左全生
(常州工學(xué)院電氣與光電工程學(xué)院,江蘇常州,213002)
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集成運(yùn)放性能的簡(jiǎn)易測(cè)試
左全生
(常州工學(xué)院電氣與光電工程學(xué)院,江蘇常州,213002)
摘要:有時(shí)集成運(yùn)放線路板剛開始工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生不正常的假象。這主要是由于線路工作電流小,線路板的插孔氧化后會(huì)產(chǎn)生虛假連接所致。電壓跟隨器是有效地測(cè)試集成運(yùn)放線路板的簡(jiǎn)易方法。
關(guān)鍵詞:集成運(yùn)放;電壓跟隨器;測(cè)試
指導(dǎo)學(xué)生做集成運(yùn)放實(shí)驗(yàn)時(shí),開始時(shí)總會(huì)要求學(xué)生將集成運(yùn)放線路調(diào)零。如果不能調(diào)零就不能繼續(xù)做下去。只有解決了調(diào)零的問題才能繼續(xù)做下去。
如果不能調(diào)零的話,一般首先想到的問題是線路接錯(cuò)了或電源電壓沒有加上。也確實(shí)有學(xué)生把線路接錯(cuò)了或電源電壓沒有加上的情況。
實(shí)驗(yàn)中也發(fā)現(xiàn)線路接對(duì)了、電源電壓也加上了,但是集成運(yùn)放線路仍不能調(diào)零。
如果線路沒有接錯(cuò),則會(huì)認(rèn)為運(yùn)放性能不好,或線路板有問題。
但是有時(shí)候,過一段時(shí)間后,或換接不同的線路后,該運(yùn)放或線路板又能調(diào)零了。這說明有的集成運(yùn)放線路板剛開始工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生不正常的假象。
集成運(yùn)放線路板剛開始工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生不正常的假象的原因,可能是學(xué)生在同一塊實(shí)驗(yàn)線路板上要做幾個(gè)實(shí)驗(yàn),因此實(shí)驗(yàn)線路板上有許多插孔以方便學(xué)生換接不同的線路做實(shí)驗(yàn)。
這些插孔會(huì)氧化,影響線路的連接效果。而集成運(yùn)放線路的工作電流較小,一般只有微安級(jí)。如果插孔有氧化電阻,則集成運(yùn)放線路板的連線就會(huì)成為虛假連接。所以集成運(yùn)放線路板剛開始工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生不正常的假象。但是過一段時(shí)間后,或換接不同的線路后,該插孔的氧化現(xiàn)象會(huì)得到緩解,這時(shí)該運(yùn)放或線路板又能調(diào)零了。所以,集成運(yùn)放線路板產(chǎn)生這種不正常的假象常常發(fā)生在實(shí)驗(yàn)剛開始的時(shí)候。
由于現(xiàn)在學(xué)生的數(shù)量比較多,實(shí)驗(yàn)室安排很緊張。如何快速測(cè)試集成運(yùn)放或線路板的性能是實(shí)際教學(xué)過程中迫切需要的。
在實(shí)踐中我們發(fā)現(xiàn)電壓跟隨器電路能簡(jiǎn)易測(cè)試集成運(yùn)放或線路板的性能。
上圖所示就是電壓跟隨器線路,它和一般運(yùn)放線路不同的是線路電壓比較高,線路電流比較大,它不經(jīng)調(diào)零就能正常工作。
實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)如下:
在實(shí)驗(yàn)中,只要測(cè)量幾個(gè)電壓就能判斷集成運(yùn)放或線路板的性能的好壞。
參考文獻(xiàn)
[1] 康華光著 電子技術(shù)基礎(chǔ)(第六版) 北京:高等教育出版社2013
[2] 郭建江主編 電工電子實(shí)驗(yàn)應(yīng)用教程,東南大學(xué)出版社,2010年
A Simple Test for Integrated Operational Amplifier
Zuo Quansheng
(School of Electrical and Photoelectric Engineering,Changzhou Institute of Technology,Changzhou 213002)
Abstract:Not only it will produce hollow connexion after connector in the PCB is oxidated,but also working current is so small.Sometimes it is in bad working order for the PCB of integrated circuit.voltage follower is a simple test circuit for integrated amplifier.
Keywords:integrated operational amplifier;voltage follower;test
作者簡(jiǎn)介
左全生,男,副教授,1962年4月生,主要從事電工技術(shù)與電子技術(shù)的教學(xué)與科研工作。