李 石,劉亞斌,周 強(qiáng)
(北京航空航天大學(xué) 北京 100191)
當(dāng)今的航空領(lǐng)域,對航空電子設(shè)備的可靠性、保障性和可維修性有了更高的要求,因此對目標(biāo)設(shè)備的全面測試成了航空電子設(shè)備制造過程中必不可少的重要一環(huán)。測試系統(tǒng)通過構(gòu)建合適的外部環(huán)境以及施加一定的激勵達(dá)到模擬航電設(shè)備正常工作的狀態(tài),同時測試設(shè)備接收目標(biāo)航電設(shè)備的反饋信號并進(jìn)行分析,由此實(shí)現(xiàn)對目標(biāo)設(shè)備運(yùn)行性能、實(shí)時性以及可靠性的分析。測試系統(tǒng)一般使用工業(yè)控制計(jì)算機(jī)作為核心,并通過在計(jì)算機(jī)內(nèi)安裝各種通信擴(kuò)展卡、信號采集卡、數(shù)字量輸入輸出卡來完成激勵信號的輸出以及反饋信息的采集[1]。
論文以數(shù)字圖像板的測試為背景,提出一種基于PCI總線,以RS422接口卡和DSP通信轉(zhuǎn)換卡為數(shù)據(jù)通信卡,以LVDS接口卡和AD采集卡作為數(shù)據(jù)接收卡的設(shè)計(jì)方案。該方案符合設(shè)計(jì)要求,滿足用戶需求。
被測的圖像板為某型空空導(dǎo)彈里的部件,主要完成圖像采集及圖像處理的工作。該圖像板以DSP+FPGA為核心,以CPLD為時序輔助控制器,外圍電路包括DSP的McBSP接口電路、高速AD采集電路、LVDS接口電路、串行DA接口電路、SPI接口、DSP程序加載 FLASH以及 FPGA程序配置FLASH。被測圖像板的CPLD已經(jīng)固化,不能更改,而DSP及FPGA需自行編寫,該測試系統(tǒng)需要對DSP、FPGA以及所有外圍電路進(jìn)行功能測試并且進(jìn)行可視化處理。
該測試系統(tǒng)難點(diǎn)主要在于如何對被測圖像板各個待測硬件電路進(jìn)行控制并將結(jié)果通過上位機(jī)顯示出來。針對該難點(diǎn),測試系統(tǒng)需要做好以下幾個方面。首先,需要編寫合適的被測圖像板底層程序,以實(shí)現(xiàn)各個外圍電路的功能;其次,為了實(shí)現(xiàn)對被測圖像板的功能控制和測試結(jié)果顯示,需要設(shè)計(jì)穩(wěn)定的通信模塊以實(shí)現(xiàn)測試計(jì)算機(jī)和被測圖像板之間的通信;最后測試系統(tǒng)能夠正確地顯示出各項(xiàng)測試結(jié)果[2]。
該測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖如圖1所示,在對測試設(shè)備進(jìn)行測試時,首先通過測試計(jì)算機(jī)控制被測圖像板上電;接著測試計(jì)算機(jī)通過DSP數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換卡向被測圖像板發(fā)出不同的激勵并接受其響應(yīng),不同的激勵將觸發(fā)不同的測試模塊;最后將不同的響應(yīng)通過軟件進(jìn)行可視化處理,以完成測試。
圖1 測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖Fig.1 Structure diagram of the test system
測試系統(tǒng)如圖2所示,主要由測試計(jì)算機(jī)單元、信號源、電源調(diào)理板、DSP通訊轉(zhuǎn)接卡及被測圖像板組成,其中測試計(jì)算機(jī)采用PCI總線測試計(jì)算機(jī),包含全長CPU卡、GPIB卡、LVDS接口卡、RS422接口卡、電源控制及AD采集卡等。所有組成部分互相配合,完成被測圖像板各個模塊的測試。下面將分測試模塊對該系統(tǒng)各個組成部分的功能進(jìn)行分析。
圖2 測試系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)圖Fig.2 Structure diagram of the hardware system
