姚 婷，梁成文，李凱揚(yáng)

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探測(cè)器溫度對(duì)非制冷紅外熱像儀人體測(cè)溫的影響與修正

姚 婷，梁成文，李凱揚(yáng)

（武漢大學(xué)物理科學(xué)與技術(shù)學(xué)院，湖北 武漢 430072）

非制冷紅外焦平面熱像儀用于人體測(cè)溫時(shí)，需要紅外熱像儀具有較高的測(cè)溫精度。而針對(duì)非制冷紅外熱像儀，隨著環(huán)境溫度以及吸收紅外輻射的增加，將會(huì)產(chǎn)生較為嚴(yán)重的溫度漂移現(xiàn)象，這會(huì)影響到紅外探測(cè)器的響應(yīng)特性，從而導(dǎo)致測(cè)溫精度受到一定的影響。為了消除這一影響，提出了一種新的校準(zhǔn)方法，該方法可以實(shí)現(xiàn)探測(cè)器溫度在10℃～50℃之間變化時(shí)對(duì)非制冷紅外熱像儀的高精度校準(zhǔn)。同時(shí)，對(duì)該校準(zhǔn)方法的效果進(jìn)行實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。結(jié)果表明：經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)后的紅外熱像儀，探測(cè)器溫度漂移對(duì)測(cè)溫精度的影響明顯降低。

非制冷紅外熱像儀；溫度校準(zhǔn)；溫度漂移

0 引言

非制冷紅外熱成像系統(tǒng)相對(duì)制冷型熱成像系統(tǒng)，有無(wú)需制冷、體積小、操作簡(jiǎn)單、高性能和低價(jià)位等諸多優(yōu)點(diǎn)[1]，在航空航天、軍事、工業(yè)和醫(yī)學(xué)等眾多領(lǐng)域都有非常廣泛的應(yīng)用價(jià)值。人體的發(fā)射率可達(dá)0.99以上，是一個(gè)良好的紅外輻射體。各器官的病變通常伴隨著局部的溫度升高或降低，這些溫度信息可通過(guò)熱傳導(dǎo)到體表被紅外熱像儀探測(cè)到。紅外熱像儀檢測(cè)到的紅外溫度圖像可以直觀地顯示出人體各部分的溫度細(xì)節(jié)[2]。醫(yī)用熱成像技術(shù)應(yīng)用于臨床診斷不僅能診斷出體表或接近體表的一些疾病，而且對(duì)深層器官的病變也能起到很好的診斷作用。為了能夠準(zhǔn)確的診斷出身體的病變信息，要求醫(yī)用熱像儀能夠準(zhǔn)確反映出人體表面的溫度分布狀況。這就對(duì)紅外熱像儀的測(cè)溫準(zhǔn)確性提出了較高要求。因此，必須對(duì)紅外熱像儀進(jìn)行嚴(yán)格的溫度校準(zhǔn)。

紅外熱像儀溫度校準(zhǔn)技術(shù)[3]是根據(jù)參考黑體源的溫度與紅外熱像儀數(shù)字輸出之間的關(guān)系，建立起熱像儀輸出與溫度曲線(xiàn)，參考黑體源的溫度定標(biāo)間隔越小，即標(biāo)定的點(diǎn)越多，則溫度測(cè)量越準(zhǔn)。針對(duì)非制冷紅外熱像儀，隨著環(huán)境溫度以及吸收紅外輻射的增加，將會(huì)產(chǎn)生較為嚴(yán)重的溫度漂移現(xiàn)象，這會(huì)影響到紅外探測(cè)器的響應(yīng)特性，從而導(dǎo)致測(cè)溫精度受到一定的影響。為了提高非制冷紅外熱像儀的測(cè)溫精度，需要分析溫度漂移對(duì)測(cè)溫的影響以及尋找漂移噪聲修正方法[4]。

