彭振東,任志剛,姜楠,朱紅橋
(武漢船用電力推進(jìn)裝置研究所船舶綜合電力推進(jìn)技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,武漢 430064)
集成門極換流晶閘管IGCT是在門極可關(guān)斷晶閘管 GTO的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一種新型硬關(guān)斷器件,將結(jié)構(gòu)改進(jìn)的GTO和極低電感的門極驅(qū)動(dòng)電路結(jié)合在一起,并采用集成門極驅(qū)動(dòng)、緩沖層、透明陽(yáng)極和門極重觸發(fā)這幾項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)實(shí)現(xiàn)了器件優(yōu)越的性能。在器件關(guān)斷過(guò)程中,不需要dv/dt吸收電路,允許更高的電壓上升率,關(guān)斷動(dòng)作迅速可靠,兼有晶閘管的低通態(tài)損耗和高阻斷電壓,以及晶體管可靠的關(guān)斷特性[1,2]。
固態(tài)斷路器是在大功率半導(dǎo)體器件的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的,半導(dǎo)體器件的通態(tài)損耗和關(guān)斷特性是影響固態(tài)斷路器整體性能關(guān)鍵因素。IGCT作為一種中壓大功率器件,將成為固態(tài)斷路器中的理想半導(dǎo)體器件[3]。然而盡管目前ABB公司電流等級(jí)最高的5SHY35L4522型IGCT關(guān)斷能力可達(dá)4kA,但是長(zhǎng)期允許通流僅為2.1 kA[4],使用單個(gè)器件很難提高斷路器的額定電流和分?jǐn)嗄芰?。為了使固態(tài)斷路器向高電流等級(jí)發(fā)展,需要采用多個(gè)IGCT并聯(lián)來(lái)實(shí)現(xiàn),而并聯(lián)IGCT的關(guān)斷過(guò)程決定了整個(gè)斷路器的分?jǐn)嘈阅?,因此有必要?duì)這個(gè)過(guò)程中電流在各器件間的轉(zhuǎn)移現(xiàn)象進(jìn)行深入研究,明確影響電流分配的各種因素,為固態(tài)斷路器中半導(dǎo)體功率模塊的設(shè)計(jì)提供理論基礎(chǔ)。
與GTO的高關(guān)斷增益相比,單位關(guān)斷增益會(huì)給IGCT的關(guān)斷帶來(lái)許多好處。首先,門極電流清除P基區(qū)過(guò)量存儲(chǔ)電荷的時(shí)間,即存儲(chǔ)時(shí)間ts,被顯著地減小到1 μs左右,而GTO的關(guān)斷存儲(chǔ)時(shí)間一般為10~20 μs。因此,傳統(tǒng)GTO關(guān)斷過(guò)程中的自鎖狀態(tài)被打破,IGCT的關(guān)斷實(shí)質(zhì)上轉(zhuǎn)變?yōu)橐粋€(gè)基極開(kāi)路PNP晶體管的關(guān)斷,關(guān)斷動(dòng)作均勻可靠[2]。
圖1為實(shí)測(cè)IGCT無(wú)緩沖硬關(guān)斷波形,可以看出其關(guān)斷1.4 kA負(fù)載電流時(shí)的存儲(chǔ)時(shí)間ts僅為1.3 μs左右。如果在有dv/dt緩沖電路條件下關(guān)斷,一旦陽(yáng)極電壓vAK開(kāi)始建立,陽(yáng)極電流iA就會(huì)下降,如此關(guān)斷存儲(chǔ)時(shí)間將會(huì)更短[5]。由于 IGCT器件P基區(qū)的過(guò)量存儲(chǔ)電荷濃度在關(guān)斷過(guò)程開(kāi)始之前與陽(yáng)極電流成正比,其耗盡速度也與陽(yáng)極電流成正比,因此IGCT的存儲(chǔ)時(shí)間在很大的陽(yáng)極電流范圍內(nèi)幾乎是一個(gè)恒定不變的常數(shù)。IGCT這種本身存儲(chǔ)時(shí)間極小和存儲(chǔ)時(shí)間在大電流范圍相對(duì)恒定的關(guān)斷特性對(duì)器件并聯(lián)應(yīng)用非常關(guān)鍵,因?yàn)樗档土似骷鎯?chǔ)時(shí)間的分散性,能顯著改善并聯(lián)IGCT關(guān)斷時(shí)的動(dòng)態(tài)電流分配[6]。