McBSP (Multichannel Buffered Serial Port)是 TI(德州儀器)公司生產(chǎn)的數(shù)字信號處理芯片的多通道緩沖串行接口,以和其他DSP器件、編碼器等其他串口器件通信[3]。本系統(tǒng)采用RS422接口卡與DSP通訊轉(zhuǎn)接卡相結(jié)合的方式,完成計(jì)算機(jī)與被測圖像卡之間的通訊。如圖3為其中DSP通訊轉(zhuǎn)接卡的原理框圖。本轉(zhuǎn)接卡以TI公司生產(chǎn)的TMS320F2812型DSP為核心,使用McBSP模塊和SCI模塊,其中McBSP模塊通過寄存器設(shè)置可實(shí)現(xiàn)與被測圖像板McBSP通道直接通訊,而SCI模塊需要外圍芯片MAX3077E實(shí)現(xiàn)單端轉(zhuǎn)差分功能,以達(dá)到與RS422接口卡通信的功能。
SCI是Serial Communication Interface的簡稱,即串行通信接口,具有接受和發(fā)送兩根信號線,一般可看做UART(通用異步接受/發(fā)送裝置)。SCI模塊的波特率是可調(diào)的,為了與RS422接口卡相匹配,選定SCI模塊的波特率為19 200 bps。
圖3 DSP通訊轉(zhuǎn)接卡的原理框圖Fig.3 Functional block diagram of communication swich card based on DSP
被測圖像板的高速AD采集電路采用差分運(yùn)放和AD芯片組合而成,采集結(jié)果使用FPGA和DSP進(jìn)行處理。本測試系統(tǒng)的AD采集電路測試,使用GPIB卡控制信號源輸出幅值和頻率固定的正弦波,同時編寫被測圖像卡的FPGA和DSP程序,其中為了保證采集準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性,在FPGA內(nèi)部開啟一個深度為8192、位寬16位的FIFO,采集時鐘使用FPGA內(nèi)部DCM模塊生成的10 MHz時鐘,在FPGA進(jìn)行數(shù)據(jù)采集的同時,F(xiàn)PGA將采集到的數(shù)據(jù)傳輸給DSP,DSP將接收到的數(shù)據(jù)通過McBSP模塊傳給DSP通訊轉(zhuǎn)接卡,以此實(shí)現(xiàn)測試計(jì)算機(jī)對于AD數(shù)據(jù)的讀取。需要注意的是,為保證傳輸期間不丟數(shù),要保證FPGA進(jìn)行AD采集的速度V1、FPGA與DSP通訊的速度V2之間滿足V1 LVDS接口卡是該項(xiàng)測試的核心,圖5為該接口卡的原理框圖。LVDS接口卡被設(shè)計(jì)為接收和發(fā)送同時進(jìn)行,分別采用一片SRAM進(jìn)行數(shù)據(jù)緩存,與PCI總線接口部分采用PLX公司推出的PCI9054芯片,該接口卡的FPGA主要完成時序控制并實(shí)現(xiàn)圖像數(shù)據(jù)的編碼和解碼。 被測圖像板LVDS接口電路直接集成在FPGA上,用于將圖像信息以LVDS信號進(jìn)行傳輸[5]。本測試系統(tǒng)在FPGA內(nèi)部開啟了一個LVDS圖像發(fā)送模塊,存儲了一個形狀固定但是灰度可調(diào)的圖像。為了實(shí)現(xiàn)測試計(jì)算機(jī)對于灰度的控制和圖形的顯示,需要完成以下幾個步驟。首先,測試計(jì)算機(jī)通過RS422接口卡將可調(diào)的32位灰度數(shù)據(jù)傳輸給DSP通訊轉(zhuǎn)接卡,然后經(jīng)由被測圖像板的DSP傳給FPGA,F(xiàn)PGA接收到該灰度數(shù)據(jù)后,LVDS圖像發(fā)送模塊開始工作,輸出LVDS信號的圖像數(shù)據(jù),最后圖像數(shù)據(jù)由LVDS接口卡進(jìn)行解碼,并可以通過軟件顯示出相應(yīng)圖形。不同的灰度數(shù)據(jù)顯示出不同的灰度圖形,達(dá)到良好的可視性效果。圖6為兩個不同的灰度顯示結(jié)果。 圖4 信號源發(fā)出的波形以及AD采集后顯示的波形Fig.4 Waveform output by signal generator and waveform displayed after AD acquisition 圖5 LVDS接口卡原理框圖Fig.5 Functional block diagram of LVDSinterface card 圖6 LVDS接口卡接收到的不同灰度的圖像Fig.6 Images with different grayscale received by LVDSbus card 被測圖像板串行DA芯片與FPGA相連接,可將16位數(shù)字量轉(zhuǎn)化為電壓值并輸出。