李帥+劉棟斌+張航+李巍+張達(dá)

摘 要： 航天任務(wù)中，為保證低等級(jí)器件的可靠性需要對(duì)其進(jìn)行篩選。針對(duì)Kodak公司的商用CCD探測(cè)器KLI?2113，設(shè)計(jì)了可供12片CCD同時(shí)進(jìn)行老煉試驗(yàn)的篩選電路，通過(guò)對(duì)各驅(qū)動(dòng)信號(hào)的頻率、寬度和相互位置關(guān)系的仔細(xì)調(diào)試，獲得了滿(mǎn)足信噪比要求的數(shù)字圖像。在此基礎(chǔ)上，針對(duì)12片CCD進(jìn)行了老煉試驗(yàn)，試驗(yàn)結(jié)果表明，器件完全滿(mǎn)足可靠性篩選方法的要求。本文中篩選電路的設(shè)計(jì)方法對(duì)其他航天任務(wù)中的低等級(jí)器件篩選也具有一定的參考價(jià)值。

關(guān)鍵詞： 線(xiàn)陣CCD； FPGA； 圖像傳輸； 篩選電路

中圖分類(lèi)號(hào)： TN386.5?34 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼： A 文章編號(hào)： 1004?373X（2014）04?0133?04

Design and research of screening circuit for linear array CCD

LI Shuai， LIU Dong?bin， ZHANG Hang， LI Wei， ZHANG Da

（Changchun Institute of Optics， Fine Mechanics and Physics， Chinese Academy of Sciences， Changchun 130033， China）

Abstract： The low?level devices are required to be screened to ensure their reliability in space mission. A screening circuit that can carry out the aging test for simultaneous screening of 12 CCDs was designed for the commercial CCD detector KLI?2113 made by Kodak. The digital images meeting the SNR requirements were obtained by careful debugging of the frequency， the pulse width and the mutual positional relationship of the drive signals. On this basis， the aging test for 12 commercial CCDs of Kodak was conducted at a same time. The result shows that the circuit meets the reliability requirements of the device screening. The design method of the screening circuit has a certain reference value for screening the low?grade devices in other space missions.

Keyword： linear array CCD； FPGA； image transmission， screening circuit

0 引 言

航天任務(wù)中，對(duì)使用電子元器件的質(zhì)量等級(jí)要求很高，真空特性、溫度特性、抗輻照特性均要滿(mǎn)足系統(tǒng)要求，但是由于電子元器件的采購(gòu)渠道，采購(gòu)成本，采購(gòu)周期等原因在設(shè)計(jì)中會(huì)遇到選用低等級(jí)器件來(lái)代替高等級(jí)器件的情況，為保證元器件的可靠性和任務(wù)的順利完成，需要對(duì)所選用的低等級(jí)器件進(jìn)行可靠性篩選。

電荷耦合器件能夠存儲(chǔ)由入射光在光敏單元激發(fā)出的光信息電荷，并且能夠在適當(dāng)?shù)臅r(shí)鐘驅(qū)動(dòng)脈沖作用下，把存儲(chǔ)的電荷定向轉(zhuǎn)移和傳輸，最終以收集到的電荷作為信號(hào)，因其具有質(zhì)量輕、體積小、功耗低、動(dòng)態(tài)范圍大、測(cè)量精度高、壽命長(zhǎng)等諸多優(yōu)點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用在航天遙感觀(guān)測(cè)、載荷對(duì)地觀(guān)測(cè)、空間科學(xué)等領(lǐng)域[1?3]。Kodak公司的商業(yè)級(jí)三線(xiàn)陣探測(cè)器KLI?2113有敏感度高、動(dòng)態(tài)范圍大、數(shù)據(jù)速度快以及噪聲低等優(yōu)點(diǎn)，因此非常適合應(yīng)用在空間探測(cè)領(lǐng)域。本文針對(duì)商業(yè)級(jí)的探測(cè)器KLI?2113，設(shè)計(jì)老煉試驗(yàn)的篩選電路，并給出試驗(yàn)結(jié)果。

1 電路設(shè)計(jì)

CCD篩選電路是為了從多片CCD中獲取、處理和存儲(chǔ)數(shù)字圖像信號(hào)[4]，主要由時(shí)序產(chǎn)生和控制單元、驅(qū)動(dòng)單元、視頻處理單元和數(shù)據(jù)傳輸單元等幾個(gè)部分構(gòu)成，原理框圖如圖1所示。

