張 威 , 王文國(guó) , 陳 亮 , 孟銀生 , 竇金河
(中國(guó)地質(zhì)科學(xué)院 地球物理地球化學(xué)勘查研究所,廊坊 065000)
白音查干礦床處于大興安嶺成礦帶中段,找礦勘查工作始于20 世紀(jì)50 年代,后經(jīng)過(guò)多家單位勘查[1],確定該礦床為一處大型中溫?zé)嵋毫严冻涮钚豌y多金屬礦床。因此,在該礦床開(kāi)展方法技術(shù)有效性試驗(yàn)具有重要意義。2008年我們?cè)诎滓舨楦傻V區(qū)選擇已知礦段開(kāi)展電法試驗(yàn),結(jié)合礦床地質(zhì)特征,驗(yàn)證了綜合電法在隱伏多金屬礦產(chǎn)勘查中的定位預(yù)測(cè)作用[2],并通過(guò)研究礦床的各種電性參數(shù)特征以及它們的對(duì)應(yīng)關(guān)系,對(duì)該地區(qū)外圍找礦以及今后深部找礦提供借鑒意義。
在工作中,首先采用中梯裝置時(shí)間域激發(fā)極化(TDIP)面積性測(cè)量,圈定礦致異常范圍,然后分別采用偶極-偶極裝置相位激電測(cè)深(RPIP)和可控源音頻大地電磁測(cè)深(CSAMT),研究礦體的空間賦存情況。比較其他測(cè)深方法,CSAMT采用赤道偶極裝置,具有橫向分辨率高、勘探深度大等優(yōu)點(diǎn);RPIP(偶極-偶極裝置)采用選頻測(cè)量, 具有抗干擾能力相對(duì)較強(qiáng),測(cè)量精度高等優(yōu)點(diǎn)[3-4]。近年來(lái),這兩種測(cè)深方法在隱伏金屬礦床勘查中得到了廣泛地應(yīng)用。
礦區(qū)大地構(gòu)造位置處于華北陸塊北緣,大興安嶺多金屬成礦帶最南段[1],內(nèi)蒙華力西晚期地槽褶皺帶北部的西烏珠穆沁旗復(fù)向斜的東段。區(qū)內(nèi)地層復(fù)雜,巖漿巖廣布,褶皺、斷裂構(gòu)造發(fā)育,金屬礦床分布廣泛, 是內(nèi)蒙古中東部重要的礦化集中區(qū)之一[1,5-6]。
試驗(yàn)區(qū)范圍內(nèi)出露的地層主要有下二疊系大石寨組、上侏羅系瑪尼吐組、白音高老組、下白堊系大磨拐河組和第四系覆蓋層(圖1)。構(gòu)造以褶皺構(gòu)造和斷裂構(gòu)造為主,整個(gè)試驗(yàn)區(qū)地層分布構(gòu)成一軸向北東向,軸面產(chǎn)狀較陡,北西翼較平緩,南東翼較陡的傾斜背斜構(gòu)造??氐V斷裂構(gòu)造主要以北東向?yàn)橹?,由多條礦化蝕變碎裂巖帶構(gòu)成,普遍經(jīng)受了中低溫?zé)嵋何g變作用和多金屬礦化,走向55°~85°,傾向北西,傾角47°~68°。多金屬礦化帶大都賦存在下二疊系大石寨組變質(zhì)粉砂巖和蝕變安山質(zhì)凝灰?guī)r內(nèi),空間分布嚴(yán)格收斷裂構(gòu)造控制。
圖1 試驗(yàn)區(qū)地質(zhì)及測(cè)線位置圖Fig.1 Map of geologic and survey line location in the test area
該礦床是一個(gè)大型銀多金屬礦床,其中銀礦石平均品位為412×10-6;鋅礦石平均品位為3.30%;鉛礦石平均品位為1.46%。