范春利、孫戀軍、孫學(xué)金等[5-7]對(duì)探測(cè)器溫度對(duì)非制冷紅外熱像儀測(cè)溫的影響做了大量的研究，認(rèn)為對(duì)于非制冷紅外熱像儀來(lái)說(shuō)，探測(cè)器的溫度漂移對(duì)測(cè)溫的影響很大。楊幀、楊立、張艷超等[8-9]在研究了探測(cè)器溫度對(duì)非制冷紅外熱像儀測(cè)溫的影響的基礎(chǔ)上，給出了各自的修正方法，對(duì)修正前后測(cè)溫的相對(duì)誤差作了比較，發(fā)現(xiàn)修正后測(cè)溫的相對(duì)誤差較修正前明顯減小，為非制冷紅外熱像儀的設(shè)計(jì)和制造提供了一定的參考。本文針對(duì)非制冷紅外焦平面成像系統(tǒng)，在考慮探測(cè)器溫度對(duì)紅外熱像儀測(cè)溫影響的情況下，給出了完整的溫度校準(zhǔn)的過(guò)程，并將校準(zhǔn)算法用軟件實(shí)現(xiàn)，實(shí)現(xiàn)了探測(cè)器在不同工作溫度下的高精度輻射測(cè)溫。

1 輻射定標(biāo)模型

1.1 探測(cè)器工作原理

非制冷微測(cè)輻射熱計(jì)在吸收了紅外輻射，引起自身溫度變化時(shí)，其電阻也會(huì)產(chǎn)生變化，用來(lái)度量電阻隨溫度變化的參數(shù)是電阻溫度系數(shù)（TCR）[10]。電阻溫度系數(shù)通常用表示，定義為：

電阻的變化為：

D＝D(2)

式中：D為非制冷微測(cè)輻射熱計(jì)電阻變化；D為非制冷微測(cè)輻射熱計(jì)自身溫度變化。當(dāng)偏置電流為b時(shí)，輸出信號(hào)s為：

s＝bD(3)

描述探測(cè)器溫度變化的熱傳導(dǎo)方程為[11]：

式中：為探測(cè)器熱容；為探測(cè)器與環(huán)境之間的熱導(dǎo)；為探測(cè)器有效面積；為輻射吸收因子；為填充因子；0為入射發(fā)射率；為輻射調(diào)制頻率。熱傳導(dǎo)方程的解為：

式中：＝/為熱響應(yīng)時(shí)間。探測(cè)器輸出信號(hào)s為：

對(duì)于非制冷微測(cè)輻射熱計(jì)而言，入射輻射通常不需要調(diào)制，即＝0，此時(shí)：

它是探測(cè)器結(jié)構(gòu)參數(shù)、熱參數(shù)、入射輻射及偏置電流的函數(shù)。探測(cè)器輸出信號(hào)s經(jīng)數(shù)字化處理后得到探測(cè)器輸出計(jì)數(shù)值：

式中：crf為參考電壓變化范圍；為紅外熱圖的量化等級(jí)，本文中＝14；0為常數(shù)項(xiàng)。

1.2 定標(biāo)模型

＝()＋0(9)

實(shí)際應(yīng)用中，由于探測(cè)器在工作中自身溫度會(huì)發(fā)生變化，會(huì)對(duì)探測(cè)器輸出信號(hào)產(chǎn)生很大影響。導(dǎo)致探測(cè)器輸出計(jì)數(shù)值不僅與目標(biāo)輻射有關(guān)，還與探測(cè)器工作溫度有關(guān)。探測(cè)器的溫度漂移對(duì)探測(cè)器輸出的影響也是一種能量。因此，認(rèn)為探測(cè)器溫度漂移疊加在探測(cè)器對(duì)目標(biāo)輻射的響應(yīng)之上，得到非制冷紅外焦平面熱像儀的輻射定標(biāo)模型為：

＝()＋()＋0(10)

式中：()為探測(cè)器溫度漂移量函數(shù)。

2 溫度校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)

2.1 溫度校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)裝置

溫度校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)裝置包括可控溫腔式黑體源、自制控溫系統(tǒng)、基于以太網(wǎng)的紅外熱像儀和裝有測(cè)溫軟件的PC機(jī)等4個(gè)部分。如圖1所示。