圖1 CCD篩選電路原理框圖

其工作過(guò)程是12片CCD在FPGA產(chǎn)生的驅(qū)動(dòng)時(shí)序作用下輸出與光強(qiáng)相對(duì)應(yīng)的模擬信號(hào)，通過(guò)模擬開(kāi)關(guān)選擇后經(jīng)過(guò)前置放大、相關(guān)雙采樣、A/D 轉(zhuǎn)換成為12位的數(shù)字信號(hào)， FPGA緩存接收到的數(shù)據(jù)并通過(guò)CameraLink接口傳輸?shù)絇C機(jī)中，完成數(shù)據(jù)采集過(guò)程。

1.1 CCD驅(qū)動(dòng)單元

三線(xiàn)陣探測(cè)器KLI?2113 由3條平行的并且完全相同的光電二極管陣列組成，每行包括2 098個(gè)有效像元、12個(gè)暗像元以及12個(gè)測(cè)試像元，飽和輸出電壓為2.0 V，動(dòng)態(tài)范圍76 dB，像元讀出頻率為20 MHz，電荷轉(zhuǎn)移效率為0.999 99，暗電流為0.02 pA/pixel。CCD探測(cè)器的主要參數(shù)如表1所示。

表1 KLI2113主要參數(shù)

KLI?2113由7路脈沖驅(qū)動(dòng)，分別是轉(zhuǎn)移脈沖TG1和TG2，輸出復(fù)位脈沖QR，曝光控制脈沖LOG及讀出脈沖Q1，Q2和Q2S。偏置電路的原理圖如圖2所示。

圖2 CCD偏置電路原理圖

KLI?2113的一個(gè)工作周期分為兩個(gè)階段：光積分階段和電荷轉(zhuǎn)移階段[5]。轉(zhuǎn)移脈沖TG1和TG2高電平期間， 光敏區(qū)積累的信號(hào)電荷并行地向與每個(gè)像素對(duì)應(yīng)的移位寄存器轉(zhuǎn)移， 為保證信號(hào)電荷的充分轉(zhuǎn)移， TG1高電平持續(xù)時(shí)間最小為500 ns， TG2高電平持續(xù)時(shí)間比TG1的高電平持續(xù)時(shí)間至少大500 ns。轉(zhuǎn)移脈沖低電平期間，光敏區(qū)與移位寄存器被隔離，在光敏區(qū)進(jìn)行光積分的同時(shí)，移位寄存器在讀出脈沖的作用下，逐個(gè)地輸出各像元信號(hào)至OS端。本設(shè)計(jì)中，讀出時(shí)鐘Q1和Q2是反向的關(guān)系，占空比為1∶1，頻率為2 MHz；由于不需要相鄰像素相累加，Q2S和Q2保持相同的頻率和相位關(guān)系；輸出復(fù)位脈沖QR用于清除上一個(gè)像素轉(zhuǎn)移后的殘余電荷，其頻率和Q1、Q2相同，占空比為1∶9。

FPGA輸出的驅(qū)動(dòng)脈沖無(wú)法直接驅(qū)動(dòng)CCD， 需要增加驅(qū)動(dòng)電路，時(shí)序驅(qū)動(dòng)單元為探測(cè)器的工作提供偏置電壓和時(shí)序脈沖，選用SNV54ACT245八總線(xiàn)收發(fā)器來(lái)實(shí)現(xiàn)，調(diào)整好各驅(qū)動(dòng)時(shí)序后，在輸出端可以得到穩(wěn)定的視頻信號(hào)。

1.2 模擬前端和視頻處理單元

為了避免容性負(fù)載引起的帶寬限制，并且能夠提高CCD 輸出信號(hào)驅(qū)動(dòng)后級(jí)電路的能力，在CCD 的信號(hào)輸出端加一級(jí)射極跟隨電路作為模擬前端信號(hào)處理單元[6]。模擬前端處理單元由三極管3DG111構(gòu)成放大電路，用以緩沖和匹配CCD輸出信號(hào)。設(shè)計(jì)中采用交流耦合方式，以消除直流分量，降低直流功耗，抑制[1f]噪聲。模擬前端電路在PCB設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)該盡可能地靠近CCD信號(hào)輸出的管腳，同時(shí)晶體管3DG111的輸出級(jí)與下一級(jí)電路的連線(xiàn)也盡量設(shè)計(jì)為最短連接， 從而能夠最大程度地減小對(duì)地的寄生電容對(duì)電路的影響。

