陳新龍 程素紅

摘 要：在電氣試驗(yàn)絕緣的監(jiān)督中，電氣試驗(yàn)是較為核心的部分。本文具體通過(guò)理論依據(jù)的闡述，提出在電力系統(tǒng)中高壓電氣試驗(yàn)所存在的問(wèn)題以及解決措施，基于此保證高壓電氣試驗(yàn)的穩(wěn)定性運(yùn)行。

關(guān)鍵詞：電力系統(tǒng)；高壓電氣試驗(yàn)；措施

1.高壓電氣試驗(yàn)的發(fā)展趨勢(shì)

現(xiàn)階段，在我國(guó)社會(huì)經(jīng)濟(jì)的不斷發(fā)展下，再加上信號(hào)處理技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)等發(fā)展現(xiàn)狀，高壓電氣試驗(yàn)的開(kāi)展大規(guī)模的通過(guò)新技術(shù)和新設(shè)備。繼而增進(jìn)了現(xiàn)如今電力系統(tǒng)的穩(wěn)定發(fā)展模式。主要表現(xiàn)的技術(shù)模式為，新設(shè)備的增多、新研究方式的增多、新技術(shù)應(yīng)用的實(shí)踐、試驗(yàn)診斷技術(shù)的開(kāi)展。

2.電力系統(tǒng)中高壓電氣試驗(yàn)所存在的問(wèn)題

2.1.電壓所造成的電氣試驗(yàn)問(wèn)題

其一，相對(duì)直流電阻的測(cè)量方面，電壓對(duì)其產(chǎn)生的影響。發(fā)電機(jī)在高壓的狀態(tài)下，開(kāi)展的預(yù)測(cè)性試驗(yàn)主要是通過(guò)雙臂電橋進(jìn)行的重點(diǎn)測(cè)量，其中轉(zhuǎn)子的繞組過(guò)程中的電流電阻是主要的測(cè)量對(duì)象，可是在測(cè)量之后所得出的數(shù)據(jù)與預(yù)計(jì)指標(biāo)產(chǎn)生著巨大的差異。利用對(duì)測(cè)量方式的探究比較，發(fā)現(xiàn)轉(zhuǎn)子在繞組運(yùn)行當(dāng)中，會(huì)產(chǎn)生導(dǎo)線的斷裂狀況。若此狀況產(chǎn)生，會(huì)直接意義上將一層氧化膜表現(xiàn)出來(lái)，在通過(guò)測(cè)量轉(zhuǎn)子繞組以雙臂電橋的方式開(kāi)展時(shí)，按照不同的電壓強(qiáng)度會(huì)產(chǎn)生不同形式的成效[1]。

其二，電壓會(huì)直接影響介質(zhì)的損耗因數(shù)，想要在試驗(yàn)當(dāng)中防止儀器的損傷度，一部分的試驗(yàn)人員具體利用了將試驗(yàn)電壓降低的方式。在所得出的結(jié)果中發(fā)現(xiàn)，不合格的測(cè)量數(shù)據(jù)還是會(huì)產(chǎn)生，為了能夠避免不合格現(xiàn)象的發(fā)生，試驗(yàn)人員有必要實(shí)施不同的手段對(duì)其預(yù)防，在最后的研究成果中發(fā)現(xiàn)，在不斷升高的試驗(yàn)電壓過(guò)程中，會(huì)逐漸的降低損耗的因數(shù)。這種現(xiàn)象的出現(xiàn)，具體是因?yàn)檩^多的原件對(duì)耦合電容器有效串聯(lián)的過(guò)程中，產(chǎn)生了較多的不穩(wěn)定接線方式，在呈現(xiàn)低壓的狀態(tài)下，還是能夠保證氧化層，會(huì)產(chǎn)生巨大的接觸電阻，隨之會(huì)增大介質(zhì)損耗。若不斷的增加試驗(yàn)的電壓，就會(huì)融化氧化層，所接觸到的電阻方面會(huì)逐漸的減小，繼而減少了介質(zhì)的損耗[2]。

2.2.高壓電氣被試設(shè)備以及試驗(yàn)設(shè)備的接地問(wèn)題

接地問(wèn)題會(huì)涉及到兩個(gè)層面，其一為被試設(shè)備的接地不良；其二為對(duì)TA、TV使用的過(guò)程中，二次回路產(chǎn)生的接地不良。被試設(shè)備的接地不良會(huì)產(chǎn)生介質(zhì)的不良損耗，會(huì)在電容性設(shè)備中經(jīng)常發(fā)生，例如：耦合電容器或者電壓互感器等。變電站中，想要確保正常的運(yùn)行線路，需要直接意義的連接線路和電壓互感器。同時(shí)對(duì)于二次回路的接地不良現(xiàn)象，需要在TA、TV交互的過(guò)程中，遵守電磁感應(yīng)的定律，可是在實(shí)踐的階段，兩者的二次繞組有時(shí)會(huì)產(chǎn)生接地不良的現(xiàn)象，在這樣的情況下，所展現(xiàn)出來(lái)的數(shù)值就會(huì)產(chǎn)生極大的偏差。指示值的錯(cuò)誤產(chǎn)生原因，主要是由于二次繞組的感應(yīng)電壓，會(huì)在地面和表計(jì)之間造成雜散的電流。

