劉迪 ,段德磊,徐春
(云南省電力設(shè)計(jì)院,云南 昆明 650011)
電離層延遲誤差是GPS 定位中的一項(xiàng)重要誤差源,也是導(dǎo)致差分GPS 的定位精度隨用戶和基準(zhǔn)站間距離增加而迅速降低的主要原因之一。目前現(xiàn)有的電離層模型主要是長時(shí)期內(nèi)全球平均狀況的經(jīng)驗(yàn)?zāi)P停?],如Bent 模型、Klobuchar 模型、IRI 模型等。利用這些模型來估計(jì)某一時(shí)刻某一地點(diǎn)電離層延遲的精度均不夠理想,其誤差為實(shí)際延遲量的20% ~40%[2]。近年來基于電離層單層假設(shè)的二維電離層模型的研究已趨于成熟,即利用地基GPS 實(shí)際測定某一時(shí)段某一區(qū)域內(nèi)的電離層延遲,再采用數(shù)學(xué)方法擬合電離層延遲模型。顯然,建立這種模型時(shí)并不要求對電離層變化規(guī)律有透徹的了解,一些時(shí)間尺度較長的不規(guī)則變化已經(jīng)在模型中得到了反映[3]。本文利用VTEC 多項(xiàng)式模型對全天電離層TEC 進(jìn)行了計(jì)算,但是采用此方法所得VTEC 值在分段模型間不連續(xù)。為此,本文通過增加已知條件和模型間取加權(quán)平均值的方法,能夠很好地反映電離層電子總含量的實(shí)際情況,能較好保證模型間的連續(xù)性,并且?guī)拗茥l件模型有利于提高長時(shí)間的電離層延遲模型的精度。
VTEC 多項(xiàng)式模型是目前使用最多的局部電離層函數(shù)模型。該模型將VTEC 看做是緯度差φ-φ0和太陽時(shí)角差S-S0的函數(shù),用一個(gè)規(guī)則的曲面來擬合各穿刺點(diǎn)處實(shí)際測定VTEC 值,其具體表達(dá)式為[4]:
式中:nmax、mmax是地理緯度φ 和日心經(jīng)度S 二維多項(xiàng)式的泰勒展開式中的最大維數(shù);Enm是VTEC 多項(xiàng)式模型的系數(shù);φ0是測區(qū)中心點(diǎn)的地理緯度;S0是測區(qū)中心點(diǎn)在該時(shí)段中央時(shí)刻t0時(shí)的日心經(jīng)度;φ 是穿刺點(diǎn)或者星下點(diǎn)的地理緯度。S 是穿刺點(diǎn)或者星下點(diǎn)的日心經(jīng)度,它與地方時(shí)(LT)有關(guān)。
根據(jù)GPS 與VTEC 的關(guān)系,測站至衛(wèi)星路徑上的總電子含量的觀測方程如下:
在本文計(jì)算中,穿刺點(diǎn)位置的計(jì)算采用電離層單層模型[5],取電離層單層高度H =350 km、VTEC 模型參數(shù)nmax=2、mmax=3。
為了了解電離層電子總含量全天變化規(guī)律,將一天分成6 個(gè)時(shí)段,分別對每個(gè)時(shí)段內(nèi)的電離層TEC 進(jìn)行擬合。在每個(gè)時(shí)段內(nèi),采用VTEC 多項(xiàng)式模型,一天內(nèi)對應(yīng)衛(wèi)星和接收機(jī)的組合硬件延遲采用同一個(gè)參數(shù)[6]。這樣,其參數(shù)設(shè)置由兩部分組成:①6 個(gè)時(shí)段的電離層多項(xiàng)式模型系數(shù),共6 ×3 ×4 =72 個(gè)參數(shù);②衛(wèi)星和接收機(jī)組合的硬件延遲,一般為29 個(gè)參數(shù)。則待估的參數(shù)一般為72 +29 =101。
本文利用觀測文件和GPS 衛(wèi)星的精密星歷,計(jì)算了2006年4月10日北京房山站GPS 跟蹤站單站電離層延遲模型,再利用模型系數(shù)計(jì)算了北京附近某地理經(jīng)緯度(40°N,116°E)上空全天的電離層TEC日變化曲線,如圖1所示。
圖1 電離層TEC日變化曲線
