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        某雷達(dá)匯流環(huán)主要電性能參數(shù)分析

        2015-04-14 03:05:26劉文科鄭傳榮趙克俊張瑞玨
        火控雷達(dá)技術(shù) 2015年4期
        關(guān)鍵詞:電刷匯流耐壓

        劉文科 鄭傳榮 趙克俊 張瑞玨

        (中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第三十八研究所 合肥 230088)

        0 引言

        匯流環(huán),也稱滑環(huán),是實(shí)現(xiàn)設(shè)備旋轉(zhuǎn)部分與固定部分之間的電能和信號(hào)穩(wěn)定可靠連接的精密裝置[1]。在匯流環(huán)運(yùn)行過程中,其性能的好壞將直接影響其工作穩(wěn)定性、可靠性和使用壽命,進(jìn)而影響雷達(dá)總體的工作性能。對(duì)匯流環(huán)進(jìn)行性能參數(shù)的檢測(cè)能夠有效地了解和掌握匯流環(huán)的性能,及時(shí)發(fā)現(xiàn)問題,并解決問題。

        本文對(duì)某型號(hào)雷達(dá)匯流環(huán)的主要電性能參數(shù)進(jìn)行了實(shí)際測(cè)試,對(duì)測(cè)試的結(jié)果進(jìn)行了原因分析,提出了相應(yīng)的解決措施,對(duì)今后類似產(chǎn)品的問題分析和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)提供參考依據(jù)。

        1 主要性能參數(shù)測(cè)試

        1.1 接觸電阻測(cè)試

        電刷與導(dǎo)電環(huán)接觸部位之間的電阻稱為接觸電阻。接觸電阻的大小及變化是衡量匯流環(huán)質(zhì)量好壞的重要指標(biāo)。一般來說,接觸電阻越小,接觸性能越好。過大的接觸電阻會(huì)使接觸部位溫度升高,導(dǎo)致接觸件表面氧化加快,從而降低壽命。接觸電阻的變化直接影響匯流環(huán)信號(hào)傳輸?shù)目煽啃院头€(wěn)定性,甚至出現(xiàn)故障失效[3,4]。

        接觸電阻采用智能高精度微電阻測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量。測(cè)試方法為:匯流環(huán)在試驗(yàn)臺(tái)上以一定的速度轉(zhuǎn)動(dòng),將被測(cè)的兩相鄰?fù)ǖ赖膶?dǎo)電環(huán)引線串聯(lián),微電阻測(cè)試儀兩接線端分別連接這兩個(gè)通道的電刷引線,獲得相串聯(lián)的兩個(gè)通道的動(dòng)態(tài)接觸電阻變化值,將該值除以2 即為單個(gè)通道的動(dòng)態(tài)接觸電阻變化值。

        1.2 絕緣電阻測(cè)試

        絕緣電阻是指通道之間以及各通道與地之間的泄露電阻。

        絕緣電阻采用兆歐表測(cè)量。其測(cè)試方法為:匯流環(huán)在試驗(yàn)臺(tái)上以一定的速度轉(zhuǎn)動(dòng),將電刷引線隔離放置,用兆歐表兩端分別接匯流環(huán)外殼和被測(cè)通道的導(dǎo)電環(huán)引線,可測(cè)得該通道對(duì)地的絕緣電阻;同理,將兆歐表兩端分別接兩個(gè)相鄰?fù)ǖ赖膶?dǎo)電環(huán)引線,則可測(cè)得相鄰?fù)ǖ篱g的絕緣電阻。

        1.3 電介質(zhì)強(qiáng)度測(cè)試

        電介質(zhì)強(qiáng)度是指在導(dǎo)電環(huán)兩個(gè)相鄰電路之間加上一定的直流或50Hz 交流電壓,其最薄弱點(diǎn)所能承受的電位擊穿的能力。當(dāng)電路發(fā)生電弧放電或漏電電流超過限定值,則認(rèn)為失效。

        電介質(zhì)強(qiáng)度與材料的絕緣介質(zhì)性能有關(guān),反映了承受高電位擊穿的能力。試驗(yàn)采用耐壓測(cè)試儀對(duì)匯流環(huán)各通道進(jìn)行測(cè)試。具體方法為:將耐壓測(cè)試儀的兩端接到匯流環(huán)的被測(cè)通道上,施加規(guī)定的電壓值并保持1min,若未發(fā)生飛弧或擊穿,則說明符合要求,否則表明不合格。

        2 測(cè)試結(jié)果與分析

        2.1 接觸電阻測(cè)試結(jié)果與分析

        為保證環(huán)路導(dǎo)電傳輸?shù)姆€(wěn)定性,匯流環(huán)各個(gè)通道的動(dòng)態(tài)接觸電阻變化值要求不超過10mΩ。試驗(yàn)匯流環(huán)測(cè)試得到的數(shù)據(jù)如表1所示。

