魯曉東,周鈴嵐,巫英偉,蘇光輝,秋穗正,張 虹
(1.西安交通大學(xué) 動(dòng)力工程多相流國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,陜西 西安 710049;
2.西安交通大學(xué) 核科學(xué)與技術(shù)系,陜西 西安 710049;
3.中國(guó)核動(dòng)力研究設(shè)計(jì)院 核反應(yīng)堆系統(tǒng)設(shè)計(jì)技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,四川 成都 610041)
兩相流動(dòng)不穩(wěn)定性現(xiàn)象廣泛存在于工業(yè)系統(tǒng)和設(shè)備中,例如蒸汽發(fā)生器、沸水堆和制冷裝置等。它會(huì)引起系統(tǒng)流量和壓力振蕩,致使系統(tǒng)裝置發(fā)生機(jī)械振蕩影響系統(tǒng)控制,危害系統(tǒng)安全。因此在系統(tǒng)設(shè)計(jì)和運(yùn)行時(shí),需避免流動(dòng)不穩(wěn)定性現(xiàn)象的發(fā)生。在過(guò)去的幾十年中,對(duì)兩相流動(dòng)不穩(wěn)定性進(jìn)行了大量的實(shí)驗(yàn)研究和數(shù)值計(jì)算。近年來(lái),許多學(xué)者[1-4]將目光投向了并聯(lián)通道兩相流動(dòng)不穩(wěn)定性的研究。在并聯(lián)系統(tǒng)中,各通道具有相同邊界條件,相互間存在影響。當(dāng)某個(gè)通道發(fā)生擾動(dòng)時(shí),另外的通道也會(huì)受到影響,這使并聯(lián)通道兩相流動(dòng)不穩(wěn)定性的研究特別復(fù)雜和困難。在已有的研究中,廣泛采用軸向均勻加熱的假設(shè)來(lái)研究并聯(lián)通道系統(tǒng)流動(dòng)不穩(wěn)定性。然而,在真實(shí)的核反應(yīng)堆系統(tǒng)中,堆芯軸向功率分布是非均勻的。因此,為更加真實(shí)地研究反應(yīng)堆系統(tǒng)中的兩相流動(dòng)不穩(wěn)定性現(xiàn)象,本文選取余弦功率加熱計(jì)算系統(tǒng)的穩(wěn)定性邊界和三維不穩(wěn)定性空間,以研究軸向非均勻加熱對(duì)并聯(lián)通道兩相流動(dòng)不穩(wěn)定性的影響。
在本研究中,將反應(yīng)堆堆芯系統(tǒng)簡(jiǎn)化為由上下聯(lián)箱和中間兩個(gè)通道組成的系統(tǒng),如圖1所示。為更好地分析問(wèn)題,本文作如下假設(shè):1) 兩相區(qū)采用均相流模型;2) 入口流體過(guò)冷;3) 兩相流體處于熱力學(xué)平衡狀態(tài);4) 忽略過(guò)冷沸騰。
對(duì)于均相流模型,單相區(qū)和兩相區(qū)的控制方程均可寫(xiě)成如下形式。
質(zhì)量守恒方程:
(1)
動(dòng)量守恒方程:
(2)
圖1 并聯(lián)通道系統(tǒng)簡(jiǎn)圖
能量守恒方程:
(3)
狀態(tài)方程:
ρ=ρ(p,h)
(4)
式中:p為壓力;h為流體焓;ρ為流體密度;u為流體流速;A為流體流動(dòng)截面積;De為當(dāng)量直徑;f為摩擦系數(shù);ql為線功率;z為坐標(biāo)軸方向;ki為節(jié)流系數(shù);δ為Dirac函數(shù)。
式(4)兩邊分別對(duì)時(shí)間t求導(dǎo),可得:
··
(5)
將式(5)分別代入式(1)和式(3),得:
··(ρu)=0
(6)
(7)
在計(jì)算壓降時(shí),需選擇適當(dāng)?shù)膄和兩相摩擦倍增因子Φ2。表1列出單相區(qū)摩擦系數(shù)f1φ,兩相區(qū)摩擦系數(shù)f2φ為:
Φ2
(8)
Φ2采用MaAdams模型,即:
(9)
表1 摩擦系數(shù)關(guān)系式