本測試系統(tǒng)在FPGA內(nèi)部開啟了一個串行DA接口模塊,用以將可變數(shù)據(jù)以符合DA芯片協(xié)議的方式發(fā)送給DA芯片。以下為該項(xiàng)測試流程。首先,測試計(jì)算機(jī)通過RS422將16位數(shù)字量下發(fā)給DSP通訊轉(zhuǎn)接卡;然后經(jīng)由被測圖像板的DSP傳給FPGA,F(xiàn)PGA接收到該數(shù)字量后,DA接口模塊開始工作,將所接收到的并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為符合DA芯片協(xié)議要求的串行數(shù)據(jù)并輸出給DA芯片,隨后DA芯片進(jìn)行DA轉(zhuǎn)換,所得模擬電壓量經(jīng)AD采集卡采集并最終在測試計(jì)算機(jī)軟件界面中顯示出來,以形成一個閉合的環(huán)路,實(shí)現(xiàn)對DA接口電路的測試。 SPI(Serial Peripheral Interface)接口是一種同步串行外設(shè)接口。被測圖像板SPI接口集成在DSP中,與板上的串行FLASH相連,用于數(shù)據(jù)暫存和讀取。本測試系統(tǒng)通過對串行FLASH任意地址寫入數(shù)據(jù)并讀取,比較寫入數(shù)據(jù)和讀取數(shù)據(jù)是否相同來判斷該模塊是否正常工作。寫入數(shù)據(jù)流程如下:首先,測試計(jì)算機(jī)通過RS422接口卡將需要寫入FLASH的數(shù)據(jù)以及存放的地址下發(fā)給DSP通訊轉(zhuǎn)接卡;然后,被測圖像板的DSP接收到該信息并進(jìn)行編碼,使之滿足SPI接口協(xié)議,并將相應(yīng)數(shù)據(jù)寫入串行FLASH的相應(yīng)地址中。讀取數(shù)據(jù)流程如下:測試計(jì)算機(jī)通過RS422接口卡發(fā)出讀取串口FLASH相應(yīng)地址的命令給DSP通訊轉(zhuǎn)接卡,隨后被測圖像板的DSP接到該命令并進(jìn)行編碼,并讀取串行FLASH的相應(yīng)地址的數(shù)據(jù),最后經(jīng)過DSP通訊轉(zhuǎn)接卡和RSS422接口卡傳輸?shù)綔y試計(jì)算機(jī)。將寫入數(shù)據(jù)與讀取數(shù)據(jù)相對比,即可實(shí)現(xiàn)對SPI接口電路的測試。 該測試系統(tǒng)的軟件采用Microsoft Visual C++編程,Microsoft Visual C++是美國微軟公司推出的基于Windows XP平臺的開發(fā)工具。具有集成開發(fā)環(huán)境,可提供編輯C語言,C++以及C++/CLI等編程語言[6]。為了日后的更新、維護(hù)與拓展,在設(shè)計(jì)過程中采用模塊化的思想,整個系統(tǒng)由數(shù)據(jù)采集模塊、檢測信號產(chǎn)生模塊、PCU輸出控制信號檢測模塊、通信模塊和系統(tǒng)幫助模塊等組成。系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)圖如圖7所示。 圖7 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)圖Fig.7 Schematic diagram of the software test system 圖8 軟件設(shè)計(jì)的流程圖Fig.8 Flow chart the software design 在軟件設(shè)計(jì)中,電源控制模塊主要實(shí)現(xiàn)對于被測圖像板供電的實(shí)時監(jiān)測和控制,保證其正常運(yùn)行以及故障時及時斷電保護(hù);RS422通信模塊主要實(shí)現(xiàn)RS422信號的產(chǎn)生與接收,通過產(chǎn)生RS422信號實(shí)現(xiàn)對不同測試項(xiàng)的控制,同時可以接收測試結(jié)果數(shù)據(jù);LVDS數(shù)據(jù)接收模塊用于實(shí)現(xiàn)LVDS圖像信號的接收以及顯示;GBIP通信模塊控制信號源產(chǎn)生用戶需求的各種模擬量信號。