電路中共有12片CCD，每片CCD具有3個(gè)通道，如圖3所示，所以共有36個(gè)通道的模擬信號(hào)。將3片CCD的9路模擬量連接到一片多路模擬開(kāi)關(guān)上，4個(gè)模擬開(kāi)關(guān)作為第一級(jí)，然后將4個(gè)模擬開(kāi)關(guān)的輸出端連接到第二級(jí)模擬開(kāi)關(guān)的輸入端，第二級(jí)模擬開(kāi)關(guān)的輸出信號(hào)作為視頻處理器的輸入來(lái)進(jìn)行后續(xù)的視頻數(shù)據(jù)處理，模擬開(kāi)關(guān)的切換由FPGA進(jìn)行控制，從而可以實(shí)現(xiàn)用最簡(jiǎn)單的硬件電路完成多路模擬信號(hào)的采集處理功能[7]。

圖3 模擬開(kāi)關(guān)原理框圖

視頻處理單元選用定制的Philips公司生產(chǎn)的專(zhuān)用集成視頻信號(hào)處理器TDA9965，其由采樣保持電路、可編程增益放大器、直流偏置調(diào)整、暗電流校正及12bit A/D轉(zhuǎn)換器組成。視頻處理器主要參數(shù)如表2所示。

表2 TDA9965主要參數(shù)

CCD的輸出信號(hào)是經(jīng)過(guò)交流耦合接入視頻處理器的輸入端的，但是由于光強(qiáng)和溫度等的變化會(huì)導(dǎo)致CCD輸出信號(hào)的暗電平參考出現(xiàn)波動(dòng)，因此需要進(jìn)行暗電平校正[8]。在每一幀開(kāi)始和結(jié)束部分會(huì)有兩個(gè)暗電平參考信號(hào)，在此期間使CLPOB和CLPADC信號(hào)為高電平，就能使整行的輸出信號(hào)暗參考電平保持在芯片內(nèi)部提供的一個(gè)基準(zhǔn)電平上。

采樣保持電路采用能夠有效抑制復(fù)位噪聲和白噪聲的相關(guān)雙采樣算法。其基本原理是將兩次采樣得到的暗電平和信號(hào)電平相減，就可以得到消除了復(fù)位噪聲的視頻信號(hào)。SHP脈沖對(duì)暗電平采樣，SHD脈沖對(duì)信號(hào)電平采樣。本設(shè)計(jì)中SHP頻率為2 MHz，高電平持續(xù)時(shí)間為50 ns；SHD頻率同樣為2 MHz，高電平持續(xù)時(shí)間也為50 ns，同時(shí)兩個(gè)采樣信號(hào)SHP和SHD都要處于暗電平和信號(hào)電平的相對(duì)平坦階段。

在TDA9965中，為了防止CCD信號(hào)過(guò)弱或者飽和，其內(nèi)部含有一個(gè)可編程增益放大器，用于控制信號(hào)的增益。PGA 是增益在0～36 dB 之間可調(diào)的放大器， 可以通過(guò)一個(gè)10 b 的DAC 控制，碼值在0～ 720 之間變化時(shí)， 增益與碼值為線(xiàn)性關(guān)系， 步進(jìn)為0. 05 dB， 碼值大于720 后， 增益保持最大值36 dB 不變。DAC 的值由FPGA通過(guò)TDA9965的串行接口進(jìn)行配置。

視頻處理器作為高精度和高速的模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片，在PCB設(shè)計(jì)中既有模擬電路部分又有數(shù)字電路部分，因此常將視頻處理器看作模擬器件。

由于模擬信號(hào)是隨時(shí)間變化的連續(xù)的電壓和電流信號(hào)，所以它對(duì)于外界的干擾非常敏感；而電路中又有大量的數(shù)字器件并且電路工作在較高的頻率，數(shù)字信號(hào)在上升沿和下降沿處會(huì)產(chǎn)生較高的高頻成分，很容易對(duì)周?chē)哪M信號(hào)造成影響。

