范朝龍,王 晗,劉 強(qiáng),陳新度,鄭俊威,梁 烽
(廣東工業(yè)大學(xué) 廣東省微納加工技術(shù)與裝備重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,廣東 廣州510006)
運(yùn)動(dòng)部件的精確位置控制是機(jī)床或者電力牽引系統(tǒng)一個(gè)非常重要的功能[1]。在現(xiàn)代數(shù)控自動(dòng)加工行業(yè)中,精密電移平臺(tái)是制造系統(tǒng)中加工刀具對(duì)于工件精密定位或者測(cè)量系統(tǒng)中傳感器對(duì)于樣品精確定位的重要部件[2-8],因?yàn)樵谌魏坞娔X控制的機(jī)床中,運(yùn)動(dòng)位移的測(cè)量極其重要,在需要制造精密器件時(shí),具有高精度的加工能力是必須的,為了能達(dá)到這種能力的需求,位移編碼器(即光柵位移傳感器)是必要的[9-10]。在現(xiàn)代工業(yè)加工生產(chǎn)過(guò)程中,光柵位移傳感器能高速測(cè)量,并且不需要回零點(diǎn)重新對(duì)位操作,這對(duì)生產(chǎn)效率的提高非常重要[11]。在測(cè)量中,增量光柵尺的最大允許運(yùn)動(dòng)速度與其測(cè)量分辨率成反比[12],利用這一特點(diǎn)的雙增量光柵尺在高速下進(jìn)行低精度測(cè)量,低速下執(zhí)行高精度測(cè)量可以提高其位移測(cè)量速度,但是這種增量式光柵尺在高低速測(cè)量切換時(shí)由于電路硬件的延時(shí)會(huì)造成測(cè)量精度的損失[13]。另外增量式光柵尺在使用過(guò)程中,如果發(fā)生斷電或者機(jī)械震動(dòng),數(shù)控機(jī)床必須在每個(gè)軸線上重置參考位置,這浪費(fèi)了時(shí)間且需要特殊的程序來(lái)避免這種損害,而且為了繼續(xù)進(jìn)行加工生產(chǎn),在被切斷那個(gè)時(shí)刻的位置(這個(gè)位置很難獲得)必須被重建,而絕對(duì)式光柵可以獲得被切斷那個(gè)時(shí)刻的位置[14]。開始時(shí),絕對(duì)位置編碼被編碼是利用多軌碼道進(jìn)行編碼,高分辨率的獲得是通過(guò)添加一個(gè)增量碼道[15],為了獲得高分辨率必須得維持增量信息來(lái)進(jìn)行細(xì)分處理,而且多軌編碼的絕對(duì)碼道結(jié)構(gòu)會(huì)引起編碼器讀數(shù)頭的結(jié)構(gòu)復(fù)雜和校準(zhǔn)問題[16],同時(shí)這種多軌編碼如果需要增加編碼長(zhǎng)度就必須增加碼道[17]。為此,一些使用單軌絕對(duì)編碼技術(shù)的絕對(duì)式光柵尺被快速發(fā)展[18-21]。傳統(tǒng)的偽隨機(jī)編碼技術(shù)很容易應(yīng)用到單軌碼道上,盡管單軌絕對(duì)碼道沒有利用周期性條紋來(lái)作為絕對(duì)位置的解碼,但是他們?nèi)匀灰揽恐芷谛栽隽靠叹€上細(xì)分算法的使用,這種方式無(wú)法避免在細(xì)分處理中的偏差源[22]。本文利用CMOS傳感器(以下簡(jiǎn)稱CMOS)像素單元對(duì)絕對(duì)編碼條紋進(jìn)行物理細(xì)分來(lái)獲得高分辨率,同時(shí)利用增量低精度測(cè)量高速環(huán)境下工作合理切換到絕對(duì)碼道的高精度測(cè)量,以此來(lái)實(shí)現(xiàn)較高速度下高精度絕對(duì)位置的測(cè)量。
光柵尺高速測(cè)量與高分辨率的測(cè)量有著相互制約的矛盾,增量光柵尺在速度較低的情況下測(cè)量能獲得較高的分辨率,但在要求分辨率不高的條件下可以進(jìn)行高速測(cè)量,考慮到光柵尺能夠高速測(cè)量,又能高精度定位測(cè)量,同時(shí)又能測(cè)出絕對(duì)位置信息。利用在光柵玻璃板上刻畫有低精度高速測(cè)量用的增量編碼與高精度低速測(cè)量用的絕對(duì)編碼來(lái)實(shí)現(xiàn)高速高精度絕位移測(cè)量的要求,如圖1所示。通過(guò)宏微復(fù)合原則,低精度測(cè)量時(shí),啟用增量讀數(shù)頭讀取增量摩爾條紋實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量,低速測(cè)量時(shí),采用絕對(duì)讀數(shù)頭讀取高精度的絕對(duì)編碼實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)量,借助二者的合理切換實(shí)現(xiàn)高速高精度的測(cè)量。
