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        光纖網(wǎng)絡(luò)模塊故障分析

        2019-01-20 02:42:06王鵬郝田義
        中國新技術(shù)新產(chǎn)品 2019年22期
        關(guān)鍵詞:故障分析芯片

        王鵬 郝田義

        摘? 要:綜合任務(wù)處理機(jī)作為某新型飛機(jī)航空電子系統(tǒng)的核心和總線控制器,采用1553B總線和光纖網(wǎng)絡(luò)混合構(gòu)型完成數(shù)據(jù)輸入輸出,其中光纖網(wǎng)絡(luò)模塊作為綜合任務(wù)處理機(jī)內(nèi)部重要的模塊,負(fù)責(zé)任務(wù)機(jī)內(nèi)部各模塊之間以及任務(wù)機(jī)與外部子系統(tǒng)之間光纖網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)的交換,收集網(wǎng)絡(luò)運(yùn)行信息,提供光纖網(wǎng)路數(shù)據(jù)流分析接口。該文針對(duì)某型機(jī)任務(wù)機(jī)報(bào)光纖網(wǎng)絡(luò)模塊故障現(xiàn)象進(jìn)行一定的分析,查找故障原因,并對(duì)由內(nèi)部芯片脫焊引起的故障進(jìn)行了排除,提出了一定的建議,為類似故障的排除提供參考。

        關(guān)鍵詞:光纖網(wǎng)絡(luò)模塊;芯片;故障分析

        中圖分類號(hào):TM929? ? ? ? ? ? ? 文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A

        0 前言

        光纖網(wǎng)絡(luò)模塊作為機(jī)載設(shè)備綜合任務(wù)處理機(jī)內(nèi)部重要的模塊之一,主要負(fù)責(zé)任務(wù)機(jī)內(nèi)部各個(gè)模塊之間以及任務(wù)機(jī)與外部子系統(tǒng)之間光纖數(shù)據(jù)的交換,收集網(wǎng)絡(luò)運(yùn)行信息,提供光纖網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)流分析接口。

        該文針對(duì)某型機(jī)光纖網(wǎng)絡(luò)模塊故障現(xiàn)象進(jìn)行分析,確定了故障原因,對(duì)設(shè)計(jì)提出相應(yīng)的改進(jìn)建議,提高模塊的可靠性。

        1 故障現(xiàn)象

        某型機(jī)在進(jìn)行飛行前機(jī)務(wù)準(zhǔn)備時(shí),檢查發(fā)現(xiàn)任務(wù)機(jī)報(bào)“光纖網(wǎng)絡(luò)模塊故障”。通過地面連接串口后通電檢查,發(fā)現(xiàn)光纖網(wǎng)絡(luò)模塊的串口無輸出。

        2 故障原因分析

        故障現(xiàn)象為任務(wù)機(jī)報(bào)“光纖網(wǎng)絡(luò)模塊故障”,串口無輸出,針對(duì)故障現(xiàn)象進(jìn)行以下分析。

        2.1 模塊供電故障

        模塊供電故障可造成模塊內(nèi)部的處理器、內(nèi)存等無法工作,從而使程序無法運(yùn)行,導(dǎo)致串口無輸出。供電故障可分為2種情況:28 V 供電故障和二次電源故障。

        2.1.1 28 V供電故障

        28 V 供電故障可分為2種情況:保險(xiǎn)絲熔斷和電源模塊故障。

        2.1.1.1 保險(xiǎn)絲熔斷

        保險(xiǎn)絲熔斷可造成28 V 供電故障,保險(xiǎn)絲熔斷表現(xiàn)為保險(xiǎn)絲前端的電壓為28 V,而后端電壓為0 V。

        模塊加電后,用萬用表測(cè)量,保險(xiǎn)絲前端、后端的電壓實(shí)際檢測(cè)均為28 V,因此可排除保險(xiǎn)絲熔斷故障。

        2.1.1.2 電源模塊故障

        電源模塊故障可造成28 V 供電故障,電源模塊故障表現(xiàn)為28 V 與28VGND 的阻值小于1 kΩ,造成外部供電過載,導(dǎo)致28 V 供電異常。