軟件設(shè)計(jì)流程圖如圖8所示。測試過程中,在完成數(shù)據(jù)采集后,顯示測試結(jié)果,并完成報(bào)表打印。 為了實(shí)現(xiàn)對某型號數(shù)字圖像板的功能測試,本文提出了以PCI總線測試計(jì)算機(jī)為核心的自動測試系統(tǒng),并完成了軟硬件設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)的硬件主要包括PCI總線測試計(jì)算機(jī)、多塊PCI總線接口板卡、基于DSP的通信轉(zhuǎn)接卡、信號發(fā)生器、電源調(diào)理板卡以及被測圖像板。該系統(tǒng)軟件部分以Windows XP為平臺,采用模塊化設(shè)計(jì)思想,實(shí)現(xiàn)了圖像板各項(xiàng)功能的測試和結(jié)果顯示。實(shí)際應(yīng)用表明:該測試系統(tǒng)操作簡便、測試結(jié)果準(zhǔn)確,滿足了用戶需求。 該測試系統(tǒng)采用具有多塊PCI總線接口板卡的PCI總線測試計(jì)算機(jī)為硬件平臺,軟件設(shè)計(jì)采用模塊化設(shè)計(jì)思想,提高了系統(tǒng)的可靠性和維護(hù)性。該測試系統(tǒng)已用于某型導(dǎo)彈的圖像板進(jìn)行測試,實(shí)際應(yīng)用表明該測試系統(tǒng)具有測試結(jié)果準(zhǔn)確、穩(wěn)定可靠、便于操作等特點(diǎn),達(dá)到了設(shè)計(jì)要求。 [1]劉艷霞,苗克堅(jiān).基于PCI的智能化仿真通訊存儲板的設(shè)計(jì)[J].計(jì)算機(jī)測量與控制,2011,13(9):1184-1186.LIU Yan-xia,MIAO Ke-jian.The design of intelligent simulation communication memory board based on PCI[J].Computer Measurement&Control,2011,13(9):1184-1186. [2]Stephen Brown.數(shù)字邏輯基礎(chǔ)與Verilog設(shè)計(jì)[M].夏宇聞,譯.北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2008. [3]Texas Instruments.TMS320x281x Multichannel Buffered Serial Port Reference Guide[Z].2004. [4]王琳,商周,王學(xué)偉.數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的發(fā)展與應(yīng)用[J].電測與儀器,2004(8):4-8.WANG Lin,SHANG Zhou,WANG Xue-wei.The development and application of the data acquisition system[J].Electrical Measurement&Instrumentation,2004(8):4-8. [5]張威,苗克堅(jiān).基于LVDS的多路SPI的PCI板卡設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J].計(jì)算機(jī)測量與控制,2012,20(3):790-792.ZHANG Wei,MIAO Ke-jian.The design and implement of PCI card of multi-channel SPI based on LVDS[J].Computer Measurement&Control,2012,20(3):790-792. [6]孫秀梅,王雪.Visaul C++典型模塊與項(xiàng)目實(shí)戰(zhàn)大全[M].北京:電子工業(yè)出版社,2012.3.3 LVDS接口電路測試
3.4 串行DA接口電路測試
3.5 SPI接口電路測試
4 測試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
5 結(jié) 論