陳曉艷,孫 良,褚猛麗

(天津科技大學(xué)電子信息與自動(dòng)化學(xué)院,天津 300222)

嵌入式電阻抗測(cè)量系統(tǒng)研究*

陳曉艷*,孫 良,褚猛麗

(天津科技大學(xué)電子信息與自動(dòng)化學(xué)院,天津 300222)

為提高阻抗測(cè)量的便捷性及數(shù)字化應(yīng)用,基于A(yíng)RM架構(gòu)的S3C2440處理器和Linux3.0.4內(nèi)核,研發(fā)了一套嵌入式電阻抗測(cè)量系統(tǒng)。系統(tǒng)采用AD5933作為阻抗傳感器,利用I2C通信協(xié)議實(shí)現(xiàn)AD5933與S3C2440處理器之間的數(shù)據(jù)通訊,開(kāi)發(fā)QT用戶(hù)界面實(shí)現(xiàn)測(cè)量結(jié)果的顯示,通過(guò)操作觸摸屏實(shí)現(xiàn)阻抗參數(shù)的采集、顯示、保存及曲線(xiàn)繪制等功能。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明圖像重建質(zhì)量較好,信噪比達(dá)65.6 dB,驗(yàn)證了系統(tǒng)軟硬件設(shè)計(jì)的可靠性與穩(wěn)定性。該研究有助于推動(dòng)阻抗測(cè)量技術(shù)在數(shù)字化醫(yī)療及臨床應(yīng)用的發(fā)展。

電阻抗成像;嵌入式;AD5933;QT

生物醫(yī)學(xué)電阻抗斷層成像EIT(Electrical Impedance Tomography)是繼形態(tài)、結(jié)構(gòu)成像之后的一種新型無(wú)損傷醫(yī)學(xué)成像技術(shù)[1-3]。與傳統(tǒng)的成像技術(shù)相比,具有低成本、重復(fù)利用、無(wú)損傷、醫(yī)學(xué)圖像監(jiān)護(hù)等優(yōu)勢(shì),是當(dāng)今生物醫(yī)學(xué)工程學(xué)的重要研究課題之一。它利用不同組織、器官在不同生理、病理期的阻抗特性(電阻或電導(dǎo))差異,實(shí)現(xiàn)疾病的診斷及監(jiān)測(cè)[4-5]。目前,國(guó)內(nèi)外學(xué)者圍繞人體腦部[6]、胸部[7-8]、腹部[9]及乳腺[10]等感興趣區(qū)(Region Of Interesting)進(jìn)行深入研究,并取得一定成果。

目前,電阻抗測(cè)量系統(tǒng)大多以FPGA[11-12]、DSP[13]或PXI[14]總線(xiàn)控制器作為阻抗數(shù)據(jù)采集核心,被測(cè)數(shù)據(jù)通過(guò)串口或USB口上傳至計(jì)算機(jī),實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的處理及圖像的重建。但在當(dāng)前智能化數(shù)字化醫(yī)療的發(fā)展需求下,通過(guò)計(jì)算機(jī)屏幕將圖像顯示出來(lái)仍存在著移動(dòng)與攜帶上的不便。因此本文研究一套基于嵌入式系統(tǒng)的電阻抗測(cè)量系統(tǒng),通過(guò)在測(cè)量端實(shí)現(xiàn)阻抗參數(shù)的采集、處理與顯示,實(shí)現(xiàn)了測(cè)量與顯示一體化的便攜式阻抗測(cè)量系統(tǒng)。

1 硬件電路

本系統(tǒng)以ARM架構(gòu)S3C2440處理器為主控制器。首先通過(guò)I2C協(xié)議實(shí)現(xiàn)處理器與AD5933之間通訊,然后通過(guò)觸摸屏上的功能按鍵完成阻抗參數(shù)的測(cè)量,并顯示測(cè)量結(jié)果,最終在QT平臺(tái)繪制數(shù)據(jù)曲線(xiàn)。圖1所示為嵌入式測(cè)量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。

圖1 嵌入式測(cè)量系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖

本文構(gòu)建了八電極嵌入式EIT系統(tǒng),主控制器通過(guò)I2C總線(xiàn)控制每個(gè)電極,每個(gè)電極采用單片AD5933實(shí)現(xiàn)激勵(lì)與測(cè)量。該系統(tǒng)的主要模塊有電源模塊、信號(hào)調(diào)理模塊、I2C通信模塊、數(shù)據(jù)采集模塊、同步時(shí)鐘模塊、串口通信模塊等。

