu)化基板流向和設(shè)備負荷,優(yōu)化后,BM、RGB、PS 修補分別有70%、35%和14%的玻璃直通,平均修補一個卡夾的時間分別減少了24%、12%和6%。經(jīng)與其他世代線CF工廠對標,本文所闡述的邏輯可平行推廣至其他生產(chǎn)線,節(jié)省人力成本,提高自動化程度。

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