黃世杰,張建波,應(yīng)海松,李雪蓮
(北侖出入境檢驗(yàn)檢疫局,浙江寧波315800)
進(jìn)口再生物質(zhì)是補(bǔ)充國內(nèi)自然資源不足的重要途徑之一,浙江作為塑料行業(yè)領(lǐng)先地區(qū),占全國塑料產(chǎn)業(yè)將近20%[1],其中很大一部分原料依賴進(jìn)口廢塑料,但廢塑料回收利用中產(chǎn)生的二次污染卻對環(huán)境具有很大的風(fēng)險,特別是涂有金屬層廢塑料的回收利用對環(huán)境影響較大[2]。
塑料涂金屬層一般有噴涂、電鍍[3]、真空濺鍍、粘合和熱壓合等工藝。涂上去的金屬主要是鋁、銅、鋅等第二類污染物,也有部分鎳、鉻、鉛等第一類污染物。由于目前大部份涂有金屬層廢塑料是采用化學(xué)方法去除涂層金屬,涂層金屬大部分變成相應(yīng)金屬離子溶解于清洗水中,如清洗水直接排放,將造成水系嚴(yán)重污染,帶來很大環(huán)境風(fēng)險[4-7]。隨著國家對環(huán)境的要求越來越嚴(yán)格,標(biāo)準(zhǔn)GB16487.12-2005“進(jìn)口可用作原料的固體廢物保護(hù)標(biāo)準(zhǔn)-塑料”和SN/T1791.1-2006“進(jìn)口可用作原料的廢物檢驗(yàn)檢疫規(guī)程第1部分:廢塑料”規(guī)定:涂有金屬層的塑料薄膜或塑料制品不得超過總質(zhì)量的5‰,否則將做退運(yùn)處理。
X-熒光技術(shù)在測定金屬含量應(yīng)用非常廣泛[8-12],在測定有機(jī)涂層中金屬含量也有報道[13],但用X-熒光技術(shù)測定廢塑料表面金屬涂層含量相關(guān)研究還未見報道。本文利用X-射線熒光光譜法測定廢塑料表面金屬涂層含量,方法具有非破壞性和非接觸性,無需試樣前處理就可以直接進(jìn)行檢測。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該方法簡便、快速、精密度高,能夠滿足檢驗(yàn)檢疫日常檢測的需要。
S4Pioneer型波長色散X射線熒光光譜儀(BrukerAXS,德國),銠靶X光管,功率4kW,配有MLQuanG軟件。儀器的測量條件見表1。
MettlerXP205Dr電子分析天平(瑞士)。
表1 儀器工作條件Tab.1 Working conditions of instrument
將涂有金屬層的廢紙剪成邊長約40mm的圓形試樣,用酒精棉擦拭去除表面油污,避免有損傷或劃痕,在儀器工作條件下進(jìn)行檢測。
樣品測試完畢后,對樣品稱重,用稀鹽酸除去表面金屬層,洗凈烘干(擦干、吹干)后,再稱重。計(jì)算出金屬層的面密度(mg·cm2)。
對于鍍層試樣,其熒光強(qiáng)度與厚度的關(guān)系(只考慮一次熒光)如式(1)所示:
式中 ⅠT:厚度為T 的樣品的熒光強(qiáng)度;Ⅰ∞:無窮厚樣品的熒光強(qiáng)度;μ*:樣品的質(zhì)量吸收系數(shù);ρ:樣品密度;T:樣品厚度,ρT:樣品的面密度。
對于給定的儀器及測量條件,Ⅰ∞可由基本參數(shù)法算出,對于給定的樣品,可以通過樣品中各成分及其濃度計(jì)算出μ*,因此,如果知道樣品中各成分的濃度,通過遞歸,使理論強(qiáng)度與測量強(qiáng)度一致,從而計(jì)算出鍍層的面密度,反之亦然。
完整的薄膜樣品熒光強(qiáng)度理論計(jì)算公式由Shiraiwa和Fujio在1969年提出[ShiraiwaT,Fujino WN.Adv.X-rayAnal.,1969,12:446-456],現(xiàn)已有比較成熟的商業(yè)軟件。如本文中使用的Bruker公司的MLQuanG。
