吳海宏,張 勇,陳鐘鵬,朱 琪
(中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第58研究所,江蘇 無(wú)錫 214035)
在集成電路的線(xiàn)路設(shè)計(jì)中,特別是模擬電路的設(shè)計(jì)中,不可避免地都會(huì)需要用到電阻。對(duì)于低阻值的應(yīng)用,一般可以用鋁線(xiàn)電阻、多晶電阻、N+電阻或者P+電阻等實(shí)現(xiàn)。對(duì)于更大一點(diǎn)的電阻,則可以用N阱電阻、P阱電阻或者高阻多晶等實(shí)現(xiàn)。對(duì)于更高阻值要求,或者阻值要求高但是占用面積要小且精度要求不高,這時(shí)候可以用倒比的MOS管或者夾層電阻來(lái)實(shí)現(xiàn)。顧名思義,夾層電阻就是被其他層次夾在中間的電阻,夾層電阻的方塊阻值一般在5~50 kΩ,隨著電壓的提高,還可以到100 kΩ或更高。
在集成電路工藝中,實(shí)現(xiàn)夾層電阻有很多種方法。本文研究的夾層電阻就是其中的一種,它不需要通過(guò)額外增加光刻MASK層就能實(shí)現(xiàn)。圖1為該夾層電阻的平面示意圖。
圖1中,夾層電阻區(qū)為低濃度的P型注入?yún)^(qū),它主要利用工藝中的現(xiàn)有層次實(shí)現(xiàn),比如Pbase層或者Pbody層。該P(yáng)型夾層電阻區(qū)被N+和N阱完全包圍,因此該結(jié)構(gòu)就是一個(gè)被N+和N阱兩個(gè)層次夾在中間的P型夾層電阻。
圖1 夾層電阻的平面示意圖
夾層電阻的優(yōu)勢(shì)是阻值很高,缺點(diǎn)是對(duì)電壓比較敏感。對(duì)該夾層電阻進(jìn)行I-V掃描,起始電壓為0 V,步進(jìn)為0.5 V,結(jié)果發(fā)現(xiàn)如下特性:當(dāng)電阻兩端電壓從0開(kāi)始增加時(shí),夾層電阻的阻值迅速上升,但是到電壓超過(guò)4 V左右后,電阻阻值雖然還是繼續(xù)增加,但是此時(shí)呈現(xiàn)出線(xiàn)性上升的特性,即電阻跟隨電壓呈比例地上升,當(dāng)電壓到14~15 V左右時(shí),電阻開(kāi)始急劇減小,呈現(xiàn)出擊穿效應(yīng)。把上述電阻測(cè)試時(shí)的I-V數(shù)值進(jìn)行曲線(xiàn)擬合,得到圖2。
圖2 夾層電阻的特性曲線(xiàn)
圖2中,拐點(diǎn)Vp約為4 V,拐點(diǎn)Vb約為14~15 V。
觀察該曲線(xiàn),發(fā)現(xiàn)它很像MOS管的輸出特性曲線(xiàn)。進(jìn)一步分析其縱向結(jié)構(gòu)發(fā)現(xiàn),該夾層電阻實(shí)際上可以理解成一個(gè)P溝道的JFET管(結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管),它的縱向剖面示意圖如圖3所示。
圖3 夾層電阻的剖面示意圖
圖3中,JFET管的溝道區(qū)為低濃度的P型注入?yún)^(qū),P型溝道被N+和N阱上下夾住,因此可以把N+和N阱看成JFET管的柵極(Gate),把兩個(gè)SP注入?yún)^(qū)一個(gè)看成JFET管的源端(Source),另一個(gè)看成JFET管的漏端(Drain)。
因此在圖2中,拐點(diǎn)Vp就是該P(yáng)溝道JFET管的夾斷電壓,當(dāng)-Vds電壓超過(guò)Vp后,JFET管產(chǎn)生夾斷,源漏電流開(kāi)始趨于穩(wěn)定。拐點(diǎn)Vb為該P(yáng)溝道JFET管的擊穿電壓,當(dāng)-Vds電壓大于Vb后,JFET管產(chǎn)生擊穿,Ids增大。
在前面的夾層電阻測(cè)試時(shí),實(shí)際上是把PJFET管的柵端(Gate)和源端(Source)短接,形成了圖4所示的連接結(jié)構(gòu)。