1.1 信號(hào)調(diào)理模塊

AD5933通過(guò)片內(nèi)相位累加器(DDS)產(chǎn)生正弦激勵(lì)信號(hào)注入被測(cè)場(chǎng)域,并通過(guò)片上ADC測(cè)量邊界電壓,然后經(jīng)片上DSP進(jìn)行離散傅里葉變換(DFT)處理,最終得到實(shí)部(R)數(shù)據(jù)和虛部(I)數(shù)據(jù)。激勵(lì)電壓是由AD5933輸出正弦交流電壓與直流偏置電壓疊加而成,激勵(lì)電壓的幅值根據(jù)數(shù)據(jù)手冊(cè)選用1.98Vp-p時(shí),輸出的直流偏置電壓為1.48 V,而AD5933的電流-電壓(I-V)放大器偏置電壓VDD/2=1.65 V,因此存在電位差,導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確。為解決此問(wèn)題,本系統(tǒng)采用以下措施,消除直流分量對(duì)阻抗測(cè)量精度的影響。首先在對(duì)VOUT輸出電壓進(jìn)行高通濾波,消除直流分量影響,保證與測(cè)量端偏置電壓一致,采用低輸出阻抗CMOS運(yùn)算放大器AD8606進(jìn)行電壓跟隨,以消除輸出阻抗對(duì)測(cè)量的影響。其次在VIN端外部設(shè)計(jì)I-V轉(zhuǎn)換器,提高I-V轉(zhuǎn)換精確度。該設(shè)計(jì)不僅避免極化現(xiàn)象帶來(lái)的測(cè)量誤差,而且擴(kuò)大了AD5933內(nèi)部ADC的動(dòng)態(tài)范圍,消除了偏置電流、失調(diào)電壓的影響,優(yōu)化了電路。

1.2 數(shù)據(jù)采集模塊

本系統(tǒng)是八電極電阻抗測(cè)量系統(tǒng),在1個(gè)采樣周期里,激勵(lì)芯片的激勵(lì)端VOUT輸出一路信號(hào),經(jīng)過(guò)電極注入被測(cè)場(chǎng)域后,由其余芯片的測(cè)量端采集響應(yīng)電壓。若第1號(hào)電極作為激勵(lì)端,其余7個(gè)電極則作為測(cè)量端。在下一采樣周期里,第2號(hào)電極作為激勵(lì)電極,其他電極測(cè)量,又測(cè)得7組數(shù)據(jù)。依此類(lèi)推,按照電極序號(hào)依次采集,直至第八號(hào)電極作為激勵(lì),其余電極完成測(cè)量為止,在每個(gè)采樣周期里,電極的工作模式是唯一的,系統(tǒng)最終完成八電極的56組數(shù)據(jù)采集過(guò)程。嵌入式電阻抗測(cè)量系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)N(N-1)組數(shù)據(jù)測(cè)量,其中N為電極個(gè)數(shù),利用這些所測(cè)量數(shù)據(jù)可進(jìn)行圖像重建。圖2所示為電極數(shù)據(jù)采集簡(jiǎn)化圖。

系統(tǒng)通過(guò)ADG711內(nèi)置4個(gè)獨(dú)立開(kāi)關(guān),選通每個(gè)電極工作狀態(tài),降低了激勵(lì)信號(hào)與測(cè)量信號(hào)之間的相互影響,使得測(cè)量的數(shù)據(jù)更加精確。

圖2 電極數(shù)據(jù)采集模塊簡(jiǎn)化圖

1.3 同步時(shí)鐘輸出模塊

為保證八電極同步完成數(shù)據(jù)采集過(guò)程,采用12路AD9520-5芯片作為同步時(shí)鐘,即可實(shí)現(xiàn)8片AD5933的同步控制。AD9520-5存在2種工作模式,模式一為低頻模式,模式二為高頻模式。由于A(yíng)D5933系統(tǒng)時(shí)鐘典型值為16.776 MHz,系統(tǒng)選用AD9520-5低頻模式。AD9520-5沒(méi)有內(nèi)部VCO,通過(guò)外接晶振并經(jīng)過(guò)AD9520內(nèi)部DIV分頻,設(shè)置分頻系數(shù)以得到AD5933的激勵(lì)頻率,并確保了各路時(shí)鐘的同步輸出且輸出頻率相同。

AD9520內(nèi)置EEPROM大小為512 byte,在斷電時(shí)用來(lái)存儲(chǔ)用戶(hù)自定義寄存器文件,此文件用來(lái)提供上電和芯片復(fù)位時(shí)的默認(rèn)設(shè)置。為了保證啟動(dòng)時(shí)正確加載EEPROM,在硬件電路外部加載RESET鍵(高-低-高脈沖信號(hào)),對(duì)AD9520-5起到及時(shí)復(fù)位的作用,保證數(shù)據(jù)采集過(guò)程更加準(zhǔn)確。