        設(shè)計(jì)意圖 同理,利用步驟化呈現(xiàn)方式對(duì)圖形進(jìn)行移動(dòng).通過移動(dòng)可以看到,移動(dòng)后的圖形6④與第二步代數(shù)式的意義相同:c2等于大正方形的面積減去兩個(gè)長(zhǎng)方形的面積.移動(dòng)后可以得到兩個(gè)正方形,它們的邊長(zhǎng)分別為a和b,面積分別對(duì)應(yīng)為a2和b2.原圖與移動(dòng)后的圖形中四個(gè)三角形的面積是相等的,除了三角形面積之外,剩下的正方形面積是什么關(guān)系呢?通過構(gòu)造這兩個(gè)正方形,得出c2與a2、b2之間的關(guān)系.為了避免產(chǎn)生干擾,同樣可以刪除多余信息,得出c2=a2+b2.圖形展示完后,再讓學(xué)生觀看圖6⑥,讓學(xué)生感受它們之間的關(guān)系.

        表1 匯流環(huán)各通道動(dòng)態(tài)接觸電阻變化實(shí)測(cè)值

        從表1 中可以看出,3、4 號(hào)通道的動(dòng)態(tài)接觸電阻變化值偏大,達(dá)到34mΩ,已超過指標(biāo)要求。這種現(xiàn)象出現(xiàn)的可能原因主要有:電刷與導(dǎo)電環(huán)之間的接觸不好,接觸壓力不夠,造成虛接觸;導(dǎo)電環(huán)表面覆蓋了一層導(dǎo)電性差的金屬氧化膜,導(dǎo)致接觸電阻增加;由于加工或安裝的原因,使電刷或?qū)щ姯h(huán)有輕微變形。

        經(jīng)過仔細(xì)檢查發(fā)現(xiàn),在導(dǎo)電環(huán)表面已沉積了一層氧化膜,造成了通道動(dòng)態(tài)接觸電阻變化值偏大。對(duì)導(dǎo)電環(huán)接觸表面進(jìn)行砂紙打磨并用無水乙醇清洗后測(cè)試,動(dòng)態(tài)接觸電阻變化值減小為4mΩ,達(dá)到指標(biāo)要求。

        總的來說,接觸電阻變化值會(huì)受到接觸材料、接觸形式和表面狀態(tài)、機(jī)械狀態(tài)等多種因素的影響。降低接觸電阻變化值的有效途徑主要有:

        (1)采用綜合性能優(yōu)良的接觸材料,包括良好的導(dǎo)電性、化學(xué)穩(wěn)定性、耐磨性等。滑環(huán)最常用的材料為銅合金,并在表面鍍銀等貴金屬;電刷的材料較多,有銅合金、石墨、銅-石墨、銀-石墨以及貴金屬合金等[5];

        (2)采用適當(dāng)?shù)慕佑|壓力。理論及實(shí)踐證明,接觸壓力對(duì)接觸電阻變化值具有重要影響。接觸壓力越大,接觸電阻變化值越小。但當(dāng)接觸壓力過大時(shí),會(huì)導(dǎo)致接觸面的摩擦力增大,電刷和導(dǎo)電環(huán)的磨損加劇,使用壽命縮短[6]。

        (3)增加接觸元件間的有效接觸面積。在足夠的壓力下,電刷和導(dǎo)電環(huán)應(yīng)選用面接觸形式。對(duì)于塊狀電刷,在設(shè)計(jì)加工過程中,與導(dǎo)電環(huán)接觸的面通常被設(shè)計(jì)加工成凹面形狀,與導(dǎo)電環(huán)的曲率半徑大致相等;對(duì)于刷絲,導(dǎo)電環(huán)則設(shè)計(jì)成V 型槽。安裝完成后,匯流環(huán)進(jìn)行一定時(shí)間的跑合試驗(yàn),盡量使電刷與導(dǎo)電環(huán)之間的有效接觸面積達(dá)到最大。

        2.2 絕緣電阻測(cè)試結(jié)果與分析

        對(duì)于一般的匯流環(huán),在相對(duì)濕度為60%、直流高壓為500V 時(shí),最小絕緣電阻達(dá)到100MΩ,基本符合要求。測(cè)試所用的匯流環(huán)要求的絕緣電阻更高,通道之間以及各通道與地之間的絕緣電阻均不低于500MΩ。

        表2所示為試驗(yàn)測(cè)得匯流環(huán)各個(gè)通道對(duì)地的絕緣電阻數(shù)值。

        表2 匯流環(huán)各通道對(duì)地的絕緣電阻測(cè)試值

        從表2 中可以看出,3 號(hào)通道對(duì)地絕緣電阻數(shù)值為0,表明發(fā)生短路。其余通道對(duì)地絕緣電阻數(shù)值不低于500MΩ,滿足指標(biāo)要求。

        表3所示為實(shí)驗(yàn)測(cè)得匯流環(huán)相鄰?fù)ǖ乐g的絕緣電阻數(shù)值。

        表3 匯流環(huán)相鄰?fù)ǖ乐g的絕緣電阻測(cè)試值

        從表3 中可以看出,3-4 號(hào)通道間的絕緣電阻偏小,僅為200MΩ 左右;而7-8 號(hào)通道間發(fā)生短路;其余通道間的絕緣電阻均不低于500MΩ,滿足指標(biāo)要求。

