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        氧化鋅薄膜的摻雜及性能研究

        2015-03-03 20:34:57陳雪嬌
        中國高新技術(shù)企業(yè) 2015年36期

        摘要:ZnO作為一種新型寬禁帶半導(dǎo)體材料,不僅原料豐富、無毒,而且光電性、壓電性、氣敏性等性能優(yōu)異,容易實現(xiàn)摻雜。ZnO薄膜及其摻雜所具有的諸多特性,使其在太陽能電池、發(fā)光二極管、激光二極管、紫外探測器等領(lǐng)域有極大的研究價值,尤其是p型摻雜的實現(xiàn)大大拓寬了其應(yīng)用的領(lǐng)域。

        關(guān)鍵詞:氧化鋅薄膜;結(jié)構(gòu)性能;電學(xué)性能;光學(xué)性能 文獻標識碼:A

        中圖分類號:TN304 文章編號:1009-2374(2015)36-0055-02 DOI:10.13535/j.cnki.11-4406/n.2015.36.026

        1 概述

        ZnO晶體是六方纖鋅礦結(jié)構(gòu)的Ⅱ-Ⅳ族寬禁帶直接帶隙半導(dǎo)體材料。因其紫外受激發(fā)射強度隨溫度升高而淬滅,一直不被人們重視,直至在室溫下觀測到納米結(jié)構(gòu)的微晶薄膜的光泵激光發(fā)射,因其激子結(jié)合能(60meV)比GaN(28meV)、ZnS(39meV)高很多,并且在室溫(26meV)及更高溫下穩(wěn)定工作,制備溫度比GaN低一倍,因而避免了膜與襯底間原子在高溫下產(chǎn)生互擴散。因此ZnO很快成為人們繼GaN之后熱門研究的短波半導(dǎo)體材料。ZnO薄膜透明導(dǎo)電,純ZnO及其摻雜薄膜光電性能優(yōu)異,可應(yīng)用在太陽電池、半導(dǎo)體激光器件、紫外與紅外光阻擋層、壓電器件、液晶顯示、氣體敏感器件等領(lǐng)域,有較好的產(chǎn)業(yè)化前景。ZnO薄膜呈n型極性半導(dǎo)體,天然具有鋅間隙和氧空位,其摻雜分為n型摻雜和p型摻雜。

        制備高質(zhì)量的ZnO薄膜可采用以下方法:脈沖激光沉積(PLD)、化學(xué)氣相沉積法、射頻磁控濺射法、溶膠凝膠法、金屬鋅膜氧化法和分子束外延法。PLD法設(shè)備結(jié)構(gòu)簡單且操作調(diào)節(jié)方便,此法對制備高質(zhì)量的氧化物薄膜更有效,采用純金屬合金做靶材制備出薄膜的金屬成分接近于靶材,且純金屬靶材比金屬氧化物陶瓷靶材制作工藝簡單而且便宜,由于激光作用下產(chǎn)生的等離子體能量較高,能在較低的基體溫度或室溫下沉積出AZO薄膜。文獻報道PLD法多用準分子激光器作激光源,劉耀東等采用Nd:YAG型脈沖激光器(價錢便宜)制備出了高質(zhì)量的AZO薄膜。

        2 ZnO薄膜的n型摻雜

        摻雜元素可使ZnO薄膜材料的晶體結(jié)構(gòu)、光電性能、磁學(xué)性能得到控制和提高,從而開拓材料的使用領(lǐng)域。文獻中到目前摻雜元素包括Ⅰ族(Li、Cu、Ag、Au)、Ⅱ族(Mg、Cd)、Ⅲ族(B、Al、Ga、In)、Ⅴ族(N、P、As、Sb)及稀土元素Er等。純ZnO存在本征缺陷,呈n型電導(dǎo)。但缺陷提供的n型載流子濃度不可控且穩(wěn)定性不好,通常摻入Ⅲ族和Ⅴ族元素來實現(xiàn)ZnO的載流子濃度可控。