2 軟件設(shè)計(jì)

2.1 主程序設(shè)計(jì)

系統(tǒng)操作流程為:首先系統(tǒng)初始化,初始化后進(jìn)入QT平臺(tái)操作界面,通過(guò)操作界面來(lái)設(shè)置掃描參數(shù)、時(shí)鐘頻率、設(shè)置棧指針,然后選通電極工作模式,執(zhí)行命令控制AD5933進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,采集完成之后進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,最終在顯示區(qū)呈現(xiàn)當(dāng)前所測(cè)阻抗實(shí)部、虛部及阻抗模值及相位信息,測(cè)量結(jié)果保存在FLASH。系統(tǒng)的初始化主要包括串口初始化、I2C接口初始化、USB接口初始化、SDRAM初始化、FLASH初始化以及LCD的初始化,系統(tǒng)主程序操作流程圖如圖3所示。

圖3 主程序數(shù)據(jù)采集流程圖

圖4 I2C總線(xiàn)的位傳輸

2.2 I2C數(shù)據(jù)通訊

I2C總線(xiàn)有兩條總線(xiàn)線(xiàn)路,一條是串行數(shù)據(jù)線(xiàn)(SDA),一條是時(shí)鐘線(xiàn)(SCL)。SDA傳輸數(shù)據(jù)時(shí)SCL必須為高電平并保持穩(wěn)定,SDA上的數(shù)據(jù)只能在SCL為低電平期間變化,如圖4所示。I2C總線(xiàn)在傳輸AD5933采集的數(shù)據(jù)過(guò)程中,通過(guò)3種不同類(lèi)型傳輸信號(hào)變化來(lái)判斷數(shù)據(jù)傳輸?shù)倪M(jìn)度。

在八電極嵌入式EIT系統(tǒng)中,每片AD5933通過(guò)I2C兼容接口協(xié)議與S3C2440處理器進(jìn)行通訊。由于A(yíng)D5933不存在配置I2C設(shè)備地址的硬件接口,所以I2C總線(xiàn)與AD5933進(jìn)行數(shù)據(jù)通信時(shí),需要利用S3C2440處理器GPIO模擬8路I2C總線(xiàn)通信協(xié)議。GPIO中每2個(gè)I/O口與一片AD5933構(gòu)成通訊通道,利用I2C總線(xiàn)完成處理器對(duì)AD5933的控制。圖5為I2C數(shù)據(jù)通訊流程圖。

圖5 I2C數(shù)據(jù)通訊流程圖

圖6 QT阻抗分析軟件主界面

2.3 QT界面開(kāi)發(fā)

QT作為跨平臺(tái)的C++GUI庫(kù)開(kāi)發(fā)出圖像界面庫(kù)。QT中不同類(lèi)型對(duì)象信號(hào)與槽函數(shù)之間的關(guān)聯(lián),通過(guò)調(diào)用QObject對(duì)象的connect函數(shù)實(shí)現(xiàn)。QT中信號(hào)和槽機(jī)制替代回調(diào)技術(shù)以完成對(duì)象之間的通信,槽是一個(gè)可以被調(diào)用處理特定信號(hào)的函數(shù)。通?？梢约尤胱远x的槽,本系統(tǒng)中通過(guò)加入自定義的槽,開(kāi)發(fā)出屬于本系統(tǒng)的用戶(hù)界面如圖6所示,從而更好處理目的信號(hào)。

本文設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)QT平臺(tái)用戶(hù)界面,通過(guò)QT界面中設(shè)置鍵‘AD5933set’為8片AD5933初始化如圖7所示,完成阻抗數(shù)據(jù)的采集之后,點(diǎn)擊Start鍵調(diào)用采集得到的數(shù)據(jù)并繪制幅值曲線(xiàn)。界面中點(diǎn)擊Set鍵中的‘AD933set’對(duì)八片AD5933進(jìn)行初始化設(shè)置,由于設(shè)置參數(shù)差異以及采集數(shù)據(jù)量的不同,系統(tǒng)初始化時(shí)間就會(huì)有所不同。

系統(tǒng)將數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集完成后,得到一組實(shí)部數(shù)值和虛部數(shù)值,校準(zhǔn)之后,算出各掃描頻率點(diǎn)的幅值和相位,便于圖像重建算法調(diào)用。