因此在設(shè)計(jì)中要正確區(qū)分?jǐn)?shù)字電源和模擬電源，在模擬地和數(shù)字地的連接點(diǎn)處通過(guò)磁珠連接來(lái)保證模擬地和數(shù)字地連接的正確性，消除二者間構(gòu)成傳導(dǎo)回路的可能性。電源線(xiàn)要盡量的粗，并且盡量地靠近地層。同時(shí)IC電源引腳就近安置旁路電容用以抑制電磁輻射干擾。

2 試驗(yàn)過(guò)程

2.1 試驗(yàn)程序

（1） 預(yù)處理：將被檢器件和篩選板置于正常大氣環(huán)境條件下，至溫度穩(wěn)定。

（2） 初始檢測(cè)：在正常試驗(yàn)條件下，對(duì)CCD及篩選板進(jìn)行外觀(guān)檢查，若完好則將器件安裝于板上進(jìn)行電性能檢測(cè)，記錄并保存器件在常溫下各個(gè)通道的量化值。

（3） 老煉過(guò)程：篩選板放置到試驗(yàn)箱中上電，試驗(yàn)箱升溫至80 ℃；80 ℃條件下進(jìn)行老煉，停留時(shí)間96 h。整個(gè)工作過(guò)程中監(jiān)測(cè)電源電流并觀(guān)察圖像，判斷系統(tǒng)是否工作正常，同時(shí)保存整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程的數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)采集和存儲(chǔ)軟件界面如圖4所示。

（4） 最后檢測(cè)：試驗(yàn)結(jié)束，在常溫條件下，對(duì)篩選板和CCD進(jìn)行電性能檢測(cè)。

圖4 數(shù)據(jù)采集和存儲(chǔ)界面

2.2 試驗(yàn)結(jié)果與分析

老練試驗(yàn)前后分別對(duì)CCD進(jìn)行了綜合測(cè)試，將探測(cè)器直接放置在積分球的開(kāi)口處，且感光面平行于出光口所在平面，同時(shí)，利用光照度計(jì)同步測(cè)量出光口處的光照度，通過(guò)調(diào)整積分球不同亮度等級(jí)，可以得到CCD輸出DN值及對(duì)應(yīng)的光照度之間的關(guān)系。

下面以其中任一片CCD進(jìn)行說(shuō)明。老煉試驗(yàn)前測(cè)得的R通道輸出DN值及對(duì)應(yīng)的光照度之間的響應(yīng)關(guān)系如表3所示。試驗(yàn)后測(cè)得的R通道輸出DN值及對(duì)應(yīng)的光照度之間的響應(yīng)關(guān)系如表4所示。

擬合曲線(xiàn)如圖5、圖6所示。試驗(yàn)前后CCD響應(yīng)度對(duì)比結(jié)果如表5 所示。從以上CCD響應(yīng)度的對(duì)比結(jié)果可以看出，經(jīng)過(guò)老煉試驗(yàn)后，CCD的響應(yīng)度提高，非線(xiàn)性度下降，器件滿(mǎn)足可靠性篩選實(shí)現(xiàn)方法要求，可供給儀器使用。

表3 試驗(yàn)前光照度與灰度值之間的關(guān)系

表4 試驗(yàn)后光照度與灰度值之間的關(guān)系

圖5 試驗(yàn)前CCD響應(yīng)曲線(xiàn)

3 結(jié) 論

通過(guò)對(duì)12片線(xiàn)陣CCD輸出信號(hào)處理電路的精心設(shè)計(jì)以及對(duì)各控制脈沖的頻率、寬度和相互位置關(guān)系的仔細(xì)調(diào)試。本系統(tǒng)得到了響應(yīng)度較好的增益、偏置、起始像元和積分時(shí)間都可調(diào)的數(shù)字圖像，為多片線(xiàn)陣CCD老煉篩選試驗(yàn)的順利進(jìn)行提供了良好的硬件基礎(chǔ)。試驗(yàn)結(jié)果表明CCD完全滿(mǎn)足可靠性篩選實(shí)現(xiàn)方法要求，可供給儀器使用。同時(shí)，本設(shè)計(jì)中的篩選電路也對(duì)其他航天任務(wù)中低等級(jí)器件的篩選具有一定的參考借鑒作用。

圖6 試驗(yàn)后CCD響應(yīng)曲線(xiàn)

表5 試驗(yàn)前后CCD參數(shù)對(duì)比

參考文獻(xiàn)

[1] BOYLE W S， SMITH G E. Charge coupled semiconductor devices [J]. The Bell System Technical Journal， 1970， 49（1） ：587?593.

