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        基于MATLAB/Simulink的IGBT導(dǎo)通模型研究

        2015-04-17 03:24:56朱永超趙剛
        電氣自動化 2015年6期
        關(guān)鍵詞:工具箱導(dǎo)通波形

        朱永超,趙剛

        (上海交通大學(xué) 電氣工程系 電力傳輸與功率變換控制教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,上海 200240)

        基于MATLAB/Simulink的IGBT導(dǎo)通模型研究

        朱永超,趙剛

        (上海交通大學(xué) 電氣工程系 電力傳輸與功率變換控制教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,上海 200240)

        基于現(xiàn)有的MATLAB/Simulink模型,運(yùn)用S-函數(shù)(System Function),對原IGBT/Diode模型進(jìn)行改造,設(shè)計(jì)了一種新的、更加精確的IGBT導(dǎo)通模型,有效地解決了原模型理想導(dǎo)通的弊端,使仿真結(jié)果更接近實(shí)際。提出了用導(dǎo)通電阻來模擬IGBT導(dǎo)通過程的新思路,觸發(fā)電壓的變化能夠?qū)崟r(shí)反映在導(dǎo)通電阻的變化率上,仿真結(jié)果證實(shí)了這一理論。利用MATLAB/Simulink的封裝方法對創(chuàng)建了自定義的IGBT模型,設(shè)計(jì)了簡單的外圍電路,對模型進(jìn)行驗(yàn)證,仿真結(jié)果與原模型進(jìn)行對比,效果明顯。最后,用自定義IGBT模型作為開關(guān),建立了雷電流發(fā)生電路模型。搭建了硬件測試平臺,仿真結(jié)果與硬件測試結(jié)果進(jìn)行對比,結(jié)果令人滿意。

        MATLAB/Simulink;IGBT;S-函數(shù);導(dǎo)通電阻;自定義模型

        0 引言

        MATLAB中的Simulink及Simpower System(SPS)工具箱提供了電力系統(tǒng)和電力電子電路仿真的豐富的模塊資源,為電路仿真分析提供了便利[1]。然而,基于仿真效率的考慮,通常一些模塊都進(jìn)行了一定程度的簡化,例如IGBT/Diode模塊。此模塊屬于理想開關(guān)模型,它在電機(jī)控制、電力系統(tǒng)無功補(bǔ)償?shù)榷鄠€(gè)領(lǐng)域的仿真建模中有廣泛應(yīng)用。但在其他用途中,如文獻(xiàn)[2]的IGBT串聯(lián)動態(tài)均壓仿真中,在需要考慮IGBT在不同觸發(fā)電壓下的導(dǎo)通特性時(shí),就不能利用此理想模型,需要更加精細(xì)的仿真模型。這也是本文所研究問題的由來。

        Simulink中的S-函數(shù)(System Function)是一種強(qiáng)大的對模塊庫進(jìn)行擴(kuò)展的新工具。利用S-函數(shù),我們可以定制自己的Simulink 模塊[3]。

        MATLAB/Simulink依托MATLAB強(qiáng)大的運(yùn)算能力使電路仿真變得簡單,這是它的一大優(yōu)勢。但Simulink另一突出優(yōu)勢在于它的可擴(kuò)展性。即可以在它的平臺上,針對特定問題、特定應(yīng)用環(huán)境,改造現(xiàn)有模塊,或重新封裝自定義模塊,創(chuàng)建新模塊,以更好地實(shí)現(xiàn)仿真功能。文獻(xiàn)[4]介紹了電力系統(tǒng)仿真工具箱的拓展,文獻(xiàn)[5]在此基礎(chǔ)上開發(fā)了新的電力系統(tǒng)仿真工具箱(PSST)。而針對IGBT的仿真模型,文獻(xiàn)[6]利用PSIM軟件包設(shè)計(jì)了一種更加準(zhǔn)確的IGBT開關(guān)模型。因此,本文考慮在MATLAB/Simulink的環(huán)境下,利用S-函數(shù),設(shè)計(jì)新的IGBT模型,使其在導(dǎo)通特性方面能更好地實(shí)現(xiàn)仿真功能。

        1 建模思路

        通過查閱MATLAB/help文檔中IGBT模型的內(nèi)部電路(見圖1)描述,發(fā)現(xiàn)原模型的開關(guān)控制由g是否為0決定,Ron和Lon均為導(dǎo)通后的穩(wěn)態(tài)值,Vf反映了正向?qū)ǖ腣ce門限電壓。結(jié)合實(shí)際的IGBT手冊,柵極(g)控制電壓也有一個(gè)門限值Vth(一般為5 V)。而導(dǎo)通的動態(tài)過程中,不同的觸發(fā)電壓對應(yīng)的導(dǎo)通時(shí)間也是不同,這也是工程中常采用強(qiáng)觸發(fā)的原因之一[7]。