圖7 AD5933的初始化

3 實(shí)驗(yàn)及結(jié)果

系統(tǒng)實(shí)物如圖8所示。被測(cè)對(duì)象選用直徑15 cm、高25 cm的圓柱水槽,水槽內(nèi)盛有電導(dǎo)率0.36 S/m、溫度15 ℃的生理鹽水,直徑4 cm有機(jī)玻璃棒作為成像目標(biāo),水槽四周均勻分布8個(gè)直徑4 mm的金屬鈦圓形點(diǎn)電極。

圖8 嵌入式電阻抗測(cè)量系統(tǒng)

3.1 系統(tǒng)性能測(cè)試

系統(tǒng)信噪比SNR(Signal to Noise Ratio)進(jìn)行測(cè)試,按式(1)計(jì)算

(1)

3.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果

本系統(tǒng)在COMSOL軟件環(huán)境建立了仿真模型,求解得到靈敏度矩陣,將計(jì)算得到的幅值與靈敏度矩陣導(dǎo)入MATLAB編寫(xiě)的高斯-牛頓圖像重建算法,進(jìn)行成像。表1中4幅圖展示有機(jī)玻璃棒在不同位置的成像效果。

表1 系統(tǒng)成像效果

從表1可以看出,本嵌入式阻抗測(cè)量系統(tǒng)能準(zhǔn)確反映了有機(jī)玻璃棒的形狀、大小及位置,可以看出聚焦性較好、偽影少、成像質(zhì)量較高。

4 結(jié)論

本文構(gòu)建了AD5933的八電極嵌入式阻抗測(cè)量系統(tǒng),通過(guò)數(shù)據(jù)采集與開(kāi)發(fā)QT界面,實(shí)現(xiàn)了測(cè)量與顯示的一體化,反映測(cè)量數(shù)據(jù)的變化。經(jīng)過(guò)建模、正問(wèn)題求解及重建圖像算法,最終實(shí)現(xiàn)了被測(cè)場(chǎng)域內(nèi)物體的真實(shí)分布,驗(yàn)證了系統(tǒng)的可行性與可靠性。此外,該系統(tǒng)也可利用AD5933掃頻功能,任選2個(gè)電極單獨(dú)工作,實(shí)現(xiàn)100 kHz以下二端口阻抗數(shù)據(jù)的測(cè)量。本系統(tǒng)具有便攜、成本低、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn),但受S3C2440處理器的內(nèi)存及計(jì)算資源的約束,在嵌入式系統(tǒng)上無(wú)法實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的重建算法,仍需通過(guò)計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)。此外,該系統(tǒng)由一層8電極(1×8)搭建而成,數(shù)據(jù)信息量相對(duì)較少且限于二維成像。將來(lái)探究中可以增加電極數(shù)量與電極層數(shù),如一層16電極(1×16)模式,數(shù)據(jù)量由原來(lái)的7×8=56增加到15×16=240,從而很大程度上改善圖像重建質(zhì)量;兩層8電極(2×8)模式、兩層16電極(2×16)模式實(shí)現(xiàn)三維斷層截面成像,不僅提高成像質(zhì)量而且豐富被測(cè)物體內(nèi)部阻抗信息,使得嵌入式阻抗測(cè)量系統(tǒng)在未來(lái)科研與臨床應(yīng)用中得到充分的發(fā)揮,將測(cè)量、顯示與成像的功能集成于一體,實(shí)現(xiàn)電阻抗成像系統(tǒng)的便攜式和智能化。

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Research on Embedded Electrical Impedance Measurement System*

CHENXiaoyan*,SUNLiang,CHUMengli

(College of Information and Automation,Tianjin University of Science and Technology,Tianjin 300222,China)

Basedon S3C2440 processor and Linux3.0.4kernel,a set of embedded electrical impedance measurement system is developed based on ARM architecture,to improve the convenience and digital applications of impedance measurement. Using AD5933 as impedance sensor,through the I2C communication protocol the data communication between AD5933 and S3C2440 processor are achieved. The development of QT user interface achieves the display of measurement results,through the operation of touch screen to achieve the impedance parameters of the collection,display,store and curve drawing and other functions. The imaging results indicate that image reconstruction quality is good,and the SNR is 65.6 dB,and verify this system’s stability and reliability of software and hardware in design. This study can contribute to promote the application of digital medical technology in the clinical application of impedance measurement technology.

electrical impedance tomography;ARM;AD5933;QT

項(xiàng)目來(lái)源:國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目(61301246);天津市應(yīng)用基礎(chǔ)及前沿技術(shù)研究計(jì)劃項(xiàng)目(12JCYBJC19300)

2016-03-15 修改日期:2016-04-15

C:7310J

10.3969/j.issn.1005-9490.2017.02.034

TP212.14

A

1005-9490(2017)02-0430-05