吳 林,陳清華,肖 斐,高 峰
(1.中國石油大學(xué)(華東)地球科學(xué)與技術(shù)學(xué)院,山東青島266580;2.中國石化江蘇油田分公司地質(zhì)科學(xué)研究院,江蘇揚州225009)
井斜軌跡對儲層構(gòu)型及其油水分布研究的影響
吳 林1,陳清華1,肖 斐1,高 峰2
(1.中國石油大學(xué)(華東)地球科學(xué)與技術(shù)學(xué)院,山東青島266580;2.中國石化江蘇油田分公司地質(zhì)科學(xué)研究院,江蘇揚州225009)
目前儲層構(gòu)型研究尚處于發(fā)展階段,其對測井資料的依賴程度較高,特別是井斜軌跡對儲層構(gòu)型研究的影響較大。在井斜軌跡推算的基礎(chǔ)上,推導(dǎo)出儲層構(gòu)型單元真厚度的計算公式,同時選取Miall關(guān)于儲層構(gòu)型分類方案中的四級(或五級)儲層構(gòu)型單元作為研究對象,探討井斜軌跡對儲層構(gòu)型及其油水分布研究的影響。結(jié)果表明,井斜軌跡易混淆對儲層構(gòu)型單元頂、底界面的識別;影響儲層構(gòu)型單元真厚度的測算結(jié)果,其模式可分為儲層構(gòu)型單元水平、儲層構(gòu)型單元水平且井斜軌跡穿過斷層、儲層構(gòu)型單元傾斜且傾向與井斜軌跡傾向相同、儲層構(gòu)型單元傾斜且傾向與井斜軌跡傾向相反共4種,進(jìn)而造成儲層構(gòu)型單元有效厚度解釋偏差或油水分布關(guān)系認(rèn)識不準(zhǔn)確等情況。為了準(zhǔn)確進(jìn)行不同層次的儲層構(gòu)型研究,須考慮井斜軌跡的影響,由粗入細(xì)、逐步分析,最終確定各級儲層構(gòu)型單元的油水分布規(guī)律。
井斜軌跡儲層構(gòu)型儲層構(gòu)型單元真厚度油水分布
目前中國多數(shù)油田已進(jìn)入勘探開發(fā)的后期階段,生產(chǎn)開發(fā)過程中存在的問題也日益凸顯,須利用逐漸豐富的測井和地質(zhì)等資料來進(jìn)一步精細(xì)刻畫儲層的發(fā)育情況。Miall利用構(gòu)型分析法將河流相儲層沉積體進(jìn)行了界面分級[1],自此儲層構(gòu)型研究開始被重視。中外學(xué)者對野外露頭和地下儲層進(jìn)行了大量的儲層構(gòu)型分析,主要包括儲層構(gòu)型界面分級[1-7]、儲層構(gòu)型單元劃分[1-6]、儲層構(gòu)型巖相識別[1-5,8-9]、儲層構(gòu)型微構(gòu)造圖制作[10]、儲層構(gòu)型的油水分布[11-15]以及儲層構(gòu)型建模[16-17]等方面。
目前儲層構(gòu)型研究尚處于發(fā)展階段,其主要任務(wù)是劃分沉積儲層單元;主要采用的層次分析法多集中在小層和單砂體級別,其構(gòu)型單元層次較低、厚度較薄,因此界面識別和厚度變化對儲層構(gòu)型單元的精細(xì)刻畫具有重要影響。測井資料是識別和研究密井網(wǎng)區(qū)地下儲層構(gòu)型單元的主要基礎(chǔ)資料,其采集精度與重點儲層構(gòu)型單元的描述精度較匹配;而井斜軌跡在儲層構(gòu)型單元研究中的影響一直被忽視,因此須分析井斜軌跡對儲層構(gòu)型及其油水分布研究的影響,以期對油氣區(qū)儲層構(gòu)型及其應(yīng)用領(lǐng)域的研究提供借鑒。
由于勘探開發(fā)的需要,往往要求鉆井時須按照預(yù)先設(shè)定的軌跡鉆進(jìn),這樣會造成井軌跡的階段性變化,即相鄰測點之間軌跡的遷移。假設(shè)某斜井軌跡如圖1所示,其第i個測點的測深、x方向大地坐標(biāo)、y方向大地坐標(biāo)和垂深的表達(dá)式分別為
式中:Md,X,Y和Z分別為測點處的測深、x方向大地坐標(biāo)、y方向大地坐標(biāo)和垂深,m;i為測點序號,其值為1~n,n≥2且為整數(shù);n為測點總數(shù),個;ΔMdi,ΔXi,ΔYi和ΔZi分別為第i與第i+1個測點之間的測深、x方向大地坐標(biāo)、y方向大地坐標(biāo)和垂深的變化值,m;X1,Y1和Z1分別為經(jīng)過補心海拔高度校正的初始測點的x方向大地坐標(biāo)、y方向大地坐標(biāo)和海拔高度,m;αi和βi分別為第i個測點的井斜角和方位角,(°)。