        綜合上述問題,結(jié)合文獻(xiàn)[8]和文獻(xiàn)[9]所給出的IGBT詳細(xì)的開關(guān)原理和導(dǎo)通過程分析,本文提出如下建模思路:

        (1)柵極門限電壓可以用比較器簡單實(shí)現(xiàn),且Vth可以預(yù)先設(shè)定(查對應(yīng)型號的IGBT手冊)。

        圖1 IGBT模型內(nèi)部描述

        (2)對于導(dǎo)通時(shí)間,通過導(dǎo)通電阻Ron(動態(tài)值)這一參數(shù)的變化曲線來反映。Ron初值Ron0設(shè)為MΩ級,終值設(shè)為前述的Ron穩(wěn)態(tài)值Ronend,中間變化規(guī)律采用指數(shù)衰減。這樣,由IGBT手冊得到對應(yīng)不同觸發(fā)電壓的導(dǎo)通時(shí)間ton,再利用如下公式得到時(shí)間常數(shù)τ:

        以上運(yùn)算需要在仿真進(jìn)行前運(yùn)行。

        (3)S-函數(shù)的作用體現(xiàn)在仿真過程中:a)比較柵極電壓Vg與Vth大小,決定輸出觸發(fā)信號g。b)對Vg進(jìn)行判斷,分段寫出導(dǎo)通電阻Ron的衰減曲線,如公式(3):

        這樣,對應(yīng)此時(shí)的仿真時(shí)刻,即可得到此時(shí)的Ron值。注意:此式中的Ron和t0也要經(jīng)過處理:即當(dāng)觸發(fā)電壓改變時(shí),分別對應(yīng)上一時(shí)刻的Ron值和上一時(shí)刻t值,這樣才能保證Ron連續(xù)變化,符合實(shí)際??梢奡-函數(shù)功能之強(qiáng)大。

        通過上述討論,利用M文件進(jìn)行預(yù)運(yùn)算、賦值、啟動仿真,理論上可以實(shí)現(xiàn)Ron的連續(xù)衰減控制。但SimpowerSystem是MATLAB/Simulink中的一個(gè)工具箱,它們之間的接口并非完美。M文件中的set_param()函數(shù)雖然可以進(jìn)行參數(shù)傳遞,從而改變SPS工具箱中模塊的參數(shù),但這些改變只能在仿真未運(yùn)行時(shí),即sim()函數(shù)未執(zhí)行時(shí)進(jìn)行。所以在目前的MATLAB/Simulink環(huán)境下,要想在仿真過程中改變導(dǎo)通電阻Ron需要尋求其他途徑。

        本文一開始考慮的是通過多個(gè)斷路器串聯(lián)導(dǎo)通控制來分段模擬連續(xù)導(dǎo)通電阻的變化,也能實(shí)現(xiàn)基本功能,但斷路器的阻值分配和控制復(fù)雜,雖然S-函數(shù)能實(shí)現(xiàn)此功能,但計(jì)算量增大,仿真速度太慢。因此本文最終采用通過可控電壓源設(shè)計(jì)的自定義可變電阻模塊(R_var)。

        2 改造后的IGBT模型

        改造后IGBT的整體框圖如圖2所示。

        可以看出,實(shí)際觸發(fā)電壓(信號輸入端口1:g)與觸發(fā)門限電壓(Vth,預(yù)先設(shè)定)同時(shí)進(jìn)入S-函數(shù)模塊,處理后,輸出二個(gè)信號:1)實(shí)際觸發(fā)信號g,此信號可以直接送入原IGBT模塊的觸發(fā)端口(g)。2)導(dǎo)通電阻Ron的波形,一路送入示波器,便于觀察、驗(yàn)證;另一路進(jìn)入R_var模塊,控制產(chǎn)生實(shí)際等效電阻波形。

        考慮到有些應(yīng)用場合可能需要實(shí)現(xiàn)雙向?qū)?,故反并?lián)一二極管。其他均為測量、監(jiān)控模塊,如輸出端口1∶m即為模仿原IGBT的測量端口,實(shí)現(xiàn)新IGBT模塊的電壓電流輸出。

        圖2 改造后的IGBT模型

        子系統(tǒng)R_var內(nèi)部設(shè)計(jì)如圖3,此設(shè)計(jì)明顯引入了代數(shù)環(huán)(Algebraic loop),容易引起仿真不收斂,需要通過選擇合適的算法或者加入延時(shí)模塊(Td)來避免。

