張志浩++趙會(huì)友
1 前言
Al4SiC4是一種Al-Si-C體系三元化合物,具有低密度、高熔點(diǎn)、高抗折強(qiáng)度以及高硬度,日益成為一種極具前景的高溫結(jié)構(gòu)材料[1]。另外,由于其優(yōu)異的抗氧化性能,還可以作為含碳耐火材料的高效抗氧化添加劑。Al4SiC4氧化過(guò)程中會(huì)生成氧化鋁、莫來(lái)石,阻塞高溫下耐火材料表面生成的微孔,從而提高耐火材料的抗氧化性能。如此有前景的一種添加劑,尚未有報(bào)道能做制備得到大量高純度產(chǎn)品,也少有其抗氧化性能的相關(guān)研究。本文中,筆者用金屬鋁粉、硅粉和石墨合成了高純度單相六角形碳硅化鋁晶體片,研究了Al4SiC4在800℃到1400℃時(shí)氧化層的微觀結(jié)構(gòu)變化。
2 實(shí)驗(yàn)部分
本實(shí)驗(yàn)使用金屬鋁粉(≥99.99%),硅粉(≥99.9%)和石墨(≥99.85%)作為原材料,以摩爾比4:1:4混合,加入酒精后球磨24h,然后80℃下烘干24h。加入質(zhì)量分?jǐn)?shù)1%的酚醛樹脂作為固化劑,以20MPa的壓力將試樣壓制成圓柱形試樣,在200℃下固化6h,固化后的試樣在氬氣保護(hù)下1800℃高溫煅燒3h。
將制備所得的碳硅化鋁晶體研磨成平均粒徑為30um的粉末,選取800℃、1000℃、1100℃、1200℃、1300℃和1400℃進(jìn)行了氧化實(shí)驗(yàn)。
氧化前后的碳硅化鋁粉末的物相分析在X射線衍射儀上進(jìn)行,氧化前后的的晶體表面形貌用掃描電鏡進(jìn)行分析。
3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果及討論
3.1 單相、六方片狀A(yù)l4SiC4晶體的制備
1800℃煅燒3h后所得產(chǎn)物的XRD圖譜中可知,產(chǎn)物中只有碳硅化鋁相,說(shuō)明本實(shí)驗(yàn)制備得到了單相碳硅化鋁晶體。
為了制備得到Al4SiC4,前人嘗試過(guò)采用單質(zhì)(Al、Si和C)、氧化物(SiO2, Al2O3)作為原料,在氬氣氣氛下加熱制備得到了單相、微米級(jí)碳硅化鋁晶體本實(shí)驗(yàn)中,我們制備得到了毫米級(jí)的Al4SiC4晶體片,具有明顯的六邊形晶體結(jié)構(gòu),如圖1所示。
3.2 氧化產(chǎn)物的物相及形貌
(1)氧化產(chǎn)物。為了更好的了解Al4SiC4的氧化過(guò)程,對(duì)不同溫度下氧化產(chǎn)物的物相進(jìn)行了XRD分析。由分析可知,只有當(dāng)氧化溫度高于1100℃時(shí),體系中才會(huì)生成Al2O3,此時(shí),Al4SiC4仍是主相。隨著溫度的升高,Al2O3相的衍射峰強(qiáng)度逐漸增強(qiáng),而且,氧化溫度低于1300℃時(shí),沒(méi)有其他新相生成。在1300℃的衍射峰中,可以同時(shí)檢測(cè)到Al2O3和SiO2的生成。當(dāng)氧化溫度高于1400℃時(shí),氧化產(chǎn)物中幾乎不再有Al4SiC4相,此時(shí),主要物相為Al2O3、莫來(lái)石和SiO2。
(2)氧化產(chǎn)物的表面形貌。圖2是800-1400℃下氧化2小時(shí)后產(chǎn)物的表面形貌。從圖中可以看到,當(dāng)氧化溫度為800℃時(shí),晶體表面沒(méi)有任何變化。但是,當(dāng)氧化溫度為1000℃時(shí),在晶體表面生成了一層致密的納米顆粒。EDS分析可知該納米顆粒層為Al2O3,由此我們可以推知,在Al4SiC4的氧化過(guò)程的初始階段,Al首先擴(kuò)散到反應(yīng)界面,與O原子結(jié)合生成Al2O3。從晶體學(xué)角度來(lái)講,Al4SiC4可以認(rèn)為是Al4C3層和SiC層沿[0001]方向堆垛而成[2],Al-C鍵的鍵能低于Si-C鍵的鍵能,因此,Al-C鍵更容易斷裂,形成自由的Al原子。另一方面,1000℃下氧化鋁的摩爾吉布斯生成自由能為-413kJ/mol,而同樣條件下,氧化硅的摩爾吉布斯生成自由能為-98kJ/mol[3]。由此可以推斷,Al會(huì)首先從晶體結(jié)構(gòu)中擴(kuò)散到晶胞表面與O原子反應(yīng),生成Al2O3。
隨著氧化溫度的升高,點(diǎn)狀的氧化鋁晶核逐漸長(zhǎng)大成楔形或者薄片狀氧化鋁晶粒,當(dāng)氧化溫度達(dá)到1200℃甚至更高時(shí),氧化顆粒繼續(xù)長(zhǎng)大使得樣品表面變得粗糙多孔。根據(jù)氧化方程式,每消耗一個(gè)單位體積的Al4SiC4,便會(huì)生成0.844單位體積的氧化鋁和0.449單位體積的氧化硅,當(dāng)氧化溫度低于氧化硅的生成溫度時(shí),氧化鋁的理論生成量不足以覆蓋試樣表面。另外,每一種晶體都有其特定的生長(zhǎng)方向,只要氧化鋁晶體的生長(zhǎng)方向不平行于Al4SiC4晶體表面,晶體表面在氧化過(guò)程中就一定會(huì)生成孔洞。
當(dāng)氧化溫度為1400℃時(shí),試樣表面出現(xiàn)了兩個(gè)明顯的變化:孔洞深度減小,并不再是直達(dá)未氧化的晶體表面;部分區(qū)域出現(xiàn)了明顯的非晶相,在非晶相中有針狀莫來(lái)石生成。這是因?yàn)殡S著氧化溫度的提高,逐漸生成了氧化硅,并進(jìn)一步與已經(jīng)生成的氧化鋁生成共熔相。新生成的氧化硅部分進(jìn)入共熔相中,從孔洞中向外擴(kuò)散,堵塞部分孔洞,并在部分區(qū)域形成了非晶相。在氧化后的降溫過(guò)程中,部分氧化鋁和氧化硅以針狀莫來(lái)石相析出。
4 結(jié)論
本實(shí)驗(yàn)制備得到了毫米級(jí)、六邊形Al4SiC4晶體片。通過(guò)對(duì)不同溫度下氧化產(chǎn)物表面的形貌分析了Al4SiC4晶體的抗氧化機(jī)理。
參考文獻(xiàn):
[1]K.Inoue,S.Mori,A.Yamaguchi,Thermal conductivity and temperature dependence of linear thermal expansion coefficient of Al4SiC4 sintered bodies prepared by pulse electronic current sintering, Journal of the Ceramic Society of Japan 111(1293) (2003)348-351
[2]T.Liao,J.Y.Wang,Y.C.Zhou,Atomistic Deformation Modes and Intrinsic Brittleness of Al4SiC4:A First-Principles Investigation, Physical Review B,74,174112(2006).
[3]Y.Zhou,Ceramic Materials,Press of Harbin Institute of Technology,Harbin,1996.