圖1 宏微復(fù)合絕對(duì)光柵尺結(jié)構(gòu)示意圖Fig.1 Framework of macro/micro combined absolute optical encoder
玻璃基板刻有激光腐蝕的柵線,柵線的寬度為10μm,間隙也為10μm,柵距為20μm。增量測(cè)量就是利用其柵線的莫爾條紋現(xiàn)象來(lái)測(cè)量的,如圖2所示,LED光源發(fā)射光,在聚光鏡的作用下變成平行光,平行光透射式地射到柵線面和帶有掩膜的指示光柵,指示光柵沿著標(biāo)尺光柵柵線的垂直方向運(yùn)動(dòng)時(shí),就會(huì)產(chǎn)生莫爾條紋現(xiàn)象[23],所產(chǎn)生的明暗相間的莫爾條紋沿著柵線的方向運(yùn)動(dòng)。隨著標(biāo)尺光柵與指示光柵不停地相對(duì)運(yùn)動(dòng)時(shí)莫爾條紋的光強(qiáng)也會(huì)周期地變化,同時(shí)掃過(guò)4個(gè)光電轉(zhuǎn)換傳感器,每個(gè)光電傳感器分別產(chǎn)生一路電路信號(hào):I0°、I90°、I180°、I270°,這4路電流信號(hào)再轉(zhuǎn)化成4路電壓信號(hào),在測(cè)量中由于標(biāo)尺光柵與指示光柵的相對(duì)運(yùn)動(dòng)干涉所產(chǎn)生的莫爾條紋由暗條紋到亮條紋,再由亮條紋到暗變化的光強(qiáng)強(qiáng)度分布近似余弦函數(shù),光電傳感器的輸出波形也接近正弦曲線,圖3所示為光柵的實(shí)際輸出波形圖,其可以看成在一個(gè)直流分量上加一個(gè)交流分量條,即:
圖2 增量光柵采集原理結(jié)構(gòu)示意圖Fig.2 Framework of theory of incremental grating acquisition
圖3 莫爾條紋轉(zhuǎn)化成正余弦波形圖Fig.3 Translating Moire fringe into sine and cosine wave
式中:p為柵距;x為指示光柵與標(biāo)尺光柵的瞬時(shí)位移量;V1為直流分量;Vx為交流分量幅值。上式的正余弦電壓信號(hào),經(jīng)過(guò)電路系統(tǒng)的處理進(jìn)行四倍頻分變成方波脈沖信號(hào)。光柵尺的最大允許移動(dòng)速度是由光柵尺的最大輸出頻率及掃描信號(hào)的信號(hào)周期決定,輸出的A與B相方波信號(hào)相位差為90°,其累計(jì)的脈沖數(shù)值為光柵的位移量,A相信號(hào)比B相信號(hào)輸出超前或滯后表示光柵的正向或反向移動(dòng)。如圖4所示,其關(guān)系為
式中:Vmax最大允許移動(dòng)速度;為光柵尺的最大輸出頻率;D為掃描信號(hào)的信號(hào)周期。對(duì)20μm柵距增量測(cè)量20倍頻時(shí)輸入的頻率是100kHz,Vmax=2m/s。圖5為Vmax=2m/s下采集到的四倍頻分下的方波脈沖信號(hào)。
圖4 經(jīng)四倍頻輸出的方波細(xì)分信號(hào)Fig.4 Square wave subdivide signal exported at quadruplicated frequency
圖5 四倍頻分下的方波脈沖信號(hào)Fig.5 Square wave pulse signal at quadruplicated frequency
