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        粗糙金屬表面的高頻太赫茲散射特性

        2014-10-25 05:26:40張鏡水
        激光與紅外 2014年8期
        關(guān)鍵詞:赫茲粗糙度特性

        楊 洋,劉 兵,張鏡水,劉 婧

        (1.承德石油高等??茖W(xué)校河北省儀器儀表工程技術(shù)研究中心,河北承德067000;2.北京理工大學(xué),北京100081;3.首都師范大學(xué),北京100081)

        1 引言

        近些年國內(nèi)外圍繞太赫茲波目標(biāo)的透射和反射特性研究工作取得了多項(xiàng)研究成果并帶動(dòng)了有關(guān)反射成像和透射成像的研究工作的開展[1~5],國外圍繞太赫茲波目標(biāo)散射特性的研究工作經(jīng)過十年的努力已經(jīng)取得了一些成果[6~8],而國內(nèi)有關(guān)太赫茲目標(biāo)特性的研究工作起步較晚,2012年后才看到有關(guān)太赫茲雷達(dá)目標(biāo)特性的理論與實(shí)驗(yàn)研究工作的報(bào)道[9-12],但目標(biāo)散射的實(shí)驗(yàn)研究工作多局限在太赫茲的低頻段,近期我們利用CO2抽運(yùn)的太赫茲波輻射激光器作為太赫茲源并借助自行搭建的小型自動(dòng)旋轉(zhuǎn)光學(xué)平臺(tái)開展了高頻段太赫茲波在不同金屬粗糙表面的散射實(shí)驗(yàn)研究工作,并對(duì)散射模式進(jìn)行了深入探究,取得一些有價(jià)值的結(jié)論。

        2 實(shí)驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)

        實(shí)驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)主要包括兩部分,第一部分為太赫茲源與探測(cè)器組成的發(fā)射接收系統(tǒng),其中太赫茲源頻率為3.11 THz的CO2抽運(yùn)的太赫茲波輻射激光器,探測(cè)器使用焦熱電探測(cè)器(Pyroelec tric Detector),工作的光譜范圍為0.1~10 THz,像素尺寸大小為2 mm×3 mm,測(cè)試系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)讀取單元用來獲得焦熱電探測(cè)器的電壓信號(hào);第二部分為龍門架、立式自動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)及運(yùn)動(dòng)控制器等組成的目標(biāo)高度與角度調(diào)節(jié)系統(tǒng),龍門架采用硬質(zhì)鋁合金精密加工而成,上面帶有滑道,小型立式自動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)可以自由在水平滑道上移動(dòng),在門型立式支架的兩個(gè)立柱上帶有標(biāo)尺,用以調(diào)節(jié)水平滑道的高度。小型立式自動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)下端通過一個(gè)連接系統(tǒng)將待測(cè)目標(biāo)懸掛在門型立式支架下端,通過“運(yùn)動(dòng)控制器”控制立式自動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)可以實(shí)現(xiàn)待測(cè)目標(biāo)在垂直方向上實(shí)現(xiàn)360°平面范圍內(nèi)自由旋轉(zhuǎn)。圖1給出了整個(gè)實(shí)驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。其中在太赫茲源的出口處要放置一個(gè)斬波器。

        圖1 高頻太赫茲測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖

        3 實(shí)驗(yàn)測(cè)試數(shù)據(jù)

        本次實(shí)驗(yàn)以粗糙金屬鋁、銅、鋼等圓盤作為工作目標(biāo),開展了收發(fā)同置的散射特性實(shí)驗(yàn)研究,收發(fā)同置是指太赫茲源與探測(cè)器在同一位置(近似),從而導(dǎo)致發(fā)出的波束與接收的波束相對(duì)于探測(cè)目標(biāo)的法線的夾角相同,也就是入射角θ與散射角β相等,在太赫茲雷達(dá)散射截面及雷達(dá)成像等測(cè)量中大多采用收發(fā)同置的方式。實(shí)驗(yàn)測(cè)試中,設(shè)置立式光學(xué)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)每次自動(dòng)變化1°,并重復(fù)測(cè)量三次,取三次的平均值作為測(cè)試數(shù)據(jù)。表1、2、3、4、5分別給出了收發(fā)同置時(shí),粗、細(xì)鋁盤、粗、細(xì)銅盤及細(xì)鋼盤的散射數(shù)據(jù)。實(shí)驗(yàn)中被當(dāng)作散射目標(biāo)的金屬圓盤是由安徽光機(jī)所加工而成,直徑為150 mm,我們用Rz來定量表征金屬表面的粗糙度,它被稱為“不平度平均高度”,經(jīng)測(cè)試粗、細(xì)兩種金屬銅圓盤的表面粗糙度的平均值分別為:Rz1=15.2 μm(細(xì)),Rz2=28.6 μm(粗),由于加工方式相同,因此鋁、鋼質(zhì)材料圓盤的表面粗糙度可以參比上述測(cè)試數(shù)據(jù)。