常規(guī)的樣品杯用鋁板背襯樣品再用彈簧壓緊。由于樣品非常薄,背襯鋁板中的元素信息也會被探測到,從而影響測量。而又無法僅靠樣品本身保持平直。故本實(shí)驗(yàn)中專門使用了中空的圓柱環(huán)形鋁柱,壓住樣品的邊緣部分,使其保持平直,而測量部分背后是中空的,因此,無關(guān)信號不會進(jìn)入樣品中。
圖1 無背景散射杯Fig.1 The scattering cup of none background
如果塑料中含有相關(guān)元素,會導(dǎo)致測量強(qiáng)度偏大,結(jié)果偏高。將稱重后的塑料按照表1所示測量條件再測一遍,測得的濃度輸入軟件中參與計(jì)算和校正。以可直接剝蝕的含有金屬涂層廢塑料為例,見表2。
表2 基材中元素的影響Tab.2 Effect of element in substrate
從檢測結(jié)果可以看出,塑料中含有的Fe、Si等元素,會導(dǎo)致測量強(qiáng)度偏大,測量結(jié)果偏高。
元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng)包括:(1)原級X射線入射樣品時所受的吸收效應(yīng);(2)樣品中基體元素特征譜線的激發(fā),使分析線的熒光強(qiáng)度增強(qiáng)的增強(qiáng)效應(yīng)。增強(qiáng)效應(yīng)的發(fā)生一般以共存元素特征譜線的波長在分析譜線吸收限的高能量側(cè)為條件,此現(xiàn)象顯著發(fā)生的情況和吸收效應(yīng)相比較少。而對于金屬涂層一類的薄膜分析來說,一次X射線和熒光X射線穿過的路徑非常短,每個原子的吸收和激發(fā)和其他原子無關(guān),初級線和二次線無衰減,薄膜樣品的吸收效應(yīng)基本消失。由于其他元素的增強(qiáng)效應(yīng)在薄樣分析中很小,可忽略不計(jì),所以可以認(rèn)為金屬涂層中元素的相互影響基本不存在。
將一廢塑料樣品剪成7塊后,按上述測量方法進(jìn)行檢測,結(jié)果見表3。
表3 方法的準(zhǔn)確度實(shí)驗(yàn)Tab.3 Results of test for accuracy
從表3結(jié)果可以看出,該方法檢測廢塑料金屬涂層中元素含量精密度為0.008~0.044,能夠滿足檢測要求。
連續(xù)測定11次沒有金屬涂層的廢塑料計(jì)算檢出限,并按檢出限的10倍作為方法的測定下限,按曲線的最高點(diǎn)計(jì)算測定上限,測定結(jié)果見表4。
表4 方法的檢出限和測量范圍Tab.4 Detection limit and measuring range of the method
由于沒有標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),因此將3個廢塑料樣品用稀HCl溶解其表面鍍層,用ICP-AES[14]進(jìn)行測定,測定結(jié)果與本方法的測定結(jié)果見表5。
表5 不同方法樣品分析結(jié)果對比Tab.5 Comparison of analytical results of samples for different method
經(jīng)過結(jié)果對比,可以看出X-熒光方法與ICPAES方法相一致,完全能夠滿足日常檢測需求。
本文采用X-熒光法檢測廢塑料金屬涂層含量,建立了一種準(zhǔn)確快速的檢測方法,為資源性的進(jìn)口廢塑料質(zhì)量把關(guān)提供了技術(shù)支持,并為控制廢塑料金屬涂層產(chǎn)生的危害和污染提供了更為合理的結(jié)果,并已應(yīng)用于實(shí)際檢測工作當(dāng)中。
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