絕對(duì)位置可以通過(guò)圖像傳感器采集編碼圖像與圖像處理方法獲得[24-27]。圖像傳感器中CMOS像素單元小而且精度高,利用CMOS的像素單元來(lái)物理細(xì)分條紋間距可以達(dá)到高精度的測(cè)量效果[28-29]。通過(guò)這種增量與絕對(duì)的宏微復(fù)合來(lái)測(cè)量就避免了高速與低速的切換誤差,同時(shí)對(duì)高速高精度的測(cè)量有良好的效果。高精度低速絕對(duì)位置測(cè)量中測(cè)量精度可達(dá)到0.6μm,綜合測(cè)量速度最高可以達(dá)到2m/s。絕對(duì)讀數(shù)頭掃描絕對(duì)編碼碼道測(cè)量絕對(duì)位置,主要采用圖像傳感器CMOS,在光學(xué)放大系統(tǒng)后獲取絕對(duì)碼條紋,利用其像素單元半導(dǎo)體工藝的高精度細(xì)分絕對(duì)編碼條紋,直接從物理空間上細(xì)分編碼條紋得到當(dāng)前位移絕對(duì)位置,如圖6所示,這與增量通過(guò)相位細(xì)分累計(jì)脈沖測(cè)量位移完全不同。這使單個(gè)COMS能對(duì)全碼道進(jìn)行掃描,并且測(cè)量精度高[30]。
圖6 絕對(duì)位移測(cè)量原理示意圖Fig.6 Block diagram of absolute displacement measurement
絕對(duì)編碼是利用偽隨機(jī)編碼的原理,偽隨機(jī)碼是一種結(jié)構(gòu)可以預(yù)先確定,可重復(fù)產(chǎn)生和復(fù)制,具有某種隨機(jī)序列隨機(jī)特性的序列碼。本文以m序列偽隨機(jī)編碼作為編碼方式,n位m 序列偽隨機(jī)碼相鄰編碼共同擁有(n-1)位編碼位[31]。具體方法如下:
1)處理器依據(jù)預(yù)先編寫的反饋邏輯(如圖7)建立一個(gè)偽隨機(jī)序列m(x)。其中m(x)序列線性反饋移位寄存器的遞推關(guān)系式為
2)定義映射關(guān)系。Λ(x)為m(x)序列與其地址的映射。對(duì)于m(x)序列,在內(nèi)存中將有一個(gè)連續(xù)的地址序列與其對(duì)應(yīng)。建立一個(gè)新序列g(shù)(t)序列,二者滿足以下關(guān)系:供正確的編碼數(shù)據(jù),通過(guò)這種方式來(lái)獲得絕對(duì)讀數(shù)頭的讀數(shù)速度。
圖7 m序列反饋邏輯Fig.7 Feedback logic of msequence
3)定義映射關(guān)系。Γ(x)為地址序列x與地址上的值的映射。在識(shí)別出偽隨機(jī)序列的值Δn后代入g(t)中,解碼位置編碼Pn:
光學(xué)放大系統(tǒng)采用20×的物鏡,CMOS的像素單元是2.8μm,最終的物理分辨率為
解碼絕對(duì)位置在20倍的光學(xué)放大系統(tǒng)后(6)式應(yīng)該修正為
由于CMOS獲取的是光學(xué)放大20×后的編碼條紋,實(shí)驗(yàn)中絕對(duì)編碼條紋刻畫的最小寬度為10μm,這個(gè)10μm寬的條紋被光學(xué)20×放大后在CMOS的成像寬度為200μm,這提高了CMOS相對(duì)實(shí)際速度的拍攝速度要求。所以CMOS拍攝編碼速度必須和CMOS的相對(duì)運(yùn)動(dòng)速度相匹配,以符合曝光的條件要求。實(shí)驗(yàn)中使用CMOS來(lái)采集不同運(yùn)動(dòng)速度下的絕對(duì)編碼,絕對(duì)編碼與CMOS面的相對(duì)運(yùn)動(dòng)速度依次以0.01mm/s遞減運(yùn)動(dòng),直到CMOS采集的編碼圖像從模糊到清晰,編碼圖像能夠支撐后繼系統(tǒng)正確解碼,如圖8所示,圖8(d)是在2.15mm/s運(yùn)動(dòng)速度下采集到編碼圖像且能提
圖8 在不同速度下采集到的編碼圖像Fig.8 Coding images acquired under different speeds