在已知Mdi的情況下,結(jié)合(αi,βi)或(Xi,Yi)中任意1組數(shù)據(jù),即可得出其他參數(shù),進(jìn)而明確井斜軌跡。
圖1 井斜軌跡空間示意
一般來說,井斜軌跡中相鄰測點之間的井段會貫穿1個或多個儲層構(gòu)型單元,致使儲層構(gòu)型單元真厚度計算變得相對復(fù)雜。假設(shè)某儲層構(gòu)型單元分布在第i-1,i和i+1個測點之間,且儲層構(gòu)型單元的產(chǎn)狀為水平,則儲層構(gòu)型單元真厚度的表達(dá)式為
式中:d為儲層構(gòu)型單元的總真厚度,m;di-1,di和di+1分別為儲層構(gòu)型單元分布于第i-1與第i個測點、第i與第i+1個測點和第i+1與第i+2個測點之間的真厚度,m;ΔZi-1和ΔZi+1分別為第i-1與第i個測點、第i+1與第i+2個測點之間的垂深變化值,m;ΔMdi-1和ΔMdi+1分別為第i-1與第i個測點、第i+1與第i+2個測點之間的測深變化值,m;ΔMdi-1′為分布于第i-1與第i個測點之間的儲層構(gòu)型單元頂界面與第i-1個測點之間的測深變化值,m;ΔMdi+1′為分布于第i+1與第i+2個測點之間的儲層構(gòu)型單元底界面與第i+1個測點之間的測深變化值,m。
儲層構(gòu)型是指不同級次儲集單元與隔夾層的形態(tài)、規(guī)模、方向及其空間疊置關(guān)系。儲層構(gòu)型幾何學(xué)研究主要是各級次儲層構(gòu)型單元的三維地質(zhì)形態(tài)描述,包括大小、厚度、界面和輪廓等,而這些均基于儲層構(gòu)型單元的層次劃分和界面識別。眾所周知,水道型沉積是有利儲層發(fā)育的主要沉積相帶,因此,對于河流相、三角洲相儲層構(gòu)型的研究較多[2,6-11]。Miall利用8級沉積界面將河流相儲層構(gòu)型單元劃分為8個層次[5],一級沉積界面劃分交錯層系,二級沉積界面劃分層系組,三級沉積界面劃分超短期沉積旋回(即1期水流變化),四級沉積界面劃分短期沉積旋回(即1期河道變化),五級沉積界面劃分河道充填復(fù)合體,六級沉積界面劃分河道群,七級沉積界面劃分大型沉積體系,八級沉積界面劃分盆地充填復(fù)合體。該分類方案中的一、二和三級儲層構(gòu)型單元的規(guī)模較小,六、七和八級儲層構(gòu)型單元的規(guī)模偏大,而四級和五級儲層構(gòu)型單元的垂向厚度約為1~100 m,橫向展布范圍約為10~1 000 m[3],因此選取四級和五級儲層構(gòu)型單元來探討井斜軌跡對儲層構(gòu)型研究的影響。可進(jìn)一步分為井斜軌跡對儲層構(gòu)型界面識別的影響和對儲層構(gòu)型單元真厚度測算的影響。假設(shè)井斜軌跡僅穿過研究對象1次,即穿過1個四級(或五級)儲層構(gòu)型單元及其對應(yīng)的上、下2個四級(或五級)儲層構(gòu)型單元界面。
2.1 對儲層構(gòu)型界面識別的影響
儲層構(gòu)型界面的識別主要依據(jù)巖心和測井資料。井斜軌跡中穿過相鄰的同級別儲層構(gòu)型界面時,容易混淆為相應(yīng)儲層構(gòu)型單元的頂、底界面,從而誤導(dǎo)儲層構(gòu)型界面的識別。如圖2所示,A,B,C 和D共4口井分別從不同位置按照設(shè)計的軌跡鉆遇某三角洲相四級儲層構(gòu)型單元。僅根據(jù)電性和巖心資料顯示,會片面地認(rèn)為這4口井均自上而下依次鉆遇某四級儲層構(gòu)型單元頂界面、四級儲層構(gòu)型單元和四級儲層構(gòu)型單元底界面;但實際情況是在4口井中僅對D井的認(rèn)識是正確的,A井鉆遇2次儲層構(gòu)型單元底界面,B井先鉆遇儲層構(gòu)型單元底界面、后鉆遇其頂界面,C井鉆遇2次儲層構(gòu)型單元頂界面。