該礦區(qū)礦石礦物成分分為金屬礦物和非金屬礦物。金屬礦物分為金屬硫化物、金屬氧化物,如表1所示。礦石中主要有用組分為鋅、鉛、銀,銅、金、硫化物等,以礦物成分分析礦石化學(xué)成分,礦石化學(xué)成分主要為硅、氧、硫、鐵 、鋅、鉛。礦體的圍巖與礦體產(chǎn)狀相同,但銀鋅鉛含量較低,與礦體之間為漸變過(guò)渡關(guān)系。巖性主要以變質(zhì)粉砂巖、凝灰?guī)r、安山巖、硅質(zhì)泥巖為主。
表1 礦石礦物成分表
野外沒(méi)有收集到礦區(qū)內(nèi)巖(礦)石電性資料,參考附近礦區(qū)礦石電性資料可知,區(qū)域內(nèi)砂礫巖充電率一般為3 ms~10 ms;火山碎屑巖充電率一般為4 ms~9 ms;大理巖和矽卡巖充電率一般為3 ms~9 ms;花崗斑巖充電率一般為6 ms~10 ms;礦石和礦化巖石充電率一般為10 ms~100 ms。另外,單獨(dú)銀的礦物不可能產(chǎn)生低阻高極化效應(yīng),但其與較大量的其他金屬硫化物共生時(shí),由于金屬硫化物導(dǎo)致礦石視極化率異常、視電阻率異常,所以多金屬礦物能夠產(chǎn)生中低電阻率高極化效應(yīng)。而圍巖以變質(zhì)粉砂巖、凝灰?guī)r、安山巖、硅質(zhì)泥巖為主,均呈現(xiàn)高電阻率低極化率。因此在該區(qū)域開(kāi)展電法勘查研究,具有一定的地球物理前提。對(duì)于熱液裂隙充填型礦床,由于礦體多呈帶狀、脈狀產(chǎn)出[7],導(dǎo)致了礦石極化率升高,因此在該區(qū)域內(nèi)成帶狀、不規(guī)則狀分布的高充電率中低電阻率異常為重要的間接找礦標(biāo)志。
根據(jù)試驗(yàn)需要,共布置了1.12 km2的TDIP面積測(cè)量(圖1),測(cè)網(wǎng)密度80 m×20 m, 根據(jù)礦脈走向(55°~85°),測(cè)線按345°方向垂直礦脈走向布設(shè),即縱向中梯裝置[8], 長(zhǎng)度為1 000 m。供電極距AB=2 000 m,測(cè)量極距MN=20 m,點(diǎn)距=20 m,線距=80 m,供電周期=8 s。在TDIP測(cè)量所圈定異常的基礎(chǔ)上,布設(shè)了多條RPIP測(cè)深和CSAMT測(cè)深,其中CSAMT收發(fā)距R=5 640 m,供電極距AB=1 000 m,MN=20 m,點(diǎn)距=20 m,工作頻率范圍=8 Hz~8 192 Hz;RPIP電極距MN=a=40 m,點(diǎn)距=20 m,供電極距AB=40 m,隔離系數(shù)n=2~8,工作頻率為0.25 Hz。工作中使用的儀器為美國(guó)Zonge公司生產(chǎn)的GDP-32Ⅱ多功能電法儀,反演軟件使用的是Zonge公司自帶商用軟件。
圖2和圖3分別是試驗(yàn)區(qū)TDIP視充電率(Ms)和視電阻率(ρs)等值線平面圖。由圖2可見(jiàn),區(qū)內(nèi)Ms最小在4 ms左右,最大可達(dá)32 ms。以Ms=28 ms為界,可圈定區(qū)內(nèi)五組呈帶狀展布、近東西(75°~80°)走向的Ms異常(分別編號(hào)為Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ和Ⅴ號(hào)異常)。
圖2 試驗(yàn)區(qū)Ms等值線平面圖Fig.2 The contour map of Ms in the test area
圖3 試驗(yàn)區(qū)ρs等值線平面圖Fig.3 The contour map of ρs in the test area