[2] 張航，劉棟斌.線(xiàn)陣探測(cè)器KLI?2113總劑量輻照性能試驗(yàn)分析[J].發(fā)光學(xué)報(bào)，2013，34（5）：611?616.

[3] 佟首峰，阮錦，郝志航.CCD 圖像傳感器降噪技術(shù)的研究[J].光學(xué)精密工程，2000，8（2）：140?145.

[4] 張達(dá)，徐抒巖.高速多通道CCD信號(hào)并行處理系統(tǒng)[J].吉林大學(xué)學(xué)報(bào)，2008，26（3）：281?286.

[5] 常丹華.一種新的CCD外圍電路設(shè)計(jì)方法[J].傳感器技術(shù)，2001，20（6）：32?34.

[6] 薛旭成，李云飛，郭永飛.CCD成像系統(tǒng)中模擬前端設(shè)計(jì)[J].光學(xué)精密工程，2007，15（8）：1191?1195.

[7] 李正岱，劉文怡.多路信號(hào)采集器的硬件電路設(shè)計(jì)[J].微計(jì)算機(jī)信息，2008，24（1）：220?222.

[8] 張達(dá)，劉棟斌.三線(xiàn)陣CCD視頻信號(hào)處理系統(tǒng)研究[J].光機(jī)電信息，2010，27（12）：167?171.

下面以其中任一片CCD進(jìn)行說(shuō)明。老煉試驗(yàn)前測(cè)得的R通道輸出DN值及對(duì)應(yīng)的光照度之間的響應(yīng)關(guān)系如表3所示。試驗(yàn)后測(cè)得的R通道輸出DN值及對(duì)應(yīng)的光照度之間的響應(yīng)關(guān)系如表4所示。

擬合曲線(xiàn)如圖5、圖6所示。試驗(yàn)前后CCD響應(yīng)度對(duì)比結(jié)果如表5 所示。從以上CCD響應(yīng)度的對(duì)比結(jié)果可以看出，經(jīng)過(guò)老煉試驗(yàn)后，CCD的響應(yīng)度提高，非線(xiàn)性度下降，器件滿(mǎn)足可靠性篩選實(shí)現(xiàn)方法要求，可供給儀器使用。

表3 試驗(yàn)前光照度與灰度值之間的關(guān)系

表4 試驗(yàn)后光照度與灰度值之間的關(guān)系

圖5 試驗(yàn)前CCD響應(yīng)曲線(xiàn)

3 結(jié) 論

通過(guò)對(duì)12片線(xiàn)陣CCD輸出信號(hào)處理電路的精心設(shè)計(jì)以及對(duì)各控制脈沖的頻率、寬度和相互位置關(guān)系的仔細(xì)調(diào)試。本系統(tǒng)得到了響應(yīng)度較好的增益、偏置、起始像元和積分時(shí)間都可調(diào)的數(shù)字圖像，為多片線(xiàn)陣CCD老煉篩選試驗(yàn)的順利進(jìn)行提供了良好的硬件基礎(chǔ)。試驗(yàn)結(jié)果表明CCD完全滿(mǎn)足可靠性篩選實(shí)現(xiàn)方法要求，可供給儀器使用。同時(shí)，本設(shè)計(jì)中的篩選電路也對(duì)其他航天任務(wù)中低等級(jí)器件的篩選具有一定的參考借鑒作用。

圖6 試驗(yàn)后CCD響應(yīng)曲線(xiàn)

表5 試驗(yàn)前后CCD參數(shù)對(duì)比

參考文獻(xiàn)

[1] BOYLE W S， SMITH G E. Charge coupled semiconductor devices [J]. The Bell System Technical Journal， 1970， 49（1） ：587?593.

[2] 張航，劉棟斌.線(xiàn)陣探測(cè)器KLI?2113總劑量輻照性能試驗(yàn)分析[J].發(fā)光學(xué)報(bào)，2013，34（5）：611?616.

[3] 佟首峰，阮錦，郝志航.CCD 圖像傳感器降噪技術(shù)的研究[J].光學(xué)精密工程，2000，8（2）：140?145.

[4] 張達(dá)，徐抒巖.高速多通道CCD信號(hào)并行處理系統(tǒng)[J].吉林大學(xué)學(xué)報(bào)，2008，26（3）：281?286.