圖2 井斜軌跡影響儲層構(gòu)型界面識別示意
2.2 對儲層構(gòu)型單元真厚度測算的影響
在進(jìn)行儲層構(gòu)型研究時,須識別各級儲層構(gòu)型單元的類型、產(chǎn)狀、厚度、連通關(guān)系和空間位置等,進(jìn)而研究各儲層構(gòu)型單元的平面展布,最終建立儲層構(gòu)型單元模型,而井斜軌跡對其影響主要表現(xiàn)在對儲層構(gòu)型單元真厚度的測算。以河流相五級儲層構(gòu)型單元即單一河道砂體構(gòu)型單元為例,分析井斜軌跡影響儲層構(gòu)型單元真厚度測算的4種模式(圖3)。
圖3 井斜軌跡影響儲層構(gòu)型單元真厚度測算的4種模式
儲層構(gòu)型單元水平 當(dāng)儲層構(gòu)型單元水平時(圖3a),直井F的視厚度和鉛直厚度即為儲層構(gòu)型單元的真厚度,即hF′=HF=d;斜井E和G的視厚度均大于真厚度,經(jīng)井斜校正后的鉛直厚度可反映該儲層構(gòu)型單元的真厚度,即 hE′>HE=d,hG′>HG=d。
儲層構(gòu)型單元水平且井斜軌跡穿過斷層 當(dāng)儲層構(gòu)型單元水平且井斜軌跡穿過斷層時(圖3b),直井H的視厚度和鉛直厚度即為儲層構(gòu)型單元的真厚度,即hH′=HH=d;斜井I穿過斷層,鉆遇重復(fù)的儲層構(gòu)型單元,其視厚度和鉛直厚度均大于儲層構(gòu)型單元的真厚度,即hI′>HI>d;直井J鉆遇斷層,其視厚度和鉛直厚度均小于儲層構(gòu)型單元的真厚度,即hJ′=HJ<d;斜井K穿過斷層,鉆遇缺失的儲層構(gòu)型單元,經(jīng)過井斜校正后的鉛直厚度小于儲層構(gòu)型單元的真厚度,即hK′>HK且d>HK。
儲層構(gòu)型單元傾斜且傾向與井斜軌跡傾向相同 當(dāng)儲層構(gòu)型單元傾斜且傾向與井斜軌跡傾向相同時(圖3c),直井L的視厚度和鉛直厚度均大于儲層構(gòu)型單元的真厚度,即hL′=HL>d;斜井M和N的視厚度、鉛直厚度均大于儲層構(gòu)型單元的真厚度,即hM′>HM>d,hN′>HN>d。
儲層構(gòu)型單元傾斜且傾向與井斜軌跡傾向相反 當(dāng)儲層構(gòu)型單元傾斜且傾向與井斜軌跡傾向相反時(圖3d),斜井O和P的視厚度均大于儲層構(gòu)型單元的真厚度,經(jīng)過井斜校正以后的鉛直厚度均小于儲層構(gòu)型單元的真厚度,即 hO′>d>HO,hP′>d>HP;斜井Q的視厚度可反映儲層構(gòu)型單元的真厚度,經(jīng)井斜校正后的鉛直厚度反而小于儲層構(gòu)型單元的真厚度,即hQ′=d>HQ;直井R的視厚度和鉛直厚度均大于儲層構(gòu)型單元的真厚度,即hR′=HR>d。
測井資料的解釋結(jié)果或試油、試采結(jié)果僅針對鉆井的視深度(即實際測深),與井斜軌跡關(guān)系密切;因此,井斜軌跡對儲層構(gòu)型單元中的油水分布具有重要影響,包括儲層構(gòu)型單元有效厚度及油水分布關(guān)系等方面。如圖4所示,S,T,U和V共4口斜井鉆遇某三角洲相四級儲層構(gòu)型單元,假設(shè)各斜井的井斜軌跡均由頂至底穿過該儲層構(gòu)型單元且僅穿過1次。S井鉆遇含油儲層構(gòu)型單元,根據(jù)井斜軌跡對儲層構(gòu)型單元真厚度測算的影響可知,其測井解釋的油層有效厚度偏大,但油水分布關(guān)系正常;T井鉆遇儲層構(gòu)型單元的油水過渡帶,由于鉛直厚度和視厚度均大于真厚度,導(dǎo)致測井解釋的油層有效厚度偏大,但油水分布關(guān)系正常;U井也鉆遇儲層構(gòu)型單元的油水過渡帶,而解釋結(jié)果認(rèn)為該井鉆遇含油儲層構(gòu)型單元,導(dǎo)致油層有效厚度的解釋結(jié)果偏大,且油水分布關(guān)系與實際情況不符;V井鉆遇儲層構(gòu)型單元的油水過渡帶,由于井斜軌跡從油水界面以下的低部位轉(zhuǎn)入油水界面以上的高部位,油層有效厚度解釋結(jié)果與實際情況不符,油水分布關(guān)系異常,出現(xiàn)油水倒置現(xiàn)象。