圖1中：①可控溫腔式黑體源：溫度控制范圍為1℃～350℃，溫度控制精度為0.1℃。②自制控溫系統(tǒng)：采用基于半導(dǎo)體制冷器的PID自動(dòng)控溫系統(tǒng)，其內(nèi)部設(shè)有熱像儀探頭的固定及安裝裝置，箱體設(shè)有保溫層。其控溫范圍為0～50℃，精度為0.1℃。工作時(shí)，根據(jù)設(shè)定溫度以及箱體內(nèi)的實(shí)際溫度進(jìn)行加熱或制冷?？販叵涞臏囟瓤刂撇捎脝纹瑱C(jī)來(lái)實(shí)現(xiàn)。溫度檢測(cè)電路采用PT100的測(cè)溫電路。加熱制冷方式采用的是半導(dǎo)體制冷器實(shí)現(xiàn)?？販叵渲饕脕?lái)改變探測(cè)器的工作溫度，但探測(cè)器的工作溫度通常高于其所處的環(huán)境溫度，并且隨著工作時(shí)間的變化探測(cè)器溫度也會(huì)不斷變化。③基于以太網(wǎng)的紅外熱像儀采用FLIR公司的Tau2機(jī)芯，該機(jī)芯用于將紅外輻射信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，機(jī)芯內(nèi)置以氧化釩（VO）微測(cè)輻射熱計(jì)的非制冷紅外焦平面陣列，光譜響應(yīng)范圍為8～14mm，分辨率為320×240。機(jī)芯輸出8bit或14bit的低壓差分信號(hào)數(shù)字圖像。以太網(wǎng)模塊選用的是Pleora公司的iPORT NTx-Pro IP Engine。通過(guò)這個(gè)模塊，紅外機(jī)芯輸出的低壓差分信號(hào)便可以轉(zhuǎn)換為連續(xù)的、低延遲的IP數(shù)據(jù)包，方便PC機(jī)對(duì)其進(jìn)行后續(xù)的信號(hào)處理、存儲(chǔ)與傳輸。同時(shí)利用該模塊也可對(duì)機(jī)芯進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。④測(cè)溫軟件：本課題組自主開(kāi)發(fā)的應(yīng)用程序，用來(lái)測(cè)量探測(cè)器的工作溫度，以及利用紅外熱圖計(jì)算探測(cè)器的輸出計(jì)數(shù)值，同時(shí)可以做出探測(cè)器輸出計(jì)數(shù)值-黑體輻射溫度（-）關(guān)系曲線(xiàn)，給出實(shí)驗(yàn)報(bào)告。

2.2 溫度校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)步驟

溫度校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)步驟如下：①將紅外探測(cè)器放置在自制控溫箱中，將非制冷紅外熱像儀的鏡頭對(duì)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)黑體源的輻射窗口；②調(diào)節(jié)控溫箱溫度至某一溫度點(diǎn)，然后調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)黑體源溫度至試驗(yàn)溫度點(diǎn)，等到控溫箱溫度及標(biāo)準(zhǔn)黑體源溫度穩(wěn)定后，在PC機(jī)上用專(zhuān)用的測(cè)溫軟件，測(cè)量探測(cè)器的溫度；③等到探測(cè)器溫度穩(wěn)定后，測(cè)量此時(shí)的探測(cè)器輸出計(jì)數(shù)值；④調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)黑體源溫度至下一試驗(yàn)溫度點(diǎn)，測(cè)量探測(cè)器溫度和探測(cè)器輸出計(jì)數(shù)值。詳細(xì)的溫度校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)操作步驟流程圖如圖1。標(biāo)準(zhǔn)黑體源溫度間隔2℃，從24℃變化至50℃，共14個(gè)試驗(yàn)溫度點(diǎn)，該過(guò)程為一個(gè)環(huán)境溫度實(shí)驗(yàn)周期。一個(gè)環(huán)境溫度試驗(yàn)周期結(jié)束后，調(diào)節(jié)控溫箱溫度至下一溫度點(diǎn)，控溫箱溫度分別設(shè)置在21℃，25℃，29℃，共3個(gè)環(huán)境溫度試驗(yàn)周期。每個(gè)環(huán)境溫度試驗(yàn)周期測(cè)量3次。詳細(xì)的溫度校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)操作步驟流程圖如圖2。

