日本東京工業(yè)大學(xué)開發(fā)出基于碳納米管薄膜的柔性太赫茲成像儀，此成像儀經(jīng)過微調(diào)可以使得太赫茲檢測(cè)器的性能變得最優(yōu)。新型太赫茲成像儀基于的是化學(xué)可調(diào)整的半導(dǎo)電的碳納米管薄膜。研究人員利用一種被稱為“離子液體門極化”（Liquid ionic gating）的技術(shù)（一種調(diào)整載流子特性的技術(shù)），來對(duì)30 μm厚的碳納米管薄膜制成的太赫茲檢測(cè)器性能的相關(guān)關(guān)鍵因素進(jìn)行高度控制。