圖1 實(shí)測(cè)IGCT關(guān)斷波形
假設(shè)兩個(gè)IGCT并聯(lián),如圖2所示,Ls1和Ls2為并聯(lián)支路雜散電感。對(duì)于直接并聯(lián)的IGCT而言,影響其關(guān)斷過(guò)程電流分配的主要因素是器件存儲(chǔ)時(shí)間差異和門極關(guān)斷時(shí)間不同步[6,7]。
圖2 兩個(gè)IGCT并聯(lián)電路
如圖3所示,假設(shè)關(guān)斷前因器件微小的通態(tài)參數(shù)差異導(dǎo)致穩(wěn)態(tài)電流IT1>IT2,那么 IGCT1的 P基區(qū)初始過(guò)量電荷濃度高于 IGCT2。當(dāng)關(guān)斷過(guò)程開(kāi)始后,門極負(fù)電壓迫使IGCT陰極電流向門極轉(zhuǎn)移。對(duì)于并聯(lián)的兩只IGCT而言,門極電感量近似相等,承擔(dān)負(fù)載電流大的IGCT1需要的電流轉(zhuǎn)移時(shí)間長(zhǎng)。因此在t0時(shí)刻,由于IGCT2率先達(dá)到單位關(guān)斷增益條件,其門陰極電壓vGK2將會(huì)下降,導(dǎo)致vGK1>vGK2,結(jié)果器件壓降vT1>vT2形成電壓差加在并聯(lián)回路的雜散電感上,迫使電流從IGCT1向IGCT2轉(zhuǎn)移,從而iT1減小,iT2增大。從圖中可以看出,這個(gè)階段的電流轉(zhuǎn)移現(xiàn)象有助于并聯(lián)器件之間的動(dòng)態(tài)電流均衡。
在t1時(shí)刻,并聯(lián)的兩只IGCT均達(dá)到單位關(guān)斷增益條件,此時(shí)陽(yáng)極電流iT2>iT1, IGCT2的P基區(qū)過(guò)量載流子清除速度比IGCT1快,并且因?yàn)镮GCT2在這一階段P基區(qū)的載流子沒(méi)有再繼續(xù)增加,因此IGCT2會(huì)首先完成存儲(chǔ)階段進(jìn)入陽(yáng)極電流下降階段。在t2時(shí)刻,IGCT2的P基區(qū)過(guò)量載流子被完全移走,存儲(chǔ)階段結(jié)束,此后IGCT2進(jìn)入PNP晶體管模式的關(guān)斷過(guò)程,而在此時(shí),IGCT1還處于存儲(chǔ)階段。進(jìn)入PNP晶體管模式的IGCT2,因晶體管門極電流為零,不在具有電流支撐能力,器件電壓vT2開(kāi)始增加或者器件電流iT2向其它地方轉(zhuǎn)移。然而由于兩只IGCT是直接并聯(lián)的,沒(méi)有多少電壓可以增加,陽(yáng)極電流將會(huì)從IGCT2向關(guān)斷過(guò)程較慢(存儲(chǔ)時(shí)間長(zhǎng))的 IGCT1轉(zhuǎn)移,結(jié)果iT1增大,iT2減小。實(shí)際上在這個(gè)電流轉(zhuǎn)移過(guò)程中,IGCT2的耗盡層將會(huì)建立一個(gè)微小的電場(chǎng),相應(yīng)的器件電壓vT2會(huì)有所增加。隨著 IGCT1陽(yáng)極電流的不斷增加,其載流子清除速度變快,存儲(chǔ)時(shí)間變短。最終在t3時(shí)刻,IGCT1也完成存儲(chǔ)階段,兩器件的電流值出現(xiàn)最大偏差,電流和存儲(chǔ)時(shí)間之間的負(fù)反饋機(jī)制結(jié)束。
圖3 存儲(chǔ)時(shí)間不同的IGCT并聯(lián)關(guān)斷電流示意