圖1 溫度校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)示意圖

圖2 基于黑體的溫度檢測(cè)與校準(zhǔn)流程圖

3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果

3.1 溫度校準(zhǔn)結(jié)果

當(dāng)控溫箱溫度設(shè)置為同一溫度時(shí)，探測(cè)器溫度相差不大，且同一環(huán)境溫度試驗(yàn)周期的3組數(shù)據(jù)具有很好的重復(fù)性，對(duì)3組數(shù)據(jù)中的相同黑體溫度對(duì)應(yīng)的3個(gè)探測(cè)器輸出計(jì)數(shù)值取平均后作為該黑體溫度對(duì)應(yīng)的探測(cè)器輸出計(jì)數(shù)值。分別對(duì)3個(gè)環(huán)境溫度試驗(yàn)周期的數(shù)據(jù)按上述方法求平均，得到3組數(shù)據(jù)。探測(cè)器JT-01測(cè)得的數(shù)據(jù)點(diǎn)如圖3。

圖3 3組探測(cè)器溫度下的D-T數(shù)據(jù)

用Matlab分別對(duì)3組數(shù)據(jù)做一階擬合和二階擬合，其誤差平方和（SSE）和復(fù)相關(guān)系數(shù)（R-square）見(jiàn)表1。

表1 不同探測(cè)器溫度數(shù)據(jù)做一階擬合和二階擬合的統(tǒng)計(jì)參數(shù)

由表1可見(jiàn)，二階擬合效果優(yōu)于一階擬合，故本文采用二階擬合。探測(cè)器JT-01在不同工作溫度下的二階擬合結(jié)果如表2所示。

圖4為探測(cè)器JT-01在不同溫度下的探測(cè)器輸出計(jì)數(shù)值-黑體輻射溫度（-）關(guān)系曲線(xiàn)。由圖4可以看出，探測(cè)器溫度會(huì)對(duì)紅外熱像儀測(cè)溫產(chǎn)生較大影響，在標(biāo)準(zhǔn)黑體源溫度相同的情況下，隨探測(cè)器工作溫度升高，探測(cè)器輸出計(jì)數(shù)值減小。這也說(shuō)明，本文的工作是具有實(shí)際意義的。

表2 探測(cè)器JT-01在不同工作溫度下的二階擬合結(jié)果

圖4 JT-01不同探測(cè)器溫度下的探測(cè)器輸出計(jì)數(shù)值-黑體溫度（D-T）關(guān)系

本文的目標(biāo)是探測(cè)器溫度在10℃～50℃之間變化時(shí)，非制冷紅外焦平面熱像儀實(shí)現(xiàn)高精度輻射測(cè)溫?？紤]到醫(yī)院檢測(cè)室的環(huán)境溫度通常在20℃～30℃之間，于是，實(shí)驗(yàn)中選擇的環(huán)境溫度實(shí)驗(yàn)周期的溫度分別為21℃、25℃、29℃。通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)量，得到了探測(cè)器溫度為25.99℃、28.40℃和30.60℃的-曲線(xiàn)，還需要探測(cè)器在其他溫度點(diǎn)的-曲線(xiàn)。本文的做法是：對(duì)于探測(cè)器工作溫度在25.99℃～30.60℃之間，以0.05℃為間隔，運(yùn)用插值法，得到黑體溫度在24℃～50℃之間，以2℃為間隔的14個(gè)溫度點(diǎn)對(duì)應(yīng)的探測(cè)器輸出計(jì)數(shù)值的數(shù)值；探測(cè)器工作溫度在10℃～25.99℃和30.60℃～50℃之間，以0.05℃為間隔，采用平移算法，得到黑體溫度在24℃～50℃之間，以2℃為間隔的14個(gè)溫度點(diǎn)對(duì)應(yīng)的探測(cè)器輸出計(jì)數(shù)值的數(shù)值；對(duì)各探測(cè)器工作溫度點(diǎn)對(duì)應(yīng)的14個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)作二次曲線(xiàn)擬合，得到探測(cè)器工作溫度在10℃～50℃，以0.05℃為間隔的各溫度點(diǎn)的-關(guān)系；將不同探測(cè)器工作溫度點(diǎn)對(duì)應(yīng)的-曲線(xiàn)的各次項(xiàng)系數(shù)存入txt文件；然后將該文件放入非制冷紅外熱像儀測(cè)溫系統(tǒng)的工作文件夾，在測(cè)溫時(shí)，根據(jù)當(dāng)時(shí)的探測(cè)器溫度調(diào)用相應(yīng)的-曲線(xiàn)。