        圖3 R_var模型

        為方便自定義IGBT模塊的調(diào)用,Simulink提供了Mask(封裝)功能。后面的測試電路均調(diào)用自定義封裝后的IGBT。

        3 模型仿真測試

        3.1 基本功能測試

        基本功能測試采用電路如圖4所示。

        圖4 基本功能測試電路

        電路參數(shù)如下:直流電源電壓220 V,保護(hù)電阻和負(fù)載電阻均為1 kΩ。IGBT參數(shù)參考國際整流器公司IR(International Rectifier)的GPS60B120KD型號的IGBT。觸發(fā)門限電壓采用典型值5 V,觸發(fā)電壓先設(shè)定為常數(shù)18 V。根據(jù)IGBT手冊中的導(dǎo)通延遲時(shí)間,分別設(shè)定對應(yīng)不同觸發(fā)電壓Vg的導(dǎo)通時(shí)間如表1所示。

        表1 不同Vg對應(yīng)的導(dǎo)通時(shí)間

        在Simulink仿真時(shí)加入適當(dāng)模塊,即可得到對應(yīng)不同觸發(fā)電壓的Ron下降曲線見圖5。Ron波形與理論相符。其中Fcn模塊中的表達(dá)式即公式(2)。

        圖5 Ron_all波形

        將測試電路中的IGBT分別換成原IGBT/Diode模塊和改造后的IGBT模塊,得到的輸出電壓如圖6所示。

        圖6 輸出電壓波形比較

        初步結(jié)果分析:輸出電壓上升時(shí)間與原IGBT差異明顯,更符合實(shí)際IGBT的導(dǎo)通特性。因此,此模型可以實(shí)現(xiàn)單電壓觸發(fā)時(shí)的基本功能。

        3.2 強(qiáng)觸發(fā)測試

        當(dāng)觸發(fā)電壓變化時(shí),測試新模塊的導(dǎo)通電阻Ron的變化曲線,測試電路同上。為測試不同觸發(fā)電壓下的Ron波形,故設(shè)置觸發(fā)電壓如表2,使其包含三段不同范圍。

        表2 不同時(shí)刻的V g

        仿真得到多觸發(fā)電壓時(shí)Ron連續(xù)波形如圖7如示。

        圖7 多電壓觸發(fā)測試

        分析Ron對應(yīng)于Vg的波形,可以發(fā)現(xiàn),此模型能夠反映出觸發(fā)電壓不同時(shí),導(dǎo)通電阻的動態(tài)變化,與第二節(jié)的理論分析相符,基本達(dá)到了預(yù)期目標(biāo)。

        3.3 IGBT 串聯(lián)測試

        為解決IGBT串聯(lián)時(shí)的仿真問題,新IGBT模型設(shè)計(jì)之初即考慮了多IGBT串聯(lián)仿真的問題。自定義模型的參數(shù)設(shè)置窗口有一參數(shù)為“igbt no.”,此即為了給IGBT編號,此編號可以傳遞進(jìn)S-函數(shù)模塊。S-函數(shù)中的變量設(shè)為矩陣形式,其中不同行代表不同IGBT的參數(shù)隨時(shí)間的變化值。這樣,就實(shí)現(xiàn)了用一個(gè)S-函數(shù)控制多IGBT模塊的目的。

        兩個(gè)IGBT模塊串聯(lián)測試電路如圖8所示。

        圖8 IGBT串聯(lián)測試

        觸發(fā)電壓采用18 V常規(guī)觸發(fā),其他參數(shù)未變。其中第二個(gè)IGBT的觸發(fā)電壓人為延后40 ns,用來模擬觸發(fā)延時(shí)。將模型中的IGBT分別換成改造后的IGBT和原IGBT進(jìn)行仿真,得到的第二個(gè)IGBT的輸出波形如圖9所示。

        比較兩模型的電壓電流波形,可以明顯看出原IGBT的理想導(dǎo)通特性,從而也顯示了新模型的優(yōu)勢所在,這也是本設(shè)計(jì)的目的。但與此同時(shí),此測試也暴露出了新模型的缺陷:由于導(dǎo)通電阻模塊采用受控電壓源模擬等效,輸入為支路電流,故當(dāng)支路電流為0時(shí),受控電壓源輸出為0,相當(dāng)于R_var模塊不起作用,這是產(chǎn)生圖示電壓跳變的原因。