        用萬用表測(cè)量電源模塊中28 V 與28VGND 的電阻值,測(cè)試值為1 MΩ,測(cè)試結(jié)果表明電源模塊可以正常工作,因此可排除電源模塊故障。

        2.1.2 二次電源故障

        二次電源故障的表現(xiàn)為模塊中由28 V 直接或間接輸出的電源中的某一種或幾種實(shí)際輸出值超過設(shè)計(jì)值±5% 的范圍。

        模塊加電后,用萬用表測(cè)量模塊中的二次電源,包括1.0 V、1.2 V、1.8 V、2 V、2.5 V、3.3 V和5 V。發(fā)現(xiàn)二次電源的實(shí)際檢測(cè)值均在設(shè)計(jì)值±5% 的范圍內(nèi),因此可排除二次電源故障。

        2.2 復(fù)位電路故障

        模塊處于復(fù)位狀態(tài),可導(dǎo)致處理器不工作,程序不運(yùn)行,串口無輸出,模塊復(fù)位故障可分為2種情況:復(fù)位信號(hào)故障和復(fù)位芯片故障。

        2.2.1 復(fù)位信號(hào)故障

        復(fù)位信號(hào)故障表現(xiàn)為復(fù)位電路中的某一路復(fù)位信號(hào)或者某幾路復(fù)位信號(hào)的電平小于2 V。

        復(fù)位信號(hào)故障又分為外部復(fù)位信號(hào)故障和內(nèi)部復(fù)位信號(hào)故障。

        2.2.1.1 外部復(fù)位信號(hào)故障

        外部復(fù)位信號(hào)包括從母板來的系統(tǒng)復(fù)位信號(hào)和模塊復(fù)位信號(hào),故障表現(xiàn)為信號(hào)的電平小于2 V。模塊上電后用示波器測(cè)量系統(tǒng)復(fù)位信號(hào)和模塊復(fù)位信號(hào),二者都為3.3 V 電平,沒有毛刺,且大于2 V 電平,因此可排除外部復(fù)位信號(hào)故障。

        2.2.1.2 內(nèi)部復(fù)位信號(hào)故障

        內(nèi)部復(fù)位信號(hào)包括來自FPGA 的加載完成信號(hào)和JTAG 接口的復(fù)位,故障表現(xiàn)為內(nèi)部復(fù)位信號(hào)的電平小于2 V。

        模塊上電后,用示波器測(cè)量來自FPGA 的加載完成信號(hào)和JTAG 接口的復(fù)位,都為3.3 V電平,沒有毛刺,且大于2 V 電平,因此可排除內(nèi)部復(fù)位信號(hào)故障。

        2.2.2 復(fù)位芯片故障

        復(fù)位芯片故障是指在正常供電電壓且復(fù)位輸入為高電平的情況下,復(fù)位輸出信號(hào)變?yōu)榈碗娖健DK加電后,用萬用表測(cè)量輸出復(fù)位信號(hào)為高電平,復(fù)位芯片無故障。

        因此可排除模塊復(fù)位電路故障。

        2.3 串口芯片故障

        程序運(yùn)行正常但串口無輸出的情況,即為串口驅(qū)動(dòng)器故障。串口驅(qū)動(dòng)器故障的現(xiàn)象為串口驅(qū)動(dòng)器前端有信號(hào)輸出而后端無信號(hào)輸出或者驅(qū)動(dòng)器前端有信號(hào)輸出而后端輸出的電平不正確。

        用示波器測(cè)量串口驅(qū)動(dòng)器,發(fā)現(xiàn)前端、后端均有輸出且輸出電平正確,因此可排除串口芯片故障。

        2.4 程序執(zhí)行故障

        處理器上電后,首先到FLASH 中取指令,進(jìn)行初始化,然后把FLASH 中的數(shù)據(jù)搬到內(nèi)存中運(yùn)行。

        程序執(zhí)行故障可導(dǎo)致串口無輸出。

        2.4.1 FLASH故障

        處理器上電后到FLASH 中取指令,如果FLASH 故障,則處理器指令獲取錯(cuò)誤,無法進(jìn)行初始化和數(shù)據(jù)傳送,表現(xiàn)為模塊啟動(dòng)異常,串口無輸出。