3.2 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證溫度校準(zhǔn)效果

為了驗(yàn)證本文的溫度校準(zhǔn)方法在消除溫度漂移對(duì)非制冷紅外焦平面熱像儀測(cè)溫的影響的效果，設(shè)計(jì)了驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)：黑體溫度設(shè)置為24℃，分別用本文的校準(zhǔn)方法和單探測(cè)器工作溫度點(diǎn)的校準(zhǔn)方法進(jìn)行測(cè)溫。溫度校準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證程序流程圖如圖5。

圖5 溫度校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證流程圖

圖6是用本文的溫度校準(zhǔn)方法和單探測(cè)器溫度點(diǎn)校準(zhǔn)方法的校準(zhǔn)結(jié)果對(duì)比情況。橫軸是時(shí)間，探測(cè)器開(kāi)始工作時(shí)為0時(shí)刻，縱軸為非制冷紅外熱像儀測(cè)溫結(jié)果。結(jié)合圖6和表3可以知道，用單探測(cè)器溫度點(diǎn)校準(zhǔn)方法對(duì)非制冷紅外熱像儀校準(zhǔn)，測(cè)溫結(jié)果整體偏離24℃，且隨探測(cè)器溫度變化而變化，其偏差值為10.673。而用本文的校準(zhǔn)方法對(duì)非制冷紅外熱像儀校準(zhǔn)，測(cè)溫結(jié)果在24℃附近波動(dòng)，且基本不隨探測(cè)器溫度變化而變化，偏差值僅為0.039。偏差值是用熱像儀測(cè)溫結(jié)果的平均值減去標(biāo)準(zhǔn)黑體源的溫度24℃得到的，用來(lái)表明測(cè)量結(jié)果的穩(wěn)定性。用本文的校準(zhǔn)方法明顯提高了非制冷紅外熱像儀的測(cè)溫精度。

4 結(jié)論

對(duì)于非制冷型紅外熱像儀，探測(cè)器的溫度漂移對(duì)測(cè)量的結(jié)果的影響是不容忽略的。因此，在使用非制冷紅外熱像儀時(shí)，應(yīng)先在考慮探測(cè)器工作溫度的影響下對(duì)其進(jìn)行溫度校準(zhǔn)。本文介紹的校準(zhǔn)方法給出了探測(cè)器在不同工作溫度下的探測(cè)器輸出計(jì)數(shù)值-黑體輻射溫度（-）曲線(xiàn)，消除了探測(cè)器溫度漂移對(duì)非制冷紅外焦平面熱像儀人體測(cè)溫的影響，提高了測(cè)溫精度。

圖6 探測(cè)器JT-01溫度校準(zhǔn)效果對(duì)比圖

表3 本文校準(zhǔn)方法和單探測(cè)器工作溫度點(diǎn)的校準(zhǔn)方法效果對(duì)比

[1] Chris Kauffman, John Madigan, William Pfister. Static image system MRTD modeling[J]., 1998, 3377: 83-88.

[2] 周棟, 史貴連, 李凱揚(yáng). 基于以太網(wǎng)的紅外熱像儀研究與設(shè)計(jì)[J]. 半導(dǎo)體光電, 2013(6): 1060-1062.

ZHOU Dong, SHI Guilian, LI Kaiyang. Reserach and design of thermal infrared cameras based on gigabit ethernet[J]., 2013(6): 1060-1062.

[3] Daryabeigi Kamran. Global surface temperature/heat transfer measure- ments using infrared imaging[C]//, 17th, 1992.

[4] 雷家容. 非制冷紅外熱像儀去溫漂標(biāo)定[J]. 電子技術(shù)與軟件工程, 2015(09):127.

LEI Jiarong. Calibration of uncooled infrared thermal imager[J]., 2015(9): 127.

[5] 范春利, 楊立, 華順?lè)? 熱探測(cè)器溫度對(duì)非制冷紅外熱像儀測(cè)溫的影響[J]. 紅外技術(shù), 2002, 24(5):22-24.

FANG Chunli, YANG Li, HUA Shunfang. Effect of the temperature of thermal detector on temperature measurement of uncooled infrared imager[J]., 2002, 24(5): 22-24.