2.3.電氣試驗(yàn)中引線所產(chǎn)生的問(wèn)題

高壓電氣設(shè)備中避雷器的引線以及絕緣帶問(wèn)題較為關(guān)鍵。在檢修試驗(yàn)一次高壓變電站的過(guò)程中，需要全部的拆除高壓部位引線，繼而可以較為全面的開(kāi)展引線的不合理拆除，可是會(huì)造成微安電表刻度誤差以及電流的泄露現(xiàn)象。同時(shí)，在絕緣帶方面所產(chǎn)生的問(wèn)題會(huì)凸顯在高壓電氣的試驗(yàn)運(yùn)行流程當(dāng)中?？梢栽谠囼?yàn)運(yùn)行的過(guò)程中進(jìn)行相應(yīng)的實(shí)驗(yàn)，例如：對(duì)介質(zhì)損耗因數(shù)的測(cè)量方面，所體現(xiàn)出的成果不是極為符合標(biāo)準(zhǔn)，偏差較大。想要將偏差的原因找尋出來(lái)，試驗(yàn)的主要人員需要應(yīng)用多種方式，所得出的正確結(jié)論為，需要拆除引線上的絕緣帶去掉，才能夠得出較為合格的數(shù)據(jù)。若不拆除絕緣帶，就一定會(huì)將幾百兆歐的電阻施加在介質(zhì)當(dāng)中，直接影響到了高壓電氣試驗(yàn)過(guò)程的順暢性。

3.電力系統(tǒng)中高壓電氣試驗(yàn)所存在問(wèn)題的解決對(duì)策

3.1.電壓的重要性

在高壓電氣試驗(yàn)當(dāng)中，對(duì)于電壓的重要性需要提升其重視度。其一，需要關(guān)注電壓直接影響的損耗測(cè)量，作用在低壓的狀態(tài)下，氧化層不會(huì)發(fā)生較大的變化，可是會(huì)產(chǎn)生極大程度上的接觸形式的電阻，會(huì)產(chǎn)生較大的介質(zhì)損耗。若逐漸的加大試驗(yàn)的電壓，就極有可能會(huì)融化氧化層，從而減小接觸電阻，這時(shí)，介質(zhì)損耗也會(huì)跟隨其變小。其二，需要關(guān)注電壓直接影響直流的電阻測(cè)量方面。若呈現(xiàn)出較低的雙臂電橋電壓，就不能夠擊穿氧化膜，因此就會(huì)展現(xiàn)出較大的電阻。若呈現(xiàn)出較高的雙臂電橋電壓，就能夠擊穿氧化膜，隨之會(huì)減小電阻[3]。

3.2.明確接地不良的問(wèn)題

在高壓電氣被試設(shè)備以及試驗(yàn)設(shè)備方面，要明確接地不良問(wèn)題，需要嚴(yán)格關(guān)注高壓TA和TV的二次繞組，主要在測(cè)量的安全度和準(zhǔn)確度方面進(jìn)行分析，在確認(rèn)某一端子中的接地狀況方面需要避免錯(cuò)誤的產(chǎn)生。試驗(yàn)在開(kāi)展的過(guò)程中，需要對(duì)試驗(yàn)中的電流電容強(qiáng)度進(jìn)行認(rèn)真的測(cè)量，利用電流當(dāng)中的不同大小，進(jìn)行對(duì)高壓電氣試驗(yàn)運(yùn)行的正確判斷，也就是對(duì)其運(yùn)行的正常與否能夠明確的判定。

3.3.關(guān)注引線作用

高壓電氣試驗(yàn)階段，引線起到了至關(guān)重要的作用，因此需要在試驗(yàn)時(shí)嚴(yán)格關(guān)注引線的應(yīng)用。由于絕緣帶中所涉及到的電阻內(nèi)擁有著幾百兆歐之多，若不能夠拆除絕緣帶，就會(huì)將幾百兆歐的電阻作用在介質(zhì)上，直接的影響了高壓試驗(yàn)運(yùn)行的正常開(kāi)展。

總結(jié)：

根據(jù)以上的論述，高壓電氣試驗(yàn)?zāi)軌蚺卸?，電氣參?shù)在安全運(yùn)行的適應(yīng)性以及考核電氣設(shè)備主絕緣的重要手段，在一定程度上，對(duì)電力系統(tǒng)的整體發(fā)展有著較大的作用。因此，需要對(duì)電力系統(tǒng)中高壓電氣試驗(yàn)所存在的問(wèn)題針對(duì)性解決，從而為高壓電氣試驗(yàn)奠定堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。

參考文獻(xiàn)：

[1]李鳳軍.關(guān)于高壓電氣設(shè)備試驗(yàn)的重要性與相關(guān)技術(shù)問(wèn)題的探討[J].電工文摘，2013，12（09）：123-124.

[2]毛東升.探討高壓電氣試驗(yàn)中安全的重要性及安全管理對(duì)策[J].廣東科技，2013，11（08）：134-136.

[3]楊慶，黃堅(jiān).基于虛擬現(xiàn)實(shí)的高壓電氣試驗(yàn)系統(tǒng)架構(gòu)及管件技術(shù)研究[J].南京工程學(xué)院學(xué)報(bào)：自然科學(xué)版，2013，10（02）：167-169.