[5] 常丹華.一種新的CCD外圍電路設(shè)計(jì)方法[J].傳感器技術(shù)，2001，20（6）：32?34.

[6] 薛旭成，李云飛，郭永飛.CCD成像系統(tǒng)中模擬前端設(shè)計(jì)[J].光學(xué)精密工程，2007，15（8）：1191?1195.

[7] 李正岱，劉文怡.多路信號(hào)采集器的硬件電路設(shè)計(jì)[J].微計(jì)算機(jī)信息，2008，24（1）：220?222.

[8] 張達(dá)，劉棟斌.三線(xiàn)陣CCD視頻信號(hào)處理系統(tǒng)研究[J].光機(jī)電信息，2010，27（12）：167?171.

下面以其中任一片CCD進(jìn)行說(shuō)明。老煉試驗(yàn)前測(cè)得的R通道輸出DN值及對(duì)應(yīng)的光照度之間的響應(yīng)關(guān)系如表3所示。試驗(yàn)后測(cè)得的R通道輸出DN值及對(duì)應(yīng)的光照度之間的響應(yīng)關(guān)系如表4所示。

擬合曲線(xiàn)如圖5、圖6所示。試驗(yàn)前后CCD響應(yīng)度對(duì)比結(jié)果如表5 所示。從以上CCD響應(yīng)度的對(duì)比結(jié)果可以看出，經(jīng)過(guò)老煉試驗(yàn)后，CCD的響應(yīng)度提高，非線(xiàn)性度下降，器件滿(mǎn)足可靠性篩選實(shí)現(xiàn)方法要求，可供給儀器使用。

表3 試驗(yàn)前光照度與灰度值之間的關(guān)系

表4 試驗(yàn)后光照度與灰度值之間的關(guān)系

圖5 試驗(yàn)前CCD響應(yīng)曲線(xiàn)

3 結(jié) 論

通過(guò)對(duì)12片線(xiàn)陣CCD輸出信號(hào)處理電路的精心設(shè)計(jì)以及對(duì)各控制脈沖的頻率、寬度和相互位置關(guān)系的仔細(xì)調(diào)試。本系統(tǒng)得到了響應(yīng)度較好的增益、偏置、起始像元和積分時(shí)間都可調(diào)的數(shù)字圖像，為多片線(xiàn)陣CCD老煉篩選試驗(yàn)的順利進(jìn)行提供了良好的硬件基礎(chǔ)。試驗(yàn)結(jié)果表明CCD完全滿(mǎn)足可靠性篩選實(shí)現(xiàn)方法要求，可供給儀器使用。同時(shí)，本設(shè)計(jì)中的篩選電路也對(duì)其他航天任務(wù)中低等級(jí)器件的篩選具有一定的參考借鑒作用。

圖6 試驗(yàn)后CCD響應(yīng)曲線(xiàn)

表5 試驗(yàn)前后CCD參數(shù)對(duì)比

參考文獻(xiàn)

[1] BOYLE W S， SMITH G E. Charge coupled semiconductor devices [J]. The Bell System Technical Journal， 1970， 49（1） ：587?593.

[2] 張航，劉棟斌.線(xiàn)陣探測(cè)器KLI?2113總劑量輻照性能試驗(yàn)分析[J].發(fā)光學(xué)報(bào)，2013，34（5）：611?616.

[3] 佟首峰，阮錦，郝志航.CCD 圖像傳感器降噪技術(shù)的研究[J].光學(xué)精密工程，2000，8（2）：140?145.

[4] 張達(dá)，徐抒巖.高速多通道CCD信號(hào)并行處理系統(tǒng)[J].吉林大學(xué)學(xué)報(bào)，2008，26（3）：281?286.

[5] 常丹華.一種新的CCD外圍電路設(shè)計(jì)方法[J].傳感器技術(shù)，2001，20（6）：32?34.

[6] 薛旭成，李云飛，郭永飛.CCD成像系統(tǒng)中模擬前端設(shè)計(jì)[J].光學(xué)精密工程，2007，15（8）：1191?1195.

[7] 李正岱，劉文怡.多路信號(hào)采集器的硬件電路設(shè)計(jì)[J].微計(jì)算機(jī)信息，2008，24（1）：220?222.

[8] 張達(dá)，劉棟斌.三線(xiàn)陣CCD視頻信號(hào)處理系統(tǒng)研究[J].光機(jī)電信息，2010，27（12）：167?171.