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        Se75源在小徑管射線探傷應(yīng)用中的試驗(yàn)研究

        2015-11-20 01:55:02楊恒亮蔡勇趙加冠
        中國(guó)科技縱橫 2015年16期
        關(guān)鍵詞:檢測(cè)

        楊恒亮 蔡勇 趙加冠

        (國(guó)核電站運(yùn)行服務(wù)技術(shù)有限公司,上海 200233)

        Se75源在小徑管射線探傷應(yīng)用中的試驗(yàn)研究

        楊恒亮 蔡勇 趙加冠

        (國(guó)核電站運(yùn)行服務(wù)技術(shù)有限公司,上海 200233)

        目前工業(yè)射線檢測(cè)中常用的射線有X射線和γ射線,其中普通X射線能量低、穿透力較差、現(xiàn)場(chǎng)使用制約性大;Ir-192、Co-60等γ射線線質(zhì)硬,靈敏度低且透照厚度下限較大。20世紀(jì)90年代末,一種名為Se-75的γ射線源可以較好的解決上述局限性。國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)在對(duì)Se-75γ射線源的使用方面做出了相關(guān)規(guī)定,但查閱大量文獻(xiàn)和有關(guān)資料均未發(fā)現(xiàn)一些實(shí)用性相關(guān)參數(shù),而且ASME標(biāo)準(zhǔn)也未規(guī)定此類射線源的使用。本文擬通過(guò)對(duì)Se75源小徑管透照靈敏度和Se75源透照厚度寬容度兩方面進(jìn)行相關(guān)試驗(yàn),確定了Se75源在小徑管射線探傷中的優(yōu)越性,以分析研究Se75源在小徑管射線探傷中的具體應(yīng)用情況。

        Se75源 小徑管 射線探傷 透照靈敏度 厚度寬容度

        1 試驗(yàn)研究原理

        Se-75源是一種能量較低的γ射線源,放射線能量范圍在66kev-401kev之間,包含9條放射線能量譜線(圖1),相應(yīng)的能量(Mev)分別為:0.066、0.097、0.121、0.136、0.199、0.265、0.280、0.304、0.401。

        圖1 Se75源能譜

        在射線檢測(cè)中,選擇射線源時(shí)的一個(gè)重要依據(jù)是該射線的穿透能力如何,而決定穿透能力的就是該射線的能量。由于每種射線源都由許多能線譜組成,每根能線譜都對(duì)應(yīng)一個(gè)能量,我們不能把所有的能線譜能量拿來(lái)做選擇依據(jù),而必須確定一個(gè)能量,該能量就是平均能量。從已知的理論知識(shí)可知,Se75源平均能量為0.206MeV,相當(dāng)于200Kv的X射線,衰減系數(shù)μ較大,射線檢測(cè)對(duì)比度D較大,射線照相的固有不清晰度μi?。↖r192為0.17,Co60為0. 350,而200Kv的X射線僅為0.09),清晰度較高。因此,Se75源應(yīng)比Ir192有更小的透照厚度下限值。同時(shí)Se75源所輻射的是線狀譜,線質(zhì)較硬,比起相同能量的X射線,它的穿透力更大,因此有較大的透照厚度上限值。

        圖2 小徑管垂直透照示意圖

        表1 暗室處理?xiàng)l件

        表2 階梯試塊尺寸參數(shù)表

        表3 Se75源小徑管透照靈敏度試驗(yàn)數(shù)據(jù)表

        表4 階梯試塊透照工藝參數(shù)

        表5 X射線、SE75、Ir192階梯透照厚度寬容度對(duì)比

        表6 X射線、SE75、Ir192階梯透照黑度2.0~3.0范圍內(nèi)可顯示階梯數(shù)

        2 先決條件

        2.1 射線源

        Se75源焦點(diǎn)尺寸為φ3×3mm,活度69Ci;Ir192源焦點(diǎn)尺寸為φ3×3mm,活度67Ci;X射線機(jī)型號(hào)為250EGS3,其焦點(diǎn)尺寸為2.5 ×2.5mm。

        2.2 器材及耗材

        膠片采用AgfaD4和AgfaD7,選用0.1mm厚度鉛增感屏,0.5mm厚度鉛濾光板,防背散射鉛板厚度為2mm。

        2.3 暗室條件

        采用手工的方式,按表1中的條件對(duì)所得膠片進(jìn)行暗室處理。

        2.4 試件

        試管規(guī)格分別為:φ40×5、φ32×5、φ60×3、φ38×7、φ60×5。階梯試塊尺寸參數(shù)見表2。

        3 Se75小徑管透照靈敏度的試驗(yàn)

        按JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)中的工藝要求,分別采用Se75源、Ir192源和X射線,采用AGFAD4和AGFAD7膠片,選取規(guī)格為φ40 ×5mm、φ32×5mm、φ60×3mm、φ38×7mm和φ60×5mm的小徑管對(duì)接焊縫進(jìn)行射線照相。經(jīng)暗室處理后,比較各底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度和影像清晰度。

