王建新,劉 宇,張 浩,肖德鑫
(中國(guó)工程物理研究院 應(yīng)用電子學(xué)研究所,四川 綿陽(yáng) 621900)
流強(qiáng)是粒子加速器最基本的運(yùn)行參數(shù)之一。在脈沖加速器中,束團(tuán)電荷量和流強(qiáng)直接相關(guān)。束團(tuán)電荷量的穩(wěn)定對(duì)加速器有重要意義。一方面,在基于加速器的光源中,束流的穩(wěn)定性直接影響光通量的穩(wěn)定性。另一方面,在運(yùn)行過(guò)程中束團(tuán)電荷量的不穩(wěn)定可能是由束流損失引起的,束流損失會(huì)引起加速器部件的損傷,包括輻射效應(yīng)損傷和熱效應(yīng)損傷。特別是在超導(dǎo)加速器和環(huán)形加速器中,束流損失直接影響機(jī)器能否正常運(yùn)行。因此對(duì)束團(tuán)電荷量的精確在線測(cè)量在加速器的調(diào)試和運(yùn)行過(guò)程中有重要作用。
積分式束流變壓器(ICT)是進(jìn)行束團(tuán)電荷量測(cè)量最常用的設(shè)備,利用電磁感應(yīng)原理進(jìn)行測(cè)量,其核心部件由兩個(gè)磁芯構(gòu)成,放在帶間隙的未封閉銅環(huán)內(nèi),且磁芯2上繞有線圈,多個(gè)貼片電容沿銅環(huán)等間距分布在間隙上[1-4]。從加速器中產(chǎn)生的粒子束流通過(guò)ICT 時(shí)產(chǎn)生感應(yīng)電流,該感應(yīng)電流的電荷量由磁芯1存儲(chǔ),存儲(chǔ)的電荷通過(guò)磁芯2的線圈對(duì)外放電。由磁芯2引出的放電波形再通過(guò)匹配的輸出回路(一般為示波器)輸出一個(gè)脈沖寬度固定、積分電荷量與輸入束流電荷量呈一定比例的電壓脈沖信號(hào)。
在離線情況下,利用數(shù)字信號(hào)發(fā)生器以及數(shù)字示波器對(duì)ICT的輸入輸出特性進(jìn)行研究。使用數(shù)字信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生特定形狀的脈沖信號(hào),通過(guò)單根金屬導(dǎo)線導(dǎo)引穿過(guò)ICT 來(lái)模擬束流脈沖信號(hào)[3-4],標(biāo)定實(shí)驗(yàn)布局示意圖如圖1所示。
圖1 實(shí)驗(yàn)布局示意圖Fig.1 Sketch of ICT calibration experiment
由脈沖信號(hào)發(fā)生器(HP 8082A)產(chǎn)生的方波脈沖信號(hào)穿過(guò)ICT,該輸入信號(hào)及經(jīng)過(guò)ICT響應(yīng)后的輸出信號(hào)均通過(guò)示波器(TEK DPO7254)顯示。為避免短脈沖信號(hào)的反射對(duì)ICT 響應(yīng)造成影響,剝離信號(hào)線穿過(guò)ICT的那段屏蔽層,只讓芯部穿過(guò)ICT,而信號(hào)的回路則通過(guò)金屬殼從ICT 外部通過(guò),這樣可消除輸入信號(hào)產(chǎn)生的反射信號(hào)對(duì)ICT 響應(yīng)的影響。
HP 8082A 能產(chǎn)生脈寬為1ns的單脈沖、雙脈沖和連續(xù)脈沖,連續(xù)脈沖的重復(fù)頻率能在1kHz~250 MHz范圍內(nèi)可調(diào),能很好地模擬CW 模式的束流。
根據(jù)HP 8082A 的性能,輸入脈沖分別設(shè)置為單脈沖、雙脈沖和連續(xù)脈沖。觀察輸出脈沖情況,并使用示波器測(cè)量輸入脈沖和輸出脈沖的積分電荷量,計(jì)算ICT 的輸入輸出比。
單脈沖標(biāo)定實(shí)驗(yàn)中,可明顯觀測(cè)到,輸出脈沖幅度隨輸入脈沖幅度的變化而變化,輸出脈沖的長(zhǎng)度(約為12ns)和形狀基本不變(圖2a),這與ICT的設(shè)計(jì)性能相符合[2]。ICT的輸入輸出比為20.37/2.029=10.04,與標(biāo)稱值10相差不大。
圖2 單脈沖(a)和雙脈沖(b)標(biāo)定Fig.2 Calibrations in monopulse(a)and dipulse(b)