圖4 井斜軌跡對儲層構(gòu)型單元中油水分布研究的影響
在未明確儲層構(gòu)型單元與井斜軌跡的空間關(guān)系時,直井或斜井的軌跡對儲層構(gòu)型單元的識別及其油水分布研究均會產(chǎn)生影響,致使分析結(jié)果可能存在一定的誤差。為確保不同層次儲層構(gòu)型研究的準(zhǔn)確性,須考慮井斜軌跡的影響,由粗入細(xì)、逐步分析,進(jìn)而明確儲層構(gòu)型模型以及油水分布模式。在基于井斜軌跡影響的儲層構(gòu)型研究過程中,應(yīng)做到以下4點:①根據(jù)井斜數(shù)據(jù)確定井斜軌跡,明確其空間位置和走向趨勢,避免走入直井無須校正、斜井必須校正的誤區(qū),為儲層構(gòu)型研究做好準(zhǔn)備。②明確進(jìn)行儲層構(gòu)型研究的內(nèi)容,包括研究區(qū)的儲層構(gòu)型層次級別,各層次儲層構(gòu)型單元劃分依據(jù)及其界面識別標(biāo)志,各層次儲層構(gòu)型單元的產(chǎn)狀、厚度、空間位置、平面展布等幾何特征。③從實際資料出發(fā),利用測井、地震資料,在井震結(jié)合的原則下,綜合井斜軌跡,對研究區(qū)進(jìn)行精細(xì)地層對比劃分,建立儲層空間格架,確保準(zhǔn)確劃分出Miall劃分方案中的6級儲層構(gòu)型單元;在沉積模式指導(dǎo)下,結(jié)合五級儲層構(gòu)型單元的測井資料,分析其類型、產(chǎn)狀、厚度、連通關(guān)系、空間位置和平面展布等,明確各儲層構(gòu)型單元的厚度和微構(gòu)造等,建立五級儲層構(gòu)型單元模型;以研究區(qū)五級儲層構(gòu)型單元為指導(dǎo),在密井網(wǎng)區(qū)、取心井區(qū)進(jìn)一步劃分出四級和三級儲層構(gòu)型單元。④在明確研究區(qū)各級儲層構(gòu)型單元的發(fā)育情況后,綜合井斜軌跡,修正各井的油水解釋結(jié)果,包括測井解釋結(jié)果和試油、試采結(jié)果,避免出現(xiàn)油水倒置等油水分布關(guān)系異常的現(xiàn)象,最終確定各級儲層構(gòu)型單元的油水分布規(guī)律。
在已知鉆井測斜數(shù)據(jù)的情況下,根據(jù)公式可計算井斜軌跡的各項數(shù)據(jù),推導(dǎo)出儲層構(gòu)型單元真厚度的計算公式,為研究儲層構(gòu)型做好準(zhǔn)備。儲層構(gòu)型研究的主要任務(wù)為儲層構(gòu)型層次的劃分,包括儲層構(gòu)型界面識別和儲層構(gòu)型單元真厚度測算2個方面。地下儲層構(gòu)型研究對測井資料的依賴程度較高,井斜軌跡會混淆各級別儲層構(gòu)型單元界面的識別以及影響不同模式下儲層構(gòu)型單元真厚度的測算,且造成儲層構(gòu)型單元有效厚度解釋偏差或油水分布關(guān)系認(rèn)識不準(zhǔn)確等情況。為準(zhǔn)確把握不同層次的儲層構(gòu)型研究,須考慮井斜軌跡影響,由粗入細(xì)、逐步分析,明確儲層構(gòu)型模型及油水分布規(guī)律。
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編輯鄒瀲滟
TE133
A< class="emphasis_bold">文章編號:1
1009-9603(2014)02-0075-05
2014-01-02。
吳林,男,在讀博士研究生,從事盆地構(gòu)造特征及油氣開發(fā)地質(zhì)研究。聯(lián)系電話:(0532)86981250,E-mail:19534644@sohu.com。
國家油氣重大專項“煤層氣開發(fā)技術(shù)經(jīng)濟(jì)評價”(2009ZX05042-001),國家油氣重大專項“海外油氣新項目快速評價方法研究”(2008ZX05028-005-01)。