宏微復(fù)合絕對(duì)光柵尺實(shí)現(xiàn)宏微切換的測(cè)量功能,主要依靠增量方波測(cè)速切換到絕對(duì)位置測(cè)量,其在測(cè)量過(guò)程中分為3個(gè)運(yùn)動(dòng)階段:加速階段、勻速階段和減速階段。在速度判別器中設(shè)Vmax=2.15mm/s為閾值,速度小于這個(gè)閾值時(shí)CMOS采集的絕對(duì)編碼經(jīng)過(guò)FPGA處理后傳輸給DSP進(jìn)行解碼,大于這個(gè)閾值時(shí)進(jìn)行增量并實(shí)時(shí)地測(cè)速。當(dāng)被測(cè)物體的運(yùn)動(dòng)速度小于閾值時(shí)稱為低速階段,被測(cè)物體大于閾值時(shí)成為高速階段。從零開始加速時(shí),速度小于閾值時(shí),上升沿觸發(fā)DSP迅速接收絕對(duì)碼圖像傳輸?shù)浇獯a,然后輸出位移絕對(duì)位置。這里速度大小的判別主要是通過(guò)速度判別切換器借助相位差來(lái)計(jì)算:
式中:θ0、θ1分別表示相鄰前后兩路方波脈沖信號(hào)的相位;T0、T1分別對(duì)應(yīng)速度判斷切換接收到θ0、θ1相位的時(shí)間;D為掃描信號(hào)的信號(hào)周期。當(dāng)速度等于閾值時(shí),觸發(fā)增量脈沖累加計(jì)數(shù),同時(shí)位置合成器記下此刻DSP解碼值并且DSP不再接收絕對(duì)碼圖像信息,然后光柵尺繼續(xù)加速到Va=2m/s時(shí)開始進(jìn)行勻速運(yùn)動(dòng),當(dāng)快接近目標(biāo)位置時(shí)開始減速運(yùn)動(dòng),在減速到閾值前,累加器不斷地累加計(jì)數(shù)并且實(shí)時(shí)將計(jì)算值傳輸?shù)轿恢煤铣善髋c存儲(chǔ)在位置合成器里的DSP解碼值相加,最終通過(guò)接口電路實(shí)時(shí)輸出位置。當(dāng)速度減速到閾值時(shí),上升沿觸發(fā)計(jì)數(shù)器馬上清零,并且停止累加工作,觸發(fā)DSP開始接收絕對(duì)編碼圖像并且不停地將解碼值傳輸?shù)轿恢煤铣善髋c計(jì)數(shù)傳輸過(guò)來(lái)的清零值相加,通過(guò)接口電路實(shí)時(shí)傳輸出來(lái),其原理與設(shè)計(jì)如圖9所示。
圖9 宏微切換測(cè)量原理Fig.9 Block diagram of macro/micro switch
在最終測(cè)量精度的測(cè)試中,使用電機(jī)控制絕對(duì)光柵尺讀數(shù)頭的運(yùn)動(dòng)速度。啟動(dòng)時(shí),其帶動(dòng)讀數(shù)頭運(yùn)動(dòng)的加速度為5mm/s2,當(dāng)讀數(shù)頭速度加速到2.15mm/s時(shí),以4 000mm/s2加速到2m/s,隨后勻速運(yùn)動(dòng)0.1s后又馬上以8 000mm/s2的加速度減速到2.15mm/s時(shí),然后電機(jī)以加速度5mm/s2減速到停止。由于行程的限制,測(cè)試的數(shù)據(jù)有限,為了獲得更多在不同位置的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),去掉上述的勻速運(yùn)動(dòng)過(guò)程。數(shù)據(jù)的處理主要利用所設(shè)計(jì)的宏微復(fù)合絕對(duì)光柵尺輸出的數(shù)據(jù)與英國(guó)renishaw公司精度1nm的激光干涉儀測(cè)量結(jié)果進(jìn)行對(duì)比,并且以激光干涉儀的測(cè)量精度為基準(zhǔn)。試驗(yàn)中高速增量的讀數(shù)結(jié)果只提供低精度位置,其作用不能用于最終的測(cè)量結(jié)果,主要是為了絕對(duì)光柵尺的測(cè)量提速,當(dāng)讀數(shù)頭運(yùn)動(dòng)速度減速到2.15mm/s時(shí)輸出的是絕對(duì)碼解碼的高精度值,所以在實(shí)驗(yàn)中只記錄在低速階段下測(cè)量的值,實(shí)驗(yàn)平臺(tái)如圖10所示。
圖10 實(shí)驗(yàn)測(cè)試平臺(tái)Fig.10 Platform of experimental test