        FLASH 故障可分為2類:FLASH 中數(shù)據(jù)丟失和FLASH 數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤。

        FLASH 數(shù)據(jù)發(fā)送丟失時(shí),F(xiàn)LASH 存儲(chǔ)中的數(shù)據(jù)發(fā)生錯(cuò)誤,導(dǎo)致處理器獲取的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤,無法正常運(yùn)行程序,因此串口不會(huì)有輸出。

        FLASH 數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤的情況為FLASH 中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)正確,但處理器從FLASH 中的獲取數(shù)據(jù)是錯(cuò)誤數(shù)據(jù),程序不能被正確運(yùn)行,串口不會(huì)有輸出。

        經(jīng)檢查發(fā)現(xiàn),模塊上電后FLASH 中數(shù)據(jù)沒有丟失,且FLASH 接口獲取數(shù)據(jù)正確,因此可排除FLASH 故障。

        2.4.2 處理器故障

        處理器出現(xiàn)故障,程序無法運(yùn)行,可導(dǎo)致串口無輸出。處理器故障可分為2 種情況:處理器周邊配置故障和處理器芯片故障。

        通過使用示波器測(cè)量、萬用表測(cè)量、仿真器讀取等方式對(duì)處理器進(jìn)行檢查,處理器周邊配置(處理器的時(shí)鐘、復(fù)位、供電以及模式配置)均正確,處理器的所有接口配置正確,所有接口工作正常,因此可排除處理器故障。

        2.4.3 SDRAM故障

        模塊啟動(dòng)后,F(xiàn)LASH 中的數(shù)據(jù)將轉(zhuǎn)移到SDRAM 中運(yùn)行,如果SDRAM 故障,程序無法正常運(yùn)行,即表現(xiàn)為串口無輸出。

        SDRAM 故障表現(xiàn)為SDRAM 無法讀取或者讀取錯(cuò)誤或者SDRAM 無法寫入或者SDRAM 寫入錯(cuò)誤。通過使用仿真器連接處理器對(duì)SDRAM 進(jìn)行檢測(cè),檢測(cè)異常,因此串口無輸出的的故障是由SDRAM 故障引起的。

        SDRAM 故障可分為2類:SDRAM外圍配置故障和SDRAM 芯片故障。

        2.4.3.1 SDRAM 外圍配置故障

        通過使用示波器、萬用表測(cè)量等方式對(duì)SDRAM進(jìn)行檢查,SDRAM周邊配置(SDRAM 的時(shí)鐘、供電以及讀寫片選控制)均正確。因此可排除SDRAM外圍配置故障。

        2.4.3.2 SDRAM 芯片故障

        SDRAM 芯片故障包括SDRAM 芯片本身故障和焊接問題。

        將模塊返回相關(guān)廠所后進(jìn)行三維焊點(diǎn)檢測(cè)檢查,發(fā)現(xiàn)部分焊點(diǎn)開裂。對(duì)SDRAM 芯片重新焊接后進(jìn)行檢測(cè),故障排除。

        因此,光纖網(wǎng)絡(luò)模塊故障原因定位為SDRAM芯片脫焊。

        3 結(jié)語

        光纖網(wǎng)絡(luò)模塊機(jī)上報(bào)故且串口無輸出的故障原因是由于模塊內(nèi)部SDRAM 芯片脫焊故障,程序無法正常運(yùn)行,從而導(dǎo)致串口不能正常輸出。SDRAM 作為模塊程序執(zhí)行時(shí)的內(nèi)部緩存,脫焊后將導(dǎo)致光纖網(wǎng)絡(luò)模塊無法正常啟動(dòng)。

        參考文獻(xiàn)

        [1]鄧榮,唐林.基于改進(jìn)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的光纖通信故障數(shù)據(jù)的自動(dòng)識(shí)別[J].激光雜志,2016,37(6):142-146.

        [2]馬成鵬.光纖網(wǎng)絡(luò)光纜故障點(diǎn)查找方法[J].云南電力技術(shù),2015,43(S1):88-90.

        [3]陳才金.光纖網(wǎng)絡(luò)常見故障分析[J].中國有線電視,2009(5):488.

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