在時(shí)刻t3和t4之間,兩只IGCT的電流主要是由N基區(qū)過(guò)量載流子變化率決定的擴(kuò)散電流。因?yàn)樵趖3時(shí)刻,iT1較大,因此 IGCT1的 N基區(qū)載流子清除速度比較快,其陽(yáng)極電流下降率比較大。而此時(shí)iT2較小,因此 IGCT2的 N基區(qū)載流子清除速度比較慢,其陽(yáng)極電流下降率比較小。這個(gè)過(guò)程可以被看作是關(guān)斷過(guò)程快的器件(IGCT2)在等候關(guān)斷過(guò)程慢的器件(IGCT1),在t3時(shí)刻后不久,兩器件之間的電流分配再次達(dá)到均衡狀態(tài),以近乎相等的變化率下降到零,至此關(guān)斷過(guò)程結(jié)束。
假設(shè)兩個(gè)特性完全相同的IGCT直接并聯(lián),但I(xiàn)GCT2的門極關(guān)斷信號(hào)比IGCT1延遲Δt,穩(wěn)態(tài)導(dǎo)通時(shí),流過(guò)兩IGCT的電流相近。如圖4所示,在t0時(shí)刻,IGCT1門陰極電壓vGK1開(kāi)始變?yōu)樨?fù)值,門極電流iG1開(kāi)始增加。因門陰極電壓vGK1<vGK2,導(dǎo)致不同的器件電壓vT1<vT2,結(jié)果在t0和t2之間,電流從IGCT2向IGCT1轉(zhuǎn)移,iT1和iT2之間出現(xiàn)偏差。在t1時(shí)刻,IGCT2門極電流iG2亦開(kāi)始增加,iT1和iT2之間的電流轉(zhuǎn)移現(xiàn)象開(kāi)始變緩,并且最終在t2時(shí)刻,門陰極電壓vGK2達(dá)到vGK1時(shí)電流轉(zhuǎn)移過(guò)程結(jié)束,iT1和iT2之間的偏差達(dá)到最大。
圖4 門極信號(hào)不同步的IGCT并聯(lián)關(guān)斷電流示意
在一段延時(shí)之后的t3時(shí)刻,因門極電流iG1的載流子抽取作用,IGCT1完成過(guò)量電荷清除,存儲(chǔ)階段結(jié)束,開(kāi)始恢復(fù)阻斷能力,器件電壓vT1開(kāi)始增加。但因并聯(lián)條件所限,電壓vT1只有微小的增量,但正是由于這一微小的電壓增量形成的電壓差加在并聯(lián)回路的雜散電感上,迫使電流從IGCT1向IGCT2轉(zhuǎn)移,結(jié)果iT2增大,iT1減小。在此過(guò)程中的某一時(shí)刻,IGCT2的電壓vT2也開(kāi)始增加,并且由于IT2>IT1,IGCT2的N基區(qū)過(guò)量載流子清除速度比 IGCT1快得多,導(dǎo)致電壓vT2增加的很快,上升率遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)vT1,結(jié)果在t4時(shí)刻延遲的IGCT2上的電壓vT2增加到IGCT1的電壓vT1,電流iT2和iT1之間的偏差達(dá)到最大。
從時(shí)刻t4到t6,電壓vT2一直比vT1略高,致使有一個(gè)電流從IGCT2流向IGCT1,結(jié)果iT1增大,iT2減小。在t6時(shí)刻,電壓vT2與vT1相同,電流轉(zhuǎn)移過(guò)程結(jié)束,電流再次達(dá)到均衡狀態(tài),此后以近乎相等的變化率下降到零。從圖中可以看出,整個(gè)關(guān)斷過(guò)程中的電流轉(zhuǎn)移現(xiàn)象有利于并聯(lián)器件間的動(dòng)態(tài)電流均衡。
在實(shí)際并聯(lián)應(yīng)用中,因器件參數(shù)不可能做到完全一致,門極觸發(fā)信號(hào)之間也總會(huì)存在差異,因此上述兩種因素都將影響并聯(lián)IGCT關(guān)斷時(shí)的動(dòng)態(tài)電流分配,兩只IGCT并聯(lián)關(guān)斷時(shí)電流變化過(guò)程如圖 5所示。圖中明確顯示,在并聯(lián) IGCT的關(guān)斷過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)三個(gè)截然不同的動(dòng)態(tài)電流重分配過(guò)程,并且這三個(gè)過(guò)程都趨向于將器件電流往均衡的方向發(fā)展,而不會(huì)使其中某一個(gè)器件的電流失控。