[6] 孫戀君, 張俊舉, 王世允, 等. 非制冷微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器工作溫度特性研究[J]. 紅外與毫米波學(xué)報(bào), 2007(3): 232-236.

SUN Lianjun, ZHANG Junju, WANG Sh-yun, et al. Research on operating temperature characteristic of uncooled microbolometer detector[J]., 2007(3): 232-236.

[7] 孫學(xué)金, 劉劍, 趙世軍, 等. 非致冷紅外焦平面陣列的輻射定標(biāo)模型[J]. 解放軍理工大學(xué)學(xué)報(bào): 自然科學(xué)版, 2008(4):399-403.

SUN Xuejin, LIU Jian, ZHAO Shijun, et al. Radiometric calibration model of uncooled infrared focal plane array[J]., 2008(4): 399-403.

[8] 楊楨, 楊立, 張曉懷. 探測(cè)器溫度對(duì)非致冷型微測(cè)輻射熱計(jì)熱像儀測(cè)溫的影響與修正[J]. 紅外, 2008(10):13-18.

YANG Zhen, YANG li, ZHANG Xiaohuai. Effect of detector temperature measurement of uncooled infrared micro-bolometer array camera and its correction[J]., 2008(10): 13-18.

[9] 張艷超, 趙建, 孫強(qiáng), 等. 非致冷紅外焦平面成像系統(tǒng)輻射測(cè)溫技術(shù)研究[J]. 紅外, 2011(2):1-4.

ZHANG Yanchao, ZHAO Jian, SUN Qian, et al. Research on radiation thermometry using uncooled infrared focal plane imaging system[J]., 2011(2):1-4.

[10] 曹永峰, 蔣玉龍, 段鵬, 等. 用于微測(cè)輻射熱計(jì)的氧化礬熱敏材料的溫度特性[J]. 半導(dǎo)體技術(shù), 2002(5): 58-62.

CAO Yongfeng, JIANG Yulong, DUAN Peng, et al. The temperature characteristics of the heat sensitive material used in microbolometer[J]., 2002(5): 58-62.

[11] 王志國(guó). 紅外熱成像儀測(cè)溫定標(biāo)模型研究[D]. 武漢: 華中科技大學(xué), 2011.

WANG Zhiguo. Research in the Temperature Test and Calibration Model of Thermal Infrared Imager[D]. Wuhan: HuaZhong Univercity Science & Technology, 2011.

Effect of Detector Temperature on the Human Body Temperature Measurementof Uncooled Infrared Thermal Imager and Its Correction

YAO Ting，LIANG Chengwen，LI Kaiyang

(,,430072,)

The uncooled infrared thermal imaging system is demanded to be with high temperature measurement accuracy when it is used to measure the temperature of the human body. However, with the change of environmental temperature and increasing absorption of infrared radiation, the uncooled infrared focal plane thermal imager will produce seriously temperature drift. This will affect the response characteristics of infrared detector, which then affects the accuracy of temperature measurement. In order to eliminate the error caused by the change of the working temperature of the detector of the uncooled infrared focal plane thermal imager, a new calibration method is proposed. The method can realize the high precision calibration of the uncooled infrared thermal imaging system when the temperature of the detector varies from 10℃ to 50℃. At the same time, the effect of the calibration method is verified by experiments. The results show that the influence of temperature drift on the precision of temperature measurement is obviously decreased after calibration of the uncooled infrared thermal imaging system.

uncooled infrared thermal imager，temperature calibration，temperature drift

TN215

A

1001-8891(2016)11-0984-06

2016-02-29；

2016-03-28.

姚婷（1991-），女，寧夏石嘴山人，碩士研究生，研究方向：生物醫(yī)學(xué)組織光學(xué)與醫(yī)學(xué)影像。E-mail：wdyt@whu.edu.cn。

李凱揚(yáng)（1963-），男，湖北襄陽(yáng)人，教授，博士生導(dǎo)師，主要研究方向?yàn)樯锝M織光學(xué)與醫(yī)學(xué)影像。E-mail：lky@whu.edu.cn。

國(guó)家重大科學(xué)儀器設(shè)備開(kāi)發(fā)專(zhuān)項(xiàng)資助項(xiàng)目（2012YQ160203）。