陸迪 孔德龍 孫向博
摘 要:Si(硅)是一種比較常見(jiàn)的半導(dǎo)體材料,在許多個(gè)領(lǐng)域之中得到了廣泛的應(yīng)用,如太陽(yáng)能電池、光電材料等,并在這些領(lǐng)域之中發(fā)揮著非常重要的作用。但是,因?yàn)榭諝庹凵湎禂?shù)與硅的折射系數(shù)兩者之間存在著非常大的差別,從而導(dǎo)致光波在界面處出現(xiàn)了比較嚴(yán)重的反射損失。為降低界面反射損失,必須在硅半導(dǎo)體材料的表面加鍍一層漸變層材料,且該漸變層材料的折射率應(yīng)當(dāng)處于1.0~3.5之間。TiO2,即鈦白粉,其折射率為2.73,且具有成本低、耐腐蝕、無(wú)毒、光催化活性較高、化學(xué)性能穩(wěn)定以及氧化還原電位高等一系列的優(yōu)勢(shì),因此,其被看作是一種十分理想的光催化劑。
關(guān)鍵詞:TiO2/Si復(fù)合材料 制備 性能 光催化
中圖分類號(hào):TM912.9 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A 文章編號(hào):1672-3791(2016)06(b)-0061-02
近年來(lái),復(fù)合型催化材料憑借著其所具有的表面活性高、層間距大、孔徑大以及表面積較大等一系列優(yōu)勢(shì)性能,在光學(xué)元件、電化學(xué)、光催化氧化等方面上展示出了良好的應(yīng)用潛力與廣闊的應(yīng)用前景,且已經(jīng)成為了光催化材料領(lǐng)域的關(guān)注焦點(diǎn)與研究熱點(diǎn)。該篇論文通過(guò)開(kāi)展實(shí)驗(yàn),對(duì)TiO2/Si復(fù)合材料的制備及其性能進(jìn)行了分析。
1 實(shí)驗(yàn)材料
首先,該研究所用實(shí)驗(yàn)儀器及設(shè)備主要包括:(1)日本日立株式會(huì)社生產(chǎn)的掃描電子顯微鏡(S4800型);(2)德國(guó)布魯克AXS公司生產(chǎn)的X射線衍射儀(D8型);(3)北京暢拓科技公司生產(chǎn)的電化學(xué)工作站(CHFXM500W 型);(4)北京普析通用儀器公司生產(chǎn)的紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)(U1901型)。
其次,該研究所用實(shí)驗(yàn)試劑主要包括:(1)鈦酸四丁酯;(2)丙酮;(3)氯仿;(4)乙醇;(5)37%濃鹽酸;(6)去離子水;(7)單晶硅。
2 實(shí)驗(yàn)方法
首先,TiO2/Si復(fù)合材料的制備方法:(1)對(duì)單晶硅片進(jìn)行切割,將其制成所需要的性狀、尺寸,然后使用乙醇、丙酮、氯仿以及水超聲對(duì)其進(jìn)行清洗,清洗時(shí)間約為5 min;(2)將硅片放置在80 ℃的熱臺(tái)上進(jìn)行15 min的親水處理,然后使用氮?dú)獍呀?jīng)過(guò)處理的硅片吹干、待用;(3)配制乙醇溶液,濃度為0.01 mol/L鈦酸四丁酯,之后把硅片浸入乙醇溶液之后使其生長(zhǎng),一定時(shí)間時(shí)候?qū)⒐杵〕龃蹈桑椭瞥闪吮砻娓接蠺iO2的硅片;(4)將附有TiO2的硅片樣品垂直浸入反應(yīng)釜中,反應(yīng)釜中裝有混合溶液,即1 mL鈦酸四丁酯、2 mL濃鹽酸、2 mL去離子水,之后對(duì)其進(jìn)行加熱,反應(yīng)釜中溶液溫度至130 ℃為止,并保持4 h、8 h或者16 h,之后將其取出,使用氮?dú)獯蹈伞⒋谩?/p>
其次,TiO2/Si復(fù)合材料的性能分析方法:第一,光電性能的測(cè)驗(yàn)。其光電性能主要通過(guò)對(duì)TiO2/Si復(fù)合材料實(shí)施光電流測(cè)試來(lái)進(jìn)行評(píng)估。具體如下,對(duì)電極為鉑片,工作電極為TiO2/Si復(fù)合材料,電解液是0.5 mol的硫酸鈉,光照光源為氨燈,使用電化學(xué)工作站,對(duì)TiO2/Si復(fù)合材料進(jìn)行光電性能評(píng)估;第二,光催化性能的測(cè)驗(yàn)。其光催化活性主要通過(guò)對(duì)亞甲基藍(lán)染料的降解來(lái)進(jìn)行評(píng)估。具體如下,配制濃度為0.000 01 mol/L的亞甲基藍(lán)溶液,并將制備出的TiO2/Si復(fù)合材料放進(jìn)石英燒杯,之后在石英燒杯中加入5 mL染料亞甲基藍(lán)溶液,在氨燈持續(xù)照射的狀態(tài)之下,每隔1 h就檢測(cè)一次樣品,檢測(cè)儀器為紫外可見(jiàn)光譜儀,檢測(cè)內(nèi)容為亞甲基藍(lán)分子在663 nm處吸收峰的最大值,通過(guò)觀察染料亞甲基藍(lán)溶液的濃度變化,體現(xiàn)出TiO2/Si復(fù)合材料的光催化性能。