實(shí)驗(yàn)中分別測(cè)試了100個(gè)點(diǎn)的定位誤差值。數(shù)據(jù)的處理如下:
式中:μ表示光柵尺測(cè)出的數(shù)據(jù);n表示激光干涉儀測(cè)出來(lái)的數(shù)據(jù);δ表示光柵尺相對(duì)與激光干涉的測(cè)量誤差。表1列出了100組測(cè)量誤差δ的具體數(shù)值,其中N表示實(shí)驗(yàn)測(cè)量位置點(diǎn)的個(gè)數(shù)。
表1 絕對(duì)光柵尺測(cè)量誤差數(shù)值nmTable 1 error value of absolute optical encoder
圖11 絕對(duì)式光柵尺測(cè)量的精度結(jié)果Fig.11 Precision result of absolute optical encoder measurement
所設(shè)計(jì)的宏微復(fù)合絕對(duì)光柵尺的實(shí)際物理分辨率可以到達(dá)±0.14μm,但從圖11實(shí)驗(yàn)分析的數(shù)據(jù)可以知其在實(shí)際測(cè)量中的精度只有±0.6μm。量精度小于±0.14μm,主要是由于像元細(xì)分時(shí)利用像素邊界來(lái)細(xì)分編碼條紋的,其最終的精度肯定也會(huì)受CMOS像單元IC制造工藝誤差的影響,同時(shí)也存在油漬的污染、光學(xué)放大所產(chǎn)生的編碼圖像畸變和熱噪聲等原因,存在像元邊界誤差,所以會(huì)犧牲部分的精度來(lái)作冗余碼。
通過(guò)對(duì)光柵尺的研究,利用增量及絕對(duì)位移測(cè)量的高精度,設(shè)計(jì)了一種宏微復(fù)合絕對(duì)光柵尺,實(shí)現(xiàn)絕對(duì)式光柵尺的高速測(cè)量與高精度測(cè)量,避免了雙增量光柵尺測(cè)量時(shí)速度切換所帶來(lái)的切換誤差。所設(shè)計(jì)的這種宏微復(fù)合的絕對(duì)光柵尺,在測(cè)量過(guò)程中其運(yùn)動(dòng)的主要過(guò)程是發(fā)生在增量測(cè)量中,這一個(gè)測(cè)量過(guò)程主要提供運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)粗精度的位置值,致使運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)實(shí)時(shí)知道運(yùn)動(dòng)位移位置,最終高精度的定位是在絕對(duì)位置測(cè)量階段反饋給運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng),即使在斷電后,只要重新上電就能通過(guò)絕對(duì)碼的解碼得出被切斷那一時(shí)刻的位置值,無(wú)需重置到參考點(diǎn),試驗(yàn)得出所設(shè)計(jì)的這種宏微復(fù)合絕對(duì)光柵尺的測(cè)量定位精度為±0.6μm,綜合測(cè)量速度最高可以達(dá)到2m/s。
[1] Argeseanu A,Popovici D,Cornea O,et al.A new algorithm and device for absolute linear encoders dedicated to long distance applications[C].USA:IEEE,2008.
[2] Kimura A,Gao W,Kim W J,et al.A sub-nanometric three-axis surface encoder with short-period planar gratings for stage motion measurement[J].Precision Engineering,2012,36(4):576-585.
[3] Fukada S,F(xiàn)ang B,Shigeno A.Experimental analysis and simulation of nonlinear microscopic behavior of ball screw mechanism for ultra-precision positioning[J].Precision Engineering,2011,35(4):650-668.