空間上采用交錯(cuò)網(wǎng)格技術(shù),即將系統(tǒng)的p、h、ρ等物性參數(shù)儲(chǔ)存在控制體中心(如圖2中虛線位置),將u存放于控制體邊界處(如圖2中實(shí)線位置),從而可省略同位網(wǎng)格技術(shù)中的迭代步驟,提高計(jì)算速度。在時(shí)間上采用半隱式差分方式進(jìn)行離散,避免了完全隱式差分求解困難和耗時(shí)的缺點(diǎn)。當(dāng)界面速度大于零時(shí),邊界處流體物性參數(shù)取來(lái)流方向上最后1個(gè)控制體中心的值[5]。
圖2 一維空間網(wǎng)格
根據(jù)圖2的空間控制體劃分方式,在第i個(gè)控制體處對(duì)式(6)、(7)進(jìn)行離散,可得:
·
(10)
(11)
(12)
上述3組差分離散方程求解時(shí)是封閉的。當(dāng)時(shí)間步長(zhǎng)滿(mǎn)足Δt<Δz/u時(shí),上述方程采用的離散格式穩(wěn)定且精確。
(13)
其中:
由于入口段和上升段對(duì)并聯(lián)通道兩相流動(dòng)不穩(wěn)定性均有影響[4],為更好地研究軸向非均勻加熱對(duì)流動(dòng)不穩(wěn)定性的影響,本文將不考慮入口段和上升段。在計(jì)算不穩(wěn)定邊界時(shí),采用小擾動(dòng)法進(jìn)行研究,即在并聯(lián)通道系統(tǒng)處于穩(wěn)定狀態(tài)時(shí),對(duì)其中1根通道的加熱量在極短時(shí)間(1 s)內(nèi)給定一微小擾動(dòng)(增加或減小1%),系統(tǒng)運(yùn)行一段時(shí)間后,觀察兩個(gè)通道的流量脈動(dòng)曲線和相空間軌跡,判斷系統(tǒng)所處的運(yùn)行狀態(tài)。
當(dāng)進(jìn)口溫度相同時(shí),隨加熱功率的增加,流量脈動(dòng)依次經(jīng)歷阻尼振蕩、極限環(huán)振蕩和發(fā)散振蕩,如圖3所示,圖中Npch為相變數(shù)、Nsub為進(jìn)口過(guò)冷度數(shù)。選取極限環(huán)振蕩時(shí)的加熱功率為臨界功率,并以此獲得不穩(wěn)定性邊界。
圖3 入口流量振蕩曲線(a、b、c)和相空間軌跡(d、e、f)
本文采用雙矩形通道實(shí)驗(yàn)結(jié)果[6]對(duì)模型進(jìn)行驗(yàn)證。本模型Npch的計(jì)算值和實(shí)驗(yàn)值的比較結(jié)果如圖4所示。從圖4可看出,本模型計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果的相對(duì)誤差均在15%以?xún)?nèi),說(shuō)明本文計(jì)算結(jié)果和實(shí)驗(yàn)結(jié)果符合良好。但由于本文采用均相流模型,忽略了相間滑移,因此計(jì)算結(jié)果偏保守。
圖4 Npch計(jì)算值與實(shí)驗(yàn)值的對(duì)比
表2列出并聯(lián)通道的詳細(xì)參數(shù)。本文采用軸向余弦功率加熱模擬軸向非均勻功率加熱,將均勻功率加熱作為參考功率分布,如圖5所示。
表2 并聯(lián)通道詳細(xì)參數(shù)
圖5 不同的加熱功率方式
本文采用進(jìn)口過(guò)冷度數(shù)和相變數(shù)表征并聯(lián)通道系統(tǒng)的不穩(wěn)定邊界,定義如下:
(14)
式中:hf和hg為飽和液體和飽和蒸汽焓;hi為進(jìn)口液體焓;vfg為飽和蒸汽與飽和液體比體積之差;vf為飽和液體比體積;hfg為汽化潛熱;Q為加熱量;W為流量。
在以前的文獻(xiàn)中,只有少量基于實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)研究軸向非均勻加熱對(duì)兩相系統(tǒng)穩(wěn)定性的影響,但存在兩種截然相反的結(jié)論。Djikman等[7]發(fā)現(xiàn)余弦功率加熱可增強(qiáng)系統(tǒng)的穩(wěn)定性;然而B(niǎo)ergles[8]則認(rèn)為余弦功率加熱會(huì)降低系統(tǒng)的穩(wěn)定性。采用本文所得的圖6,可很好地解釋這兩種結(jié)論。
圖6 余弦功率加熱對(duì)系統(tǒng)穩(wěn)定性的影響