其中Ⅰ號(hào)異常位于試驗(yàn)區(qū)中東部70號(hào)~130號(hào)測(cè)線50號(hào)~70號(hào)測(cè)點(diǎn)間。該異常由三個(gè)子異常組成。其中西部?jī)蓚€(gè)子異常已由多個(gè)鉆孔控制,有多條礦體被驗(yàn)證,為已知礦致異常。東部異常尚未有鉆孔控制,根據(jù)異??臻g分布情況及異常組合,推斷該異常亦為礦致異常。Ⅱ號(hào)異常位于試驗(yàn)區(qū)東部110號(hào)~130號(hào)測(cè)線50號(hào)測(cè)點(diǎn)附近,是由多條已探明的鉛鋅銀礦致異常;Ⅲ號(hào)異常位于試驗(yàn)區(qū)中西部40號(hào)~80號(hào)測(cè)線50號(hào)~60號(hào)測(cè)點(diǎn)間,由兩個(gè)子異常組成,經(jīng)鉆孔驗(yàn)證是礦致異常,由兩組獨(dú)立礦體引起。Ⅳ號(hào)異常位于試驗(yàn)區(qū)東北部110號(hào)~140號(hào)線之間,40號(hào)點(diǎn)附近。經(jīng)鉆孔驗(yàn)證該異常是礦致異常;Ⅴ號(hào)異常位于試驗(yàn)區(qū)中北部80號(hào)測(cè)線的40號(hào)點(diǎn)位附近,局部位于第四系覆蓋區(qū),該異常東部已經(jīng)見(jiàn)礦,為礦致異常。
由圖3可見(jiàn),對(duì)應(yīng)Ms異常的ρs區(qū)域基本為中低阻區(qū),也呈帶狀展布、近東西走向。由地質(zhì)資料可知,礦區(qū)內(nèi)控礦構(gòu)造巖帶普遍經(jīng)受了中低溫?zé)嵋何g變作用和多金屬礦化,蝕變構(gòu)造巖呈帶狀沿?cái)嗔褬?gòu)造分部,礦體多賦存于斷裂破碎帶或巖性接觸帶上。反映在ρs等值線平面圖上為低阻或高低阻過(guò)渡帶上。對(duì)比礦體走向(圖1),ρs等值線與礦體走向大體一致,但僅憑ρs特征無(wú)法清晰地圈定礦體范圍。
綜上所述,由于白音查干礦區(qū)多金屬礦體與其他金屬硫化物相關(guān)性較好,即為高極化體。因此,面積性測(cè)量激電異常明顯,是礦區(qū)及外圍找礦標(biāo)志之一。
為了進(jìn)一步了解該區(qū)異常源空間分布狀態(tài),我們選擇主礦體區(qū)段,在圖2所示的Ms異常區(qū)內(nèi)布設(shè)了多條RPIP剖面和CSAMT剖面,圖4為80線電法測(cè)量綜合結(jié)果。
由圖4(a)可見(jiàn),TDIP剖面通過(guò)Ⅰ號(hào)異常西側(cè)和Ⅴ號(hào)異常東側(cè)。Ms曲線從Ⅴ號(hào)異常中心向小號(hào)點(diǎn)方向梯度變化小,從Ⅰ號(hào)異常中心向大號(hào)點(diǎn)方向梯度變化較大。結(jié)合圖5,礦體傾向北西(小號(hào)點(diǎn)方向),而且延伸較深。Ms剖面曲線形態(tài)較好的反映了礦體的大致賦存形態(tài)Ms異常范圍內(nèi),CSAMT反演電阻率斷面(圖4(b))從36號(hào)點(diǎn)至64號(hào)點(diǎn)范圍內(nèi)出現(xiàn)由深至淺分布,而且延深很大的低阻帶。結(jié)合圖5,低阻帶較清楚的反應(yīng)了北西傾向容礦斷裂構(gòu)造的延伸情況,30號(hào)點(diǎn)至60號(hào)以下高阻體以及斷裂構(gòu)造兩側(cè)的高阻體應(yīng)該是二疊系大石寨組變質(zhì)粉砂巖、蝕變粉砂巖等礦體圍巖的電性反應(yīng)。