3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與討論
通過(guò)開(kāi)展實(shí)驗(yàn)研究,對(duì)TiO2/Si復(fù)合材料的性能進(jìn)行分析,發(fā)現(xiàn)其主要具備如下性能。
3.1 光電性能
該實(shí)驗(yàn)檢測(cè)TiO2/Si復(fù)合材料的光電性能主要通過(guò)測(cè)試TiO2/Si復(fù)合材料樣品的光電流。如圖1所示,在TiO2/Si復(fù)合材料樣品表面無(wú)光照的前提下,TiO2半導(dǎo)體材料中的電子被局限在價(jià)帶中進(jìn)行運(yùn)動(dòng),所以在回路之中電子沒(méi)有出現(xiàn)定向運(yùn)動(dòng),也沒(méi)有產(chǎn)生電流。而在TiO2/Si復(fù)合材料樣品表面有光照的前提下,電子受到了激發(fā),從價(jià)帶直接轉(zhuǎn)移到了導(dǎo)帶,所以在回路之中產(chǎn)生了電流。TiO2/Si復(fù)合材料表面的光電流也會(huì)隨著施加電壓的加大而增加,當(dāng)電壓到達(dá)1.5 V的時(shí)候,TiO2/Si復(fù)合材料表面的光電流就會(huì)達(dá)到15μA/cm3,而且未出現(xiàn)飽和區(qū),充分表明在光照條件下,該研究所制成的TiO2/Si復(fù)合材料樣品具有較高的電荷分離效率。
3.2 抗反射性能
TiO2/Si復(fù)合材料的抗反射性能主要通過(guò)積分球反射光譜進(jìn)行表征。從圖2可以看出,單純硅片的表面反射率大約為50%,在單純硅片表面復(fù)合TiO2后,其表面反射率降低到了10%。通過(guò)分析表面反射率降低的原因發(fā)現(xiàn),主要是因?yàn)門iO2的折射率為2.73,該折射率介于空氣折射率與硅的折射率之間,因此,在光從空氣進(jìn)入硅片的過(guò)程中,就會(huì)在表面的TiO2上出現(xiàn)一個(gè)漸變減緩的變化,也就是說(shuō),TiO2會(huì)作為一個(gè)比表面積較大的減反膜,起到減少入射光反射損失的效果。通過(guò)對(duì)光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,可以看出,TiO2/Si復(fù)合材料的抗反性能良好。
3.3 光催化性能
TiO2/Si復(fù)合材料的光催化活性主要通過(guò)對(duì)亞甲基藍(lán)染料的降解來(lái)進(jìn)行評(píng)估。由圖3可以看出,單品硅片對(duì)亞甲基藍(lán)染料有部分降解,但在處于相同時(shí)間的情況下,TiO2/Si復(fù)合材料對(duì)亞甲基藍(lán)染料的降解率明顯高于單純硅片對(duì)亞甲基藍(lán)染料的降解率。分析出現(xiàn)這種現(xiàn)象的原因,主要在于與單純硅片相比,TiO2/Si復(fù)合材料的比表面積更大、抗反性能更加優(yōu)越,因此TiO2/Si復(fù)合材料對(duì)光的吸收較多,也就是說(shuō)TiO2/Si復(fù)合材料的光催化性能更好。
4 結(jié)論
通過(guò)實(shí)驗(yàn)研究得出以下結(jié)論。
(1)TiO2/Si復(fù)合材料因?yàn)镻-n結(jié)效應(yīng),對(duì)光生電子-空穴對(duì)的復(fù)合起到了有效抑制的作用,從而使光電轉(zhuǎn)換效率得到了提高。
(2)與單品硅片相比,TiO2/Si復(fù)合材料的抗反射性能較好。
(3)因?yàn)門iO2/Si復(fù)合材料的比表面積較大、抗反性能良好、光電分離效率較高,因此,在模擬太陽(yáng)光條件下,對(duì)染料亞甲基藍(lán)溶液的催化降解能力較為理想。
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