使用雙脈沖進(jìn)行標(biāo)定時(shí),逐漸減小雙脈沖之間的時(shí)間延遲,可發(fā)現(xiàn)在時(shí)間延遲小于12.08ns后,輸出脈沖的雙脈沖開(kāi)始連接到一起,逐漸不能分辨,如圖2b所示。這樣就沒(méi)有辦法準(zhǔn)確地進(jìn)行脈沖面積的測(cè)量,無(wú)法得到對(duì)應(yīng)的電荷量。反映出該型號(hào)的ICT 測(cè)量連續(xù)脈沖的最高重復(fù)頻率約為83 MHz。若需對(duì)更高重復(fù)頻率的脈沖進(jìn)行測(cè)量,則需選擇束流變壓器輸出脈沖的寬度更窄的型號(hào)。
連續(xù)脈沖標(biāo)定實(shí)驗(yàn)中,可發(fā)現(xiàn)輸出脈沖和輸入脈沖是一一對(duì)應(yīng)的,只是在脈沖重復(fù)頻率較高時(shí),輸出脈沖的最低點(diǎn)不是零點(diǎn),如圖3所示。隨著輸入脈沖重復(fù)頻率(MHz量級(jí))的提高,輸出脈沖的最低點(diǎn)會(huì)向下“移動(dòng)”,這種現(xiàn)象即為基線漂移。
圖3 連續(xù)脈沖標(biāo)定Fig.3 Calibration in continuous pulse
ICT是在BCT 的基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)的,屬于交流耦合型電磁感應(yīng)器件。其對(duì)信號(hào)的響應(yīng)和頻率相關(guān),圖4為ICT的頻率響應(yīng)曲線,其低頻和高頻截止頻率分別為6.2kHz和65.6MHz[5]。
在標(biāo)定實(shí)驗(yàn)中發(fā)現(xiàn),對(duì)于單脈沖和脈沖重復(fù)頻率較低的連續(xù)脈沖,其輸入輸出比和標(biāo)稱值符合得很好,在進(jìn)行電荷量測(cè)量時(shí)不存在問(wèn)題;但對(duì)于脈沖重復(fù)頻率較高的連續(xù)脈沖,會(huì)引起基線漂移的問(wèn)題,即輸出脈沖的最低點(diǎn)不在零點(diǎn)。
圖4 ICT 頻率響應(yīng)曲線Fig.4 Frequency response curve of ICT
基線漂移是由ICT 的低頻截止頻率引起的[6-7]。在頻域,低頻(直流)部分信號(hào)被“丟”掉了,如圖4 所示,該ICT 的低頻截止頻率為6.2kHz;在時(shí)域,就會(huì)出現(xiàn)信號(hào)的基線往下“漂”的現(xiàn)象[7]。重復(fù)頻率較低時(shí),基線漂移幅度較小,隨著重復(fù)頻率的提高,基線漂移的幅度也提高,如圖3所示。
在使用ICT 進(jìn)行束團(tuán)電荷量測(cè)量時(shí),要對(duì)輸出脈沖的面積進(jìn)行積分,標(biāo)定實(shí)驗(yàn)中,該步驟是通過(guò)數(shù)字示波器的積分計(jì)算功能來(lái)完成的。在基線漂移的情況下,由于零點(diǎn)的移動(dòng),積分的起點(diǎn)和終點(diǎn)就要發(fā)生變化,直接對(duì)輸出脈沖進(jìn)行面積積分,就會(huì)引起誤差。要保證測(cè)量的精度,就必須找到脈沖的零點(diǎn),即進(jìn)行基線修復(fù)?;€修復(fù)的方法分為電子學(xué)修復(fù)和算法修復(fù)[8-10],本文使用算法修復(fù)中基線操縱的方法。其基本思路是計(jì)算輸出脈沖序列底部變化平緩部位的幅值,如圖5灰色部分所示;將該值作為積分的零點(diǎn),然后對(duì)整個(gè)脈沖序列重新賦值,如圖6所示;在此基礎(chǔ)上,對(duì)輸出脈沖進(jìn)行積分,計(jì)算出脈沖包含的電荷量。
圖5 脈沖底部幅值計(jì)算Fig.5 Calculation of pulse buttom
在未進(jìn)行基線修復(fù)時(shí),直接對(duì)輸出脈沖積分,得到輸入輸出比為12.00?;€修復(fù)后,得到輸入輸出比為9.67??梢?jiàn)進(jìn)行基線修復(fù)大幅提高了ICT 對(duì)高重復(fù)頻率連續(xù)脈沖的電荷量測(cè)量精度。
圖6 基線修復(fù)前后圖形對(duì)照Fig.6 Comparison of signals without and with baseline restoration
本文主要對(duì)Bergoz公司生產(chǎn)的ICT 進(jìn)行了標(biāo)定研究,在單脈沖、雙脈沖及連續(xù)脈沖情況下測(cè)量了輸入輸出比。重點(diǎn)對(duì)高重復(fù)頻率情況下出現(xiàn)的基線漂移情況進(jìn)行了研究,并使用基線操縱的方法進(jìn)行基線修復(fù)。通過(guò)基線修復(fù),輸入輸出比由12.00變?yōu)?.67,電荷量測(cè)量相對(duì)誤差小于5%,提高了ICT 對(duì)高重復(fù)頻率連續(xù)脈沖的電荷量測(cè)量精度。