[4] Liu C H,Jywe W Y,Jeng Y R,et al.Design and control of a long-traveling nano-positioning stage[J].Precision Engineering,2010,34(3):497-506.
[5] Ro S K,Kim S,Kwak Y,et al.A linear air bearing stage with active magnetic preloads for ultraprecise straight motion[J].Precision engineering,2010,34(1):186-194.
[6] Shinno H,Yoshioka H,Gokan T,et al.A newly developed three-dimensional profile scanner with nanometer spatial resolution[J].CIRP Annals-Manufacturing Technology,2010,59(1):525-528.
[7] Buice E S,Otten D,Yang R H,et al.Design evaluation of a single-axis precision controlled positioning stage[J].Precision engineering,2009,33(4):418-424.
[8] Gao W.Precision nanometrology:sensors and measuring systems for nanomanufacturing[M].Germa-ny:Springer,2010.
[9] Rozman J,Pletersek A.Linear optical encoder system with sinusoidal signal distortion below 60dB[J].Instrumentation and Measurement,IEEE Transactions on,2010,59(6):1544-1549.
[10]Morinec A G.Power quality considerations for CNC machines:grounding[C]USA:IEEE,2000.
[11]Sun Qiang,Progress and technical features of absolute grating with high precision[J].The manufacturing Technology and Equipment Market,2012,(05):72-73.孫強(qiáng).高精度絕對(duì)式光柵尺研究進(jìn)展及技術(shù)難點(diǎn)[J].世界制造技術(shù)與裝備市場(chǎng),2012,(05):72-73.
[12]Liu Qing.The technique research and realization for increasion grating measuring accuracy and resolution[J].Acta Metrologica Sinica,2003,24(4):275-278.劉清.提高光柵測(cè)量精度和分辨率的技術(shù)研究與實(shí)現(xiàn)[J].計(jì)量學(xué)報(bào),2003,24(4):275-278.
[13]Yin Qingzong,Liu Jie.Application of dual grating scales in high speed and high precision displacement measurement[J].Machine Tool & Hydraulics,2012,40(17):107-111.殷慶縱,劉杰.雙光柵尺在高速高精度位移測(cè)量中的應(yīng)用[J].機(jī)床與液壓,2012,40(17):107-111.