        上述實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)顯示:一是金屬粗糙表面對(duì)太赫茲波的散射范圍比較有限,當(dāng)散射角達(dá)到18°后幾乎無法探測(cè)到散射信號(hào);二是使用3.11 THz源后的細(xì)鋁板、細(xì)銅板、細(xì)鋼板散射曲線中沒有出現(xiàn)強(qiáng)度強(qiáng)烈振蕩的現(xiàn)象,但粗鋁板和粗銅板都不同程度地出現(xiàn)了一些輕微的振蕩現(xiàn)象,說明這種振蕩與粗糙表面的粗糙程度有關(guān);三是同一材質(zhì)金屬板的散射結(jié)果反應(yīng)出來的特性是粗糙度更大的粗糙表面散射強(qiáng)度比粗糙度相對(duì)小的粗糙表面散射強(qiáng)度要弱,也就是說細(xì)表面金屬板的散射峰值功率更強(qiáng)。

        表1 高頻細(xì)鋁盤太赫茲散射實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)

        表2 高頻粗鋁盤太赫茲散射實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)

        表3 高頻細(xì)銅盤太赫茲散射實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)

        表4 高頻粗銅盤太赫茲散射實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)

        表5 高頻細(xì)鋼盤太赫茲散射實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)

        4 散射模式的數(shù)學(xué)分析

        在完成散射測(cè)試過程中對(duì)散射結(jié)果的分析過程中總是希望能夠獲取到目標(biāo)的散射模式,在已經(jīng)熟悉的紅外散射測(cè)量過程中我們知道朗伯體對(duì)紅外的散射一般遵從朗伯定律[13](余弦規(guī)律),而在微波散射測(cè)量中粗糙金屬表面對(duì)微波散射的研究中常利用基爾霍夫近似法,在這種方法中微波散射一般被認(rèn)為遵從高斯分布[14-15]。本節(jié)想通過對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和散射規(guī)律進(jìn)行分析的基礎(chǔ)上,尋求粗糙目標(biāo)體對(duì)太赫茲的散射模式。經(jīng)過對(duì)上述數(shù)據(jù)進(jìn)行深入分析后發(fā)現(xiàn)散射規(guī)律似乎類似于指數(shù)形式,因此決定采用指數(shù)擬合原理對(duì)曲線進(jìn)行擬合。

        所謂指數(shù)擬合原理是設(shè)被擬合的數(shù)據(jù)源為(pi,qi),其中,i=1,2,…,n,擬合函數(shù)為 y=aebx的形式,利用最小二乘法,通過做最優(yōu)化處理,得a與b的值,并得到最終的擬合表達(dá)式。

        各條實(shí)驗(yàn)曲線如圖2~6所示。擬合函數(shù)中y代表通過數(shù)據(jù)讀取單元用所獲得焦熱電探測(cè)器的輸出電壓(強(qiáng)度),而x則代表散射角。按照上述思路分別得到每條曲線的數(shù)學(xué)表達(dá)式。

        圖2 粗鋁板散射曲線

        圖3 粗銅板散射曲線

        圖4 細(xì)鋁板散射曲線

        圖5 細(xì)銅板散射曲線

        圖6 細(xì)鋼板散射曲線

        顯然,五條曲線都可以用一個(gè)指數(shù)函數(shù)去表達(dá),這種指數(shù)函數(shù)比起5次多項(xiàng)式的函數(shù)關(guān)系要方便得多[11]。即:在收發(fā)同置的散射中散射模式為散射角度與散射強(qiáng)度(輸出電壓)之間是一種指數(shù)關(guān)系,即:

        式中,k與β是兩個(gè)與粗糙度及入射波的頻率有關(guān)的系數(shù)。

        5 結(jié)論

        對(duì)上述實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行總結(jié)和分析后,得出結(jié)論:

        (1)粗糙金屬表面對(duì)太赫茲波的散射與入射波的頻率、目標(biāo)的材質(zhì)、表面的粗糙度等多種因素有關(guān);

        (2)收發(fā)同置情況下散射范圍一般較小,當(dāng)散射角超過18°后幾乎全部衰減為0,而在0到18°范圍內(nèi)散射規(guī)律近似成指數(shù)關(guān)系,其中實(shí)驗(yàn)顯示在粗、細(xì)兩種粗糙金屬圓盤的散射中細(xì)金屬圓盤的散射結(jié)果與指數(shù)關(guān)系吻合度更高;

        (3)無論是高頻還是低頻太赫茲波散射曲線都都會(huì)顯示出強(qiáng)度的振蕩,且振蕩與粗糙度和太赫茲的頻率共同決定,這種振蕩現(xiàn)象多少帶有微波的散射特性,但伴隨著頻率的增加振蕩呈現(xiàn)出減弱的趨勢(shì);

        (4)無論是收發(fā)分置還是收發(fā)同置的散射結(jié)果表明伴隨著散射目標(biāo)表面粗糙度的不同,散射效果不同,在太赫茲領(lǐng)域伴隨粗糙度的變大,散射強(qiáng)度變?nèi)?,?dāng)不同太赫茲源作用在同一散射目標(biāo)體上,頻率高的波源散射范圍更大,強(qiáng)度更高;

        (5)指數(shù)規(guī)律中的k與β是兩個(gè)與粗糙度及入射波的頻率有關(guān)的系數(shù),但本文中并沒有給出這兩個(gè)系數(shù)與粗糙度及入射波的頻率具體函數(shù)關(guān)系,欲求出這種函數(shù)關(guān)系需要利用不同頻率的太赫茲源和更多不同粗糙度的金屬目標(biāo)進(jìn)行深入的實(shí)驗(yàn)研究。鳴 謝:本文中實(shí)驗(yàn)內(nèi)容是作者在天津大學(xué)攻讀博士期間完成的,感謝姚建銓教授等老師給予的指導(dǎo)和幫助。

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