        目前n型摻雜中研究較多的是透明導(dǎo)電薄膜AZO,ZnO禁帶寬度為3.37eV,比可見光光子能力大,可見光照射下不引起本征激發(fā),對可見光來說,ZnO是透明導(dǎo)電薄膜。AZO薄膜的光電特性堪比透明導(dǎo)電氧化銦錫(ITO)薄膜,在可見光區(qū)的透過率超過85%,且原料豐富無毒且在活性氫和氫等離子體中穩(wěn)定性高,有潛力成為替代ITO的材料,而用于生產(chǎn)平板顯示器。由于其制備條件多樣可調(diào)節(jié),目前有報道以PC為襯底在室溫條件下沉積出了光電性能良好的AZO薄膜,這為以柔性材料為襯底生產(chǎn)曲面顯示器奠定了理論基礎(chǔ)。

        2.1 Al摻雜對結(jié)構(gòu)性能的影響

        劉耀東以鋅鋁合金為靶材采用PLD法以石英玻璃為基體沉積AZO薄膜,得到光電性能良好的透明導(dǎo)電薄膜。由圖1可見,純ZnO薄膜具有明顯的(002)擇優(yōu)取向。隨著薄膜中Al的質(zhì)量分數(shù)增加,(002)衍射峰減弱、(101)衍射峰增強,表明AZO薄膜的(002)取向逐漸減弱而趨向于各向同性。當Al的質(zhì)量分數(shù)為3.26%時,(101)衍射峰最強,表明晶粒生長混亂。Al的摻雜改變了O和Zn在沉積中的擴散速度,改變了(101)和(002)的表面能,使得(002)取向弱化。沉積中Al置換ZnO晶格中Zn的位置,利用Scherrer公式計算出AZO薄膜的晶粒尺寸隨Al的質(zhì)量分數(shù)增大依次是33nm、29nm、24nm和23nm,這是由于Al原子半徑小于Zn原子半徑,某些Al原子聚集在晶界區(qū)域,阻礙了晶粒的生長。

        2.2 Al摻雜對電學(xué)性能的影響

        純ZnO薄膜在一定條件下,一些電子從價帶躍遷到導(dǎo)帶,成為自由電子,同時產(chǎn)生等額空穴,但是這種激發(fā)所產(chǎn)生的平衡載流子非常少,所以幾乎不導(dǎo)電。但在加入Al3+后,導(dǎo)電能力明顯增強,由于Al的原子半徑與晶格節(jié)點上的Zn的原子半徑相近,Al3+替位摻雜后,與周圍元素形成共價鍵,但是多出1個價電子,提供了載流子的來源,因此AZO其導(dǎo)電類型為n型,Al原子為施主雜質(zhì)。純ZnO薄膜電阻率約為3×10-2Ω·cm,摻雜Al后電阻率可降至10-4Ω·cm數(shù)量級。AZO薄膜的電阻率隨著Al的質(zhì)量分數(shù)的增加呈現(xiàn)先降低后增加趨勢,這是因為Al濃度增大,施主電子增多,載流子濃度隨之增加;但是過多的Al摻雜會使晶格紊亂,原子缺陷增多,且多余的Al和O反應(yīng)生成了不導(dǎo)電的Al2O3,生產(chǎn)的Al2O3隔離在晶界處使遷移率降低,載流子濃度減少使得AZO薄膜導(dǎo)電性差,甚至不導(dǎo)電。晶體在結(jié)晶過程中發(fā)生晶格畸變,晶界起到散射作用,造成遷移率下降,降低了導(dǎo)電性。

        2.3 Al摻雜對光學(xué)性能的影響

        純ZnO薄膜的光子發(fā)光譜由較強的紫外光發(fā)射和較弱深能級黃綠發(fā)射組成。在特定條件下Al摻雜會使得AZO薄膜紫外發(fā)光強度下降,幾乎沒有深能級發(fā)射,這正是我們希望得到的。紫外發(fā)射由激子復(fù)合產(chǎn)生,摻雜Al使ZnO薄膜表面鈍化,減少了激子的復(fù)合。薄膜的結(jié)晶質(zhì)量、化學(xué)配比影響紫外發(fā)光強度,結(jié)晶質(zhì)量良好的薄膜發(fā)光強度高。國外報道,黃綠發(fā)射與薄膜內(nèi)部不同缺陷有關(guān),如氧空位、鋅空位、氧間隙、鋅間隙。究竟哪種缺陷在綠光發(fā)射中占據(jù)主導(dǎo)地位,仍有爭議。沒有深能級發(fā)射是由于反應(yīng)處于一個平衡點,氧氣除了與Zn反應(yīng)生成ZnO,多余的氧形成了氧間隙,Al消耗掉了多余的氧,此時制備的薄膜內(nèi)部缺陷最少,使得薄膜沒有深能級發(fā)射而只有紫外發(fā)射。