圖5 實(shí)際應(yīng)用中IGCT并聯(lián)關(guān)斷電流示意
試驗(yàn)中的并聯(lián)IGCT模塊由2個(gè)ABB公司的5SHY35L4510型IGCT直接并聯(lián)構(gòu)成,器件正向耐壓4.5 kV,最大關(guān)斷電流4kA[8]。模塊兩端并聯(lián)壓敏電阻來(lái)限制關(guān)斷過(guò)程中的過(guò)電壓,保護(hù)IGCT安全關(guān)斷。試驗(yàn)結(jié)果如圖6和圖7所示。
圖6 總電流1.75 kA關(guān)斷試驗(yàn)結(jié)果
圖7 總電流3.9 kA關(guān)斷試驗(yàn)結(jié)果
從圖中可以看出,實(shí)測(cè)關(guān)斷電流波形不存在前文分析的第一階段(t0~t1)電流轉(zhuǎn)移過(guò)程,這可能是由于所選的兩個(gè)并聯(lián)器件的門極關(guān)斷信號(hào)比較同步,兩器件在觸發(fā)關(guān)斷后差不多同時(shí)達(dá)到單位增益關(guān)斷條件,因此不會(huì)形成明顯的電壓差而導(dǎo)致電流轉(zhuǎn)移。然而由于IGCT1首先完成P基區(qū)過(guò)量電荷的清除而進(jìn)入電流下降階段,因此最終形成電壓差導(dǎo)致第二階段電流轉(zhuǎn)移過(guò)程的出現(xiàn),使IGCT2的陽(yáng)極電流出現(xiàn)微小的過(guò)沖。但是最終在總電流開(kāi)始下降前兩并聯(lián)器件電流趨于均衡,以近乎相同的速率下降到零,與前文理論分析一致。
在并聯(lián)IGCT的關(guān)斷過(guò)程中,因器件存儲(chǔ)時(shí)間的不同和門極觸發(fā)信號(hào)的差異會(huì)導(dǎo)致電流在各器件之間來(lái)回轉(zhuǎn)移,但是由于IGCT本身電流和存儲(chǔ)時(shí)間之間的負(fù)反饋效應(yīng),會(huì)使并聯(lián)各器件電流在總電流開(kāi)始下降前趨于均衡,最終以相同的速率下降到零。本文關(guān)于兩個(gè)IGCT并聯(lián)的關(guān)斷試驗(yàn)結(jié)果,一方面驗(yàn)證了文中關(guān)于影響并聯(lián)IGCT關(guān)斷過(guò)程電流分配兩大因素的理論分析,另一方面也證實(shí)了IGCT直接并聯(lián)的實(shí)際可行性。
盡管在并聯(lián) IGCT的關(guān)斷過(guò)程中,各器件間的電流分配能在電流下降前趨于一致,但是此前的電流來(lái)回轉(zhuǎn)移過(guò)程可能會(huì)使其中某個(gè)器件的電流峰值顯著增加,尤其是當(dāng)各器件門極關(guān)斷信號(hào)以及存儲(chǔ)時(shí)間差異較大時(shí),可能會(huì)使其中某個(gè)器件的電流峰值超過(guò)其最大關(guān)斷能力而損壞。因此在實(shí)際應(yīng)用中,為避免關(guān)斷過(guò)程中器件出現(xiàn)較大的電流過(guò)沖,還是應(yīng)該盡量挑選參數(shù)一致的器件進(jìn)行并聯(lián),同時(shí)設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)對(duì)稱的并聯(lián)電路,必要時(shí)在并聯(lián)器件兩端增加 dv/dt緩沖電路,以實(shí)現(xiàn)并聯(lián)器件間電流的相對(duì)均衡以及可靠關(guān)斷。
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