        4 硬件平臺驗(yàn)證測試

        結(jié)合實(shí)驗(yàn)室的“500 V組合波發(fā)生器”實(shí)驗(yàn)裝置,在MATLAB/Simulink平臺上搭建此裝置的如下模型,并進(jìn)行仿真測試。

        圖9 串聯(lián)測試結(jié)果對比

        圖10 硬件平臺建模

        圖10中,IGBT模塊參數(shù)與前述一致(與實(shí)際IGBT型號一致),觸發(fā)電壓設(shè)置為恒定18 V(與實(shí)際參數(shù):2節(jié)9 V電池一致)。其他電路參數(shù)可以參考雷電流發(fā)生器典型電路。仿真結(jié)果如圖11所示。

        圖11 仿真波形

        實(shí)驗(yàn)室的“500 V組合波發(fā)生器”可以產(chǎn)生1.2/50μs標(biāo)準(zhǔn)雷電流波形,此裝置內(nèi)部采用接觸器作為開關(guān)器件,有接線端子可以擴(kuò)展其他形式的開關(guān),本實(shí)驗(yàn)使用IGBT作為開關(guān)器件。觸發(fā)采用兩節(jié)9 V電池串聯(lián),即18 V電壓。

        由于硬件條件限制,實(shí)驗(yàn)選用充電電壓為200 V,進(jìn)行多次重復(fù)試驗(yàn),示波器波形如圖12所示。

        對比仿真結(jié)果和實(shí)測波形,選取一次試驗(yàn)波形,比較波頭波尾時(shí)間,具體參數(shù)如表3所示。

        表3 仿真與實(shí)際測試參數(shù)對比

        圖12 實(shí)測波形-波尾時(shí)間

        對比可以看出,仿真結(jié)果基本與實(shí)測結(jié)果相吻合,基本驗(yàn)證了新IGBT模塊的可用性。

        5 結(jié)束語

        IGBT是目前發(fā)展最快的一種電力電子器件,在各領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用[10],這就要求我們不斷更新現(xiàn)有的仿真模型,得到更加精確、更加符合實(shí)際的新模型。本文著眼于MATLAB/Simulink模型中現(xiàn)有IGBT/Diode模塊的理想開關(guān)特性,提出了用導(dǎo)通電阻來動態(tài)模擬IGBT導(dǎo)通過程的建模思想。

        借助MATLAB中S-函數(shù)的強(qiáng)大功能,實(shí)現(xiàn)了針對不同導(dǎo)通電壓的導(dǎo)通電阻的不同下降曲線。盡管基于現(xiàn)在的Simulink平臺,SimpowerSystem工具箱的接口不能很好的實(shí)現(xiàn)這一功能,只能通過受控源自定義可變電阻模塊或通過多個(gè)斷路器進(jìn)行分段模擬,但這為將來對IGBT導(dǎo)通特性的仿真研究提供了一種很好思路。

        本文通過大量的仿真對比和實(shí)測對比以驗(yàn)證改造后IGBT模塊的可用性,結(jié)果都基本達(dá)到了預(yù)期目標(biāo)。

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        A Research on IGBT Turn-on Model Based on MATLAB/Simulink

        ZHU Yong-chao,ZHAO Gang
        (Key Laboratory of Control of Power Transmission and Conversion of the Ministry of Education,Department of Electrical Engineering of Shanghai Jiao Tong University,Shanghai200240,China)

        Based on the existing MATLAB/Simulink model,by using S-function(System Function)tomodify the existing IGBT/Diodemodel,

        we have designed a novel,more accurate IGBT turn-onmodel,thus effectively overcoming the difficulty in achieving ideal conduction in the originalmodel and making simulation resultsmore close to actual situation.In this paper,we propose a new idea for simulating IGBT conduction process through the on-resistance,and variations of the trigger voltage can be reflected on a real-time basis in the variation rate of the on-resistance.The theory is confirmed by simulation results.In the MATLAB/Simulink encapsulatingmethod,we have created a self-defined IGBT model and designed a simple external circuit to verify the model.A comparison between the simulation result and the originalmodel shows that the effect is obvious.Finally,using the self-defined IGBTmodel as a switch,we have set up a model of lighting current generating circuit,and established a hardware test platform.A comparison between the simulation result and hardware test result shows that a satisfactory result is achieved.

        MATLAB/Simulink;IGBT;S-function;on-resistance;self-defined model

        10.3969/j.issn.1000 -3886.2015.06.018

        TM85

        A

        1000-3886(2015)06-0056-04

        定稿日期:2015-03-31

        朱永超(1990-),男,山東人,碩士生;研究方向?yàn)殡姎庠囼?yàn)與高電壓技術(shù)。

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