圖6為7 MPa下余弦功率加熱對(duì)系統(tǒng)穩(wěn)定性的影響。從圖6可看出,在高過(guò)冷度區(qū),余弦功率加熱的系統(tǒng)穩(wěn)定性邊界(MSB)相對(duì)于均勻功率加熱的MSB向左移動(dòng),系統(tǒng)穩(wěn)定性降低。但在低過(guò)冷度區(qū),余弦功率加熱的MSB向右移動(dòng),余弦功率加熱增強(qiáng)了系統(tǒng)穩(wěn)定性。在不同的系統(tǒng)壓力下,可得到相似結(jié)論,如圖7所示。
產(chǎn)生上述現(xiàn)象的原因如下:對(duì)于兩相系統(tǒng),單相段壓降對(duì)系統(tǒng)的穩(wěn)定性起著很重要的作用。單相段壓降越大,系統(tǒng)越穩(wěn)定。對(duì)于余弦功率加熱和均勻功率加熱,在高過(guò)冷度區(qū),沸騰邊界均處于通道的上半?yún)^(qū),但余弦功率加熱時(shí)沸騰邊界較均勻功率加熱時(shí)低,單相段壓降相對(duì)較低,因此系統(tǒng)穩(wěn)定性降低。在低過(guò)冷度區(qū),對(duì)于上述兩種加熱方式,通道的沸騰邊界均發(fā)生在下半部,而余弦功率加熱的沸騰邊界較均勻功率加熱的高,單相段壓降相對(duì)較大,因此系統(tǒng)穩(wěn)定性增強(qiáng)。
圖7 系統(tǒng)的MSB
從圖7可看出,二維的MSB并不能清楚地顯示壓力對(duì)系統(tǒng)穩(wěn)定性的影響。Guo等[4]在2008年提出的不穩(wěn)定性空間(不穩(wěn)定島)的概念解決了這個(gè)問(wèn)題。在本研究中,采用由Npch、Nsub和無(wú)量綱壓力(p+=p/10patmosphere)組成的三維空間來(lái)研究不同加熱方式下的系統(tǒng)穩(wěn)定性。
本文計(jì)算了余弦和均勻功率加熱在壓力為7、9和15 MPa下的并聯(lián)通道MSB,獲得了相應(yīng)加熱方式下的不穩(wěn)定性空間,如圖8所示。從圖8可看出,對(duì)于余弦和均勻功率加熱,隨系統(tǒng)壓力的增加,不穩(wěn)定性區(qū)域均逐漸變小,并聯(lián)通道系統(tǒng)的穩(wěn)定性增強(qiáng)。
圖8 均勻功率(a)和余弦功率(b)加熱的不穩(wěn)定性空間
對(duì)于均勻功率加熱的系統(tǒng),已有很多學(xué)者研究了進(jìn)口阻力系數(shù)對(duì)系統(tǒng)穩(wěn)定性的影響。然而對(duì)于余弦功率加熱的系統(tǒng),這方面的研究卻進(jìn)行得很少。因此本文研究了余弦功率加熱時(shí)進(jìn)口阻力系數(shù)kin對(duì)并聯(lián)通道系統(tǒng)穩(wěn)定性的影響,如圖9所示。從圖9可看出,系統(tǒng)穩(wěn)定性隨進(jìn)口阻力系數(shù)的增大而增強(qiáng)。因增加進(jìn)口阻力系數(shù)增大了單相段壓降,從而增強(qiáng)了系統(tǒng)穩(wěn)定性。此外,從圖9還可知,隨進(jìn)口阻力系數(shù)的增大,MSB的拐點(diǎn)逐漸向高過(guò)冷度移動(dòng)。
圖9 進(jìn)口阻力系數(shù)對(duì)系統(tǒng)穩(wěn)定性的影響
1) 余弦功率加熱對(duì)系統(tǒng)穩(wěn)定性的影響在不同的過(guò)冷度區(qū)域表現(xiàn)為不同的形式:在高過(guò)冷度區(qū),降低系統(tǒng)的穩(wěn)定性;在低過(guò)冷度區(qū),增強(qiáng)系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
2) 無(wú)論是余弦功率加熱還是均勻功率加熱,系統(tǒng)壓力均會(huì)增強(qiáng)并聯(lián)通道系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
3) 當(dāng)系統(tǒng)處于余弦功率加熱時(shí),進(jìn)口阻力系數(shù)能增強(qiáng)系統(tǒng)的穩(wěn)定性。同時(shí),隨進(jìn)口阻力系數(shù)的增大,MSB的拐點(diǎn)逐漸向高過(guò)冷度區(qū)移動(dòng)。
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