圖4 電阻測(cè)試時(shí)的等效連接結(jié)構(gòu)
由圖4可知,只要把該JFET管的柵源短接且都接到輸入工作電壓Vin上,則當(dāng)電壓在Vp和Vb之間變化時(shí)(即Vp<Vin<Vb),該JFET管的漏端就能輸出恒定的電流IR。恒定電流的大小取決于該JFET管的尺寸,也即低濃度P型注入?yún)^(qū)的長(zhǎng)度L和寬度W(見(jiàn)圖1)。一般來(lái)說(shuō),Vp在3~4 V左右,而Vb可以在10~15 V左右甚至更高,當(dāng)然,由于不同工藝間的差異,Vp和Vb的大小會(huì)有所不同。
上述單器件電流源能滿(mǎn)足輸入電壓在4~15 V左右之間變化時(shí),輸出恒定電流。為了獲得更寬的電壓范圍,需要對(duì)上述電路進(jìn)行改進(jìn),如圖5。
圖5 雙器件的恒流源結(jié)構(gòu)
如圖5所示,通過(guò)把兩個(gè)相同大小的JFET管串聯(lián),可以適應(yīng)更大的電壓變化范圍,此時(shí),可以讓Vin在2Vp和2Vb之間變化時(shí)(即2Vp<Vin<2Vb),在JFET管的漏端輸出恒定的電流IR。而且電流的大小取決于單個(gè)JFET管的尺寸,即低濃度P型注入?yún)^(qū)的長(zhǎng)度L和寬度W。假定Vp為4 V,Vb為15 V,則圖5的雙器件電流源結(jié)構(gòu)允許的電壓范圍就是8~30 V。
根據(jù)上述原理進(jìn)行類(lèi)推,當(dāng)串聯(lián)JFET管的個(gè)數(shù)為N(N為自然數(shù))時(shí)(見(jiàn)圖6),它允許的工作電壓范圍就是N×Vp~N×Vb,而且當(dāng)N×Vp<Vin<N×Vb時(shí),電路能輸出恒定的電流。需要注意的是,當(dāng)進(jìn)行2個(gè)以上的JFET管串聯(lián)時(shí),各個(gè)JFET管的尺寸必須相同(也即長(zhǎng)度L和寬度W必須相等),否則電路的分壓比會(huì)發(fā)生變化,電路就有可能會(huì)無(wú)法正常工作。在這個(gè)前提下,輸出恒定電流IR的大小取決于其中單個(gè)JFET管的尺寸。
圖6 多器件串聯(lián)時(shí)的恒流源結(jié)構(gòu)
利用該夾層電阻的特性,下面開(kāi)始設(shè)計(jì)一款振蕩器。該振蕩器的設(shè)計(jì)要求為:工作電壓范圍為3~25 V,振蕩器功耗越低越好,最好在微安級(jí),且希望當(dāng)電壓在9~25 V之間變化時(shí),振蕩器的輸出頻率是恒定的。
在該振蕩器中,由該夾層電阻(等效為P溝道JFET管)來(lái)提供恒流源,用于芯片內(nèi)部振蕩器的電容充放電電流。由于振蕩器的振蕩頻率主要取決于電容充放電的電流大小,因此一旦電流恒定,則振蕩頻率就不變。電路要求的電壓最高為25 V,根據(jù)前面的分析,單個(gè)器件的耐壓會(huì)不夠,因此采用雙器件串聯(lián)結(jié)構(gòu),理論耐壓應(yīng)該可以接近30 V。電路設(shè)計(jì)如圖7。
圖7 一種恒定頻率的振蕩器結(jié)構(gòu)
圖7是振蕩器的簡(jiǎn)單原理示意圖,實(shí)際線(xiàn)路在此基礎(chǔ)上還會(huì)增加一些輔助線(xiàn)路。在圖7中,Vosc用于控制電容的充放電狀態(tài),JFET管提供恒定電流源IR對(duì)電容C進(jìn)行充電,Vx則輸出到后級(jí)的電壓比較器。電路工作的時(shí)候,一開(kāi)始Vosc為低電平,此時(shí)PMOS管打開(kāi),基準(zhǔn)電流IR開(kāi)始給電容C進(jìn)行充電,電容C上的電壓Vx逐漸上升,一旦Vx達(dá)到門(mén)限電平Vt,則比較器就翻轉(zhuǎn),從而使Vosc也發(fā)生翻轉(zhuǎn)變?yōu)楦唠娖?,這時(shí),PMOS管關(guān)斷,NMOS管打開(kāi),由于NMOS管放電能力較強(qiáng),電容C上的電壓瞬間就被放到GND,此時(shí)Vosc又翻轉(zhuǎn)變?yōu)榈碗娖剑琋MOS管關(guān)斷,PMOS管開(kāi)始充電。就這樣,通過(guò)保持充電電流的恒定,使得振蕩器的振蕩頻率也始終保持恒定。