RPIP反演電阻率斷面(圖4(c))40號(hào)點(diǎn)至70號(hào)點(diǎn)存在低電阻異常,分布形態(tài)與CSAMT反演電阻率結(jié)果一致,同樣是往大號(hào)點(diǎn)方向由深至淺分布。反演相位斷面(圖4(d))32號(hào)點(diǎn)至50號(hào)點(diǎn),58號(hào)點(diǎn)至70號(hào)點(diǎn)出現(xiàn)兩處高相位(φs)異常,這與TDIP剖面Ⅰ號(hào)和Ⅴ號(hào)兩個(gè)礦致異常完全對(duì)應(yīng)。而且更能清楚地揭示礦體的空間分布位置,但由于裝置限制,RPIP反演深度有限[2,9],對(duì)礦體埋深情況指示有限。
圖4 80線電法測(cè)量綜合結(jié)果Fig.4 The comprehensive results of electrical method measurement from line 80 (a)TDIP剖面;(b)CSAMT反演電阻率斷面;(c)RPIP反演電阻率斷面;(d)RPIP反演相位斷面
圖5 80線(局部)地質(zhì)剖面Fig.5 Geologic section of line 80(partly)
對(duì)比80線局部地質(zhì)剖面(圖5),礦體對(duì)應(yīng)位置出現(xiàn)中低阻、高相位、高充電率異常,而且礦體形態(tài)和走向與異常組合基本對(duì)應(yīng)。鉆孔揭露礦體呈脈狀分布,礦脈向下延深很大,傾向北西,傾角55°~65°。Ag平均厚度為4.6 m,平均品位 為220×10-6;Pb平均厚度為4.3 m,平均品位為2.1%;Zn平均厚度為9 m,平均品位為3.6%。
白音查干銀多金屬礦床與其他金屬硫化物相關(guān)性較好,通過(guò)分析該礦床與視充電率異常、視電阻率異常的關(guān)系,結(jié)合已知礦床資料,實(shí)測(cè)的視充電率能夠勾畫(huà)出與金屬硫化物共生礦體的平面位置。由于礦體圍巖與礦體為漸變過(guò)渡關(guān)系,加之體積效應(yīng),視電阻率異常不明顯,僅憑視電阻率異常難以對(duì)礦體經(jīng)行平面定位,但兩者的對(duì)應(yīng)關(guān)系還是較清楚地反應(yīng)出多金屬礦體的平面電性特征,而且視充電率剖面曲線梯度變化特征對(duì)于礦體的大致形態(tài)也有指示意義。測(cè)深方面,由于容礦構(gòu)造受熱液蝕變作用和多金屬礦化,斷面電性特征為低阻高相位異常組合,而且嚴(yán)格按構(gòu)造走向分布。所不同的是,相位激電法能夠更精確地圈定礦體位置,但對(duì)礦體延伸指示有限。而可控源音頻大地電磁法更能清楚顯示延深情況。
綜合以上異常因素及作者對(duì)礦區(qū)地質(zhì)特征和控礦因素的認(rèn)識(shí), 可以認(rèn)為視充電率異常對(duì)本區(qū)的找礦有很好的指示作用, 反演電阻率和反演相位異常特征能夠基本預(yù)測(cè)控礦構(gòu)造或礦體的空間分布和埋深情況。所以在白音查干礦區(qū),電性異常與地質(zhì)構(gòu)造對(duì)應(yīng)部位是深部以及外圍找礦突破的有利位置。
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