        3 ZnO薄膜的p型摻雜

        ZnO薄膜p型摻雜一直是個難題,有以下原因:受主摻雜元素在ZnO中固溶度低,使得有效摻雜低;ZnO是n型半導(dǎo)體,本身具有較多的本征施主缺陷,當進行受主摻雜時,會發(fā)生嚴重的自補償;除N外,缺乏能有效產(chǎn)生淺受主能級的摻雜元素,能使空穴進入價帶形成載流子;p型摻雜會導(dǎo)致ZnO晶格的馬德隆能升高,使樣品的結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定。這些導(dǎo)致生長p型ZnO非常困難。

        理論計算表明,N是一種理想的摻雜元素,但由于N2的離化勢高達15.65eV,用N2摻雜制備p型ZnO很難實現(xiàn),不易產(chǎn)生N而摻入ZnO。Aoki T等采用NH3,在設(shè)置條件下使N摻入ZnO生成p型ZnO。但是過程中NH3分解出氫,起到較強的鈍化作用,使成品率大大降低,制備出的p型ZnO電阻率較大。T.Yamamoto得出:共摻活性受主(N、P、As)與活性施主(Al、Ga、In),以施主與受主間引力替代原有受主間斥力,可摻進大量的N,到更淺的受主能級,制備出了性能穩(wěn)定且載流子濃度高的p型ZnO。目前,較為經(jīng)典的制備p型ZnO薄膜方法有利用H鈍化作用增強N的摻雜、注入活性N原子、施主–受主共摻雜、多層緩沖層生長。

        ZnO薄膜使用化的關(guān)鍵是制備結(jié)型器件,pn結(jié)是研制LED、LD及ZnO基晶體管等光電子器件的基礎(chǔ)。制備pn結(jié)除了不斷提高p型摻雜外,由于晶格特性相近的ZnO和GaN匹配性較好,而且p-GaN已制作成功,采用n-ZnO和p-GaN來制備pn結(jié)也是一種很好的選擇。

        4 結(jié)語

        ZnO薄膜是一種光電性能優(yōu)良的寬禁帶n型半導(dǎo)體材料,易于產(chǎn)生缺陷和進行雜質(zhì)摻雜,摻雜能提高和改善其諸多性能,有深遠的意義。尤其是p型摻雜和pn結(jié)的實現(xiàn),使其在光電顯示、電子元器件、太陽電池等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,成為學(xué)術(shù)界研究較熱的薄膜材料之一。ZnO薄膜市場潛力大和產(chǎn)業(yè)化前景好,隨著研究的進一步深入,ZnO薄膜技術(shù)必將深入到人們的生產(chǎn)和生活而起到重要的影響。

        參考文獻

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        [2]劉耀東,李光玉,連建設(shè).鋁摻雜氧化鋅薄膜的電學(xué)及光學(xué)性能[J].吉林大學(xué)學(xué)報(工學(xué)版),2007,37(3).

        [3]劉波,趙小如,馮嫻嫻,劉凱,趙亮.摻雜氧化鋅薄膜的最新進展[J].液晶與顯示,2009,24(4).

        [4]Aoki T,Hatanaka Y,Look D C.ZnO diode fabricated by excimer-laser doping[J].Appl.Phys.Lett.,2000,76(22).

        作者簡介:陳雪嬌(1984-),女,鞍山寧遠工業(yè)經(jīng)濟管理委員會工程師,碩士,研究方向:金屬材料及新材料。

        (責(zé)任編輯:陳 潔)

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