[1] FORCK P.Lecture notes on beam instrumentation and diagnostics[R].Darmstadt,Germany:GSI,2011.
[2] UNSER K B.Design and preliminary tests of a beam intensity monitor for LEP[C]∥Proceedings of the 1989IEEE Particle Accelerator Conference.Chicago:[s.n.],1989:71-73.
[3] 薛磊,杜應(yīng)超,胡超,等.基于積分束流變壓器的加速器束團(tuán)電荷量測(cè)量系統(tǒng)[J].強(qiáng)激光與粒子束,2007,19(7):1 207-1 210.XUE Lei,DU Yingchao,HU Chao,et al.Bunch charge monitoring system based on integrating current transformer[J].High Power Laser and Particle Beams,2007,19(7):1 207-1 210(in Chinese).
[4] 董克攻,朱斌,吳玉遲,等.用于激光尾波場(chǎng)中電子束電荷測(cè)量的積分束流儀標(biāo)定[J].強(qiáng)激光與粒子束,2010,22(12):2 819-2 823.DONG Kegong,ZHU Bin,WU Yuchi,et al.Integrating current transformer calibration for charge measurement of electron beam generated in laser waefield acceleration[J].High Power Laser and Particle Beams,2010,22(12):2 819-2 823(in Chinese).
[5] MICHAL K,ANDRZEJ N.Prototype of an integrating current transformer for beam intensity measurements in the large hadron collider[J].International Journal of Microelectonics and Computer Science,2013,4(1):32-36.
[6] BELOHRAD D.Fast beam intensity measurements for the LHC[D].Geneva,Switzerland:CERN,2010.
[7] KESSELMAN M,WITKOVER R,DOOLITTLE L,et al.SNS Project-wide beam current monitors[C]∥European Particle Accelerator Conference 2000.Vienna,Austria:[s.n.],2000:1 750-1 752.
[8] PAAL A,SIMONSSON A,DIETRICH J,et al.Bunched beam current measurements with 100pA RMS resolution at cryring[C]∥European Particle Accelerator Conference 2006. Edinburgh,Scotland:[s.n.],2006:1 196-1 198.
[9] BELLEMAN J,KASPROWICZ G,RAICH U.Digital beam trajectory and orbit system for the CERN proton synchrotron[C]∥Beam Diagnostics and Instrumentation for Particle Accelerator 2007.Venice,Italy:[s.n.],2007:75-77.
[10]RICARDO G O.Signal processing methods for drift compensation[R].Link?ping:Department of Computer Science Texas A&M University,2003.