丘小輝 盧文成 毛行奎
(福州大學電氣工程與自動化學院,福州 350108)
在射頻領(lǐng)域里,超高頻的功率放大器占據(jù)著重要地位。相比傳統(tǒng)的線性功率放大器,E 類放大電路結(jié)構(gòu)簡單,開關(guān)管工作在開關(guān)狀態(tài),工作效率高,因此廣泛用于無線電能傳輸領(lǐng)域。
文獻[1-2]的計算公式可讓E 類放大電路工作在高效狀態(tài)。國內(nèi)外研究人員對E 類放大電路的設計做了很多研究,比如文獻[3]基于富式分解和高Q假設來推導方程,計算出效率為100%的一組最佳參數(shù),還能適應電路參數(shù)的變化;文獻[4]的推導過程利用了振蕩理論的解析法,簡化了計算公式。
本文闡述了E 類放大電路的工作過程,設計過程簡潔、直觀、易懂,能較準確的確定并聯(lián)諧振電容C1的值;推導和仿真過程中發(fā)現(xiàn)C1存在值域,超出這值域電路均不能實現(xiàn)ZVS(零電壓開通),還使開關(guān)管的電壓應力變大、出現(xiàn)電流尖峰及開通損耗不為0。首先用不同的C1值來仿真驗證理論參數(shù),分析各自對電路的影響,進一步了解電路的工作過程,最后仿真和實驗驗證C1為最大諧振電容下得到的參數(shù),誤差在一定范圍內(nèi)可以接受。
本文推導的公式是基于以下幾個假設:
1)開關(guān)管是理想的,即導通電阻為0,開關(guān)過程瞬間完成。
2)諧振電路的品質(zhì)因數(shù)Q足夠大,使負載電流只含基波正弦分量。
3)射頻扼流圈Lr足夠大,且忽略內(nèi)阻,使輸入電流的紋波很小。
4)驅(qū)動信號的占空比為0.5。
5)C1為線性電容,其電容值不隨Vc1改變。
E 類放大電路的基本原理如圖1所示,其中VDD是外加直流電壓;Lr是射頻扼流圈且足夠大,其作用是使IDD為恒值;C1是外加的并聯(lián)諧振電容,調(diào)節(jié)使電路工作在理想ZVS 狀態(tài),以提高工作效率;Vg是方波驅(qū)動信號;T 是理想開關(guān)管;Lp、Rp和Cp構(gòu)成輸出諧振電路;Rp是負載電阻。
圖1 E 類放大電路原理圖
圖2是C1兩端的電壓Vc1和輸出電流i0隨Vg的變化。諧振電路的品質(zhì)因數(shù)足夠大,則輸出電流i0(θ)可假設為
上述φ是i0(θ)的初相角。
圖2 E 類放大電路的關(guān)鍵波形
諧振電路的品質(zhì)因數(shù)Q為
穩(wěn)態(tài)工作下,一個完整的開關(guān)周期包括4 個工作過程[5]:
(1)θ=0,T從導通變?yōu)殛P(guān)斷,C1使T實現(xiàn)軟關(guān)斷,同時C1開始充電。
(2)0<θ<π,T處于斷態(tài),C1與Lp、Rp和Cp并聯(lián)諧振,C1先充電再放電,將能量輸送到負載側(cè),因此流過C1的電流:
C1兩端的電壓:
(3)當θ=π時,T從關(guān)斷變?yōu)閷ǎ瑸闇p小開通損耗,電路要滿足ZVS 條件:圖2所示Vc1(θ0)=0,即
(4)當π<θ <2π時,T處于通態(tài),因電感Lr伏秒積平衡,且忽略其內(nèi)阻,因此Lr兩端的平均電壓為0,得到
輸出諧振電路的阻抗為
上述公式中Xp>0,即諧振電路成感性,文獻[4]提到,Xp用于校正輸出電壓的相位,以達到最佳狀態(tài)。
Zp兩端的電壓:
因Vc1(θ)是周期函數(shù),可在(θ+φ1)處進行傅里葉分解,得到的基波分量等于Vp(θ),即
可知
由文獻[4]得到
假設Lp、Cp、Rp、?、VDD為已知量。當θ0=π,從圖2可知電路處于臨界ZVS 狀態(tài)。由式(5)至式(7)、式(14),利用Mathcad 軟件的迭代解方程辦法求出4 個未知量φ、Im、IDD、C1,此時C1定義為最大諧振電容。
本文進一步分析了出錯的數(shù)據(jù)幀中,幀內(nèi)字節(jié)出錯的比例以及出錯位置.圖3是40MHz帶寬時數(shù)據(jù)幀內(nèi)字節(jié)出錯比例的均值和方差.可以看到對不同的FA長度,所有MCS 的幀內(nèi)字節(jié)出錯比例平均值在10%以下,只有MCS12在FA為32時稍高一點,不到11%.方差大部分在1左右,最大不過4.5.帶寬20MHz的結(jié)果和此一致.這說明幀內(nèi)出錯的字節(jié)數(shù)很少,采用FEC編碼糾錯是可行的,而且會比較高效.