[14]Engelhardt K,Seitz P.Absolute,high-resolution optical position encoder[J].Applied optics,1996,35(1):201-208.
[15]Durana M,Gallay R,Robert P.Absolute position detector for an apparatus for measuring linear angular values:USA:5235181[P].1993-08-10.
[16]Matsuzoe Y,Nakayama T,Yoshizawa T,et al.High-performance absolute rotary encoder using multitrack and M-code[J].Optical Engineering,2003,42(1):124-131.
[17]Zhao Yong,Su Xianyu,Li Wen.Phase subdivision of absolute coding grating[J].Journal of Optoelectronics.Laser,2010,21(1):91-95.趙勇,蘇顯渝,李雯.絕對(duì)編碼光柵的相位細(xì)分[J].光電子·激光,2010,21(1):91-95.
[18]Stevenson J T M,Jordan J R.Absolute position measurement using optical detection of coded patterns[J].Journal of Physics E:Scientific Instruments,1988,21(12):1140.
[19]Bremer J G.Measuring device for determining an absolute position of a movable element and scale graduation element suitable for use in such a measuring device:USA:5279044[P].1994-01-18.
[20]Fuertes J M,Balle B,Ventura E.Absolute-type shaft encoding using LFSR sequences with a prescribed length[J].Instrumentation and Measurement,IEEE Transactions on,2008,57(5):915-922.
[21]Iain Robert Gordon-ingram.Absolute position measurement:USA:7499827[P].2009-03-03.
[22]Kim J A,Kim J W,Kang C S,et al.An optical absolute position measurement method using aphaseencoded single track binary code[J].The Review of scientific instruments,2012,83(11):115115-1-6.
[23]Kao C F,Huang H L,Lu S H.Optical encoder based on fractional-talbot effect using two-dimensional phase grating[J].Optics Communications,2010,283(9):1950-1955.
[24]Wan Qiuhua,Wang Yuanyuan,Sun Ying,et al.A novel miniature absolute metal rotary encoder based on single-track periodic gray code[J].USA:IEEE Computer Society,2012.
[25]Su Haibing,Liu Enhai.Research on single-ring absolute encoder and its applications[J].Optics and Precision Engineering,2002,10(1):74-78.蘇海冰,劉恩海.單圈絕對(duì)式編碼器的研制[J].光學(xué)精密工程,2002,10(1):74-78.
[26]Chen Yun,Sun Chengpu,He Huiyang.Research on the encoding method of single ring absolute code disc[J].Acta Photonica Sinica,2006,35(3):460-463.陳赟,孫承浦,何惠陽(yáng).單圈絕對(duì)式碼盤編碼方法的研究[J].光子學(xué)報(bào),2006,35(3):460-463.
[27]Leviton D B,Garza M S.Recent advances and applications for NASA's new,ultra-h(huán)igh sensitivity,absolute,optical pattern recognition encoders[J].SPIE,2000,4091:375–384.
[28]M?kynen A,Ruotsalainen T,Rahkonen T,et al.CMOS-compatible position-sensitive devices(PSDs)based on photodetector arrays[J].Sensors and Actuators A:Physical,2003,105(3):261-270.
[29]Yuan B,Yan H M,Cao X Q.A new subdivision method for grating-based displacement sensor using imaging array[J].Optics and Lasers in Engineering,2009,47(1):90-95.
[30]Sugiyama Y,Matsui Y,Toyoda H,et al.A 3.2kHz,14-bit optical absolute rotary encoder with a CMOS profilesensor[J].IEEE Sensors Journal,2008.8(8):1430-1436.
[31]Xiong Ruijia,Hu Wanli.Analysis of sequence characteristics of pseudo-random m and Its source program based on C language[J].Chinese Journal of Engineering Geophysics,2011,8(1):110-112.熊睿佳,胡萬(wàn)利.偽隨機(jī)m序列特性及C語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)[J].工程地球物理學(xué)報(bào),2011,8(1):110-112.