從圖1可以看出,電離層總電子含量最大值出現(xiàn)在地方時(shí)13 時(shí)左右,最小值出現(xiàn)在凌晨5 時(shí)左右(北京地方時(shí)比世界時(shí)晚8 h)。由于是分時(shí)段建立電離層延遲模型,再加上模型參數(shù)設(shè)置上自身的缺陷和觀測值的精度影響,在兩個(gè)相鄰的時(shí)段間,模型計(jì)算的總電子含量會出現(xiàn)跳躍,使得總電子含量曲線圖出現(xiàn)不連續(xù)現(xiàn)象。
為了克服這一不足,本文加入了在時(shí)間段的節(jié)點(diǎn)處函數(shù)模型值相等這一約束條件。即把多項(xiàng)式模型看成穿刺點(diǎn)經(jīng)度、緯度和時(shí)間的函數(shù):
其中B、L 分別為穿刺點(diǎn)的緯度和經(jīng)度,t 為觀測時(shí)間,i 為時(shí)段號。
在兩個(gè)時(shí)段之間,要保持它在空間上的連續(xù)性和光滑性,則需要函數(shù)在空間所有點(diǎn)上的VTEC 值在時(shí)段間的節(jié)點(diǎn)處相等,這在建模時(shí)是不可能實(shí)現(xiàn)的。本文的計(jì)算中,選擇在站點(diǎn)上空設(shè)置一個(gè)網(wǎng)格,網(wǎng)格大小為1° ×1°或30' ×30',即4 個(gè)點(diǎn),讓函數(shù)模型6 個(gè)時(shí)段的銜接時(shí)刻,在網(wǎng)格點(diǎn)滿足下面條件:
式中,(Bg,Lg)為格網(wǎng)點(diǎn)的坐標(biāo),t 為時(shí)間段銜接處的時(shí)間。
這樣,共有5 ×4 =20 個(gè)限制條件,采用附有限制條件的間接平差方法,對模型參數(shù)進(jìn)行求解。根據(jù)觀測方程和約束條件,可以寫出誤差方程和限制條件為:
其中n 為觀測量的個(gè)數(shù),u 為參數(shù)的個(gè)數(shù),s 為約束條件的個(gè)數(shù)。根據(jù)式(6)可知,約束條件Cj=(… ai,1…ai,12-ai,1…-ai,12…),Wx=0。
由上述誤差方程和限制條件,按附有限制條件的間接平差理論,可得到:
因?yàn)閃x= 0,只需計(jì)算并且約束條件C 也是一個(gè)稀疏矩陣,在構(gòu)造Ncc時(shí)可以按分塊構(gòu)造的方法。利用上面模型重新計(jì)算北京某地全天的電離層TEC日變化曲線,結(jié)果如圖2所示。
圖2 帶限制條件的TEC日變化曲線
從圖2可以看出,在時(shí)間段銜接處的連續(xù)性有了一定提高,但還不是很光滑。為了讓總電子含量連續(xù),并且保證曲線圖的精度,在時(shí)間段的銜接處取前后兩個(gè)模型的內(nèi)插值和外推值的加權(quán)平均值。具體的做法是在每個(gè)時(shí)間段銜接處的前后25 個(gè)歷元,用下面公式計(jì)算該時(shí)刻的總電子含量,其中前一個(gè)公式用于計(jì)算時(shí)間段銜接處前25 個(gè)歷元的總電子含量,后一個(gè)公式用于計(jì)算時(shí)間段銜接處后25 個(gè)歷元的總電子含量:
式中,n 表示該時(shí)刻的歷元;ni表示第i 個(gè)時(shí)間段銜接處的歷元;Mi表示第i 個(gè)模型計(jì)算得到的總電子含量。
利用式(10)和帶限制條件模型重新計(jì)算全天某處的總電子含量,曲線圖如3 所示。
圖3 平滑后TEC日變化曲線
平滑后的曲線保持前面的TEC日變化曲線的特點(diǎn),并且連續(xù)性和平滑性均得到改善,可以用于對TEC日變化規(guī)律進(jìn)行研究。
通過試?yán)梢钥闯觯疚牟捎玫脑黾右阎獥l件和模型間取加權(quán)平均值的方法,能夠很好地反映電離層電子總含量的實(shí)際情況,并能較好保證模型分段處的連續(xù)性。但是,本文增加的已知條件較為簡單,最后也只用了加權(quán)平均的方法來提高連續(xù)性。今后可在增加約束條件個(gè)數(shù)和對約束條件求導(dǎo)等方面再做研究。
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