C1減小會導致θ0<π,繼續(xù)減小到出現(xiàn)i0<IDD時,電路對C1再次充電,使其兩端電壓不為0,此時開關(guān)管導通,不能實現(xiàn)ZVS。當C1為某個值的時候,使得θ=π的時刻滿足條件:
電路恰好處于ZVS 狀態(tài),這個C1就定義為最小諧振電容。由式(5)至式(7)、式(14)、式(17),利用Mathcad 軟件的迭代解方程辦法求出5 個未知量φ、Im、IDD、θ0、C1(最小諧振電容)。
取電路的 saber 仿真參數(shù)為:Lp=4.7μH,Lr=100μH,Cp=378pF,Rp=7.1Ω,?=4MHz,VDD=25V。
當C1=1400pF(大于最大諧振電容)時,得到saber 仿真結(jié)果如圖3所示,其中iT是iT1的細部波形。開關(guān)管在開通時刻出現(xiàn)很大的電流尖峰,同時Vc1在開通時刻不為0,即不能實現(xiàn)ZVS,導致開通損耗不為0,工作效率降低。
圖3 C1=1400pF 的仿真波形
當θ0= π時,計算出電路參數(shù)為:φ=-0.929rad,Im=2.71A,IDD=1.032A,C1=1100pF(最大諧振電容),仿真波形如圖4所示。
仿真參數(shù)為:θ0≈π,φ=-0.93rad,Im=2.72A,IDD=1.05A,與理論值基本符合,從圖4可知電路處于臨界ZVS。開關(guān)管處于斷態(tài)期間,因i0<IDD,則C1開始充電,Vc1上升,直到i0=IDD時,Vc1達到最大值;此后i0>IDD,C1開始放電,Vc1減小,最終Vc1下降為0,開關(guān)管在此刻開通。
圖4 C1=1100pF 的仿真波形
C1為最小諧振電容時,求出電路參數(shù)為:θ0=2rad,φ=-0.46rad,Im=3.08A,IDD=1.35A,C1=410pF,仿真波形如圖5所示。
圖5 C1=410pF 的仿真波形
仿真參數(shù)為:θ0=1.88rad,φ=-0.5rad,Im=3.04A,IDD=1.37A,與理論值基本符合。與圖4相比,雖然也能實現(xiàn)ZVS,但Vc1的峰值變大,導致開關(guān)管的電壓應力要求變高。
C1小于最小諧振電容時,因Vc1波形畸變,諧波含量大,導致輸出電流的正弦度較差,因此仿真參數(shù)與理論值的誤差較大。當C1=200pF 時,由式(5)至式(7)、式(14)求出電路參數(shù)為:θ0=1.536rad,φ=-0.24rad,Im=3.21A,IDD=1.46A,仿真波形如圖6所示。
仿真參數(shù)為:θ0≈1.43rad,φ=-0.3rad,Im=3.05A,IDD=1.41A,與理論值的誤差較大。具體分析過程與圖4類似,這里不再贅述,不同的是:開關(guān)管開通前i0<IDD,使C1再次充電,無法實現(xiàn)ZVS,因此開通損耗不為0;開通時刻Vc1瞬間降為零,使開關(guān)管出現(xiàn)很大的電流尖峰(圖6iT1所示)。
綜上所述,C1實際選擇最大諧振電容。
圖6 C1=200pF 的仿真波形
C1選擇最大諧振電容,開關(guān)管選擇IRF510,考慮Lp的內(nèi)阻,將其歸算到負載電阻,則Rp=7.865Ω,高Q電容Cp=378.7pF,θ0=π,重新求出參數(shù):φ=-0.87rad,Im=2.609A,IDD=1.071A,C1=1000pF。因IRF510 有100pF 左右的寄生輸出電容,實際外加的C1為900pF,仿真波形如圖7所示。
圖7 C1=1000pF 的實際仿真波形
仿真參數(shù)為:θ0≈π,φ=-1rad,Im=2.51A,IDD=1.06A,因IRF510 不是理想開關(guān)管,工作效率不為100%,因此Im和IDD的仿真參數(shù)與理論值相比偏小。此時電路處于臨界ZVS(如圖7所示)。
實驗波形如圖8所示。
實驗參數(shù)為:θ0≈π,φ=-1.1rad,Im=2.4A,IDD=0.96A,圖8所示電路處于臨界ZVS。因Lr、C1、Cp都含有內(nèi)阻,所以Im和IDD的實驗參數(shù)與仿真值相比偏小。實驗參數(shù)與理論值相比較,在一定誤差范圍內(nèi)可以接受。
圖8 C1=1000pF 的實驗波形
圖9是實驗部分的實物圖,電路各部分如圖所標示。
圖9 實驗部分的實物圖
本文推導過程易于理解,能較準確的算出實際需要的C1值(最大諧振電容),得到的理論參數(shù)經(jīng)仿真和實驗驗證,其誤差在一定范圍能接受。通過不同C1值的仿真波形,分析各自對電路的影響,對器件的選型也有一定的幫助,得到的仿真參數(shù)和理論值一致,也為E 類放大電路的參數(shù)設計提供參考。本文的貢獻之處:①發(fā)現(xiàn)C1存在值域,超出這值域電路均不能實現(xiàn)ZVS,還會引起其他問題;②推導過程是基于傅式分解和高Q假設,使設計過程更簡潔。
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