在電路的實(shí)際實(shí)現(xiàn)中,采用了0.8 μm的高壓工藝。經(jīng)過(guò)對(duì)出片電路的實(shí)際測(cè)試,發(fā)現(xiàn)隨著電壓升高,振蕩器頻率逐漸變快,當(dāng)電壓超過(guò)10 V后,頻率開(kāi)始維持不變,一直到電壓接近30 V,頻率始終不變。也就是說(shuō)當(dāng)電壓在10~30 V之間變化時(shí),振蕩器頻率恒定,振蕩器的工作電流在整個(gè)電壓變化范圍內(nèi)不超過(guò)3 μA。
顯然,頻率穩(wěn)定的最低電壓為10 V,高于設(shè)計(jì)要求的9 V。從前面夾層電阻的原理分析部分可以知道,為了降低頻率穩(wěn)定的最低電壓,可以采用兩種思路:一種是降低夾層電阻的夾斷電壓Vp;另一種是采用單個(gè)夾層電阻來(lái)實(shí)現(xiàn)恒定電流。第一種思路,夾斷電壓Vp主要取決于JFET溝道區(qū)的P型注入濃度,以及P型注入、N阱、N+這幾個(gè)的結(jié)深,結(jié)深一般不好調(diào)節(jié),而濃度也較難控制,因此實(shí)施有困難,而且最低電壓為2×Vp,實(shí)施效果也很有限。第二種思路,主要是要提高夾層電阻的擊穿電壓Vb。根據(jù)對(duì)該夾層電阻的縱向結(jié)構(gòu)分析可以知道,該夾層電阻的擊穿首先發(fā)生在低濃度的P型注入?yún)^(qū)和上層的N+之間,也即擊穿電壓Vb就是N+和P型溝道區(qū)的擊穿電壓。
因此,嘗試在低濃度的P型溝道區(qū)域上層N+的下方,用一個(gè)低濃度的N型區(qū)來(lái)外包N+,如圖8。
圖8 優(yōu)化改進(jìn)后的夾層電阻剖面示意圖
該低濃度N型區(qū)用工藝中現(xiàn)成的高壓N注入(即NHV)來(lái)實(shí)現(xiàn),以此來(lái)提高夾層電阻的耐壓。
電路改進(jìn)設(shè)計(jì)后,經(jīng)過(guò)試驗(yàn)驗(yàn)證,采用此種優(yōu)化結(jié)構(gòu)后,振蕩器可以工作在3~30 V的工作范圍,而且當(dāng)電壓大于5.5 V以后,振蕩器的輸出頻率就不再變化,也即當(dāng)電壓在5.5~30 V之間變化時(shí),振蕩器頻率恒定,同時(shí)振蕩器最大工作電流約為2.5 μA。至此,該振蕩器的各項(xiàng)指標(biāo)全部達(dá)到了設(shè)計(jì)要求。
夾層電阻是一種比較特殊的電阻。在低電壓工作場(chǎng)合,夾層電阻一般都被當(dāng)做高阻值的電阻來(lái)使用。但是在高電壓工作場(chǎng)合,或者是寬范圍工作電壓的場(chǎng)合,此時(shí)夾層電阻就相當(dāng)于是一個(gè)JFET管,利用該特性,在很多設(shè)計(jì)中,特別是模擬電路的設(shè)計(jì)中,可以把電路設(shè)計(jì)得更精巧或者實(shí)現(xiàn)更低的功耗。
[1] Alan Hastings. 模擬電路版圖的藝術(shù)[M]. 北京:電子工業(yè)出版社,2007.
[2] 康華光,陳大欽,張林,等編. 電子技術(shù)基礎(chǔ)[M]. 北京:高等教育出版社,2005.
[3] Sergio Franco. 基于運(yùn)算放大器和模擬集成電路的電路設(shè)計(jì)[M]. 西安:西安交通大學(xué)出版社,2009.
[4] Phillip E Allen, Douglas R Holberg. CMOS模擬集成電路設(shè)計(jì)[M]. 北京:電子工業(yè)出版社,2006.