        3.1 試驗(yàn)的主要步驟

        (1)透照布置。小徑管透照布置示意見圖2,小徑管雙壁雙影垂直透照焦距為500mm,為了減少散射線的影響,暗袋背面放置2mm厚鉛板。

        (2)黑度要求。將各檢測(cè)條件下底片黑度控制在2.0~3.5范圍內(nèi)。

        (3)數(shù)據(jù)記錄與分析。將各曝光條件及底片參數(shù)按表3的格式進(jìn)行填寫。

        3.2 主要注意事項(xiàng)

        (1)為了消除各小徑管焊縫余高不同的影響,將余高打磨至與母材齊平。

        (2)保證放射源與焊縫中心線的對(duì)齊。

        (3)控制各底片的黑度保持在規(guī)定的范圍內(nèi)。

        3.3 試驗(yàn)小結(jié)

        從表3中的數(shù)據(jù)可以看出,采用AgfaD4膠片檢測(cè)時(shí),使用Se75源基本接近或達(dá)到使用X射線時(shí)的像質(zhì)指數(shù),而使用Ir192源時(shí)的像質(zhì)指數(shù)要明顯低于使用Se75源時(shí)的像質(zhì)指數(shù),且Ir192源只有在壁厚5mm以上時(shí)才能基本達(dá)到像質(zhì)計(jì)靈敏度要求,對(duì)于φ60×3mm規(guī)格的小徑管靈敏度沒(méi)有達(dá)到檢測(cè)要求。采用AgfaD7膠片時(shí),Ir192源對(duì)上述所有小徑管的透照都不能達(dá)到像質(zhì)計(jì)靈敏度要求,Se75源僅能在壁厚大于7mm時(shí)才能滿足像質(zhì)計(jì)靈敏度要求,X射線能較好的滿足要求。因此,對(duì)于小徑管射線檢測(cè)來(lái)說(shuō),無(wú)論從像質(zhì)計(jì)靈敏度,還是底片清晰度,Se75源都基本接近或達(dá)到X射線的水平,明顯優(yōu)于Ir192源。

        4 Se75源透照厚度寬容度試驗(yàn)

        以階梯試塊作為測(cè)試對(duì)象,通過(guò)不同射線的透照,得出不同種類射線透照情況下底片所顯示的階梯數(shù),進(jìn)而完成對(duì)Se75、Ir192和X射線的透照厚度寬容度進(jìn)行評(píng)估。

        4.1 試驗(yàn)的主要步驟

        (1)透照工藝條件選擇。根據(jù)Se75、Ir192和X射線各自的透照特點(diǎn),分別選擇如表4所示的透照參數(shù),以滿足膠片質(zhì)量要求。

        (2)完成透照后,通過(guò)對(duì)所得底片的觀察和測(cè)量,將試驗(yàn)數(shù)據(jù)填寫至表5。

        (3)根據(jù)表5中所得的數(shù)據(jù),通過(guò)觀察,分別取黑度2.0~3.0范圍內(nèi)可顯示的階梯數(shù),具體見表6。

        4.2 試驗(yàn)小結(jié)

        從表6中可以看出,Se75源和Ir192源的透照厚度寬容度要明顯由于X射線。對(duì)于同一個(gè)階梯試塊,采用Se75源和Ir192源時(shí),在底片2.0~3.0的范圍內(nèi),可以顯示的階梯數(shù)均大于4個(gè)階梯,而同樣條件

        ……

        ……

        下采用X射線時(shí)可顯示的階梯數(shù)為2個(gè)。對(duì)于小徑管射線檢測(cè),由于在較小的范圍內(nèi),有較大的厚度變化,所以與檢測(cè)靈敏度一樣,厚度寬容度也是影響小徑管射線檢測(cè)底片質(zhì)量的一項(xiàng)重要指標(biāo)。但是靈敏度與寬容度是對(duì)立的,兩者不可兼得。實(shí)際檢測(cè)中為了增加可評(píng)定區(qū)的長(zhǎng)度、提高厚度寬容度,一般使用線質(zhì)較硬的γ射線,如使用Ir192射線源,但靈敏度要受到損失。為了達(dá)到較高的檢測(cè)靈敏度,常用較低能量的射線,如X射線,則厚度寬容度較小。通過(guò)本試驗(yàn),我們了解到Se75源的射線能量較低,但線質(zhì)較硬,具有較高的靈敏度和較大的寬容度,對(duì)小徑管射線檢測(cè)有很好的檢測(cè)效果。

        5 結(jié)語(yǔ)

        通過(guò)對(duì)Se75源小徑管透照靈敏度透照試驗(yàn)和厚度寬容度試驗(yàn),Se75源可以接近或達(dá)到X射線的透照靈敏度,同時(shí)也能獲得較好有效評(píng)定范圍,即在保證透照靈敏度的情況下,又有合適的厚度寬容度,對(duì)于小徑管的射線檢測(cè),Se75源要優(yōu)于Ir192源和X射線。因此,對(duì)于采用Se75源進(jìn)行小徑管射線檢測(cè)的優(yōu)越性。

        [1]強(qiáng)天鵬.射線檢測(cè).第2版.北京:中國(guó)勞動(dòng)社保保障出版社,2007年,13-14.

        [2]何中寶.Se75射線源用于小徑管射線探傷之探討[J].廣東電力,2002,15(2):2.

        [3]趙蘭英.Se75射線源在小徑管射線探傷之探討[J].長(zhǎng)沙電力學(xué)院學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版),2001,(2).

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