        造成絕緣電阻數(shù)值偏小的原因可能是:環(huán)境中空氣濕度大,造成材料上有潮氣凝聚,使絕緣電阻數(shù)值降低;加工過程材料有裂紋、氣泡,這些裂紋、氣泡在匯流環(huán)安裝或使用過程中進(jìn)入水氣或其他導(dǎo)電介質(zhì),導(dǎo)致絕緣電阻數(shù)值下降。

        通道間發(fā)生短路的原因主要有:兩個(gè)導(dǎo)電環(huán)之間存在有導(dǎo)電介質(zhì);其中某一環(huán)引線破皮,與另一環(huán)接觸;在裝配過程中兩導(dǎo)電環(huán)有部分粘連在一起。

        經(jīng)過排查發(fā)現(xiàn),由于電刷和導(dǎo)電環(huán)接觸磨損,形成了較多的刷粉聚集在6 和7 通道附近區(qū)域,導(dǎo)致短路[7-8]。采用無水乙醇對(duì)該區(qū)域仔細(xì)清潔后再進(jìn)行測(cè)試,絕緣電阻數(shù)值達(dá)到要求。

        通常來說,絕緣電阻主要取決于絕緣材料的性能和相鄰電路的間距。因此,可用以下方法增大絕緣電阻:

        (1)采用絕緣性能較好的材料進(jìn)行絕緣隔離,要求材料的尺寸穩(wěn)定性好、吸濕性低,常用的絕緣環(huán)材料有環(huán)氧玻璃布板、聚四氟乙烯等。

        (2)增加兩相鄰環(huán)路的絕緣距離,在尺寸允許的情況下,盡量增大導(dǎo)電環(huán)之間或?qū)щ姯h(huán)和電刷之間的絕緣距離,提高絕緣性能。

        (3)電刷和導(dǎo)電環(huán)接觸區(qū)域的落粉應(yīng)定期進(jìn)行清理,防止在導(dǎo)電環(huán)之間形成粘連造成絕緣電阻減小甚至發(fā)生短路。

        2.3 耐壓測(cè)試結(jié)果與分析

        對(duì)于一般匯流環(huán),耐壓數(shù)值在500V-1000V 左右即為滿足要求[9]。本試驗(yàn)匯流環(huán)的指標(biāo)要求為不低于500V。對(duì)匯流環(huán)各個(gè)通道施加500V 試驗(yàn)電壓進(jìn)行測(cè)試,得到的耐壓測(cè)試結(jié)果如表4所示。

        表4 匯流環(huán)各通道耐壓測(cè)試

        從表中可以看到,各個(gè)通道的耐壓測(cè)試結(jié)果均顯示合格,證明匯流環(huán)的電介質(zhì)強(qiáng)度性能指標(biāo)滿足要求。

        3 結(jié)束語

        接觸電阻、絕緣電阻和電介質(zhì)強(qiáng)度是匯流環(huán)最常用的電性能參數(shù),其數(shù)值的好壞直接反映了匯流環(huán)的電性能指標(biāo)是否滿足要求。定期對(duì)匯流環(huán)進(jìn)行性能參數(shù)測(cè)試,有利于及時(shí)發(fā)現(xiàn)存在的問題。通過對(duì)數(shù)據(jù)結(jié)果進(jìn)行分析,找到不合格數(shù)據(jù)的產(chǎn)生原因并給出對(duì)應(yīng)的解決措施,從而確保匯流環(huán)穩(wěn)定可靠地工作。

        [1]平麗浩,黃普慶,張潤(rùn)逵等.雷達(dá)結(jié)構(gòu)與工藝[M].北京:電子工業(yè)出版社,1994.

        [2]吳鳳高.天線座結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)[M].西安:西北電訊工程學(xué)院出版社,1986.

        [3]李坤芝.導(dǎo)電滑環(huán)技術(shù)研究[J].艦船科學(xué)技術(shù),1994,(5):56-58.

        [4]許軍,李坤.電接觸的接觸電阻研究[J].電工材料,2011,(1):10-13.

        [5]薛萍,陳少兵,劉麗.電滑環(huán)中的導(dǎo)電環(huán)和電刷[J].光纖與光纜及其應(yīng)用技術(shù),2012,(1):11-13.

        [6]張武.匯流環(huán)接觸問題分析[J].火控雷達(dá)技術(shù),2009,38(3):78-82.

        [7]李明元.CINRAD-CD 雷達(dá)匯流環(huán)故障分析與排除[J].貴州氣象,2010,34(3):39-40.

        [8]李超,朱涵一.功率匯流環(huán)的設(shè)計(jì)及應(yīng)用[J].電子機(jī)械工程,2005,21(5):41-43.

        [9]李雨明,張宜川,潘全亮.電介質(zhì)強(qiáng)度及其測(cè)試[J].中國(guó)醫(yī)療器械雜志,2007,31(4):54-56.

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